设备管理系统 测试分析报告

测试分析报告（GB8567——88）

1引言

1.1编写目的

软件的错误是不可避免的，所以必须经过严格的测试。通过对本软件的测试，尽可能的发现软件中的错误，以减少系统内部各模块的逻辑，功能上的缺陷和错误，保证每个单元能正确的实现其预期的功能。J检测和排除子系统结构或相应程序结构上的错误，是所有系统单元配合合适，整体的性能和功能完整。

1.2背景

资产设备管理系统，包括设备管理，调拨管理，维修管理，组织管理，类型管理，类别管理，用户管理，权限管理等，可以实现对各个模块的增删查改的功能。

系统的核心是设备管理，调拨管理以及维修管理，在对相应信息进行操作的时候同时要实现相关表的更新，例如调拨只能调拨设备状态为空闲的设备，增加调拨及维修记录时同时也要修改相关设备记录的状态为忙碌和故障等，在开始测试之前要保证用户表里面有一条管理员身份的用户记录，保证测试人员能顺利登陆系统完成测试。

1.3定义

列出本文件中用到的专问术语的定义和外文首字母组词的原词组。

1.4参考资料

参考文献：

《C# 3.0从基础到项目实践》化学工业出版社李海涛著

《C#程序设计基础》电子工业出版社赵敏著

《C#https://www.sodocs.net/doc/4514272714.html,实用教程》电子工业出版社李纯莲著

2测试概要

3测试结果及发现3.1测试1

3.2测试2

3.3测试3

3.4 测试4

3.6 测试6

材料分析测试技术A卷

一、选择题（每题1分，共15分） 1、X射线衍射方法中，最常用的是（） A．劳厄法 B.粉末多晶法 C.转晶法 2、已知X射线定性分析中有三种索引，已知物质名称可以采用（） A.哈式无机相数值索引 B.无机相字母索引 C.芬克无机数值索引 3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分 析的信号是（） A. 背散射电子 B.俄歇电子 C.特征X射线 4、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用的方法是（） A.外标法 B.内标法 C.直接比较法 D.K值法 5、下列分析方法中分辨率最高的是（） A.SEM B.TEM C. 特征X射线 6、表面形貌分析的手段包括（） A.SEM B.TEM C.WDS D. DSC 7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将 另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（） A.光电子 B.二次电子 C.俄歇电子 D.背散射电子 8、透射电镜的两种主要功能（） A.表面形貌和晶体结构 B.内部组织和晶体结构 C.表面形貌和成分价键 D.内部组织和成分价键 9、已知X射线光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（） A.Co B.Ni C.Fe D.Zn 10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为（） A.非晶体样品 B.金属样品 C.粉末样品 D.陶瓷样品 11、在电子探针分析方法中，把X射线谱仪固定在某一波长，使电子束在样品表面 扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像，这种分析方法是（）

A.点分析 B.线分析 C.面分析 12、下列分析测试方法中，能够进行结构分析的测试方法是（） A.XRD B.TEM C.SEM D.A+B 13、在X射线定量分析中，不需要做标准曲线的分析方法是（） A.外标法 B. 内标法 C. K值法 14、热分析技术不能测试的样品是（） A.固体 B.液体 C.气体 15、下列热分析技术中，（）是对样品池及参比池分别加热的测试方法 A.DTA B.DSC C.TGA 二、填空题（每空1分，共20分） 1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型，即和。 2、常见的几种电子衍射谱为单晶衍射谱、、、高级劳厄带斑 点、。 3、透射电镜的电子光学系统由、、和四部分组成 4、今天复型技术主要应用方法来截取第二相微小颗粒进行分析。 5、扫描电子显微镜经常用的电子信息是、和 6、德拜照相法中的底片安装方法有、和 7、产生衍射的必要条件是 8、倒易点阵的两个基本特征是和 9、透射电镜成像遵循原理 三、名词解释（每题5分，共20分） 1、X射线强度 2、结构因子 3、差热分析

软件测试质量分析分析报告

软件测试质量分析报告 1编写目的 为了发现程序的错误和缺陷，通过测试，检查该程序是否达到了预期的结果， 2 这些标准的软件，其质量难以得到保证。软件还应满足某些隐含的要求，例如希望有良好的可理解性、可维护性等，而这些隐含的要求可能未被写在用户规定的需求中，满足它的显性需求而不满足其隐含需求，那么该软件的质量是令人怀疑的。4：测试工具及方法 （1）单元测试 测试工具：Eclipse

Eclipse简介： Eclipse是一个开放源代码的、基于Java的可扩展开发平台。就其本身而言，它只是一个框架和一组服务，用于通过插件组件构建开发环境。幸运的是，Eclipse附带了一个标准的插件集，包括Java开发工具（JavaDevelopmentKit，JDK）。 虽然大多数用户很乐于将Eclipse当作Java集成开发环境（IDE）来使用，但 （ Eclipse 于 （structuraltesting）等，软件测试的主要方法之一，也称结构测试、逻辑驱动测试或基于程序本身的测试。 白盒测试法的覆盖标准有逻辑覆盖、循环覆盖和基本路径测试。其中逻辑覆盖包括语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定/条件覆盖、条件组合覆盖和路径覆盖。优点和缺点 1.优点

·昂贵 ·迫使测试人员去仔细思考软件的实现 ·可以检测代码中的每条分支和路径 ·揭示隐藏在代码中的错误 ·对代码的测试比较彻底 2. 划分了等价类后，就可以说，如果对该集合中某个元素所进行的测试没有发现错误的话，那么对该集合中其他元素所进行的测试也不大可能会发现错误。 使用等价类划分方法设计测试用例主要有两个步骤：（1）确定等价类；（2）生成测试用例 黑盒测试的优缺点 优点:

材料分析方法实验报告

篇一：材料分析方法实验报告 篇二：材料分析方法课程设计报告 材料分析测试方法 课程设计（论文） 题目：磁控溅射c/w多层膜成分及微观分析 学院材料科学与工程 专业材料化学 班级材化082 学生王维娜 学号 3080101296 指导教师陈迪春 起止时间 2010.12.27-2011.1.1 年 材料分析测试方法课程设计任务书 课程设计内容要求： 掌握高分辨透射电子显微镜样品制备方法，学习并了解真空镀膜 技术-磁控溅射技术，多层膜制备过程，以及其微观结构分析，成分 分析所用仪器和原理。 学生（签名） 月日 材料分析测试方法课程设计评语 指导教师（签名） 年日 目录 材料分析测试方法 ............................................................................. .. (1) 1.1 磁控溅射 ............................................................................. (5) 1.2 x射线衍射仪 ............................................................................. . (5) 1.3 透射电子显微镜 ............................................................................. (6) 1.4 x射线光电子能谱仪（xps） ........................................................................ (7) 第二章实验方法 ............................................................................. .. (9) 2.1 tem样品的制备方法 .............................................................................

《材料分析测试技术》试卷答案

《材料分析测试技术》试卷（答案) 一、填空题：(20分，每空一分) 1．X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2．X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X 射线、和热。 3．德拜照相法中的底片安装方法有: 正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分: 定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5．透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6.今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 ８．扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题:（8分，每题一分） 1.X射线衍射方法中最常用的方法是( b ）。 a．劳厄法；b．粉末多晶法;ｃ.周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是(b)。 ａ．Co;b. Nｉ;c.Fe。 3.X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用( c )。 a．哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引；ｃ. 戴维无机字母索引。 4.能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。 a．第二聚光镜光阑；b．物镜光阑;c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。 a.球差; b. 像散; c. 色差。 6．可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是( a)。 ａ．高阶劳厄斑点；ｂ．超结构斑点;c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nｍ厚表层成分的信号是（b)。 a.背散射电子; b.俄歇电子；ｃ. 特征Ｘ射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是（ｃ)。 a．以物镜光栏套住透射斑;b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题：(2４分,每题8分） 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？ 答: X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小适 中,在1ｕｍ－5uｍ之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个 最佳厚度(t =

《材料分析测试技术》试卷(答案)

《材料分析测试技术》试卷（答案） 一、填空题：（20分，每空一分） 1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。 2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。 4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。 二、选择题：（8分，每题一分） 1. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。 a．劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。 2. 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。 a．Co ；b. Ni ；c. Fe。 3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c ）。 a．哈氏无机数值索引；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。 4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。 a．第二聚光镜光阑；b. 物镜光阑；c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。 a．球差；b. 像散；c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）。 a．高阶劳厄斑点；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）。 a．背散射电子；b.俄歇电子；c. 特征X射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是（c）。 a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、问答题：（24分，每题8分） 1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？ 答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小 适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一 个最佳厚度（t =

软件测试分析报告

软件测试分析报告 Coca-cola standardization office【ZZ5AB-ZZSYT-ZZ2C-ZZ682T-ZZT18】

测试分析报告（GB8567——88） 1引言 编写目的 说明这份测试分析报告的具体编写目的，指出预期的阅读范围。 背景 说明： a.被测试软件系统的名称； b.该软件的任务提出者、开发者、用户及安装此软件的计算中心，指出测 试环境与实际运行环境之间可能存在的差异以及这些差异对测试结果的影响。 定义 列出本文件中用到的专问术语的定义和外文首字母组词的原词组。 参考资料 列出要用到的参考资料，如： a．本项目的经核准的计划任务书或合同、上级机关的批文； b．属于本项目的其他已发表的文件； c．本文件中各处引用的文件、资料，包括所要用到的软件开发标准。列出这些文件的标题、文件编号、发表日期和出版单位，说明能够得到这些文件资料的来源。 2测试概要 用表格的形式列出每一项测试的标识符及其测试内容，并指明实际进行的测试工作内容与测试计划中预先设计的内容之间的差别，说明作出这种改变的原因。

3测试结果及发现 测试1（标识符） 把本项测试中实际得到的动态输出（包括内部生成数据输出）结果同对于动态输出的要求进行比较，陈述其中的各项发现。 测试2（标识符） 用类似本报告条的方式给出第 2项及其后各项测试内容的测试结果和发现。 4对软件功能的结论 功能1（标识符） 能力 简述该项功能，说明为满足此项功能而设计的软件能力以及经过一项或多项测试已证实的能力。 限制 说明测试数据值的范围（包括动态数据和静态数据），列出就这项功能而言，测试期间在该软件中查出的缺陷、局限性。 功能2（标识符） 用类似本报告的方式给出第2项及其后各项功能的测试结论。 ．．．．．．

软件测试分析报告模板

软件项目系统测试报告 2019年10月

1．引言部分 1．1项目背景 本测试报告的具体编写目的，指出预期的读者范围。 本测试报告为（系统名称）系统测试报告；本报告目的在于总结测试阶段的测试及测试结果分析，描述系统是否达到需求的目的。 本报告预期参考人员包括测试人员、测试部门经理、项目管理人员、SQA人员和其他质量控制人员。 1．2参考资料 XXXX需求说明书 2．测试基本信息 2．1测试范围 2．2测试案例设计思路 根据上述测试范围测试点进行测试用例的设计。

3．测试结果及缺陷分析 3．1测试执行情况与记录 3．1．1测试组织 3．1．2测试时间 3．1．3冒烟情况 3．1．4测试用例统计 3．2缺陷的统计与分析 缺陷汇总： 列出本次实际发现缺陷数、解决的缺陷数、残留的缺陷数、未解决的缺陷数。 缺陷分析： 对测试中发现的缺陷按缺陷类型、严重程度进行分类统计： 对测试中发现的缺陷就其功能分布、测试阶段进行统计，分析软件缺陷倾向及其主要原因： 残留缺陷与未解决问题 对残留缺陷对系统功能的影响情况进行分析：对未解决问题对项目的影响(如有，列表说明)

4．测试结论与建议 4．1风险分析及建议 有/无按实际写 4．2测试结论 本项目根据业务需求及开发人员的反馈意见，覆盖了所有的测试需求及案例，均已在ST环境测试完成，有效案例一共xx个，执行率xx%,，成功率xx%，缺陷关闭率为xx%，目前缺陷均已修复并回归关闭； 综上所述，xx需求达到ST项目测试出口标准，本项目ST测试(通过/不通过)，可以进行验收测试 5．交付文档 《xxx需求_系统测试计划》 《xx需求_测试案例》 《xx需求_ST测试报告》

材料分析报告测试技术复习题二

材料分析测试技术 一、名词解释（共有20分，每小题2分。） 1. 辐射的发射：指物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。 2. 俄歇电子：X射线或电子束激发固体中原子内层电子使原子电离，此时原子(实际是离子)处于激发 态，将发生较外层电子向空位跃迁以降低原子能量的过程，此过程发射的电子。 3. 背散射电子：入射电子与固体作用后又离开固体的电子。 4. 溅射：入射离子轰击固体时，当表面原子获得足够的动量和能量背离表面运动时，就引起表面粒 子（原子、离子、原子团等）的发射，这种现象称为溅射。 5. 物相鉴定：指确定材料（样品）由哪些相组成。 6. 电子透镜：能使电子束聚焦的装置。 7. 质厚衬度：样品上的不同微区无论是质量还是厚度的差别，均可引起相应区域透射电子强度的改 变，从而在图像上形成亮暗不同的区域，这一现象称为质厚衬度。 8. 蓝移：当有机化合物的结构发生变化时，其吸收带的最大吸收峰波长或位置（?最大）向短波方 向移动，这种现象称为蓝移（或紫移，或“向蓝”）。 9. 伸缩振动：键长变化而键角不变的振动，可分为对称伸缩振动和反对称伸缩振动。

10. 差热分析：指在程序控制温度条件下，测量样品与参比物的温度差随温度或时间变化的函数关系 的技术。 二、填空题（共20分，每小题2分。） 1. 电磁波谱可分为三个部分，即长波部分、中间部分和短波部分，其中中间部分包括（红外线）、 （可见光）和（紫外线），统称为光学光谱。 2. 光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。 光谱按强度对波长的分布（曲线）特点（或按胶片记录的光谱表观形态）可分为（连续）光谱、（带状）光谱和（线状）光谱3类。 3. 分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。 分子散射包括（瑞利散射）与（拉曼散射）两种。 4. X射线照射固体物质(样品)，可能发生的相互作用主要有二次电子、背散射电子、特征X射线、俄 歇电子、吸收电子、透射电子 5. 多晶体（粉晶）X射线衍射分析的基本方法为（照相法）和（X射线衍射仪法）。 6. 依据入射电子的能量大小，电子衍射可分为（高能）电子衍射和（低能）电子衍射。依据 电子束是否穿透样品，电子衍射可分为（投射式）电子衍射与（反射式）电子衍射。

材料测试与分析技术

计算机标准化考试试题 第一章X射线衍射分析 一、填空（每空1分） 1.X射线从本质上说，也是[ 电磁波]，其波长范围大约在[0.01～1000?]。 2.X射线管发出的X射线，可得到面积为1mm×1mm的[ 点]焦点和面积为 0.1mm×10mm的[线]焦点。从[线]焦点窗口发出的X射线适用于衍射仪 的工作。 3.标识X射线谱中，对一定线系的某条谱线而言，其波长与原子序数的平方近 似成[反比]关系，这就是著名的[ 莫塞莱]定律。 4.伴随光电吸收而发生的有[荧光X射线]和[俄歇电子]。 5.布拉格方程2dsinθ=λ是X射线晶体学中最基本的公式，其中d是[晶面间 距]，θ是[布拉格角（半衍射角）]，λ是[入射X射线波长]。 6.通常将入射线与晶面的交角θ称为[布拉格角（半衍射角）]，入射线与衍 射线的交角2θ称为[衍射角]。 7.X射线衍射方法有[劳厄法]、[转动晶体法（转晶法）]、[粉晶法]和[衍 射仪法]四种方法。 8.从粉末衍射线束强度的测量中，可以得到有关[晶体结构]，多相混合物中 各物质的[相对含量]等多种信息。 9.衍射仪的工作方式有[连续扫描]和[步进扫描]两种。 10.进行定性相分析时，必须先将试样用粉晶法或衍射仪法测定各衍射线的[衍射 角]，将它换算为晶面间距d，再测出各条衍射线的[相对强度]，然后与各种结晶物质的标准衍射花样进行比较鉴别。 11.粉末衍射标准联合委员会专门负责收集、校订各种物质的衍射数据，将它们 进行统一的分类和编号，编织成卡片出版，这种卡片组被命名为[粉末衍射卡组]，简称[PDF]卡。 二、判断题(每题1分) 1标识X射线（特征X射线）的波长只决定于元素，不同元素将发出不同波长的谱线。[对] 2X射线的相干散射不损失能量，只改变方向，它们可以相互干涉形成衍射图样。[对] 3布拉格公式是X射线晶体学中最基本的公式，它与光学反射定律加在一起就是布拉格定律。[对] 4劳厄法是用连续X射线照射多晶体的衍射方法。[错]

软件测试总结报告

1 引言 1.1编写目的 编写该测试总结报告主要有以下几个目的 1．通过对测试结果的分析，得到对软件质量的评价 2．分析测试的过程，产品，资源，信息，为以后制定测试计划提供参考 3．评估测试测试执行和测试计划是否符合 4. 分析系统存在的缺陷，为修复和预防 bug 提供建议 1.2背景 1.3用户群 主要读者：***项目管理人员 其他读者：*** 项目相关人员。 1.4定义 基本功能点测试：等价类划分法、边界值法、错误推测法、场景法 业务流程测试：根据业务逻辑，构建测试数据，执行业务流程，查看执行结果与预期是否一致 界面易用性测试：根据界面测试规范及日常使用习惯，提出软件的非功能实现问题 回归测试：对已修复的问题，根据测试出该错误的用例，重新执行该用例，验证问题是否真正被修复，以及是否又引起了其它错误 1.5 测试对象 对综合管理系统进行全新测试，主要进行功能测试、系统测试 1.6测试阶段 第一阶段：对主业务逻辑及功能进行测试 第二阶段：对所有业务逻辑及功能进行深入测试 第三阶段：回归测试 1.7测试工具 BugFree缺陷管理工具 1.8参考资料 《***功能描述》 《***数据字典》

《***测试计划》 《***测试用例》 《***项目计划》 2 测试概要 ***系统测试从 2012年7月25日到2012年10月12日基本结束，历时近70个工作日。后续还有一些扫尾的工作，又增加一些工作时日。是一项花费大量人力物力的项目。 ***通过BugFree缺陷管理工具进行缺陷跟踪管理，在bugfree中有详细的测试用例以及用例执行情况记录 2.1 进度回顾 2.2 测试执行 此次测试严格按照项目计划和测试计划执行，按时完成了测试计划规定的测试对象的测试。针对测试计划规定的测试策略，在测试执行中都有体现，在测试执行过程中，依据测试计划和测试用例，对系统进行了完整的测试、 2.3 测试用例

搜索引擎测试方法分析报告材料

搜索引擎测试方法分析 搜索引擎的重要性自然体现出来了。大家最熟悉的专业搜索引擎有yahoo!、Google、百度…………然后搜索引擎并不止这些，一些大型的网站也有自己的搜索引擎，那搜索引擎怎么测试呢？ 搜索引擎的测试也分为功能与性能测试，我在下面依次来分享： 首先，我们把整个测试计划分为线下测试与线上测试。线下与线上测试都要分功能测试与性能测试，先说现线下的测试。 一、线下功能测试分为两个部分，一部分为搜索引擎本身的功能测试，一部分为嵌套在前台应用中的功能测试： 1、搜索引擎本身的功能测试，主要就是按照用例，通过不同的搜索关键字、属性的组合(按照搜索引擎的规则)来直接访问搜索引擎，查看返回的数据、参数是不是符合原先预计的结果。可以编写脚本来批量执行，判断每一个搜索的返回结果数与内容，相对应的参数是否一致。也可以手工执行，使用浏览器或者命令行(如curl)来做，用肉眼来观察结果。 2、嵌套前台应用的功能测试，只要就是按照用例通过前台的操作，来测试搜索引擎的

相关的功能，测试搜索引擎与前台的接口是否正确应用，至于如何测试，这个地球人都知道了，我就不在这里多说了。 二、线下性能测试也分为两个部分，一部分为直接对搜索引擎进行加压的性能测试，另一部分为通过前台应用进行加压的性能测试： 1、直接对搜索引擎进行加压，可以测试出搜索引擎本身最真实的性能状况。可以把搜索引擎的有效负荷，最大承受的压力测试出来。具体的方法是，使用工具如loadrunner使用一个web_url直接加压，加压的内容其实就是你在功能测试中，直接测试搜索引擎时使用的那些搜索关键字、属性的组合(按照搜索引擎的规则)，具体的规则可以通过log来查看，也可以询问开发人员。需要注意的是，数据准备一定要海量，至少10万条以上的搜索数据(注意，就是你访问搜索引擎的那些关键字组合，至于被搜索的数据，越大越好，最少多大，看你实际需要了)。当一切都准备完毕后，就可以启动工具来进行加压了。 2、通过前台应用进行加压，主要的压力都集中在前台应用上面，对于搜索引擎本身的压力并不会很大，但是这种测试也是必须的，因为你的搜索引擎是离不开前台应用的，这种测试可以模拟最真实的终端用户使用。所以不要怕麻烦，这个才是最后真正有意义的测试结果。 三、线上的功能测试，其实就是功能回归了，使用预发布环境(一套独立的缩小的线上的架构)来跑回归，手工或者自动化随便，这是不能缺少的。

机械工程测试技术基础(第三版)试卷及答案集

机械工程测试技术基础(第三版)试卷集. 一、填空题 １、周期信号的频谱是离散的，而非周期信号的频谱是连续的。 ２、均方值Ψx2表示的是信号的强度，它与均值μx、方差ζx2的关系是￠x2=H x2+óx2。 ３、测试信号调理电路主要有电桥、放大、调制解调电路。 ４、测试系统的静态特性指标有非线性度、灵敏度、回程误差。５、灵敏度表示系统输出与输入之间的比值，是定度曲线的斜率。 ６、传感器按信号变换特性可分为组合型、一体型。 ７、当Δó〈〈ó0时，可变磁阻式电感传感器的输出和输入成近似线性关系，其灵敏度S 趋于定值。 ８、和差特性的主要内容是相临、相反两臂间阻值的变化量符合相邻相反、相对相同的变化，才能使输出有最大值。 10、系统动态特性在时域可用传递函数来描述，在复数域可用频率函数来描述，在频域可用脉冲响应来描述。 11、高输入阻抗测量放大电路具有高的共模抑制比，即对共模信号有抑制作用，对差模信号有放大作用。 12、动态应变仪上同时设有电阻和电容平衡旋钮，原因是导线间存在分布电容。 13、压控振荡器的输出电压是方波信号，其频率与输入的控制电压成线性关系。 14、调频波的解调又称鉴频，其解调电路称为鉴频器。 15、滤波器的通频带宽和响应时间成反比关系。 16、滤波器的频率分辨力主要由其带宽决定。 17、对于理想滤波器，滤波器因数λ＝1。 18、带通滤波器可由低通滤波器（f c2）和高通滤波器（f c1）串联而成（f c2> f c1）。 19、测试系统的线性度和滞后度是由系统误差引起的；而重复性误差是

由 随机 误差引起的。 ７、信号分析的过程主要包括： 信号加工 、 信号变换 。 ９、在数据采集系统中，常采用 程序控制 放大器。 10、根据载波受调制的参数的不同，调制可分为 调频 、 调幅 、 调相 。 16、用滤波的方法从信号提取的频率成分越窄，即带宽越小，需要的时间就越 长 。 17、如信号的自相关函数为Acos ωη，则其均方值Ψx 2= A 。 18、低通滤波器对阶跃响应的建立时间T e 带宽B 成 反比 、，或者说它们之间的乘机是 常数 。 ８、信号程选择性 决定着滤波器对带宽外频率成分衰阻的能力 １、周期信号的频谱是 离散 的，而非周期信号的频谱是连续的。 2、周期信号可按三角函数分解成下列形式： ) cos cos ()(001 0t n b t n a a t x n n n ωω++ =∑∞ = ， ; sin )(;cos )(; )(2 /2 /022 /2/022 /2/1 0? ?? ---= = =T T T n T T T n T T T tdt n t x b tdt n t x a dt t x a ωω 8．周期信号()x t 的傅氏三角级数展开式中：n a 表示 余弦分量的幅值 ，n b 表示 正弦分量的幅值 ，0a 表示直流分量。 3、使信号中特定的频率成分通过，而衰减其他频率成分的电路称 滤波器 。 4、信号可分为确定性信号和 随机信号 ，也可分为模拟信号和 数字信号 。 5、滤波器的品质因素Q 与带宽B 的关系是 f Q B = 。 6、金属应变片是根据 应变效应 原理工作的。 7、当把石英等晶体置于电场中，其几何尺寸将发生变化，这种由于外电场作用 导致物质机械变形的现象称为 逆电压效应 。 8、矩形窗函数的频谱是 sin c 或sinx/x 函数。 9、两个时域函数1()x t 、2()x t 的卷积定义为 12()()x t x t d ττ-? 。

软件测试报告 范本

xxxxxxxxxxxxxx 测试报告

目录 1.引言 (1) 1.1 编写目的 (1) 1.2 项目背景 (1) 1.3 系统简介 (1) 1.4 参考资料 (1) 2.测试概要 (2) 2.1 测试方法（和工具） (2) 2.2 测试范围 (2) 2.3测试环境与配置 (2) 3.测试结果与缺陷分析 (3) 3.1测试执行情况与记录 (3) 3.1.1测试组织 (3) 3.1.2测试时间 (3) 3.1.3测试版本 (4) 3.2覆盖分析 (4) 3.2.1需求覆盖 (4) 3.2.2测试覆盖 (4) 3.3缺陷的统计与分析 (5) 3.3.1缺陷汇总 (5) 3.3.2缺陷分析 (5) 3.3.3残留缺陷与未解决问题 (6) 4.测试结论与建议 (6) 4.1 测试结论 (6) 4.2 建议 (6)

1.引言 1.1 编写目的 实例：本测试报告为XXX项目的测试报告，目的在于总结测试阶段的测试以及分析测试结果，描述系统是否符合需求（或达到XXX功能目标）。预期参考人员包括用户、测试人员、、开发人员、项目管理者、其他质量管理人员和需要阅读本报告的高层经理。 1.2 项目背景 对项目目标和目的进行简要说明。必要时包括简史，这部分不需要脑力劳动，直接从需求或者招标文件中拷贝即可。 1.3 系统简介 如果设计说明书有此部分，照抄。注意必要的框架图和网络拓扑图能吸引眼球。 1.4 参考资料 1. 需求、设计、测试用例、手册以及其他项目文档都是范围内可参考的东西。 2. 测试使用的国家标准、行业指标、公司规范和质量手册等等。

2.测试概要 测试的概要介绍，包括测试的一些声明、测试范围、测试目的等等，主要是测试情况简介。（其他测试经理和质量人员关注部分） 2.1 测试方法（和工具） 简要介绍测试中采用的方法(和工具)。 提示：主要是黑盒测试，测试方法可以写上测试的重点和采用的测试模式，这样可以一目了然的知道是否遗漏了重要的测试点和关键块。工具为可选项，当使用到测试工具和相关工具时，要说明。注意要注明是自产还是厂商，版本号多少，在测试报告发布后要避免大多工具的版权问题。 2.2 测试范围 简要介绍测试用例的设计方法。例如：等价类划分、边界值、因果图，以及用这类方法(3-4句)。 提示：如果能够具体对设计进行说明，在其他开发人员、测试经理阅读的时候就容易对你的用例设计有个整体的概念，顺便说一句，在这里写上一些非常规的设计方法也是有利的，至少在没有看到测试结论之前就可以了解到测试经理的设计技术，重点测试部分一定要保证有两种以上不同的用例设计方法。 2.3测试环境与配置 简要介绍测试环境及其配置。 提示：清单如下，如果系统/项目比较大，则用表格方式列出 数据库服务器配置 CPU： 内存： 硬盘：可用空间大小 操作系统： 应用软件： 机器网络名： 局域网地址： 应用服务器配置

材料测试分析技术实验报告

本科生实验报告 实验课程材料研究方法与分析测试实验 学院名称材料与化学化工学院 专业名称材料科学与工程(无机非金属方向) 学生姓名闵丹 学生学号201202040327 指导教师邓苗、冯珊、张湘辉、胡子文、孔芹实验地点测试楼、理化楼 实验成绩 二〇一四年十一月——二〇一五年一月

实验一X射线物相定性分析 一.实验目的 1.学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理； 2.掌握X射线衍射物相定性分析的方法和步骤； 二.实验原理 根据晶体对X射线的衍射特征－衍射线的位置.强度及数量来鉴定结晶物质之物相的方法，就是X射线物相分析法。每一种结晶物质都有各自独特的化学组成和晶体结构。没有任何两种物质，它们的晶胞大小.质点种类及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。因此，当X射线被晶体衍射时，每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样，它们的特征可以用各个衍射晶面间距d和衍射线的相对强度I／I0来表征。其中晶面间距d与晶胞的形状和大小有关，相对强度则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。所以任何一种结晶物质的衍射数据d和I／I0是其晶体结构的必然反映，因而可以根据它们来鉴别结晶物质的物相。 三. 实验仪器 X射线衍射仪，主要由X射线发生器（X射线管）.测角仪.X射线探测器.计算机控制处理系统等组成。 1. X射线管 X射线管主要分密闭式和可拆卸式两种。广泛使用的是密闭式,由阴极灯丝.阳极.聚焦罩等组成,功率大部分在1～2千瓦。可拆卸式X射线管又称旋转阳极靶,其功率比密闭式大许多倍,一般为12～60千瓦。常用的X射线靶材有W.Ag.Mo.Ni.Co.Fe.Cr.Cu等。X射线管线焦点为1×10平方毫米,取出角为3～6度。选择阳极靶的基本要求：尽可能避免靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射，以降低衍射花样的背底，使图样清晰。 2 测角仪是粉末X射线衍射仪的核心部件，主要由索拉光阑.发散狭缝.接收狭缝.防散射狭缝.样品座及闪烁探测器等组成。 (1) 衍射仪一般利用线焦点作为X射线源S。如果采用焦斑尺寸为1×10平方毫米的常规X射线管，出射角6°时，实际有效焦宽为0.1毫米，成为0.1×10平方毫米的线状X射线源。 (2) 从S发射的X射线，其水平方向的发散角被第一个狭缝限制之后，照

最新软件测试报告模板分析

(OA号：OA号/无)XXX产品名称XX版本（提测日期：YYYY.MM.dd） 第XX轮 功能/性能/稳定性/兼容性测试报告

修订历史记录 A - 增加 M - 修订 D - 删除

1.概述 (4) 1.1 测试目的 (4) 1.2 测试背景 (4) 1.3 测试资源投入 (4) 1.4 测试功能 (5) 1.5 术语和缩略词 (5) 1.6 测试范围............................................................................................ 错误!未定义书签。 2.测试环境 (6) 2.1 测试软件环境 (6) 2.2 测试硬件资源 (7) 2.3 测试组网图 (6) 3.测试用例执行情况 (7) 4.测试结果分析（大项目） (8) 4.1 Bug趋势图 (8) 4.2 Bug严重程度 (9) 4.3 Bug模块分布 (9) 4.4 Bug来源............................................................................................ 错误!未定义书签。 5.测试结果与建议 (10) 5.1 测试结果 (10) 5.2 建议 (11) 5.3 测试差异分析 (11) 6.测试缺陷分析 (11) 7.未实现需求列表 (11) 8.测试风险 (12) 9.缺陷列表 (12)

1.概述 1.1 测试目的 本报告编写目的，指出预期读者范围。 1.2 测试背景 对项目目标和目的进行简要说明，必要时包括该项目历史做一些简介。 1.3 测试资源投入 //针对本轮测试的一个分析 //测试项：功能测试、性能测试、稳定性测试等

材料分析测试技术试卷A-答案

山东科技大学2010—2011学年第二学期 《材料分析测试技术》考试试卷（A卷）答案及评分标准 一、选择题（每空1分，共15分） 1-5、BBBCB 6-10、ACBCA 11-15、CDCCB 二、填空题（每空1分，共20分） 1、连续X射线和特征X射线。 2、多晶电子衍射谱、多次衍射谱、菊池线。 3、光学系统、样品室、放大系统、供电和真空系统 4、萃取复型 5、二次电子和背散射电子、吸收电子、特征X射线（任填3个） 6、正装法、反装法（倒装法）、45℃法（不规则法） 7、满足布拉格定律 8、H（hkl）垂直于正点阵（hkl）面；H（hkl）=1/d（hkl） 9、阿贝成像原理 三、名词解释（每题5分，共20分） 1、X射线的强度 X射线的强度是指行垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。常用的单位是J/cm2.s。 2、结构因子 结构因子是指一个单胞对X射线的散射强度，由于衍射强度正比于结构因子模的平方，消光即相当于衍射线没有强度，因此可通过结构因子是否为0来研究消光规律 3、差热分析 在程序控制温度条件下，测量样品与参比的基准物质之间的温度差与温度关系的一种热分析方法。 4、衍射衬度 衍射衬度是指试样中由于各处晶体取向不同和（或）晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应式样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布而形成的衬度，它是由于晶体取向差异和（或）晶体结构造成的。 四、简答题（每题5分，共20分） 1、阐述特征X射线产生的物理机制 答当外来电子动能足够大时，可将原子内层（K壳层）中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量因此而升高，处于激发态，为使系统能量趋于稳定，由外层电子向内层跃迁。由于外层电子能量高于内层电子能量，在跃迁过程中，其剩余能量就要释放出来，形成特征X 射线。 2、简述扫描电镜的结构。 扫描电镜包括以下几个部分： （1）电子光学系统由电子抢、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成。 （2）信号收集和显示系统 二次电子和背反射电子收集器是扫描电镜中最主要的信号检测器。

材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳

材料分析测试技术复习参考资料（注：所有的标题都是按老师所给的“重点”的标题，） 第一章x射线的性质 1.X射线的本质：X射线属电磁波或电磁辐射，同时具有波动性和粒子性特征，波长较为可见光短，约与晶体的晶格常数为同一数量级，在10-8cm左右。其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播；粒子性表现为由大量的不连续的粒子流构成。 2，X射线的产生条件：a产生自由电子；b使电子做定向高速运动；c在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 3，对X射线管施加不同的电压，再用适当的方法去测量由X射线管发出的X射线的波长和强度，便会得到X射线强度与波长的关系曲线，称为X射线谱。在管电压很低，小于某一值（Mo阳极X射线管小于20KV）时，曲线变化时连续变化的，称为连续谱。在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λo，称为短波限，在高速电子打到阳极靶上时，某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子，这个光量子便具有最高的能量和最短的波长，这波长即为λo。λo=1.24/V。 4，特征X射线谱： 概念：在连续X射线谱上，当电压继续升高，大于某个临界值时，突然在连续谱的某个波长处出现强度峰，峰窄而尖锐，改变管电流、管电压，这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变，即波长只与靶的原子序数有关，与电压无关。因这种强度峰的波长反映了物质的原子序数特征、所以叫特征x射线，由特征X射线构成的x射线谱叫特征x射线谱，而产生特征X射线的最低电压叫激发电压。 产生：当外来的高速度粒子(电子或光子)的动aE足够大时，可以将壳层中某个电子击出去，或击到原于系统之外，或使这个电子填到未满的高能级上。于是在原来位置出现空位，原子的系统能量因此而升高，处于激发态。这种激发态是不稳定的，势必自发地向低能态转化，使原子系统能量重新降低而趋于稳定。这一转化是由较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁的方式完成的，电子由高能级向低能级跃迁的过程中，有能量降低，降低的能量以光量子的形式释放出来形成光子能量，对于原子序数为Z的确定的物质来说，各原子能级的能量是固有的，所以．光子能量是固有的，λ也是固有的。即特征X射线波长为一固定值。 能量：若为K层向L层跃迁，则能量为： 各个系的概念：原于处于激发态后，外层电子使争相向内层跃迁，同时辐射出特征x射线。我们定义把K层电子被击出的过程叫K系激发，随之的电子跃迁所引起的辐射叫K系辐射，同理，把L层电子被击出的过程叫L系激发，随之的电子跃迁所引起的辐射叫L系辐射，依次类推。我们再按电子跃迁时所跨越的能级数目的不同把同一辐射线系分成几类，对跨越I，2，3．．个能级所引起的辐射分别标以α、β、γ等符号。电子由L—K，M—K跃迁(分别跨越1、2个能级)所引起的K系辐射定义为Kα，Kβ谱线；同理，由M—L，N—L电子跃迁将辐射出L系的Lα，Lβ谱线，以此类推还有M线系等。 莫赛莱定律：特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构，而与其它外界因素无关。 5，X射线的吸收：

软件测试结果及分析报告

***系统测试结果及分析报告报 告

目录 1 概述 ............................................................. 错误!未定义书签。 项目名称 ................................................... 错误!未定义书签。 编写目的 ................................................... 错误!未定义书签。 项目背景 ................................................... 错误!未定义书签。 定义 ....................................................... 错误!未定义书签。 产品发布标准 ............................................... 错误!未定义书签。 参考资料 ................................................... 错误!未定义书签。 2 测试情况概要...................................................... 错误!未定义书签。 测试环境 ................................................... 错误!未定义书签。 测试内容 ................................................... 错误!未定义书签。 主要功能测试内容...................................... 错误!未定义书签。 主要性能测试内容...................................... 错误!未定义书签。 用户界面测试.......................................... 错误!未定义书签。 安全性测试............................................ 错误!未定义书签。 3 测试结果分析...................................................... 错误!未定义书签。 功能测试 ................................................... 错误!未定义书签。 性能测试 ................................................... 错误!未定义书签。 用户界面测试 ............................................... 错误!未定义书签。 安全性测试 ................................................. 错误!未定义书签。 能力 ....................................................... 错误!未定义书签。 缺陷和限制 ................................................. 错误!未定义书签。 测试情况统计分析 ........................................... 错误!未定义书签。 测试用例质量.......................................... 错误!未定义书签。 测试质量.............................................. 错误!未定义书签。 代码质量.............................................. 错误!未定义书签。 4 测试资源消耗...................................................... 错误!未定义书签。 5 发布建议 ......................................................... 错误!未定义书签。