可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论Word文档

一、可靠性理论基础

1.可靠度：

如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为：

随时间的不断增长，将不断下降。它是介于1与0之间的数，即。

2.累积失效概率：

表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F(t)表示，又称为失效分布函数。

如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近

似表示为：

3.失效分布密度：

表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下：

?早期失效期；

?偶然失效期(或稳定使用期) ；

?耗损失效期。

二、寿命

老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源的大小有关，

可描述为：

B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。

1. 平均寿命

如果已知总体的失效分布密度f（t），则可得到总体平均寿命的表达式如下：

2. 可靠寿命

可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。T R可由R（T R）=r求解，假如该产品的失效分布属指数分布规律，则：

即可求得T R如下:

3. 中位寿命

中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命，即：对于指数分布情

况，可得：

二、LED寿命测试方法

LED寿命加速试验的目的概括起来有：

?在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平

?运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度；

?在较短时间内提供试验结果，检验工艺；

?在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因；

?淘汰早期失效产品，测定元LED的极限使用条件

1. 温度加速寿命测试法

由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。

根据高温加速寿命得的结果外推其他温度下的寿命。LED温度加速老化寿命测试原理是基于Arrhenius 模型。

利用该模型可以发现由温度应力决定的反应速度的依赖关系，即

式中L为寿命，Ea为激活能，A为常数，k为玻尔兹曼常数，T为热力学温度。

因此测试温度应有两个，即还需测得另一个温度T2下器件寿命为L2。可以求得激活能Ea。样便可以求得温度

T1对某温度T3下的加速系数K3: 。有：

可见实验需要测得同一批器件在两个不同温度下的寿命，然后推得其他温度下的寿命。

这就要求被测器件的数量应足够多，才能避免个性影响，而得到共性，即得到统计寿命值才真实。

LED从正常状态进入劣化状态的过程中，存在能量势垒，跃过这个势垒所需要的能量必须由外部供给，这个能量势垒就称为激活能。

可以看出，激活能越大曲线倾斜越大，与温度关系越密切，加速系数越大，温度越高加速系数越大。

由于器件向失效发展的机理不同，其能量势垒的高度也不同，所以其激活能量值Ea也不一样，就像其它半导体器件一样，根据激活能量值Ea推出失效机理，据此改进器件设计和生产工艺。某一批次器件的Ea可看出近似相同。

2.电流加速寿命测试法

从图中可以看到，当驱动电流较小时，在老化的初始阶段衰减幅度较小。

当相对光功率衰减到P/P0<0.8~0.9以后，相对光输出功率与老化时间之间满足关系式:

（1）

其中α是拟合直线的斜率，它与驱动电流无关是一个常数为0.27，将t0定义为P/P0=1时的点，它是与电流强

度的大小有关，可表示为：

(2)

将（1）式进行适当的变换可以得到：（3）

联立 (2)、(3) 就可以计算出输出功率衰减到一半时(即P/P0=0.5)的寿命: （4）I F驱动电流强度，单位为mA；t F为老化时间，单位为小时。

以40mA为例，利用公式通过测量驱动电流为40mA时的寿命来推导LED在驱动电流为20mA时的寿命。

假设我们己经测得测量驱动电流为40mA时的寿命为，则驱动电流为20mA时的寿命为:

也就是说，驱动电流为20mA时的寿命为驱动电流为40mA时的寿命的6.498倍。

3. 普通条件外推法

当LED通过一定的电流时，认为它的光强随时间的衰减满足一定的指数关系，如下图所示。

其中B t为老化t小时后的亮度，B0为LED的初始亮度，而τ为与LED和电流值有关的常数。

通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间T称为LED的寿命。测定T要花很长的时间，通常以推算求得寿命。

在实际的测量过程中，给LED通额定工作电流20mA恒流源，点燃t1小时(其中t1一般为1000-10000小时之间)。

先后测得B t，B0，将这些数据代入

就可以求得常数τ，再把B t=0.5B0，这样就可以求得寿命T。

造成功率LED光衰的应力主要来自于结温的影响，因此对白光LED寿命的测试采用温度作为恒定加速应力比较合适。

失效判据

考虑到白光功率LED光通量的衰减，一个白光功率LED照明光源的有效寿命可以采用两种判据：?一种是在25℃的环境温度时光通量衰减到初始值的50％的工作时间；

?另一种是在同样工作条件下光通量衰减到初始值70％的工作时间。

3. 加速试验应力摸底

烘箱恒定温度Ta分别为85℃、125℃、150℃、165℃、175℃、185℃。恒定时间96小时取出样管。恢复1小时，再逐支测LED的光通量。

摸底试验结果表明：在125℃以下光通量在有限的时间内几乎没有变化，从150℃开始略有变化。直至185℃下出现有1支样品管光衰较大。

由此选定165℃和175℃、185℃、350mA、96-180小时作为恒定加速应力的试验条件。

4. 实验数据处理

由阿仑尼斯模型给出计算不同结温的期望工作寿命和激活能的公式：(1)

P0为初始光通量；P为加温加电后的光通量；β为某一温度下的衰退系数：t为某一温度下的加电工作时间；由阿仑尼斯模型给出计算不同结温的期望工作寿命和激活能的公式：(2)β0为常数；Ea为激活能；k为波耳兹曼常数；I F为工作电流；Tj为结温；结温可按公式（3）求得：

（3）Tc为壳温；V F为正向电压；R j-c为结到壳的热阻。

1. LED的失效类别：

根据阿仑尼斯模型给出计算不同结温的期望工作寿命和激活

能的公式

P=P0exp(-βt)

β=β0Ifexp(-Ea/kTj)

式中： P0 为初始光通量; P 为加温加电后的光通量;β为某一温度下的

衰减系数; t为某一温度下的加电工作时间;β0为常数; Ea为激活能;k为波耳兹曼

常数(8 62×10 5eV);If 为工作电流;Tj为结温;而

Tj=Tc+Vf*If*Rj-c

式中：Tc 为 DUA的外壳温度;Vf 为正向电压;Rj-c 为芯片结到壳的热阻

[3]。

（注：素材和资料部分来自网络，供参考。请预览后才下载，期待你的好评与关注！）

产品寿命可靠性试验MTBF计算规范

产品寿命可靠性试验MTBF计算规范 一、目的： 明确元器件及产品在进行可靠性寿命试验时选用标准的试验条件、测试方法 二、范围： 适用于公司内所有的元器件在进行样品承认、产品开发设计成熟度/产品成熟度（DMT/PMT）验证期间的可靠性测试及风险评估、常规性ORT例行试验 三、职责： DQA部门为本文件之权责单位，责权主管负责本档之管制，协同开发、实验室进行试验，并确保供应商提交的元器件、开发设计产品满足本文件之条件并提供相关的报告。 四、内容： MTBF:平均无故障时间 英文全称:Mean Time Between Failure 定义:衡量一个产品（尤其是电器产品）的可靠性指标,单位为“小时”.它反映了产品的时间质量,是体现产品在规定时间内保持功能的一种能力.具体来说,是指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔,它仅适用于可维修产品,同时也规定产品在总的使用阶段累计工作时间与故障次数的比值为MTBF

MTBF测试原理 1.加速寿命试验 (Accelerated Life Testing) 执行寿命试验的目的在于评估产品在既定环境下之使用寿命. 常规试验耗时较长,且需投入大量的金钱,而产品可靠性资讯又不能及时获得并加以改善. 可在实验室时以加速寿命试验的方法,在可接受的试验时间里评估产品的使用寿命. 是在物理与时间基础上,加速产品的劣化肇因,以较短的时间试验来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率.但基本条件是不能破坏原有设计特性. 一般情况下, 加速寿命试验考虑的三个要素是环境应力,试验样本数和试验时间. 一般电子和工控业的零件可靠性模式及加速模式几乎都可以从美军规范或相关标准查得,也可自行试验分析,获得其数学经验公式. 如果温度是产品唯一的加速因素,则可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式最为常用. 引进温度以外的应力,如湿度,电压,机械应力等,则为爱玲模型(Eyring Model),此种模式适用的产品包括电灯,液晶显示元件,电容器等. 反乘幂法则(Inverse Power Law)适用于金属和非金属材料,如轴承和电子装备等.

液晶显示器灰尘清除

专家建议一：保持干燥的工作环境、避免与化学药品相接触 须知道，水分是液晶的天敌，如果湿度过大，液晶显示器内部就会结露，结露之后就会发生漏电和短路现象，而且液晶显示屏也会变得模糊起来。因而不要把液晶显示器放在潮湿的地方，更不要让任何带有水分的东西进入液晶显示器内。如果在开机前发现只是屏幕表面有雾气，用软布轻轻擦拭即可；如果湿气已经进入了液晶显示器，可以关闭显示器，把LCD背对阳光，或者用台灯烘烤将里面的水分蒸发掉即可。但须注意不要把LCD屏幕对着阳光，那会引起元器件老化。专家提醒消费者，像LG等国际大厂商都非常注意售后服务，如果出现较为严重的潮气事件，普通用户最好还是与当地的品牌售后服务商取得联系，向他们寻求帮助比较保险。因为，较严重的潮气会损害LCD的元器件，用户将含有较高湿度的LCD通电时，会导致液晶电极腐蚀，造成永久性的损坏。 另外，大家日常使用的发胶、夏天频繁使用的灭蚊剂等也会对液晶分子乃至整个显示器造成损伤，导致整个显示器寿命的缩短，因此应当尽量避免显示器和化学物品的接触。 专家建议二：尽量避免让液晶显示器长时间超负荷工作状态 首先，不要使LCD长时间处于高亮度状态。LCD的显示方式与CRT不同，长时间高亮的画面很容易缩短液晶显示器的背光灯管使用寿命，因此当长时间不用的时候，应当注意关闭显示器。另外，在日常的使用中可以将液晶显示器的亮度适当调低。这些措施都会对延长液晶显示器的寿命大有帮助。 其次，尽量避免长时间显示同一画面。液晶显示器会因为长时间的工作引起内部的老化或烧坏，尤其是在长时间显示同一画面的情况下。因为液晶显示器长时间工作很容易使某些像素点过热，一旦超过极限就会导致永久性损坏，且不能修复。这就形成了常说的“坏点”。由于LCD显示器的像素点是由液晶体构成，因此当连续满负荷工作96小时以上时，就会加速成其老化，严重时甚至烧坏。因此专家提醒消费者，如果用户必须长时间工作时，最好能间歇性让其休息一会，或经常以不同的时间间隔改变屏幕显示内容；如果只是暂时离开，应该启动屏幕保护程序，或者把显示屏的亮度调低，也可以调成全白屏幕，这举手之劳不仅可以延缓液晶屏老化，而且可以避免发生硬件损坏。 专家建议三：减少不必要的触碰或者振动 液晶显示屏幕是十分脆弱娇贵的，因此应当改掉用手指对屏幕指指点点的坏习惯。因为哪怕是轻微的点击都可能产生局部坏点，严重甚至会形成一片黑点，这很容易造成坏点增多现象，这正是为什么有些用户使用一段时间会发现坏点越来越多的重要原因。还有一点要注意，液晶显示器的功耗比较小，但液晶显示器后的变压器的电压还是很高的；要特别注意安全，不要在带电情况下打开显示器的后盖。即使在断电之后，留存的瞬间电压也是挺高的，背景照明组件中的CFL变压器依旧带有大约1000V的高压，因此最好不要随意触碰它。 不仅如此，液晶显示器的抗撞击能力也比较差，即便是最新推出的产品，抗撞击性还是远不及CRT显示器。这是因为液晶显示器中含有很多精密玻璃元件和灵敏娇气的电气元件，一旦受到强烈撞击就会导致LCD屏幕、相关部件或电路的损坏。大家在移动液晶显示器时，常常不注意抓住屏幕一块移动，这也可能损坏液晶显示器的表面。所以专家强烈建议一定要

产品环境试验及可靠性试验要求

1.目的：明确公司产品环境试验及可靠性试验的要求，确定试验用样品的领用，归还及处理方法 2.范围：本规定适用于泰丰公司新产品开发样机、工程样机、试产样机、 首批生产的产品、批量生产的产品以及售后反馈质量较差的产品 3.职责：品管部例行试验室负责做环境试验及可靠性试验，并负责领用、 归还试验用样品，成仓、生产部协助，售后服务部统一处理经过可靠 性试验的样品 4.试验项目： 4.1.1环境试验项目包括：高温试验、低温试验、振动试验、恒定湿热试 验、跌落试验、压强试验 4.1.2可靠性试验项目包括：叉簧寿命试验、按键寿命试验、铃声寿命试验、 MTBF （平故障工作时间）试验 5.试验要求 5.1例行试验室对需做试验的样品，按照《泰丰环境试验及可靠性试验品质标 准》进行相关试验，在记录本和白板上记录试验样品的名称、型号、样品 来源、试验项目、试验开始及结束时间、日期等。 5.2例行试验室需对试验前样品进行功能、性能测试，并记录检测数据及情 况。 5.3新产品开发样机、工程样机、试产样机做完环境试验后做可靠性试 验。 5.4首批生产的产品抽取5台样机做环境试验后，从中再抽取2台做可 靠性试验。 5.5成熟机型累计生产10万台，抽5台样品做环境试验后，从中再抽取

2台做可靠性试验。 5.6批量生产过程中，因更换物料可能影响到产品性能的，抽5台做环 境试验。 5.7技术服务部反映差的话机，品管针对不良项目安排做例行试验和相 关可靠性试验。 5.8如试验不合格，由开发、工程部分析原因，加以改进，认为问题已经解 决，再行试验。新开发产品只有通过例行试验和可靠性试验，才能投入批 量生产。对于已生产入库的话机，由品管裁决是否需要返工。 6.试验方法：参见实验室相关测试规范。 7.试验用话机的管理 7.1开发、工程样机试验完立即归原部门，并由原部门管理。 7.2例行试验用话机凭品管部经理签名的借条从生产线或成品仓库借 用，试验完立即归还。 7.3可靠性试验用话机凭品管部经理签名的借条从生产经或成品仓库借用，可 靠性试验完后，实验室对话机作上标记，由品管发文通知计划安排返工， 工程出返工方案，返工合格后再入成品仓库

LCD显示器优缺点

谁知道LCD和LED的区别。有什么优缺点。现在用哪个比较好呢? 感觉没有技术上的换代变化效果，最简单的就是更亮了! 有用的是AFFS.我机器基本都是TN屏幕，看不出区别就算了。建议别折腾，据说一旦用了高端的神马AFFS,IPS,等等以后，再也受不了低端屏幕鸟.慎重! 我在忍受，抵抗诱惑，不想换我的X200TN---AFFS. 没有用过更好屏幕的个人观点 背光技术不一样了，二极管发光和灯管发光。LED的背光要稍微均匀一些。并且LED的功耗、发热情况都比LCD好点 不过LED的光会偏冷?好像是，这点我拿不准 只是背光不一样 LCD，用的是CCFL荧光灯管，类似日光灯管。 LED，用的是发光二级管LED做背光 LED的优点，我了解有 省电，功耗低，毋庸置疑的; 亮度更高; 寿命长(LED的寿命远远比灯管长); 更容易达到大的色域; 可以将显示器做的更薄，最明显的，笔记本显示屏，LCD的最薄大概只能做到8mm，用LED背光可以做到5mm以下的厚度 从用户角度看，最直观的区别估计就是亮度大一些。 现在市面上大部分显示器应该都是LED的。应该是成本使然，减少了高压板和其他结构，能省不少钱吧LED背光的缺点貌似不明显。

这个还用问?自己GOOGLE啊 LED是发光二极管LightEmittingDiode的英文缩写。LED应用可分为两大类:一是LED单管应用，包括背光源LED，红外线LED等;另外就是LE D显示屏，目前，中国在LED基础材料制造方面与国际还存在着一定的差距，但就LE D显示屏而言，中国的设计和生产技术水平基本与国际同步。 LE D显示屏是由发光二极管排列组成的一显示器件。它采用低电压扫描驱动，具有:耗电少、使用寿命长、 成本低、亮度高、故障少、视角大、可视距离远等特点。 LCD显示器的原文是LiquidCrystalDisplay，取每字的第一个字母组成，中文多称「液晶平面显示器」或「液晶显示器」。其工作原理就是利用液晶的物理特性:通电时排列变得有序，使光线容易通过;不通电时排列混乱，阻止光线通过，说简单点就是让液晶如闸门般地阻隔或让光线穿透。LCD的好处有:与CRT显示器相比，LCD的优点主要包括零辐射、低功耗、散热小、体积小、图像还原精确、字符显示锐利等。选购LCD，有几个基本指针:高亮度:亮度值愈高，画面自然更亮丽，不会朦胧雾雾。亮度的单位为cd/m2，也就是每平方公尺分之烛光。低阶的LCD亮度值，有低到150cd/m2，而高阶的显示器，则可高达250cd/m2。高对比:对比愈高，色彩更鲜艳饱和，且会显的立体。相反的，对比低，颜色显的贫瘠，影像也会变得平板。对比值的差别颇大，有低到100:1，也有高到600:1，甚至更高。宽广的可视范围:可视范围简单的说，指的是在屏幕前画面可以看的清楚的范围。可视范围愈大，自然可以看的更轻松;愈小，只要观看者稍一变动观看位 置，画面可能就会看不清楚了。可视范围的算法是从画面中间，至上、下、左、右四个方向画面清楚的角度范围。数值愈大，范围自然愈广，但四个方向的范围不一定对称。当上下、左右对称时，某些厂商会将 两边的角度值相加，标示为水平:160°;垂直:160°;也可能分开标示为左/右:±80°;上/下:±80°。某些LCD机种的单一角度，甚至只有40°~50°.快速讯号反应时间:讯号反应是指系统接收键盘或鼠标的指示后，经CPU 计算处理，反应至显示器的时间。讯号反应对动画和鼠标移动非常重要，此现象一般而言，只发生在LCD 液晶显示器上，CRT传统显像管显示器则无此问题。讯号反应时间愈快，作业处理自是愈方便。观察的方法是之一是将鼠标快速移动(亦即鼠标不断下指示给系统，系统则不断将讯号反应给显示器)，在一般低阶的LCD显示器上，光标在快速移动时，过程中会消失不见，直到鼠标定位，不再移动后一小段时间，才会再度出现;而在一般速度动作时，移动过程亦会清楚的看到鼠标移动痕迹。而VE500的超快讯号反应时间快

可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南解析

术语和定义 HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。 运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。 破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。 裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。产品的裕度越大，则其可靠性越高。 夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。 加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。 振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。 Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。 热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。 功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。一般是通过测量试样的关键参数是否达到指标或利用诊断模式测试试样的内部性能。 摘要：本文围绕产品HALT试验，详细介绍HALT试验基本要求、总体过程及试验过程。 关键词：HALT试验、基本要求、试验过程 1、HALT试验基本要求 1.1对试验设备的要求 1.1.1对试验箱的要求 做HALT试验的设备必须能够提供振动应力和热应力，并满足下列指标： 振动应力：必须能够提供6个自由度的随机振动；振动能量带宽为2Hz～10000Hz；振台在无负载情况下至少能产生65Grms的振动输出。 热应力：目标是为产品创造快速温度变化的环境，要求至少45℃/min的温变率；温度许可范围至少为－90℃～＋170℃。

液晶显示器刷新率多少合适

准确的来说LCD和LED的液晶屏幕的刷新率只和显示面板有关系，而普通的电脑的液晶显示器使用的都是液晶面板和背光光源的结构，LCD和LED只是两种不同的光源和刷新率完全没有关系。液晶显示器默认在60赫兹就可以了。 刷新率分为垂直刷新率和水平刷新率，一般提到的刷新率通常指垂直刷新率。垂直刷新率表示屏幕的图象每秒钟重绘多少次，也就是每秒钟屏幕刷新的次数，以Hz(赫兹)为单位。刷新率越高越好，图象就越稳定，图像显示就越自然清晰，对眼睛的影响也越小。刷新频率越低，图像闪烁和抖动的就越厉害，眼睛疲劳得就越快。一般来说，如能达到80Hz以上的刷新频率就可完全消除图像闪烁和抖动感，眼睛也不会太容易疲劳。 显然刷新率越高越好，但是建议你不要让显示器一直以最高刷新率工作，那样会加速CRT显像管的老化，一般比最高刷新率低一到两档是比较合适的，建议 85Hz。而液晶显示器(LCD/LED)的发光原理与传统的CRT是不一样的，由于液晶显示器每一个点在收到信号后就一直保持那种色彩和亮度，恒定发光，而不象阴极射线管显示器(CRT)那样需要不断刷新亮点。因此，液晶显示器画质高而且绝对不会闪烁，把眼睛疲劳降到了最低。而刷新率对CRT 的意义比较突出，有时，LCD/LED刷新高了,反而会影响其使用寿命般保持在60-75就可以了。 下面简单的介绍一下Win 7系统下如何调整刷新率,当然这个刷新率和游戏里面的刷新率，还有电影里面的帧/秒不是一个概念......也不会互相影响。 右键桌面;选择屏幕分辨率 在选择了正确的分辨率后,点击高级设置 进入高级设置界面后选择监视器，按照箭头的只是拉开下拉菜单。可以看到你的液晶显示器支持的刷新率是多少。显示的即为能支持的，没有多余现象即为只支持当前的刷新率。

产品寿命可靠性测试

产品寿命可靠性测试方法 概念： ?平均失效时间: MTBF ( Mean Ti me bet ween Fai l ur es )，就是失效率的倒数，试验求得的MTBF设为θ，是相当于产品总运作时间除以总失效的次数。 ??平均失效时间的最低接收值( θ1) : Mi ni mum Accept abl e Mean Ti me Bet ween Fai l ur es , 是根据能够容忍错误接收产品的特定风险而决定出。 规定的平均失效时间( θ0) : Speci f i ed Mean Ti me Bet ween Fai l ur e,是一种在规格书上所订定的MTBF值此值是用平均失效时间的最低接收值θ1乘上判别比率( Di scr i mi nat i on Rat i o) θ0/ θ1而得。它是用来限制生产者的冒险率( α)。 ??判别比率( θ0/ θ1) : Di scr i mi nat i on Rat i o,是规定的平均失效时间与平均失效时间的最低 接收值之比，也即是在可靠性试验下，可视为合格之最坏的可靠性特性值的界限值与尽可 能视为不合格之可靠性的特性值的界限值之比。 风险( Deci si on Ri sks) : ( 1)消费者的风险( Consumer’s Deci si on Ri sk: β) :消费者接收较差的MTBF( θ1)的机率称之为消费者的风险。 ( 2)生产者的风险( Pr oducer’s Deci si on Ri sk: α) :拒绝接收产品的真实MTBF为θ0之机率称之为生产者的风险。 1.寿命可靠性验证试验( Demonst r at i on Test ) 该试验适用于DMT/ PMT验证时期的产品可靠性测试，建议采用一次抽样可靠性试验( Sequent i al Rel i abi l i t y Test i ng)。 一次抽样可靠性测试设计及评估方法： ??首先确认产品Spec.规定的MTBF值及信赖度水平( 1- α) 依照下列公式与测试计划给予的时间要求确定测试样品的数量及测试时间 MTBF Cal cul at i on For mul a 2×T MTBF= χ 2 α ( ,2R+ 2) T = Tot al Power On Ti me, R = Tot al Fai l ur e number ; α = 1?confidence= 1?0.9 Ref er ence Tabl e: Conf i dence Level Fai l ur e Q’t y 90% 10% χ 2(α,2R+ 2) χ 2(α,2R+ 2) 0 1 2 3 4 4. 6 7. 78 10. 6 13. 4 16 0. 21 1. 07 2. 21 3. 49 4. 87

电子电器产品 可靠性测试检验标准.

可靠性测试检验标准 一.机械测试标准 B随机振动测试标准 试验目的：检验产品经受规定严酷等级的随机振动测试 试验设备：振动仪 试验样品：6SETS 试验内容：被测样品不包装，处于通电状态，牢固固定在测试台，试验参数：频率范围5-20Hz，功率频谱度0.96M2/S3；频率范围20-500Hz，功率频谱度0.96M2/S3（20Hz处），其它-3dB/℃T .轴向：三个轴向，持续时间，每方向1小时，共3小时，持续时间结束，取出样机进行测试后检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观/结构正常，未见零件松动、裂开异常。 C包装振动测试标准 试验目的：模拟运输过程中振动对产品造成的影响 试验设备：振动测试仪 试验样品：2 carton 试验内容：振动宽度（Vibration width）:2mm/2.8g;扫周率（Sweep Frequency）:10 to 30Hz;方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）;测试时间：30分/每个面（30 Minutes per axis），测试完成后检验产品的外观结构及各项功能。 判定标准：通过基本测试，外观/结构正常，未见零件松动异常。

二．存储温度测试标准 A高温贮存试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下贮存的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到60±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，立即进行试验后检测。 判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。 B低温贮存试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下贮存的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到-20±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，在正常大气条件下放置2H，放置期满，被测样机进行试验后的检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。 三．高低温测试标准 A低温工作试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下使用的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、处于导通状态，以正常位置放入试验箱内，使温度达到-20±3℃,温度稳定后，持续8小时，持续期满，进行产品测试后的检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。 B高温工作试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下使用的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、处于导通状态，以正常位置放入试验箱内，使温度达到+55±2℃,温度稳定后，持续8小时，持续期满，进行产品测试后的检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。 C恒定湿热试验 试验目的：检验产品在恒定湿热环境条件下使用的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、处于导通状态，以正常位置放入试验箱内，使温度达到40±2℃,湿度达到 95%，持续96小时，持续期满，立即进行产品测试后的检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。 D冷热冲击试验 试验目的：检验产品经受环境温度讯速变化的能力 试验设备：冷热冲击试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、不导通或不带电池状态，以正常位置放入试验箱内，高温为60℃，稳定温度保持时间为2小时，低温为-20℃，，稳定温度保持时间为2小时，转换时间不大于15秒，循环次数为12次（1循环周期为4小时），循环期满，在正常大气条件下放置2小时，放置期满，被检样机立即进行产品测试后的检查。 判定标准：产品外观和结构正常。功能、性能方面正常。 E结露试验 试验目的：检验产品在结露环境条件下的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱

LED显示屏使用注意事项及日常维护

LED 电子显示屏使用注意事项及日常维护 与传统的电子产品一样，要使LED电子显示屏寿命更长久，在使用过程中不仅需要注意方法，还需对显示屏进行保养维护。随着LED电子显示屏的广泛使用，伴随而来的是不断增多的使用问题，各种客观与主观因素的影响，造成了LED电子显示屏的寿命减少、无法正常显示、黑屏等问题。下面介绍些LED电子显示屏使用注意事项与保养方法。 一、开关LED电子显示屏注意事项： 1.1 开关顺序：开屏时：先开机，后开屏。关屏时：先关屏，后关机（先关计算机不关显示屏，会造成屏体出现高亮点，烧毁灯管，后果严重。） 1.2开关屏时间间隔要大于 5分钟。 1.3计算机进入工程控制软件后，方可开屏通电。 1.4避免在全白屏幕状态下开屏，因为此时系统的冲击电流最大。 1.5避免在失控状态下开屏，因为此时系统的冲击电流最大。失控状态包括计算机没有进入控制软件等程序、计算机未通电、控制部分电源未打开。 1.6环境温度过高或散热条件不好时，应注意不要长时间开屏，在强雷电天气下应避免使用。 1.7电子显示屏体一部分出现一行非常亮时，应注意及时关屏，在此状态下不宜长时间开屏。 1.8经常出现显示屏的电源开关跳闸，应及时检查屏体或更换电源开关。 1.9定期检查挂接处的牢固情况。如有松动现象，注意及时调整，重新加固或更新吊件。 1.10根据大屏幕显示屏屏体、控制部分所处环境情况，避免虫咬，必要时应放置防鼠药。 二、LED电子显示屏部分的日常维护及保养 2.1正确开关LED显示屏：先开启控制计算机使其能正常运行后再开启LED 显示屏大屏幕；先关闭LED显示屏，再关闭计算机。 2.2正确擦拭：LED显示屏表面可以采用酒精进行擦拭，或者使用毛刷、吸尘器进行除尘，不能直接用湿布擦拭。 2.3定期清洁维护：LED显示屏时间长了，屏幕上肯定是灰尘一片，这需要定期、及时地清洗以防尘土长时间包裹表面影响观看效果，另一方面可以防止空

加速寿命试验公示计算汇总

加速寿命试验公示计算汇总 一、前言 新研究的医疗器械在上市前应确保在储存期( 通常 1 到5 年) 内产品的质量不应发生任何影响安全性和有效性变化，新产品一般没有实时和储存周围环境条件下确定有效期的技术资料。如果按实际储存时间和实际环境储存条件进行检测需要很长的时间才能获得结果，为了在实时有效期结果获得以前，有必要进行加速老化实验提供确定有效期的实验数据。 医疗器械设计人员能够准确地预计聚合物性能的变化对于医疗器械产业化是非常重要的。建立聚合物材料退行性变的动态模型是非常困难和复杂的，事实上材料短期产生的变化或变性的单速率表达形式可能不能充分反映研究的产品或材料在较长有效期的真实情况。为了设计试验方案能准确模拟医疗器械时间相关的退行性变，有必要对材料的组成、结构、成品用途、组装和灭菌过程的影响、失效模型机制和储存条件有深入的了解。 一个给定的聚合物具有以各种方式( 晶体、玻璃、不定形等) 组成的许多化学功能基团，并含有添加剂如抗氧化剂、无机充填剂、色素和加工助剂。所有这些变量的总和结合产品使用和储存条件变量决定了材料的化学性能的退行性变。得庆幸的是，生产医疗器械的大部分都是采用常用的几种高分子材料，这些材料已经广泛使用并且都进行了良好的表征。根据以碰撞理论为基础的阿列纽斯(Arrhenius) 模型建立的老化简化实验方案(Simplified Protocol for Accelerated Aging) ，也称“10 度原则”(10-degree rule) ，可在中度温度范围内适用于良好表征的聚合物，试验结果可以在要求的准确度范围内。 医疗器械或材料的老化是指随着时间的延长它们性能的变化，特别是与安全性和有效性有关的性能。加速老化是指将产品放置在比正常储存或使用环境更严格或恶劣的条件下，在较短的时间内测定器械或材料在正常使用条件下的发生变化的方法。 采用加速老化实验合格测试的主要原因是可以将医疗器械产品尽早上市。主要目标是可以给病人和企业带来利益，病人可以尽早使用这些最新的医疗器械，挽救病人的生命；企业可以增加销售获得效益，而又不会带来任何风险。尽管加速老化试验技术在学术领域已经比较成熟，但是这些技术在医疗器械产品的应用还是有限的。美国FDA 发布了一些关于接触眼镜、药物和生物制品等关于加速老化实验的指导性文件，还没有加速老化试验的标准。在我国尚无关于医疗器械有效期确定的加速老化的实验指导原则。国外许多医疗器械企业根据这些指导原则和文献建立自己的加速老化试验方法。（来源于：《中国医疗器械信息》2008年第14卷第5期《医疗器械加速老化实验确定有效期的基本原理和方法》） 二、实验条件和时间对比表

产品可靠性试验标准

内部机密 产品可靠性测试标准 文件版本：V1.0 江苏中讯数码电子有限公司 企业标准 文档编号 撰写人 审核人 批准人 创建时间 2010．01．01发布 2010.01.01 实施

文件修改履历

目录 一．目的 (4) 二．编制依据 (4) 三．适用范围 (4) 四．定义 (4) 五．主要职责 (4) 六.试验场所 (5) 七．可靠性测试内容 (5) 1．加速寿命测试 (5) 1.1跌落试验 (5) 1.2振动试验 (5) 1.3湿热试验 (6) 1.4静电试验 (6) 2．气候试应性测试 (7) 2.1低温试验 (7) 2.2高温试验 (7) 2.3盐雾试验 (7) 3．结构耐久测试 (8) 3.1按键/叉簧测试 (8) 3.2跌落测试 (8) 4．表面装饰测试 (8) 4.1丝印、喷油测试 (8) 5．特殊条件测试 (9) 5.1低温加电试验 (9) 5.1恒温湿热加电试验 (9) 八．最终检验 (9) 九．判断标准 (9) 十．试验程序 (10)

一 .目的 1．对产品硬件设计、制造进行验证确认符合相应国家标准； 2．在特定的可接受的环境下评估产品的质量和可靠性； 3．在特定的可接受的环境下评估产品的安全性； 4．统一并规范企业内产品硬件测试检验方法。 二．编制依据 1．GB/T2421-1999 电工电子产品环境试验第一部分：总则 2．GB/T2422-1995 电工电子产品环境试验术语 3．GB/T4796-2001 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 4．GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第1部分：试验方法试验A：低温 5．GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温 6．GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落7．GB/T2423.10-1995 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动8．GB/T2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验试验Ca:恒定湿热试验方法 9．GB/T2423.17-2001 电工电子产品环境试验第2部分：试验Ka盐雾试验方法 10．GB/T17626.2-1998 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 三．适用范围 1．本文件使用于中讯数码有限公司所生产的所有产品。 2．根据技术中心的要求，本标准适用于提供相应的测试环境对一些部件进行可靠性测试四．定义 为了了解、考核、评价、分析和提高产品可靠性而进行的试验。 五．主要职责 1．技术中心 1.1定义项目/产品可靠性测试计划 1.2完成、跟踪项目/产品可靠性测试结果 1.3参与产品可靠性测试问题的分析及改进 1.4提供制定/修改可靠性测试程序及标准建议 1.5参与测试设备/仪器的日常管理、维护 1.6参与可靠性测试设备/仪器的开发 2．质管部

浅谈电工电子产品加速寿命试验

浅谈电工电子产品加速寿命试验 广州广电计量检测股份有限公司环境可靠性检测中心颜景莲 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。 2.3最弱链条模型 最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。 该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。

液晶显示器亮点坏点产生的原因和液晶屏的日常维护

液晶显示器亮/坏点产生的原因和液晶 屏的日常维护 一、液晶屏构成原理 液晶屏看上去只有一张屏板，其实，它主要是由四大块（滤光片、偏光板、玻璃、冷阴极荧光灯）组合而成 滤光片：TFTLCD面板之所以能够产生色彩的变化，主要是来自彩色滤光片，所谓液晶面板是透过驱动IC的电压改变，使液晶分子排排站立，从而显示画面，而画面本身的颜色是黑白两种，通过滤光片就可以变成彩色图案。 偏光板：偏光板能将自然光转换成直线偏光的元件，其中表现的作用在于将入射而来的直线光用偏光的成分加以分离，其中一部分是使其通过，另一部分则是吸收、反射、散射等作用使其隐蔽，减少亮/坏点的产生。 冷阴极荧光灯：特点是体积很小、亮度高、寿命长。冷阴极荧光灯由经过特别设计和加工的玻璃制成，可以在快速点灯后反复使用，能够承受高达30000 次的开关操作。由于冷阴极荧光灯使用三基色荧光粉，所以其发光强度增加、光衰减少，色温性能好，从而产生的热量极低，有效的保护我们的液晶显示屏的寿命。 二、液晶亮/坏点产生的原因及其预防 1、厂商的原因： 亮/坏点也被称为液晶显示屏亮斑，是一种液晶屏的一种物理损伤，主要是由于亮斑部位的屏幕内部反射板受到外力压迫或者受热产生轻微变形所致。 液晶屏上的每个像素都有红、绿、蓝三种原色，它们共同组合使得像素产生出各种颜色。以15英寸的液晶显示器为例，其液晶屏面积 304.1mm*228.1mm，分辨率为1024*768，每个液晶像素由RGB三原色单元组成。液晶像素就是把液晶倒入固定的模具下形成的液晶盒，这样的液晶盒在15英寸的液晶显示器上的数量是1024*768*3＝235万个！一个液晶盒的大小又是多少呢？我们可以简单的计算：高＝0.297mm, 宽＝0.297/3＝0.099mm！也就是说，要在304.1mm*228.1mm 的面积下密密麻麻的排列着235万个面积仅为 0.297mm*0.099mm大小的液晶盒，而且在液晶盒背后还集成一个单独驱动该液晶盒的驱动管。显然，这种生产工艺对生产线要求是非常高的，以目前的技术和工艺，还不能保证每批生产出来的液晶屏没有亮/坏点，生产厂商一般避开亮/坏点来分割液晶板，把没有亮/坏点或者极少亮/坏点的液晶屏高价供给有实力的生产厂商，而那些亮/坏点比较多的液晶屏则一般低价供给小厂商生产廉价的液晶显示器。

雷凌教你控制LED显示屏寿命

雷凌教你如何控制LED显示屏的使用寿命 led显示屏在使用中总是会遇到很多问题。在使用led显示屏的时候，可能会因为以下八个问题，会影响LED显示屏的使用寿命。 1、混灯 同一种颜色不同亮度档的LED需要混灯，或者按照离散规律设计的插灯图进行插灯，以保证整屏每种颜色亮度的一致性。这个工序如果出现问题，就会出现亮度不一致的现象，直接影响led显示屏的显示效果。 2、散热设计 led显示屏开启的时候会发热，温度过高会影响led的衰减速度和稳定性，因此PCB板的散热设计、箱体的通风散热设计都会影响LED的表现。 3、设计电流值 LED的标称电流为20mA，一般建议其最大使用电流为不超过标称值的80%，尤其对于点间距很小的大屏幕，由于散热条件不佳，还应降低电流值。根据经验，由于红、绿、蓝LED衰减速度的不一致性，有针对性地降低蓝、绿LED的电流值，以保持大屏幕长时间使用后白平衡的一致性。 4、驱动电路设计 大屏幕模块上的驱动电路板驱动IC的排布亦会影响到LED的亮度。由于驱动IC输出电流在PCB板上传输距离过远，会使得传输路径压降过大，影响LED的正常工作电压导致其亮度降低。我们常会发现大屏幕模块四周的LED亮度比中间低一些，就是这个原因。故要保证大屏幕亮度的一致性，就要设计好驱动电路分布图。 5、控制好灯的垂直度 对于直插式LED来说，过炉时要有足够的工艺技术保证LED垂直于PCB板。任何的偏差都会影响已经设置好的LED亮度一致性，出现亮度不一致的色块。 6、虚焊控制 led显示屏在出现LED不亮时，往往有超过50%概率为各种类型的虚焊引起的，如LED 管脚虚焊、IC管脚虚焊、排针排母虚焊等。这些问题的改善需要严格地改善工艺并加强质量检验来解决。出厂前的振动测试也不失为一种好的检验方法。 7、过波峰焊温度及时间 须严格控制好波锋焊的温度及过炉时间，建议为：预热温度100℃±5℃，最高不超过120℃，且预热温度上升要求平稳，焊接温度为245℃±5℃，焊接时间建议不超过3秒，过

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验之一 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。

2.1 失效率模型图示： O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期 失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应

怎样让液晶显示屏寿命延长到十万小时

怎样让液晶显示屏寿命延长到十万小时? 液晶显示屏也和其他电子产品一样，有一个使用寿命。虽说液晶显示屏的理论寿命为100000小时，按每天24小时，每年365天算都能工作11年多，但实际情况和理论数据差很多，据统计，现在市面上的液晶显示屏寿命一般为6~8年，能用到10年以上的液晶显示屏已经算非常不错了，特别是户外液晶显示屏，寿命就更加短了。如果我们注意到使用过程中的一些细节，会给我们的显示屏带来意想不到的效果。 从原材料的采购开始，到生产安装过程的标准化和规范化，对液晶显示屏的使用年限都会有很大的影响。灯珠和IC等电子元器件的品牌，到开关电源的质量，这些都是影响液晶显示屏寿命的直接因素。我们在作项目的规划时，就应指定用质量可靠的LCD灯珠，口碑好的开关电源，以及其他原材料的具体品牌和型号。在生产的过程中，要注意做好防静电措施，比如戴静电环，穿防静电的衣服，选择无尘车间和生产线，最大程度地降低故障率。在出厂前，要尽可能地保证老化时间，做到出厂合格率100%。在运输的运程中，应做好产品的包装，在包装外注明易碎，如果是海运，需要做好防盐酸腐蚀措施。 对于户外液晶显示屏，要有必要的外围安全设备，做好防雷电防浪涌措施，在雷电暴雨天气尽量不要使用显示屏。注意环境的保护，尽量不要长期放在多尘的环境中，显示屏内部

严禁进水，做好防雨措施。选择正确的散热设备，按标准来安装风机或空调，屏体环境尽量能做到干燥通风。 此外，液晶显示屏的日常维护也非常重要，定时清洁屏幕上面积累的灰尘，以免影响散热功能。在播放广告内容时，尽量不要长时间处于全白色，全绿色等画面，以免造成电流放大，线缆发热而引起短路等故障。在晚上播放节日时，可根据环境亮度调整屏体亮度，这样不但能节省能源，还能延长液晶显示屏的使用寿命。 深圳市创伟达电子科技有限公司自创立伊始即高起点、严要求，研发及设计团队成员均有户外高亮广告机行业5年以上的从业经验。创伟达电子科技研发生产的户外高亮广告机已被国内外众多户外传媒公司、公共事业单位、高端企业集团采用，广泛应用于公交站台、社区公园、广场商圈、高速公路收费站、电力机车充电站等场所，为客户带来显著的经济效益和社会效益。创伟达电子科技竭诚为广大新老客户提供优质的产品和服务，热忱欢迎新老客户来厂参观指导。 来源：https://www.sodocs.net/doc/538431881.html,

可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论Word文档

一、可靠性理论基础 1.可靠度： 如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为： 随时间的不断增长，将不断下降。它是介于1与0之间的数，即。 2.累积失效概率： 表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F(t)表示，又称为失效分布函数。 如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近 似表示为： 3.失效分布密度： 表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下： ?早期失效期； ?偶然失效期(或稳定使用期) ； ?耗损失效期。 二、寿命 老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源的大小有关， 可描述为： B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。 1. 平均寿命 如果已知总体的失效分布密度f（t），则可得到总体平均寿命的表达式如下： 2. 可靠寿命 可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。T R可由R（T R）=r求解，假如该产品的失效分布属指数分布规律，则： 即可求得T R如下:

3. 中位寿命 中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命，即：对于指数分布情 况，可得： 二、LED寿命测试方法 LED寿命加速试验的目的概括起来有： ?在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平 ?运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度； ?在较短时间内提供试验结果，检验工艺； ?在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因； ?淘汰早期失效产品，测定元LED的极限使用条件 1. 温度加速寿命测试法 由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。 根据高温加速寿命得的结果外推其他温度下的寿命。LED温度加速老化寿命测试原理是基于Arrhenius 模型。 利用该模型可以发现由温度应力决定的反应速度的依赖关系，即 式中L为寿命，Ea为激活能，A为常数，k为玻尔兹曼常数，T为热力学温度。 因此测试温度应有两个，即还需测得另一个温度T2下器件寿命为L2。可以求得激活能Ea。样便可以求得温度 T1对某温度T3下的加速系数K3: 。有： 可见实验需要测得同一批器件在两个不同温度下的寿命，然后推得其他温度下的寿命。 这就要求被测器件的数量应足够多，才能避免个性影响，而得到共性，即得到统计寿命值才真实。 LED从正常状态进入劣化状态的过程中，存在能量势垒，跃过这个势垒所需要的能量必须由外部供给，这个能量势垒就称为激活能。