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AFM操作说明2015.04-2

Multimode8原子力显微镜（AFM）简要介绍、操作说明

编制者：熊治渝

一、概述

AFM是一种不需要导电试样的扫描探针型显微镜，通过其粗细只有一个原子大小的探针在非常近的距离上探索物体表面的情况，便可以分辨出其他显微镜无法分辨的极小尺度上的表面细节与特征。

二、仪器的组成

图1 MultiMode8 SPM基本硬件组成。左边为控制器和显微镜部分，右边为电脑部分。

三、基本原理

探针装在一弹性微悬臂的一端，微悬臂的另一端固定，当探针在样品表面扫描时，探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形，一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器，可精确测量微悬臂的微小形变。微小形变可作为探针和样品间排斥力的直接量度，通过检测样品与探针之间的原子排斥力来反映样品表面形貌。

四、仪器的操作过程

（一）开机

1、确保操作环境符合要求且防震台处于正常工作状态。

2、打开计算机和显示器。

3、打开Nanoscope控制器。

4、打开光源。

注意：请严格遵守以上开机顺序进行操作，否则可能造成系统损坏。

（二）打开桌面NanoScope 9.1软件，选择样品扫描需要的操作模式后左击“Load Experimen t”。

（三）探针安装。将扫描管中的探针夹取下，选择适宜样品的探针，用镊子小心的将探针安装在探针夹内，并将安装好后的探针夹放回原位。

（四）样品安放。将处理后的样品（一般选择云母作为基底）用双面胶固定在直径为1cm 左右的铁片上，再用镊子小心将铁片夹放在样品台上。

（五）光斑的调试。调节扫描管左部与左后部旋钮，观察电脑显示器屏幕上显示的红斑打在探针的前臂沿上，并调节至显示屏SUM显示至最大值，再调节扫描管后部扇形旋钮至SUM显示至最大值；调节扫描管右部与右后部旋钮至显示屏VERT与HORZ值接近0。

（六）扫描样品。样品放好后，按下扫描管底座“down按钮”至探针接近样品。左键单击软件左侧Engage，探针自动下针至样品表面并扫描。根据样品情况选择扫描范围，调节setpoint与feedback gain等参数至高度图红线与蓝线拟合，在参数调好后的情况下扫描存图。

（七）退针：样品扫描结束后左键单击软件Withdraw退针，按下扫描管底座“up按钮”至探针远离样品，将探针与样品取下。

（八）关机：首先关闭NanoScope软件，再关闭Nanoscope控制器和光源，最后关闭计算机和显示器。

操作举例：轻敲模式

1 开机：a. 确认实际电压与系统设定的工作电压相符合，确认所有的线缆都已正确连接。确保操作环境符合要求且防震台处于正常工作状态；b. 打开计算机主机、显示器和光源；c. 打开控制器。注意：开机顺序必须是先打开计算机主机，再打开控制器。

2 安装样品和探针：a.安装样品：将固定在铁片上的样品放入带有磁性的样品台中心，使其吸住铁片和样品。注意调节样品台高度，通常应使样品的上表面不明显高于Head上的支点顶部，以防止安装Holder时探针直接压到样品表面上而损坏探针；b. 安装探针：将探针安装在Holder上。安装时，把Holder翻转放在桌面上，轻轻下压，使里面凹槽内的金属片微微上翘。随后装入探针，并松手使金属片压紧探针。安装完探针后将Holder卡在Head突出的支点上摆放平稳，然后拧紧Head背面的固定旋钮。

3 启动软件：a. 双击桌面Nanoscope 9.1软件图标；b.进入实验选择界面，根据实验方案，按照界

面所示进行选择，第一步选择实验方案，第二步选择实验环境，第三步选择实验具体操作模式；c. 结束上述步骤后，单击界面右下方图标“Load Experiment”，进入具体实验设置界面。

4调节激光：a.在软件中左侧点击“Setup”，找到图像窗口；b. 调节光学显微镜镜头位置，自上而下调节可分别看清探针、样品；c. 聚焦到针尖下的样品表面, 使样品成像清晰；d.将基座右侧的“UP/DOWN”开关拨到“DOWN”，使探针逐渐接近样品表面，待悬臂基本清晰（一定不能完全清晰）后停止；e.使用基座上的位置调节旋钮调节显微镜视场，找到激光光斑；f.使用Head上部两个方向的激光调节旋钮将激光光斑打在悬臂前端。

5 调节四象限检测器：a.调整Head后部反光镜，使SUM值最大；b.将基座左侧的模式选择键打到“TM AFM”上，此时基座前面左上角的指示灯显示绿色；c.调整Head上部的两个四象限旋钮，使基座前面LCD显示屏上的VERT显示为0，HORZ显示为0。

6 寻峰（Cantilever Tune）：a.点击软件左侧的“Setup” ；b.选择“Manual tune”；c.进入界面后输入Start Frequency 和End Frequency（输入值为所选用探针的探针盒上的参数f0的范围）；d.单击Auto Tune选项，等待找到共振峰后点击“Zero Phase”；e.点击“Exit”退出tuning界面。

7 初始化扫描参数：a.将Scan Size 设置为0；b.将Scan Angle设置为0；c.将X offset和Y offset设置为0。

8 进针：a.使用Head下部两个旋钮移动Head位置，使探针位于样品上所要测量的区域；b. 点击左侧的“Engage”，等待探针到达样品表面。

9 优化扫描参数：a.设置合适的扫描范围，观察Chanel 1（Data Type：Height）中Trace和Retrace两条曲线的重合情况；b.减小Amplitude Setpoint直到两条扫描线基本反映同样的形貌特征；c.优化Integral gain和Proportional gain。为了使增益与样品表面的状态相符，一般的调节方法为：直接增大Integral gain，使反馈曲线开始震荡，然后减小Integral gain直到震荡消失，接下来用相同的办法来调节Proportional gain。通过调节增益来使两条扫描线基本重合并且没有很剧烈的震荡为止；此时Amplitude error通道值最小。d.调节Scan rate（扫描速率）。随着Scan size（扫描范围）的增大，扫描速率须相应降低。

10 保存图像：a.点击软件中Capture菜单中Capture存图，Capture file设置拍照存储路径。

11退针：a.点击Withdraw停止扫描并使探针远离样品表面，可以多次点击Withdraw；b.将“UP/DOWN”开关拨到“UP”使探针远离样品表面后取出Holder，随后取下样品。

12 关机：a.关闭软件界面；b.关闭控制器；c.关闭计算机、显示器和光源。

五、其他说明

AFM成像所有模式的height图RT plane FiT设为“BOW”。

1、接触模式（Contact Mode）：探针针尖始终与样品表面保持紧密的接触，相互作用力是排斥力。横向力与粘着力的合力导致图像空间分辨率降低，而且针尖刮擦样品会损坏软质样品（如生物样品，聚合体等）。（不常使用）

2、轻敲模式（Tapping Mode）：悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡，针尖仅仅是周期性地短暂地接触/ 敲击样品表面。不适宜真空环境，液相环境操作较难，不适宜深、窄沟槽样品，避免黏度较大的样品，耗损能量。（往年使用较多）

3、智能扫描模式（Scanasyst mode）：基于peak force成像模式，Scanasyst microscope 0.05～1V。适合大多样品的测试（如软样品、黏性样品），适宜深、窄沟槽样品，液相成像方便，样品、探针作用力小（PN级别），不易损坏。数据更为准确。（推荐使用）

4、样品制备需保证样品牢固。

5、其他注意事项可联系仪器管理/操作人员。

原子力显微镜 XE-100 AFM

XE-100 High Accuracy Small Sample SPM PSIA

XE-100 Superior Imaging Solution Anodized Aluminum Surface (0.5×0.5 μm )(Sample Courtesy of Prof. J.K. Lee, Seoul National University.) Steel Surface (10×10 μm )STI Patterns on Photomask (5×5 μm ) Self Assembled Monolayers (10×10 μm ) MFM Image of Hard Disk (30×30 μm ) >>>>>Semiconductors Data Storage & Magnetic Materials Biotechnology & Life Sciences Plastics & Polymers Materials & Surface Characterizations Wide Range of Applications NC-AFM Image of porous Polymer (6×6 μm ) XE system produces higher quality images faster . Z scanner of the XE system has a resonance frequency significantly higher than those of conventional piezoelectric tube scanners. The result is greater feedback performance and faster and more accurate data acquisition. Also, since z scanner is physically separated from x-y scanner , there is no coupling between the x-y plane and the z scanner.

原子力显微镜的原理及使用

原子力显微镜的原理及使用通过近代物理实验课的学习，了解了许多仪器的工作原理以及使用方法，对今后的科研学习有很大的帮助。其中原子力显微镜就是其中之一，对于做材料方面的专业来说，原子力显微镜在表征物质的表面结构及性质起着重要的作用。前段时间我们利用AFM对用RF磁控溅射制备的PZT薄膜进行了表征，通过对AFM的使用并查找相关文献，使我对原子力显微镜有了更加深刻的认识。原子力显微镜，英文：Atomic Force Microscope ，简写： AFM。是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分。它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，一般情况下分辨率也在纳米级水平。AFM测量对样品无特殊要求，可测量固体表面、吸附体系等。一、仪器结构：在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。 1、力检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的变化量。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。这微小悬臂有一定的规格，例如：长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状，而这些规格的选择是依照样品的特性，以及操作模式的不同，而选择不同类型的探针。 2、位置检测部分在原子力显微镜（AFM）的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂cantilever摆动，所以当激光照射在微悬臂的末端时，其反射光的位置也会因为悬臂摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供SPM控制器作信号处理。 3、反馈系统在原子力显微镜（AFM）的系统中，将信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为内部的调整信号，并驱使通常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持一定的作用力。 AFM系统使用压电陶瓷管制作的扫描器精确控制微小的扫描移动。压电陶瓷是一种性能奇特的材料，当在压电陶瓷对称的两个端面加上电压时，压电陶瓷会按特定的方向伸长或缩短。而伸长或缩短的尺寸与所加的电压的大小成线性关系。也就是说，可以通过改变电压来控制压电陶瓷的微小伸缩。通常把三个分别代表X，Y，Z方向的压电陶瓷块组成三角架的形状，通过控制X，Y方向伸缩达到驱动探针在样品表面扫描的目的；通过控制Z方向压电陶瓷的伸缩达到控制探针与样品之间距离的目的。原子力显微镜（AFM）便是结合以上三个部分来将样品的表面特性呈现出来的：在原子力显微镜（AFM）的系统中，使用微小悬臂（cantilever）来感测针尖与样品之间的相互作用，这作用力会使微悬臂摆动，再利用激光将光照射在悬臂的末端，当摆动形成时，会使反射光的位置改变而造成偏移量，此时激光检测器会记录此偏移量，也会把此时的信号给反馈系统，以利于系统做适当的调整，最后再将样品的表面特性以影像的方式给呈现出来。二、工作原理：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法

堡垒主机用户操作手册运维管理

堡垒主机用户操作手册运维管理版本2.3.2 2011-06 目录1.前言...................................................... 1.1.系统简介 .............................................. 1.2.文档目的 .............................................. 1.3.读者对象 .............................................. 2.登录系统.................................................. 2.1.静态口令认证登录 (3) 2.2.字证书认证登录 ........................................ 2.3.动态口令认证登录 ...................................... 2.4.LDAP域认证登录........................................ 2.5.单点登录工具 ..........................................

3.单点登录（SS0）........................................... 3.1.安装控件 .............................................. 3.2.单点登录工具支持列表 .................................. 3.3.单点登录授权资源查询 .................................. 3.4.单点登录操作 .......................................... Windows资源类（域内主机\域控制器 \windows2003\2008） Unix\Linux资源类............................... 数据库（独立）资源类 ........................... ORACLE_PLSQL单点登录........................... ORACLE_SQLDeveleper单点登录.................... MSSQLServer2000查询分析器单点登录.............. MSSQLServer2000企业管理器单点登录.............. SQLServer2005ManagementStudio单点登录.......... SQLServer2008ManagementStudio单点登录.......... SybaseDbisqlg单点登录..........................

原子力显微镜

原子力显微镜一、实验目的 1了解原子力显微镜的工作原理 2掌握用原子力显微镜进行表面观测的方法二、实验原理 1. AFM基本原理原子力显微镜的工作原理就是将探针装在一弹性微悬臂的一端，微悬臂的另一端固定，当探针在样品表面扫描时，探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形，这样，微悬臂的轻微变形就可以作为探针和样品间排斥力的直接量度。一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器，可以精确测量微悬臂的微小变形，这样就实现了通过检测样品与探针之间的原子排斥力来反映样品表面形貌和其他表面结构。在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。如图一显示。 1）力检测部分在原子力显微镜系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。使用微悬臂来检测原子之间力的变化量。如图2所示，微悬臂通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。（2）位置检测部分在原子力显微镜系统中，当针尖与样品之间有了作用之后，会使得悬臂摆动，所以当激光照射在微悬臂的末端时，其反射光的位置也会因为悬臂摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号，以供SPM控制器作信号处理。聚焦到微悬臂上面的激光反射到激光位置检测器，通过对落在检测器四个象限的光强进行计算，可以得到由于表面形貌引起的微悬臂形变量大小，从而得到样品表面的不同信息。（3）反馈系统在原子力显微镜系统中，将信号经由激光检测器取入之后，在反馈系统中会将此信号当作反馈信号，作为内部的调整信号，并驱使通常由压电陶瓷制作的扫描器做适当的移动，以保持样品与针尖保持一定的作用力。 2.AFM 有三种不同的工作模式: 接触模式( contact mode) 、非接触模式(noncontact mode) 和共振模式或轻敲模式(Tapping Mode) 。（1）接触模式：从概念上来理解，接触模式是AFM最直接的成像模式。AFM 在整个扫描成像过程之中，探针针尖始终与样品表面保持亲密的接触，而相互

db2top工具详解(翻译)

Database (d) Figure 2. Database screen 在数据库屏幕，db2top提供了一组对整个数据库的性能监控单元。用户可以监视活动会话（MaxActSess），排序内存（SortMemory）和日志空间（LogUsed）。这些监测元素可以帮助用户确定这些元素的当前使用百分比。如果这些因素中的一个开始达到很高甚至100％时，用户应该开始调查发生了什么事。当前时间和数据库开始时间(Start Time)相比能让我们了解数据库运行了多久。这个值结合其他检测元素去调查那些已存在一段时间的问题是非常有用的。锁的使用（LockUsed）和升级（LockEscals）对缩小锁定问题非常有帮助。如果LockEscals 数量很大时，则增加LOCKLIST和MAXLOCKS数据库参数是一个好主意或者寻找那些引起这个问题的不良查询语句。 L_Reads，P_Reads和A_Reads代表逻辑读，物理读和异步读取。结合的命中率（HitRatio）值，这些变量对于评估大多数的读取发生在存储器中还是磁盘I / O里是非常重要的。因为磁盘的I / O比存储器存取慢得多，用户更喜欢访问在内存中的数据。当用户看到HitRatio 下降低则可以查看缓冲池(bufferpools)是不是不够大了，或是不是有查询进行了太多的全白扫描而导致页面数据从内存洗冲到磁盘。和读类似，A_Writes代表异步写入，这表明数据页是由异步页清洁剂之前写的缓冲池空间是必需的。通过db2top 刷新频率这段时间内的写数量我们还能知道有多少写请求发生了。还能计算每次写入的平均花费时间这对分析I/O瓶颈引起的一些性能问题有所帮助。当A_Writes/Writes的比值越高则写I/O性能越高。 SortOvf代表排序溢出。如果用户发现这个数字变为非常高，就需要寻找查询了。排序溢出发生在SORTHEAP不足够大，导致排序(Sort)或HashJoin操作可能会溢出数据到临时空间。有时该值随着SORTHEAP增加而降低，但在其他情况下，可能没有多大帮助，如果进行排序的数据集比可分配给SORTHEAP内存大得多。如果请求的数据量超过缓冲池可容纳的临时空间大小那么就可能需要物理I/O来进行SORT或哈希链接在这种情况下排序溢出将是很大的瓶颈。因此优化查询来减少排序溢出的数量能显著提高系统的性能。

原子力显微镜的工作原理及基本操作

2015年秋季学期研究生课程考核（读书报告、研究报告）考核科目:原子力显微镜的工作原理及基本操作学生所在院（系）: 学生所在学科: 学生姓名: 学号: 学生类别:应用型考核结果阅卷人

原子力显微镜的工作原理及基本操作一、实验目的 1.了解原子力显微镜的工作原理 2.掌握用原子力显微镜进行表面观测的方法二、原子力显微镜结构及工作原理 2.1 AFM的工作原理 AFM是用一个一端装有探针而另一端固定的弹性微悬臂来检测样品表面信息的，当探针扫描样品时，与样品和探针距离有关的相互作用力作用在针尖上，使微悬臂发生形变。AFM系统就是通过检测这个形变量，从而获得样品表面形貌及其他表面相关信息 1.原子力作用机制当两个物体的距离小到一定程度的时候，它们之间将会有原子力作用．这个力主要与针尖和样品之间的距离有关．从对微悬臂形变的作用效果来分，可简单将其分为吸引力和排斥力，它们分别在不同的工作模式下、不同的作用距离起主导作用．探针与样品的距离不同，作用力的大小也不相同，针尖/样品距离曲线如图1所示．图1 针尖/样品距离曲线 2.原子力显微镜的成像原理 AFM的微悬臂绵薄而修长，当对样品表面进行扫描时，针尖与样品之间力的作用会使微悬臂发生弹性形变，针尖碰到样品表面时，很容易弹起和起伏，它非常的灵敏，极小的力的作用也能反应出来．也就是说如果检测出这种形变，就可以知道针尖－样品间的相互作用力，从而得知样品的形貌。

图2 光束偏转法的原理图微悬臂形变的检测方法一般有电容、隧道电流、外差、自差、激光二极管反馈、偏振、偏转方法。偏转方法是采用最多的方法，也是原子力显微镜批量生产所采用的方法．图2就是光束偏转法的原理图。 3.原子力显微镜的工作模式 AFM主要有三种工作模式:接触模式(ContactMode)、非接触模式(Non－contact Mode)和轻敲模式( Tapping Mode)，如图3．图3 三种工作模式接触模式中，针尖一直和样品接触并在其表面上简单地移动．针尖与样品间的相互作用力是两者相接触原子间的排斥力，其大小约为10-8～10-11N。非接触模式是控制探针一直不与样品表面接触，让探针始终在样品上方5～20nm 距离内扫描．因为探针与样品始终不接触，故而避免了接触模式中遇到的破坏样品和污染针尖的问题，灵敏度也比接触式高，但分辨率相对接触式较低，且非接触模式不适合在液体中成像。轻敲模式是介于接触模式和非接触模式之间新发展起来的成像技术，类似与非接触模式，但微悬臂的共振频率的振幅相对非接触模式较大，一般在0.01～1nm．分辨率几乎和接触模式一样好，同时对样品的破坏也几乎完全消失，克服了以往常规模式的局限。 4.原子力显微镜的构成 SPA－300HV型显微镜主要包括以下四个系统: 减震系统、头部系统、电子学控制系统、计算机软件系统(图4为结构图)。

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CommVault备份系统安装配置手册

目录第一章湛江港备份应用环境描述 (3) 1.1 CommVault服务器环境 (3) 1.2 CommVault软件安装信息 (3) 1.3 Exchange环境 (3) 第二章备份系统安装及配置 (3) 2.1安装前准备（Windows操作系统） (4) 2.2 Commvault软件安装 (4) 2.3 客户端安装 (8) 2.3.1虚拟机客户端安装（Vitual Server Agent） (8) 2.3.2 Exchange客户端安装 (9) 2.4许可证管理 (14) 2.5存储介质管理 (16) 2.6存储策略配置 (18) 第三章VMware备份配置及恢复 (21) 3.1虚拟机备份配置 (21) 3.2虚拟机备份 (23) 3.3虚拟机恢复 (24) 第四章 Exchange备份配置及恢复 (26) 4.1 Exchange邮箱备份配置 (26) 4.2 Exchange邮箱备份 (28) 4.3 Exchange邮箱恢复 (30) 4.4 Exchange数据库备份配置 (31) 4.5 Exchange数据库备份 (32) 4.6 Exchange数据库恢复 (34)

第一章应用环境描述 1.1 CommVault服务器环境 CommVault服务器型号：IBM-3650-M2 CommVault服务器名称：cv Commvault服务器域名：https://www.sodocs.net/doc/369077032.html, CommVault服务器IP地址：xxx.xxx.xxx.xxx CommVault服务器操作系统：Windows2008 (64位) Web访问路径：http://xxx.xxx.xxx.xxx/console 1.2 CommVault软件安装信息 CV-SQL密码：xxxx Commvault客户端名：cv Commvault登录用户名：xxxx Commvault登录密码：xxxxx DR备份设置：D:\CVDR 1.3 Exchange环境一、Exchange备份架构二、Exchange架构环境描述 Exchange服务器操作系统：Windows2008 R2 （X64）Exchange版本：2010 现有5台虚拟服务器作为Exchange环境， 2台作为Exchange数据库服务器，采用DAG技术(Exdb1, Exdb2)， 2台作为客户端服务器做了负载均衡（Excas1, Excas2）， 1台作为边缘服务器（Exedge1）第二章备份系统安装及配置

sqc基础库使用手册

SqcLib库接口定义新的sqc基础库采用c++封装，开发人员只需要从基础类Db2Tools派生自己的业务类。然后重载基础类的busiLogic方法，就可以完成自己业务逻辑处理。具体的处理流程为： 1、在基础类Db2Tools的run方法中完成对具体应用参数的解析。 2、run方法调用busiLogic方法，完成具体的业务逻辑 3、busiLogic方法中调用基础类的常用数据库访问方法，完成对数据库的操作。 4、在基础类的数据库访问方法中，除完成指定的数据库操作外，同时完成日志输出和相关事务控制。[日志的输出目录为profile文件中定义的AGENTTRACEDIR目录，如果没有定义，取默认路径] 1函数列表 1.1数据库类（Db2Tools）该类有两个主要功能： 1、实现数据库访问 2、完成对具体业务逻辑调用和事务控制 ●connDb 函数原形：int connDb(const char *m_para_conn) 用途：连接数据库参数：m_para_conn：数据库名dbname 返回：1.输入的数据库参数不对 2.密码参数环境变量设置错误 3.数据库连接失败 0.数据库连接成功 ●busiLogic 函数原形：int busiLogic(void) 用途：业务逻辑入口参数：返回： ●run 函数原形：int run(int argc,char *argv[]) 用途：实例开始入口参数：argc：参数个数

Argv：参数数组（通常取main函数入口参数）返回：0：成功，其它：失败 ●db2RunstatTab 函数原形：int db2RunstatTab(char *tabname,char *file,int line) 用途：对表做runstats 参数：tabname：输入需要runstats的表名，schema.tabname或者tabname(schema默认为用户名) 返回：-1：失败 0：成功 ●db2Insert 函数原形：int db2Insert(char *sqlstr,char *tabname,char *file,int line) 用途：提交insert语句参数： sqlstr：insert sql语句 file： line：返回：-1：失败 0：成功 ●db2Update 函数原形：int db2Update(char *sqlstr,char *tabname,char *file,int line) 用途：提交update语句参数： sqlstr：update sql语句 file： line：返回：-1：失败 0：成功 ●db2Delete 函数原形：int db2Delete(char *sqlstr,char *tabname,char *file,int line) 用途：提交delete语句参数： sqlstr：delete sql语句 file： line：返回：-1.失败 0.成功 ●db2DropTab 函数原形：int db2DropTab(char *tabname,char *file,int line) 用途：删除表参数： tabname：需要删除的表名，schema.tabname file：

原子力显微镜(AFM)使用总结

原子力显微镜(AFM)是购买浙江大学光电研究所研制的，已经使用一年多，中间出现些问题，也都解决了，现在做个总结： 1、设备信号来源：激光信号接收：PSD（Position Sensitive Detector）全称为位置传感检测器，输出的是模拟信号，线性度好、响应快。探针：在镀金的小矩形上，每头有一大一小的等腰三角形，探针三角形顶端，垂直于三角形平面，肉眼只能看到三角形，看不到探针，一个矩形上有四个探针可以使用。压电陶瓷：样品在测试过程中，三维方向的运动是通过三根压电陶瓷的位移产生信号放大、反馈、数据采集、显示 2、过程 1、把用探针的小矩形用双面胶贴好，矩形伸出的长度一般为小于或接近长边的一半，用四个控制螺钉调节激光器，使激光照在三角形的边上，直到产生衍射条纹，并且衍射条纹在PSD左侧，不能在PSD光敏面上，倾斜方向 \ ，光斑中心居中，激光照在三角形边上达到衍射条件时将产生强的反射光； 2、用双面胶把待测样品粘在样品台上，双面胶要贴平，样品要测得地方不能太靠样品台中心，因为在测试时探针接触的位置不是在样品台的中心，然后把样品台固定在三根压电陶瓷构成的支杆上，适当转动样品台，使待测样品的中心与探针的位置相对； 3、用粗调使试样向探针运动，此时为了观察可把激光关了，当接近至1~2mm 时打开激光，使用细调，观察控制面板上PSD反馈信号、Z轴反馈信号的变化、衍射光斑的变化，但衍射光斑移动时说明已进入原子力的作用范围，应缓慢调节旋钮，在光斑移动迅速的时候应适当方向调节旋钮，防止调过，在PSD信号为1.6，Z轴反馈信号-200~-300时即可进行测试。 3、出现的问题和解决方法 3.1 Z轴反馈信号不稳定

(AFM)原子力显微镜原理介绍

原子力显微镜(AFM)原理一、原理原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM公司的Binnig与史丹佛大学的Quate于一九八五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用扫描探针显微镜（SPM）进行观测。图1、原子与原子之间的交互作用力因为彼此之间的距离的不同而有所不同，其之间的能量表示也会不同。原子力显微镜（AFM）与扫描隧道显微镜（STM）最大的差别在于并非利用电子隧道效应，而是利用原子之间的范德华力（Van Der Waals Force）作用来呈现样品的表面特性。假设两个原子中，一个是在悬臂（cantilever）的探针尖端，另一个是在样本的表面，它们之间的作用力会随距离的改变而变化，其作用力与距离的关系如“图1”所示，当原子与原子很接近时，彼此电子云斥力的作用大于原子核与电子云之间的吸引力作用，所以整个合力表现为斥力的作用，反之若两原子分开有一定距离时，其电子云斥力的作

用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用，故整个合力表现为引力的作用。若以能量的角度来看，这种原子与原子之间的距离与彼此之间能量的大小也可从Lennard –Jones的公式中到另一种印证。为原子的直径为原子之间的距离从公式中知道，当r降低到某一程度时其能量为+E，也代表了在空间中两个原子是相当接近且能量为正值，若假设r增加到某一程度时，其能量就会为-E同时也说明了空间中两个原子之间距离相当远的且能量为负值。不管从空间上去看两个原子之间的距离与其所导致的吸引力和斥力或是从当中能量的关系来看，原子力显微镜就是利用原子之间那奇妙的关系来把原子样子给呈现出来，让微观的世界不再神秘。在原子力显微镜的系统中，是利用微小探针与待测物之间交互作用力，来呈现待测物的表面之物理特性。所以在原子力显微镜中也利用斥力与吸引力的方式发展出两种操作模式：（1）利用原子斥力的变化而产生表面轮廓为接触式原子力显微镜（contact AFM），探针与试片的距离约数个?。（2）利用原子吸引力的变化而产生表面轮廓为非接触式原子力显微镜（non-contact AFM），探针与试片的距离约数十到数百?。二、原子力显微镜的硬件架构：在原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。

用户操作手册

用户操作手册 1、引言 [ 阐明编写手册的目的，指明读者对象。] 2、系统概述 2.1 目标 2.2 功能 2.3 性能 a.数据精确度[ 包括输入、输出及处理数据的精确度] b.时间特性[ 如响应时间、处理时间、数据传输时间等] c.灵活性[杂财政仪方式、运行环境需做某些变更是软件的适应能力] 3、运行环境 3.1 硬件[列出系统中的每种硬件的数量、名称、主要功能及性能。] 3.2 软件 3.2.1 支持软件 [ 如： a.操作系统名称及版本号； b.语言编译系统或汇编系统的名称及版本号； c.管理系统的名称及版本号； d.其他必要的支持软件。] 3.2.2 运行软件 [ 列出在系统中每种运行软件的名称、版本号及主要功能描述] 4、使用说明 4.1 硬件安装 [ 列出在系统中各硬件之间的接线图及安装说明] 4.2 软件安装 4.2.1 安装和初始化 [ 给出程序的存储形式、操作命令、反馈信息及其含义、表明安装完成的标志及安装所需的软件工具等] 4.2.2 输入[ 给出输入数据或参数的要求。] 4.2.2.1 数据背景[ 说明数据来源、存储媒体、出现频度、限制和质量管理等。] 4.2.2.2 数据格式 [ 如： a.长度； b. 格式基准； c. 标号； d. 顺序； e. 分隔符； f. 词汇表；g. 省略和重复；h. 控制] 4.2.2.3 输入举例 4.2.3 输出[ 给出每项输出数据的说明。] 4.2.3.1 数据背景[ 说明输出数据的去向、使用频度、存放媒体及质量管理等。] 4.2.3.2 数据格式[ 详细阐明每一输出数据的格式。如首部、主体和尾部的具体形式。] 4.2.3.3 举例 4.2.4 出错和恢复 [ 给出：a. 出错信息及其含义； b. 用户应采取的措施，如修改、恢复、再启动。]

DB2 简明运维手册

DB2 简明运维手册数据库启动数据库正常启动的流程包括两个步骤，首先启动数据库实例，在root用户下切换到实例用户su - db2inst1，执行命令db2start 然后激活对应的数据库，执行命令: db2 activate db 数据库名。直到出现：则数据库成功启动。数据库停止停止数据库使用如下命令：在root用户下切换到实例用户su - db2inst1，执行命令db2stop force，直到出现：则数据库停止成功。数据库参数 DB2的参数分为实例级参数和数据库级参数，以及实例注册变量实例级参数:

主要设置实例使用的TCP/IP端口，查看实例端口通过命令：db2 get dbm cfg 数据库实例注册变量：确认设置了通信协议为TCPIP，命令如下：如果没有设置则通过命令db2set DB2COMM=tcpip进行设置。数据库参数确认内存自动调整已经打开，否则连接到数据库并执行db2 update db cfg for sample using SELF_TUNING_MEM ON设置数据库的缺省日志参数为

如果需要修改日志参数，可以通过命令 db2 udpate db cfg for 数据库名using 参数名参数值例如增大备用日志文件数量到50，则可以通过命令修改创建数据库在实例用户下，执行 db2 "create <数据库名> on <目标路径> using codeset UTF-8 territory cn" 这样创建的数据库缺省页面大小（pagesize）为4K（4096），字符集为UTF-8，如果要使用GBK字符集，则把UTF-8修改为GBK即可。创建缓冲池（bufferpool）为了使用与缺省页面大小不一致的表空间，例如缺省页面大小为4K，但是需要使用32K页的表空间，就必须先创建页面大小为32K的缓冲池，命令如下：db2 "create bufferpool bp32k pagesize 32768" bp32k为缓冲池的名字，通常每种页面大小创建一个缓冲池即可，例如8K页面的缓冲池可以命名为bp8k。缓冲池缺省为自动调整大小，如果需要限定使用内存，则使用alter命令，如下： db2 "alter bufferpool bp32k size <页面数量> " <页面数量>为目标内存大小/页面大小，例如要为32K的bufferpool分配2GB内存，则： <页面数量>=2 * 1024 * 1024 / 32 = 65536 创建表空间如果创建数据库默认页面大小的表空间，并且选择系统自动管理的模式，则使用命令： db2 "create tablespace <表空间名>"

IBP中文操作手册

PPC 中文操作手冊 IBP 機型上海譯本2005年9月ANGUS

1.0 安全資訊机台设计安全為首要考慮,设计符合工业安全标准,每台干燥机在出厂时都检查了安全性和运行操作,每个压力容器在ASME Section VIII范围以下通过静力流体的测试,以保证符合最新的安全标准.每台干燥机出厂都配备了安全阀. 警告-为了保证机台安全运行必须遵守以下安全规范,否则会造成机台损坏和人员伤亡,并此损坏不在保固范围内. 1 不要安装或维修在运输时已经损坏的干燥机 2 不要让干燥机在超过最高设计压力或温度下运行，做维修时要先泄压 3 安装机台时要符合当地的供电模式，维修时应切断主电源 4 机台的某些部件没有绝缘，正常运行时温度就会很高，没有确定表面温度时不要随便触摸 5 使用原厂的备品和配件机台指示标志： DANGER－立刻产生危险，造成严重的伤害或死亡 WARNING－危险或不安全的动作会造成严重伤害或死亡； CAUTION－危险或不安全的动作会造成较小的伤害或产品和财产的损坏 2.0 接收,储置,搬運 2.1 接收并检查运输时上船前我们已经检查和包装,是被运送人员承认和接收的,业主收到机台以后,立即检查在运输途中可能造成的损坏.如果有,坚决追究货运代理的责任,否则,原厂不负责索赔.也要检查隐藏的损坏,货物运达时表面上是好的,打开后发现有损坏,就要立即通知货运公司坚持要货运检查证明,除了检查确认损坏,货运代理是不会考虑索赔的.如果你接收了损坏的货物,你就要承担风险和费用.我们把货物运到FOB 点,隐藏损坏的索赔就不是我们的责任了,干燥机索赔不包括运输损坏. 2.2 储置室内储置机台,避免电子和机械元件的损坏.确认机台到达安装位置后再拆除包装. 2.3 搬運干燥机的设计时移动要借助垫木和基座槽,干燥机有方便起重机的起重环,起重时保证接触到所有的起重环点,避免对干燥机造成损坏注意:機台管路部份并非起吊點，請勿隨意吊起机台,否则会造成机台严重损坏 3.0 说明 3.1 功能外加热再生干燥机经济可靠,干燥压缩空气到露点温度.吸附式干燥机吸附压缩空气中的水气在干燥剂的表面,当空气中水气的部分压力和干燥剂表面的压力达到平衡时,说明吸附完全. 干燥机用两个相同的桶槽持续干燥压缩空气,每个都有干燥床,一个桶槽干燥,另一个再生,桶槽干燥和再生的切换可以保证持续提供干燥气体到后端.桶槽开关的切换由电磁阀控制. 当一个桶槽干燥完毕,会缓慢泄压,干燥剂再生.首先,鼓风机抽周围空气加热,加热过的气体通过干燥床,带走干燥剂的湿气,当干燥床完全干燥后鼓风机和加热器停止动作,干燥床冷却时,干燥完的一部分气体以接近大气压力通过热的桶槽冷却干燥床,冷却结束后,桶槽建压到保压状态,这避免了桶槽切换后干燥剂移动和后端压力损失.