SWD与JTAG之间的区别

SWD 仿真模式概念简述

一、SWD 和传统的调试方式区别

1. SWD 模式比 JTAG 在高速模式下面更加可靠。在大数据量的情况下面JTAG 下载程序会失败, 但是 SWD 发生的几率会小很多。基本使用 JTAG 仿真模式的情况下是可以直接使用 SWD 模式的, 只要你的仿真器支持。所以推荐大家使用这个模式。

2. 在大家 GPIO 刚好缺一个的时候, 可以使用 SWD 仿真, 这种模式支持更少的引脚。

3. 在大家板子的体积有限的时候推荐使用 SWD 模式, 它需要的引脚少, 当然需要的 PCB 空间就小啦！比如你可以选择一个很小的 2.54 间距的 5 芯端子做仿真接口。

二、仿真器对SWD 模式支持情况

1. 市面上的常用仿真器对 SWD 模式支持情况

(1) JLINKV6 支持 SWD 仿真模式，速度较慢。

(2) JLINKV7 比较好的支持 SWD 仿真模式, 速度有了明显的提高，速度是JLINKV6 的 6 倍。

(3) JLINKV8 非常好的支持 SWD 仿真模式, 速度可以到 10M。

(4) ULINK1 不支持 SWD 模式。

(5) 盗版 ULINK2 非常好的支持 SWD 模式，速度可以达到 10M。

(6) 正版 ULINK2 非常好的支持 SWD 模式，速度可以达到 10M。

本开发板使用三线制SWD（GND，SWDIO，SWCLK）。

然后在KEIL JLINK DEBUG界面里更改接口为SW

JLINK的第1脚是电压测量脚，他在下载前会测量目标板上的电压，如果低就不让下载，我们的控制器的SWD编程口不带3.3V脚，所以要直接在JLINK上接3.3V，欺骗一下JLINK

如出现下面错误，请将JLINK V7 的JTAG 1脚的电压检测端与3.3V端子（默认是JTAG的第2脚) 用杜邦线短接，一般JLINK PCB上也有3.3V接线柱，也可以用导线将2者相连。使用本店的JLINK （xLink ARM-OB STM32）可不用进行本设置。

如果连接出现电压太低的错误，就是前面说的问题。如果在确认做了上面的操作后还出现

其他读写错误或者下载不稳定的话，一般是因为SWD速度比较快，而杜邦线传输性能比较

差，最好编一下辫子，类似双绞线的做法。

一、Jlink ARM-OB STM32简介

Jlink ARM-OB STM32 是SEGGER 公司为开发板定制的板载Jlink调试方案。除了不能测试目标板电压外，此Jlink 与正式版功能几乎一致

（速度限制到4MHz）。

受Ourdev论坛minux 网友一篇文章启发，参考minux 网友贡献的资料，笔者制作了此文所提的Jlink 简化版，经过将近半年的测试，其不但工作稳定，而且携带方便，故此与大家分享。其特点为：

1支持IAR EWARM 和KEIL MDK；

2仅支持SW 两线调试；

3工作稳定，无丢失固件现象；

4仅U盘大小，携带方便；

5直接与电脑USB 接口连接，无需USB 线缆；

6接口简化，仅用三根线，完成高速调试、下载；

7仅需要三脚XH2.54 连接器，大大节约PCB面积；

8与JTAG 相比，仅需两根线（TMS / TCK），可节约若干条IO 口。

二、硬件电路及接口

传统20脚JTAG底座个头大，占用PCB面积多，连接线复杂。此Jlink经过精简，使用三脚XH2.54 连接器，完成SWD 接口的物理连接，经过半年多测试，即使连接线达40cm 的情况下，此Jlink 依然能可靠下载和调试。图一为接口形式对比，图二为接口定义，图三为硬件电路图。

图一接口形式与传统JTAG对比图二接口定义

图二原理图三、在Keil MDK 中使用Jlink

本节介绍在Keil MDK 4.14中使用Jlink 下载、调试流程，目标CPU 为STM32F103VC，。首先，我们安装Keil MDK 开发环境和Jlink软件。建立工程步骤如下：

①打开KEIL MDK 开发环境，并点击如图：

②在硬盘合适的位置，建立一个工程并保存，本文命名为LED，然后跳出CPU 选择，我们选择STMicroelectronics 公司的STM32F103VC，如图所示：

③弹出对话框，加入Startup 文件，选择“是（Y）”，如图所示：

④把附件内的main.c 和stm32f10x_reg.h文件拷贝到工程文件夹内，并把main.c加入到工程中，如图所示：

⑤添加完成后，我们可以点击“”来编译整个工程。完成后如图所示：

⑥正确无误后，我们来设置工程属性，以便可以通过Jlink 下载、调试。首先进入工程属性设置，我们可以通过如图所示方法，进入工程属性页面，也可以通过Project 菜单下的Options for Target ……菜单进入属性设置。

⑦进入属性设置页面后，我们选择Debug Tab选项，然后选择Use Cortex-M/R J-LINK/J-Trace，然后点击Settings选项。

⑧调试端口我们选择SW模式，复位模式选择 Atuodetect模式，如果此时Jlink连接了上电后的CPU，则能在SW Device栏检测到CPU ，如图所示。设置完毕，按OK退出此设置页面。

⑨然后进入Utilities 页面，并选择Cortex-M/R J-LINK/J-Trace，然后点击Settings，如图所示：

⑩然后勾选上如图设置，并按Add 按钮添加变成对象，如图所示：

点击Add 后，并按OK 退出设置菜单，回到工程界面。

?如果仅仅需要下载程序，则只需要点击按钮，如果需要调试，则可以点击Debug 菜单下Start/Stop Debug session 来进入、退出Debug 模式。如图所示。

至此，我们完成了用Keil MDK 建立一个新工程，并通过Jlink下载、调试。

四、在IAR EWARM 中使用Jlink

本节使用IAR EWARM 5.41，并配合Jlink 完成下载、调试工作，目标CPU 为STM32F103VC。在IAR EWARM 中使用Jlink 与Keil MDK中大同小异，具体方法如下。

①首先安装IAR EWARM 5.41 开发环境，并安装安装目录下的Jlink驱动包，完成后，打开IAR EWARM 图标，并建立一个新的工作区，如图所示。

②然后点击Project 菜单下的Create New Project…，我们选择一个空工程（Empty project），如图所示，点击OK 确认操作，并存盘为led.eww 工程。

③把附件内的main.c 和stm32f10x_reg.h文件拷贝到工程文件夹内，并把main.c加入到工程中，如图所示：

④加入后，我们可以通过点击“”来编译工程，成功后，我们来设置工程属性，以便使用Jlink。如图所示：

⑤进入后，我们通过General Options，来选择CPU,如图所示：

然后选择Debugger选项，并在Setup tab里选择J-Link/J-Trace，

⑥进入Download tab，并按下图设置选项。

⑦ Download 设置完成后，我们进入J-link/J-Trace 选项，并选择SWD调试接口，如图所示。

然后按OK 结束设置。此时我们可以通过按钮来下载和调试工程。

至此，一个简单的利用Jlink来下载、调试Cortex-m3内核的工程建立完毕。

JTAG接口的定义及常见问题

JTAG接口的定义及常见问题 ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM 系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。 1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？ 下图是JTAG接口的信号排列示意： 接口是一个20脚的IDC插座。下表给出了具体的信号说明： 表 1 JTAG引脚说明 序号信号名方向说明 1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源 2 Vsupply Input 电源 (设备提供) 3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。 4 GND -- 接地 5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target. 6 GND -- 接地 7 TMS Output Test Mode Select 8 GND -- 接地 9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target 10 GND -- 接地 11 RTCK Input (可选项) Return Test Clock。由目标端反馈给Dragon-ICE的时钟信号，用来同步TCK信号的产生。不使用时可以直接接地。12 GND -- 接地

13 TDO Input Test Data Out from target to Dragon-ICE. 14 GND -- 接地 15 nSRST Input/Output (可选项) System Reset，与目标板上的系统复位信号相连。可以直接对目标系统复位，同时可以检测目标系统的复位情况。为了防止误触发，应在目标端加上适当的上拉电阻。 16 GND -- 接地 17 NC -- 保留 18 GND -- 接地 19 NC -- 保留 20 GND -- 接地 2．目标系统如何设计？ 目标板使用与Dragon-ICE一样的20脚针座，信号排列见表1。RTCK和 nTRST 这两个信号根据目标ASIC有否提供对应的引脚来选用。nSRST则根据目标系统的设计考虑来选择使用。下面是一个典型的连接关系图： 复位电路中可以根据不同的需要包含上电复位、手动复位等等功能。如果用户希望系统复位信号nSRST能同时触发JTAG口的复位信号nTRST，则可以使用一些简单的组合逻辑电路来达到要求。后面给出了一种电路方案的效果图。

Jtag的各种引脚定义

Jtag的各种引脚定义 使用过ARM芯片的人肯定都听过一个仿真器————JLINK，为什么ARM芯片现在能够这么流行？其中恐怕就有一个原因就是很多的ARM芯片都支持使用Jlink进行调试和仿真。所以你只要有一个Jlink，不管是ARM7、ARM9、ARM11还是最新的ARM Cortex 系统都能下载和调试了。 以前的嵌入式开发者，可能使用什么公司的芯片就得买一个对应芯片的下载和仿真器，这样如果你只使用一种芯片，可能还好，不过恐怕没有那种芯片能够一直引领市场。 Jlink使用的是一种叫做JTAG的协议，JTAG原本是用于芯片内部测试的，现在大多用于芯片的程序下载和调试仿真。由于现在Jlink用的比较多，所以有些人可能把Jlink就等同于JTAG了，实际上，JTAG是一种协议，只要满足这种协议的就可以叫做JTAG，比如H—JTAG、OpenJTAG、OSJTAG等等。正版的Jlink是卖的很贵的。大概是1000到2000RMB吧。不过，中国的山寨能力是很强的，而且你硬件卖给别人了，你也没办法控制别人说你不许拆开我的东西看里面的电路是怎么样的。所以Jlink就被破解了，破解之后的Jlink很便宜，网上五六十块钱就能买到一个能用的Jlink。 除了商业版的Jlink和H—JTAG，网上还有一些电子爱好者，他们参照开源软件的模式，设计了开源硬件，比如arduino。还有人制作了开源版本的JTAG仿真器——OpenJTAG。而一些芯片的开发商不像那些软件厂商，会给软件做很多的限制，他们对于开源硬件还是比较开明的，所以他们也支持了一些开源硬件。比如TI公司的MSP430 LaunchPad、ST公司的STM Discovery 等等板子。还有飞思卡尔公司的USBDM和OSJTAG。他们把这些硬件的原理图、PCB还有固件都放在了网络上供人自由下载和制作，你也可以根据他的资料进行改进。这样能使大家对于他们家的芯片有更多的了解，所以，他们也乐于开源一些评估板。 今天我要说的是几种JTAG仿真器的引脚定义，首先我看看比较常见的JTAG 20-Pin的引脚接口如下:

JTAG各类接口针脚定义及含义

JTAG各类接口针脚定义及含义 JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。 一、引脚定义 Test Clock Input (TCK) -----强制要求1 TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。 Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2 TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。 Test Data Input (TDI) -----强制要求3 TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。 Test Data Output (TDO) -----强制要求4 TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。 Test Reset Input (TRST) ----可选项1 这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。所以有四线JTAG与五线JTAG之分。 (VTREF) -----强制要求5 接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?） Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2 可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。System Reset ( nSRST)----可选项3 可选项,与目标板上的系统复位信号相连,可以直接对目标系统复位。同时可以检测目标系统的复位情况，为了防止误触发应在目标端加上适当的上拉电阻。 USER IN 用户自定义输入。可以接到一个IO上，用来接受上位机的控制。 USER OUT 用户自定义输出。可以接到一个IO上，用来向上位机的反馈一个状态 由于JTAG经常使用排线连接，为了增强抗干扰能力，在每条信号线间加上地线就出现了这种20针的接口。但事实上，RTCK、USER IN、USER OUT一般都不使用，于是还有一种14针的接口。对于实际开发应用来说，由于实验室电源稳定，电磁环境较好，干扰不大。

JTAG接口电路

JTAG接口电路 1 JTAG(Joint Test Action Group;联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable�在线编程），对FLASH等器件进行编程。 JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程 具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义： TCK——测试时钟输入； TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口； TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出； TMS——测试模式选择，TMS用来设臵JTAG口处于某种特定的测试模式。 可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。 含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。 JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。TAP控制器的状态机通过TCK和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。图1为TAP控制器的状态机框图。 2 JTAG芯片的边界扫描寄存器 JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。这个串联的BSC在IC内部构成JTAG回路，所有的BSR （Boundary-Scan Register）边界扫描寄存器通过JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。图2为具有JTAG口的IC内部BSR单元与引脚的关系。 3 JTAG在线写Flash的硬件电路设计和与PC的连接方式 以含JTAG接口的StrongARM SA1110为例，Flash为Intel 28F128J32 16MB容量。SA1110的JTAG的TCK、TDI、TMS、TDO分别接PC并口的2、3、4、11线上，通过程序将对JTAG口的控制指令和目标代码从PC的并口写入JTAG的BSR中。在设计PCB时，必须将SA1110的数据线和地址线及控制线与Flash的地线线、数据线和控制线相连。因SA1110的数据线、地址线及

JTAG接口总结

并口与连接 1．并行口基地址： 0x0378 新系统通用，通常是LPT1，也可以是LPT2，通常使用中断IRQ7 0x0278 通常是LPT2，也可以是LPT1，LPT3（只能用此基地址），通常使用中断IRQ5 2．寄存器定义 3．状态寄存器（379）和控制寄存器（37A）的定义：

5．连接方式 a)hybus255与并口的连接是通过74CH541与并口连接 LPT D0 Pin 2 and TCK J10 Pin 4 LPT D1 Pin 3 and TDI J10 Pin 11 LPT D2 Pin 4 and TMS J10 Pin 9 LPT Busy Pin 11 and TDO J10 Pin 13 b)2410以及44b0连接图 TCK---------------->DATA0 TDI---------------->DATA1 TMS---------------->DATA2 TDO---------------->STATUS7

6．寄存器的读写 a)先对控制寄存器（Control）初始化 如果禁止中断用out（37A，0x80）,如果使用中断用out（37A，0x90） b)写一个寄存器的两条基本指令： out（37B,addr）；// 将addr写入用户设备地址寄存器 写：out（37C,data）；// 将数据data写入addr指向的用户设备空间单元 读：in（37C）；// 从addr指向的用户设备空间单元中读取数据 JTAG接口信息 1．TCK：输入移位时钟TMS和TDI的数据在TCK的上升沿被采样数据在时钟的下降沿输出到TDO 2．TMS：输入方式选择TMS用于控制TAP状态机 3．TDI：输入。输入到指令寄存器IR或数据寄存器DR的数据出现在TDI输入端在TCK的上升沿被采样 4．TDO：TDO输出来自指令寄存器或数据寄存器的数据在时钟的下降沿被移出到TDO

Jtag的各种引脚定义

使用过ARM芯片的人肯定都听过一个仿真器————JLINK，为什么ARM芯片现在能够这么流行？其中恐怕就有一个原因就是很多的ARM芯片都支持使用Jlink进行调试和仿真。所以你只要有一个Jlink，不管是ARM7、ARM9、ARM11还是最新的ARM Cortex 系统都能下载和调试了。 以前的嵌入式开发者，可能使用什么公司的芯片就得买一个对应芯片的下载和仿真器，这样如果你只使用一种芯片，可能还好，不过恐怕没有那种芯片能够一直引领市场。 Jlink使用的是一种叫做JTAG的协议，JTAG原本是用于芯片内部测试的，现在大多用于芯片的程序下载和调试仿真。由于现在Jlink用的比较多，所以有些人可能把Jlink就等同于JTAG了，实际上，JTAG是一种协议，只要满足这种协议的就可以叫做JTAG，比如H—JTAG、OpenJTAG、OSJTAG等等。正版的Jlink是卖的很贵的。大概是1000到2000RMB吧。不过，中国的山寨能力是很强的，而且你硬件卖给别人了，你也没办法控制别人说你不许拆开我的东西看里面的电路是怎么样的。所以Jlink就被破解了，破解之后的Jlink很便宜，网上五六十块钱就能买到一个能用的Jlink。 除了商业版的Jlink和H—JTAG，网上还有一些电子爱好者，他们参照开源软件的模式，设计了开源硬件，比如arduino。还有人制作了开源版本的JTAG仿真器——OpenJTAG。而一些芯片的开发商不像那些软件厂商，会给软件做很多的限制，他们对于开源硬件还是比较开明的，所以他们也支持了一些开源硬件。比如TI公司的MSP430 LaunchPad、ST公司的STM Discovery 等等板子。还有飞思卡尔公司的USBDM和OSJTAG。他们把这些硬件的原理图、PCB还有固件都放在了网络上供人自由下载和制作，你也可以根据他的资料进行改进。这样能使大家对于他们家的芯片有更多的了解，所以，他们也乐于开源一些评估板。 今天我要说的是几种JTAG仿真器的引脚定义，首先我看看比较常见的JTAG 20-Pin的引脚接口如下:

JTAG接口连接方法

我的JLINK终于用上了，哈哈，好开心，终于不用考虑是不是要借用别人的PC 机了，昨天到城隍庙电子市场忙活了一下午，终于算是满载而归，呵呵，好了，下面说一下接法，其实根本不需要什么转接板什么的，直接把相应的几根线对接就可以用了，所以要参考电路图，上面为TQ2440开发板的JTAG电路图，下面为JLINK的20针电路图，下面的JLINKV7电路图是标准接口，网上到处都能找到 10针JTAG针序20针JTAG针序信号 1,21VTref -2NC 33nTRST -4GND 55TDI -6GND 77TMS 88GND 99TCK 1010GND -11RTCK -12GND 613TDO -14GND 415RESET -16GND -17DBGRQ -18GND

-195V-Supply -20GND 实际上只需要接4跟线，4号是自连回路，不需要接，1，2接的都是1管脚，而8，10接的是GND，也可以不接 ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。 1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？ 下图是JTAG接口的信号排列示意： 接口是一个20脚的IDC插座。下表给出了具体的信号说明： 表 1 JTAG引脚说明 序号信号名方向说明 1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源 2 Vsupply Input 电源 3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。 4 GND -- 接地 5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target. 6 GND -- 接地 7 TMS Output Test Mode Select 8 GND -- 接地 9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target

JTAG接口介绍

JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。 目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。 通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。 14针JTAG接口定义： 14针JTAG接口定义引脚名称描述 1、13VCC接电源 2、4、6、8、10、14GND接地 3nTRST测试系统复位信号 5TDI测试数据串行输入 7TMS测试模式选择 9TCK测试时钟

11TDO测试数据串行输出 12NC未连接 20针JTAG接口定义引脚名称描述 1VTref目标板参考电压，接电源 2VCC接电源 3nTRST测试系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20GND接地 5TDI测试数据串行输入 7TMS测试模式选择 9TCK测试时钟 11RTCK测试时钟返回信号 13TDO测试数据串行输出 15nRESET目标系统复位信号 17、19NC未连接 下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口： 在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG接口的TMS、TCK、TDI、TDO信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B的nEWAIT引脚（Pin71）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B不能正常工作或无法与JTAG接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。 给系统上电后，可通过示波器查看S3C4510B对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若S3C4510B已正常工作，在使能片内PLL电路的情况下，SDCLK/MCLKO引脚（Pin77）应输出频率为50MHz的波形，同时，MDC引脚（Pin50）和其他一些引脚也应有波形输出。

JTAG接口

Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。 目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。 通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。 14针JTAG接口定义： 14针JTAG接口定义引脚名称描述 1、13VCC接电源 2、4、6、8、10、14GND接地 3nTRST测试系统复位信号 5TDI测试数据串行输入 7TMS测试模式选择 9TCK测试时钟

TDO测试数据串行输出 12NC未连接 20针JTAG接口定义引脚名称描述 1VTref目标板参考电压，接电源 2VCC接电源 3nTRST测试系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20GND接地 5TDI测试数据串行输入 7TMS测试模式选择 9TCK测试时钟 11RTCK测试时钟返回信号 13TDO测试数据串行输出 15nRESET目标系统复位信号 17、19NC未连接 下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口： 在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG接口的TMS、TCK、TDI、TDO信号是否已与S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B的nEWAIT引脚（Pin71）是否已上拉，ExtMREQ 引脚（Pin108）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B不能正常工作或无法与JTAG接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。 给系统上电后，可通过示波器查看S3C4510B对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若S3C4510B已正常工作，在使能片内PLL电路的情况下，SDCLK/MCLKO引脚（Pin77）应输出频率为50MHz的波形，同时，MDC引脚（Pin50）和其他一些引脚也应有波形输出。

JTAG的引脚定义与各种JTAG的引脚序号与引脚名的对应关系

JTAG的引脚定义与各种JTAG的引脚序号与引脚名的对应关系 JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。 一、引脚定义 ?? Test Clock Input (TCK) -----强制要求1 TCK在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。 ?? Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2 TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。 ?? Test Data Input (TDI) -----强制要求3 TDI在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。 ?? Test Data Output (TDO) -----强制要求4 TDO在IEEE 1149.1标准里是强制要求的。TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。 ?? Test Reset Input (TRST) ----可选项1 这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。TRST 可以用来对TAP Controller进行复位（初始化）。因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。所以有四线JTAG与五线JTAG之分。 ?? (VTREF) -----强制要求5 接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?） ?? Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2 可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。 ?? System Reset ( nSRST)----可选项3

14针与20针jtag接口介绍

JTAG接口定义 JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 J TAG 测试工具对内部节点进行测试。 目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。 JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系统编程）功能，如对 FLASH器件进行编程等。 通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。 14 针JTAG 接口定义： 14 针 JTAG 接口定义引脚名称描述 1 、 13 VCC 接电源 2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地 3 nTRST 测试系统复位信号 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 TDO 测试数据串行输出 12 NC 未连接 20 针 JTAG 接口定义引脚名称描述 VTref 目标板参考电压，接电源 2 VCC 接电源

ARM系统设计JTAG接口详细图解

ARM系统设计JTAG接口详细图解 ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。 1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？ 下图是JTAG接口的信号排列示意： 接口是一个20脚的IDC插座。下表给出了具体的信号说明： 表1 JTAG引脚说明 序号信号名方向说明 1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源 2 Vsupply Input 电源 3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。 4 GND -- 接地 5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target. 6 GND -- 接地 7 TMS Output Test Mode Select 8 GND -- 接地 9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target 10 GND -- 接地 11 RTCK Input (可选项) Return Test Clock。由目标端反馈给Dragon-ICE的时钟信号，用来同步TCK信号的产生。不使用时可以直接接地。 12 GND -- 接地 13 TDO Input Test Data Out from target to Dragon-ICE. 14 GND -- 接地 15 nSRST Input/Output (可选项) System Reset，与目标板上的系统复位信号相连。可以直接对目标系统复位，同时可以检测目标系统的复位情况。为了防止误触发，应在目标端加上适当的上拉电阻。 16 GND -- 接地 17 NC 保留 18 GND -- 接地

JTAG与SWD引脚对比

JTAG与SWD引脚 对于仿真ARM，TKScope仿真器家庭的AK100/AK100Pro、K8/K9等仿真器提供标准的20PIN 调试接口。接口管脚定义如下。其中ARM芯片有两种调试模式，一种是JTAG，一种是SWD，二者在管脚上有复用。具体所用的型号是否支持，需要查看数据手册。 JTAG调试接口引脚 JTAG调试接口必须使用VCC、GND电源信号，以及TMS、TCK、TDI、TDO四根调试信号，可选TRST、RESET复位信号和RTCK(同步时钟)信号。 VRef ：目标板参考电压信号。用于检查目标板是否供电，直接与目标板VDD联，并不向外输出电压； GND：公共地信号； TRST：JTAG复位，连接到目标CPU的nTRST引脚，用于复位CPU调试接口的TAP控制器；目标板上应将此脚上拉到高电位，避免意外复位； TDI：仿真器连接至目标CPU的数据输入信号，建议在目标板上将此脚上拉到Vdd；TMS：仿真器输出给目标CPU的JTAG模式设置信号。必须在目标板上将此脚上拉；TCK：仿真器输出给目标CPU的JTAG时钟信号，建议在目标板上将此脚上拉； TDO：目标CPU返回给仿真器的数据信号； RTCK：目标CPU提供给仿真器的时钟信号。有些目标要求JTAG的输入与其内部时钟同步。仿真器利用此引脚的输入可动态地控制自己的TCK速率。若不使z用此功能，在目标板上将此脚接地，有些芯片可能要求上拉； RESET：仿真器输出至目标CPU的系统复位信号。’ 虽然TRST、RESET是可选的信号；但一般都建议接上，使得仿真器能够在连接器件前对器件进行复位，以获得较理想的初始状态，便于后续仿真。 SWD接口引脚 SWD是ARM公司提出的另一种调试接口，相对于JTAG接口，使用更少的信号。四根信号如下： VRef ：目标板参考电压信号。用于检查目标板是否供电，直接与目标板VDD联，并不向外输出电压； GND：公共地信号； SWDIO：串行数据输入输出，作为仿真信号的双向数据信号线，建议上拉； SWCLK：串行时钟输入，作为仿真信号的时钟信号线，建议下拉；

JTAG接口引脚定义

标准的JTAG当然是20Pin，但JATG实际使用的只有4根信号线，再配合电源、地，故又有了很多不同的接口形式，而且现在也渐成标准

1.TCK Programmer JTAG Clock（JTAG管脚中的输入时钟信号，对编程和边界扫描都需要） 2.GND1 Signal Reference（信号地） 3.TDO Target Board Test Data Output（JTAG管脚中串行的输出数据信号，对编程和边界扫描都需要） 4.VTref 接开发板电源 5.TMS Programmer Test Mode Select（JTAG管脚中的测试选通信号，对编程和边界扫描都需要） 6.VJTAG Target Board JTAG Supply V oltage（目标板JTAG电源）

7.VPUMP2 Programmer/Target Board Programming Supply V oltage（目标板JTAG电源） 8.nTRST Programmer JTAG Test Reset (Hi-Z with 10 kΩpull-down, HIGH, LOW,or toggling)（JTAG管脚中异步复位信号，对编程和边界扫描都需要，用10K电阻上拉到Vddp）管脚中串行的输入数据信号，对编程和JTAG（InputData Test Programmer TDI 9.边界扫描都需要） 10.GND1 Signal Reference（信号地） ：Notes（所有的地引脚都要连接） 1. Both GND pins must be connected.（如果目标板只2. FlashPro3 can provide VPUMP if there is only one device on the target board.有一个芯片，则可以由提供FlashPro3VPUMP．

ISP SPI JTAG 三者区别详解

SPI:Serial Peripheral Interface 串行外围接口 ISP:InSyesterm Program 在系统编程指电路板上的空白器件可以编程写入最终用户代码，而不需要从电路板上取下器件，已经编程的器件也可以用ISP方式擦除或再编程。 ISP的工作原理:ISP的实现相对要简单一些，一般通用做法是内部的存储器可以由上位机的软件通过串口来进行改写。对于单片机来讲可以通过SPI或其它的串行接口接收上位机传来的数据并写入存储器中。所以即使我们将芯片焊接在电路板上，只要留出和上位机接口的这个串口，就可以实现芯片内部存储器的改写，而无须再取下芯片。 AT89S52在系统编程（ISP）所用到的几个引脚定义： SPI简述(Serial Peripheral Interface--串行外设接口)总线系统是一种同步串行外设接口，它可以使MCU与各种外围设备以串行方式进行通信以交换信息。外围设置FLASHRAM、网络控制器、LCD显示驱动器、A/D转换器和MCU等。SPI总线系统可直接与各个厂家生产的多种标准外围器件直接接口，该接口一般使用4条线：串行时钟线（SCK）、主机输入/从机输出数据线MISO、主机输出/从机输入数据线MOST和低电平有效的从机选择线SS(有的SPI接口芯片带有中断信号线INT或INT、有的SPI接口芯片没有主机输出/从机输入数据线MOSI)。由于SPI系统总线一共只需3～4位数据线和控制即可实现与具有SPI总线接口功能的各种I/O器件进行接口，而扩展并行总线则需要8根数据线、8～16位地址线、2～3位控制线，因此，采用SPI总线接口可以简化电路设计，节省很多常规电路中的接口器件和I/O口线，提高设计的可靠性。由此可见，在MCS51系列等不具有SPI接口的单片机组成的智能仪器和工业测控系统中，当传输速度要求不是太高时，使用SPI总线可以增加应用系统接口器件的种类，提高应用系统的性能。 SPI四线制引脚功能定义

JTAG接口定义

JTAG接口定义 2009-12-14 17:32 什么是jtag接口 JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 T AP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。 目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系统编程）功能，如对 FLASH器件进行编程等。 通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。 14 针JTAG 接口定义： 14 针 JTAG 接口定义引脚名称描述 1 、 13 VCC 接电源 2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地 3 nTRST 测试系统复位信号 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 TDO 测试数据串行输出 12 NC 未连接 20 针 JTAG 接口定义引脚名称描述 VTref 目标板参考电压，接电源 2 VCC 接电源 3 nTRST 测试系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地

jtag各类接口针脚定义含义以及swd接线方式

JTAG各类接口针脚定义、含义以及SWD接线方式 JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。 一、引脚定义 Test Clock Input (TCK) -----强制要求1 TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。 Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2 TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。Test Data Input (TDI) -----强制要求3 TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。 Test Data Output (TDO) -----强制要求4 TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。

Test Reset Input (TRST) ----可选项1 这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。所以有四线JTAG与五线JTAG之分。 (VTREF) -----强制要求5 接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?） Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2 可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK 信号的产生,不使用时直接接地。 System Reset ( nSRST)----可选项3 可选项,与目标板上的系统复位信号相连,可以直接对目标系统复位。同时可以检测目标系统的复位情况，为了防止误触发应在目标端加上适当的上拉电阻。 USER IN 用户自定义输入。可以接到一个IO上，用来接受上位机的控制。 USER OUT 用户自定义输出。可以接到一个IO上，用来向上位机的反馈一个状态

JTAG接口引脚定义

标准的JTAG当然是20Pin，但JA TG实际使用的只有4根信号线，再配合电源、地，故又有了很多不同的接口形式，而且现在也渐成标准

1.TCK Programmer JTAG Clock（JTAG管脚中的输入时钟信号，对编程和边界扫 描都需要） 2.GND1 Signal Reference（信号地） 3.TDO Target Board Test Data Output（JTAG管脚中串行的输出数据信号，对编程和 边界扫描都需要） 4.VTref 接开发板电源 5.TMS Programmer Test Mode Select（JTAG管脚中的测试选通信号，对编程和边界 扫描都需要） 6.VJTAG Target Board JTAG Supply V oltage（目标板JTAG电源） 7.VPUMP2 Programmer/Target Board Programming Supply V oltage（目标板JTAG电源） 8.nTRST Programmer JTAG Test Reset (Hi-Z with 10 kΩ pull-down, HIGH, LOW,or toggling)（JTAG管脚中异步复位信号，对编程和边界扫描都需要，用10K电阻上拉到Vddp） 9.TDI Programmer Test Data Input（JTAG管脚中串行的输入数据信号，对编程和

边界扫描都需要） 10.GND1 Signal Reference（信号地） Notes： 1. Both GND pins must be connected.（所有的地引脚都要连接） 2. FlashPro3 can provide VPUMP if there is only one device on the target board.（如果目标板只有一个芯片，则VPUMP可以由FlashPro3提供

JTAG各类接口针脚定义及含义

JTAG各类接口针脚定义及含义 JTAG(Joint Test Action Group；联合测试工作组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 接口 JTAG最初是用来对芯片进行接口编辑 JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。如今，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmer，在系统编程），对FLASH等器件进行编程。 JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程然后再装到板上，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对DSP芯片内部的所有部件进行编程。 JTAG引脚定义 具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义： TCK——测试时钟输入； TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口； TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出； TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。 可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。 含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。 JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。TAP控制器的状态机通过TCK 和TMS进行状态的改变，实现数据和指令的输入。 JTAG芯片的边界扫描寄存器

JTAG接口及定义

什么是jtag接口 jtag接口定义 JTAG ARM 什么是jtag接口 JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP （Test Access Port，测试访问口），通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。 目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。 JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Pro grammable 在系统编程）功能，如对 FLASH器件进行编程等。 通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和20 针接口，其定义分别如下所示。 14 针JTAG 接口定义： 14 针 JTAG 接口定义引脚名称描述 1 、 13 VCC 接电源 2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地 3 nTRST 测试系统复位信号 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 TDO 测试数据串行输出 12 NC 未连接