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电子显微镜使用说明书

电子显微镜使用说明书
电子显微镜使用说明书

Micro Capture

User Manual

(中文)

首先非常感谢您购买了本公司数码显微镜。这是本产品的基本功能示

意图描述:

数码显微镜使用简单,只需要同电脑USB连接就可以使用,

本产品还配备测量软件,可做简单的测量,使用非常方便。为了更详细的介绍本产品,敬请耐心阅读下面的产品介绍,使用方法,注意事项。

数码显微镜应用范围非常广泛:

主要使用有以下方面.

1工业方面:

a 、工业检视,例如电路板、精密机械等

b 、印刷检视,SMT焊接检查

c 、纺织检视.

d、 IC表面检查

2美容方面

A、皮肤检视

B、发根检视

C、红外理疗(特定产品)

3生物应用

A、微生物观察。

B、动物切片观察。

C、植物病虫观察。

4其他

A、扩视器,协助智障人士阅读

B、宝石鉴定

C、古董,字画,玉器文物等鉴定

D、其他一些视频图像分析领域

配件说明

1. 数码显微镜主体(1台)

2. 万向底座(1个)或万向升降支架(可选配)

3. 光碟(驱动程序,测量软件,安装说明书)

产品规格:

传感器:全系列高性能美国进口感光晶片

主控晶片: USB3.0超高速/USB2.0高速专用主控(视产品型号不同)放大倍率:1X ~ 1000X(具体产品型号倍率不同)

拍照/录影:内置

辅助光源:内置8顆SMT白光LED灯

静态解析度:640x480最高达4320x3240(可按需定制)

数码变焦:多段式

成像距离:手动调节0~无限远

影像解析度:640x480最高达4320x3240或720P/1080P(可按需定制) 固定底座:万向金属底座 (可选配用升降支架)

光盘:內含驱动,测量软件,说明书

支持系統:WIN XP/VISTA;WIN 7 WIN 8 32位和64位

电源: USB(5V DC)

电脑介面:USB 3.0&USB 2.0 相容

动态帧数 : 30f/s Under 600 LUX Brightness

亮度范围: 0 ~ 30000LUX线控可调

硬件需求:主頻700M Hz或以上;1G硬盘 CD ROM光碟机;64MB记忆件

支持语言:中文(简)中文(繁体)英(其他語言需要定制)

产品颜色:磨砂黑色,其他颜色可定制

主体尺寸112 mm(长 ) 33 mm ( 外径)

单机包裝重量380g

安全警告及注意事项:

1. 勿自行拆解本产品,以避免静电击穿精密芯片。

2. 勿用酒精等有即溶剂清洁产品。

3. 勿用手指触摸镜头,以免表面造成刮痕。

4. 户外使用时应避免高溫和高湿環环境中,防电子器件短路。

本产品不具有防水功能,请避免淋雨和进水。

5. 本产品的使用和存储温度范围:0°C ~ 40°C,相对湿度:45%RH ~85%RH

6. 若不慎使异物或水份/液体进入本产品内部,请先拔除USB 线并送至维修中心检修,切勿自行处理。

7.设备测量精密度仅供参考,由测量误差引起的纠纷与本产品无关。

8.本说明书中任何事宜解释权归本公司所有。

安装说明

数码显微镜为无驱动产品,如果不需要一些特殊操作的话,在windows2000 SP4以上版本可直接运行。

1直接將本产品同USB线连接到电脑上,然後点击

2双击红色标示內的视频设备就可以正常使用。

驱动及测量软件的安裝

请放入本产品附送的光碟,

1驱动安裝(安裝测量软件需您的电脑作业系统NET档为2.0以上)安裝过程中出现警告资讯,请直接点选“仍然继续”即可。

打开光碟:

2 点击红色与绿色框內的安裝图示, 然后点NEXT 直到完成

3程序安装成功后,点击桌面图示

4 按照提示,连接好设备,程序自动运行到主介面。

5 点击

选择视频解析度,视频解析度范围320*240 ~1600*1200,解析度预设值设为640*480.

6点击

采集图片,可执行资料测量功能。由于动态影像不是很稳定,本

软件将采用静态模式下进行测量,测量精度会相应的提高

7 点击可以打开之前存储的图片;点击可以保存图片到电脑指定文档

8视频暂停和终止点击点击为视频设置

9图像放大点击图示点击图示显示如下带尺规格介面

10点击图示进入测量精度校正功能

11为了提高测量精度,每次使用显微镜测量软件前,倍率改变,校正也要改变,测量精度就可以达到99%。当然校正后的校正值可以保存,下次如有同样倍率也可以使用,测量误差相对较高。精度校正时,建议对同一个实际值进行多次测量取平均值的方式进行。另外本产品还

配备专用校正尺,请不要使用其它尺规校正,以免影响测量精度。

输入测量值和相应的单位

校正就完成了,在这个倍率下就可以做测量了。注意:

放大倍率改变,必須重新校正。

标注方式和颜色选择

测量的结果可以Word,Excel,或邮件格式输出。下面是一个测量結果Word的输出示例

从左到右:

直线测量,圆测量。矩形测量,多边形测量,折线测量,椭圆测量圆弧测量,点对点测量,点到线测量,平行线测量,角度测量。

如下图:

示例1:平行线测量

示例2:矩形测量

示例3,圆测量

S4800扫描电镜操作说明书

冷场发射扫描电子显微镜S4800操作说明(普通用户) 燕山大学材料学院材料管A104(场发射,钨灯丝) 编写人:李月晴吕益飞 普通用户在熟练操作1个月后,如无不良记录,可申请高级用户培训。 高倍调清晰:局部放大(Red) →聚焦Focus→消像散 一、日常开机 1,开启冷却循环水电源。 2,按下Display开关至,PC自动开机进入用户界面并自动运行PC_SEM程序,以空口令登入。 3,打开信号采集开关,位置打到1,为打开。 4,打开电源插排的开关。 5,打开装有EDS软件的主机电源。 6,记录仪器运行参数(右下角Mainte),即钨灯丝真空度。如:IP1:0.0×10-8Pa;IP2:0.0×10-8Pa; IP3:9.6×10-7Pa。PeG-1,<1×10-3;PeG-2,<1×10+2。 注意:PeG≤1×10-3Pa时才能加高压测量。记录的参数:①点Flashing时会显示:In2(Ie)Flashing时电流最大值,如32.9μA;②加上高压后会显示,V ext=3.4kV。 二、轰击(点flashing,即在阴极加额外电压) 目的:高温去除针尖表面吸附的气体 1,最好在每天开始观察样品前一时做flashing; 2,选择flashing intensity为2 ; 3,若flashing运行时Ie小于20μA,则反复执行直至Ie值超过20μA且不再增加。 4,若flashing后超过8个小时仍继续使用,重新执行flshing 。 三、加液氮 容积不要超过1L,能维持4~6h。 四、样品制备及装入 样品制备简单,对样品要求较低,只要能放进样品室,都可进行观察。 1,化学上和物理上稳定的干燥固体,表面清洁,在真空中及在电子束轰击下不挥发或变形,无放射性和腐蚀性。 2,样品必须导电,非导电样品,可在表面喷镀金膜。 3,带有磁性的样品,由于物镜有强磁性,制样必须非常小心,防止在强磁场中样品被吸入

电子显微镜使用说明书

GAOSUO Digital Microscope User Manual (中文) 首先非常感謝貴司(您)購買了GAOSUOX數碼顯微鏡數碼顯微鏡應用範圍非常廣泛 主要有以下方面. 1工業方面: a 、工業檢視,例如電路板、精密機械等 b 、印刷檢視,SMT焊接檢查 c 、紡織檢視 d、IC表面檢查

2美容方面 A、皮膚檢視 B、發根檢視 C、紅外理療(特定產品) 3生物應用 A、微生物觀察 B、動物切片觀察 4其他 A、擴視器,協助視障人士閱讀 B、寶石鑒定 GAOSUO數碼顯微鏡使用簡單,只需要同電腦USB介面連接就可以使用,本產品還配備測量軟體,可做簡單的量測,非常的方便。為了更詳細的介紹本產品,敬請耐心的閱讀產下面的產品介紹,使用方法,注意事項。 規格: 傳感器:高性能感光晶片 主控晶片:專用主控16Bit DSP 放大倍率:1X ~ 500X 拍照/錄影:內置 輔助光源:8顆白光LED燈 靜態解析度:640x480 最高可達1600x1200(可按需定制) 數碼變焦:多段式 成像距離:手動調節0~無限遠

影像解析度:標準640*480 固定底座:萬向金屬底座(可選配用升降支架) 光盤:內含驅動,測量軟體,說明書 支援系統:WIN XP/VISTA;WIN 7 32位和64位 電源:USB(5V DC) 電腦介面:USB 2.0 & USB 1.1 相容 動態幀數: 30f/s Under 600 LUX Brightness 照度範圍:0 ~ 30000LUX線控可調 硬體需求:奔騰主頻700M Hz或以上;1G硬碟CD ROM 光碟機; 64MB 記憶體 支援語言:中文(簡)中文(繁體)英(其他語言需要定制) 產品顏色:磨砂黑色,其他顏色可定制 主體尺寸112 mm ( 長) 33 mm ( 外徑) 單機包裝重量380g 安全警告及注意事項 1. 勿自行拆解本產品,以避免靜電擊穿精密晶片。 2. 勿用酒精等有機溶劑清潔產品。 3. 勿用手指觸摸鏡頭,以免表面造成刮痕和贓汙。 4. 戶外使用時應避免高溫和高濕環境中,防電子器件短路。 本產品不具有防水功能,請應避免淋雨和進水。 5. 本產品的使用和存儲溫適度範圍:0°C ~ 40°C,相對濕度:45%RH ~85%RH

讲义-高分辨电镜20130812

第六部分高分辨电镜的成像原理 及在材料科学中应用 6.1 高分辨电镜图像的类型 通过高分辨电镜得到的图像通常称为晶格像,这些图像中可以带给研究者的信息大不相同,主要是由于成像条件不同,以及样品厚度不同。了解这些影响因素才有利于研究者控制成像条件,获取研究所需要的有用信息。高分辨电镜图像可分为:晶格条纹;一维结构图像;二维晶格条纹;二维结构图像。 1)晶格条纹(lattice fringes) 晶格条纹像的成像条件没有严格限制,只要有两列电子波干涉成像即可,不要求对准晶带轴,在很宽的离焦条件和不同样品厚度下都可以观察到,所以很容易获得。在实际观测到的纳米颗粒(图6-1a)、微小第二相析出大都是晶格条纹像。这种图像只能用于观察对象的尺寸、形态,区分非晶态和结晶区,不能得出样品晶体结构相关的信息,不可模拟计算。尽管如此,当与材料制备加工的条件相结合,仍然可以有助研究分析。 2)一维结构图像(one-dimension structure images) 一维结构图像与晶格条纹像不同之处在于,成像时转动样品得到对应观察区域的一维衍射斑(图6-2),因此可以结合衍射斑和晶体结构模型来对观察区域的一维结构进行分析。在研究层错一位结构图像很有用。 图6-1a 纳米金颗粒的晶格条纹像

图6-2 一维结构图像 3)二维晶格像(two-dimensional lattice image) 大部分文献中出现的都是二维晶格像,此时晶体的某一晶带轴平行于入射电子束,因此相应的衍射花样对应晶胞的衍射谱。在不同的欠焦量下和样品厚度均可以获得二维晶格像,这是其大量出现的原因,也被广泛用于材料科学的研究中,用于获得位错、晶界、相界、析出、结晶等信息。要注意的是二维晶格像的花样是随着欠焦量、样品厚度以及光阑尺寸改变的,不能简单指定原子的位置。在不确定的成像条件下不能得到晶体的结构信息,可以计算模拟辅助分析。 4)二维结构图像(two-dimension structure images) 二维结构图像是严格控制条件下的二维晶格像,首先样品要很薄(小于10 nm),避免多次散射的不利影响;其次要使晶体的晶带轴严格平行于入射电子束;成像时欠焦量是控制(已知)的,通常最佳欠焦条件(Scherzer focus)下的图像衬度最大。尽管如此,晶体结构和原子位置并不能简单从图像上“看到”,欠焦量和样品厚度依然控制着晶格相的亮暗分布。 需要采用计算机辅助的图像模拟分析技术,才可能确定晶体结构以及原子位置。

(精品)JEM2100透射电镜简易操作说明

JEM-2100 操作说明 一、合轴操作 1.照明系统合轴 (1).找亮:当打开灯丝,并且灯丝电流发射之后,应该在荧光屏上找到电子束,若打开灯丝后没有发现电子束,请进行以下操作:将放大倍数降低到10K左右,移动轨迹球,撤除所有光阑,基本上以上操作可以解决大多数没亮的情况 若仍然找不到亮,则需调整GUN TILT进行找亮 当然,也可以在用户模式下直接对GUN进行清零操作NTRL!正常情况下就能找到电子束了。

(2)灯丝像调节:放大倍数为X40K,将光斑用beam shift移动到屏幕中心,慢慢降 低灯丝电流,并且用BRIGHTNESS旋钮将光斑聚到最小,随着灯丝电流下降,可以观察到灯丝像出现。 如图所示标准的六硼化阑灯丝像是均匀对称的四瓣花型的,若发现花瓣不对称,说明灯丝偏了,需要用GUN TILT调节到对称即可。调节完毕后将灯丝电流升高到正常数值,即稍能看到一点灯丝像阴影。 (3)1、5合轴:将束斑调到SPOTSIZE 5,用beam shift 将束斑移动至屏幕中间,切换至SPOTSIZE 1 ,用gun shift将偏移的束斑移动至屏幕中间,重复此过程直到当切换SPOTSIZE1到5时束斑基本上不发生偏移即可。 (4)聚光镜消象散:观察各个束斑形状,如果发现束斑形状椭圆,则用CONDSTIG 键将束斑调圆即可。 (5)加聚光镜光阑:聚光镜光阑红点位置表示退出,其余的点的大小表示当前所加入的光阑孔大小,顺时针加入光阑至合适的孔径,一般用1号或2号光阑孔,加完后用beam shift 将光斑移动至屏幕中心,这时顺时针转动BRIGHTNESS将光斑放大到与屏幕同大,若光阑没有加正,则光斑不是均匀覆盖屏幕,即光斑补随BRIGHTNESS同心放大,此时调节光阑前端和右侧的两个旋钮使光斑圆心与屏幕同心即可。

扫描电镜SEM制样步骤

扫描电镜S E M制样步 骤 -CAL-FENGHAI-(2020YEAR-YICAI)_JINGBIAN

扫描电镜观察制样步骤 固定: 1、用灭菌镊子挑出少量的的样品(碳粒/碳毡),放入 5ml 的离心管中, 2、加入2.5%戊二醛, 加量为淹没碳粒/碳毡样品为宜,室温固定1小时 3、置于 4℃冰箱中固定12小时。 冲洗: 用 0.2mol pH 7.4的磷酸缓冲溶液冲洗 3 次,每次 10 分钟。每次冲洗时先用注射器缓慢吸走上一步骤的冲洗液。Or 离心 脱水: 分别用浓度为30%, 50%,75%,90%, 95%, 100% v/v 的乙醇进行脱水,每次10分钟, 干燥: 将样品放在离心管里,置入干燥器中干燥 12 小时。粘样:用双面胶将样品观察面向上粘贴在扫描电镜铜板上 预处理好的样品放入干净离心管中待检。 SEM上机测样--测定条件参数设置 分子克隆实验指南第三版,1568页: 25度下0.1mol/L磷酸钾缓冲液的配制; 先配0.1mol/L K2HPO4,0.1mol/L KH2PO4 配PH7.4,100ml磷酸钾缓冲液需: 0.1mol/L K2HPO4,80.2ml 0.1mol/L KH2PO4,19.8ml 混合即是,不用酸碱调PH。 参考文献: DOI:?10.1021/es902165y Microbial fuel cell?based on Klebsiella pneumoniae biofilm Selecting?anode-respiring bacteria based on?anode?potential: phylogenetic, electrochemical, and?microscopic?characterization A severe reduction in the cytochrome C content of?Geobacter sulfurreducens?eliminates its capacity for extracellular electron transfer 2

JSM-6700F扫描式电子显微镜使用指导书

目錄 1.目的 (2) 2.範圍 (2) 3.權責 (2) 4.參考資料 (2) 5.儀器介紹 (2) 6.操作程序 (4) 7.注意事項 (8) .

1.目的 本文旨於介紹JSM-6700F掃描式電子顯微鏡之工作原理及操作方法等基本資料,以維顯微鏡之工作品質及人員與設備之安全。 2.範圍 HR-FESEM室JSM-6700F掃描式電子顯微鏡之操作。 3.權責 3.1本工作指導書由技術人員會同儀器負責教授訂定。修訂方式亦同。 3.2本工作指導書供相關操作人員參考。 4.參考資料 捷東JSM-6700F掃描式電子顯微鏡操作說明書。 5.儀器介紹

5.1 External view of JSM-6700F 5.2 General view of column

6.操作程序 6.1 開啟SEM OPE switch 6.2 打開SEM電腦主機&螢幕 6.3 點選操作軟體視窗-- JEOL PC-SEM 6700(桌面) 6.4 確認SEM操作前步驟OK,檢視以下數值: a.氮氣鋼瓶內壓1小格以上,操作壓力≥5Kg b.確認EDS及BEI detector已伸出chamber外 c.確認tilt位置在0 d.確認STAGE上WD在8mm及螢幕上WD在8mm e.確認STAGE歸至原位X=35.00、Y=25.00、R=0.00 (Soft:stage/exchange—選擇holder --exchange) f.確認放大倍率縮至最小(250倍) g.確認加速電壓是否在10KV h.確認ROTATION 與BEAM SHIFT是否已歸位 i.確認Probe Current是否在7 j.確認EXCHANGE CHAMBER抽真空 k.確認 l.close (橘色燈亮) 6.5 將樣品置入試片載台 a.試片大小需符合JEOL specimen holders,將試片處理完後放置於樣品 holder上,試片高度不可超過樣品holder上方0.5公分,並確認試片已固

扫描电镜的基本结构和工作原理

扫描电镜的基本结构和工作原理 扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描,与样品相互作用产行各种物理信号,这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号,最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、样品室空间大且样品制备简单等特点,是进行样品表面研究的有效分析工具。 扫描电镜所需的加速电压比透射电镜要低得多,一般约在1~30kV,实验时可根据被分析样品的性质适当地选择,最常用的加速电压约在20kV左右。扫描电镜的图像放大倍数在一定范围内(几十倍到几十万倍)可以实现连续调整,放大倍数等于荧光屏上显示的图像横向长度与电子束在样品上横向扫描的实际长度之比。扫描电镜的电子光学系统与透射电镜有所不同,其作用仅仅是为了提供扫描电子束,作为使样品产生各种物理信号的激发源。扫描电镜最常使用的是二次电子信号和背散射电子信号,前者用于显示表面形貌衬度,后者用于显示原子序数衬度。 扫描电镜的基本结构可分为电子光学系统、扫描系统、信号检测放大系统、图像显示和记录系统、真空系统和电源及控制系统六大部分。这一部分的实验内容可参照教材第十二章,并结合实验室现有的扫描电镜进行,在此不作详细介绍。 三、扫描电镜图像衬度观察 1.样品制备 扫描电镜的优点之一是样品制备简单,对于新鲜的金属断口样品不需要做任何处理,可以直接进行观察。但在有些情况下需对样品进行必要的处理。 1) 样品表面附着有灰尘和油污,可用有机溶剂(乙醇或丙酮)在超声波清洗器中清洗。 2) 样品表面锈蚀或严重氧化,采用化学清洗或电解的方法处理。清洗时可能会失去一些表面形貌特征的细节,操作过程中应该注意。 3) 对于不导电的样品,观察前需在表面喷镀一层导电金属或碳,镀膜厚度控制在5-10nm 为宜。 2.表面形貌衬度观察 二次电子信号来自于样品表面层5~l0nm,信号的强度对样品微区表面相对于入射束的取向非常敏感,随着样品表面相对于入射束的倾角增大,二次电子的产额增多。因此,二次电子像适合于显示表面形貌衬度。 二次电子像的分辨率较高,一般约在3~6nm。其分辨率的高低主要取决于束斑直径,而实际上真正达到的分辨率与样品本身的性质、制备方法,以及电镜的操作条件如高匝、扫描速度、光强度、工作距离、样品的倾斜角等因素有关,在最理想的状态下,目前可达的最佳分辩率为lnm。 扫描电镜图像表面形貌衬度几乎可以用于显示任何样品表面的超微信息,其应用已渗透到许多科学研究领域,在失效分析、刑事案件侦破、病理诊断等技术部门也得到广泛应用。在材料科学研究领域,表面形貌衬度在断口分析等方面显示有突出的优越性。下面就以断口分析等方面的研究为例说明表面形貌衬度的应用。 利用试样或构件断口的二次电子像所显示的表面形貌特征,可以获得有关裂纹的起源、裂纹扩展的途径以及断裂方式等信息,根据断口的微观形貌特征可以分析裂纹萌生的原因、裂纹的扩展途径以及断裂机制。图实5-1是比较常见的金属断口形貌二次电子像。较典型的

透射电子显微镜实验讲义

一、实验名称 透射电子显微镜用于无机纳米材料的检测。 二、实验目的 1.认知透射电子显微镜的基本原理,了解有关仪器的主要结构; 2.学习利用此项电子显微技术观察、分析物质结构的方法,主要包括:常规成 像、高分辨成像、电子衍射和能谱分析等; 3.重点帮助学生掌握纳米材料等的微观形貌和结构测试结果的判读,主要包括: 材料的尺寸、大小均匀性、分散性、几何形状,以及材料的晶体结构和生长取向等。 三、实验原理 透射电子显微技术自20世纪30年代诞生以来,经过数十年的发展,现已成为材料、化学化工、物理、生物等领域科学研究中物质微观结构观察、测试十分重要的手段,尤其是近20多年来,纳米材料研究的快速发展又赋予这一电子显微技术以极大的生命力,可以这样说,没有透射电子显微镜,就无法开展纳米材料的研究。 透射电子显微镜在成像原理上与光学显微镜是类似的,所不同的是光学显微镜以可见光做光源,而透射电子显微镜则以高速运动的电子束为“光源”。在光学显微镜中,将可见光聚焦成像的是玻璃透镜;在电子显微镜中,相应的电子聚焦功能是电磁透镜,它利用了带电粒子与磁场间的相互作用。 在真空系统中,由电子枪发射出的电子经加速后,通过磁透镜照射在样品上。透过样品的电子被电子透镜放大成像。成像原理是复杂的,可发生透射、散射、吸收、干涉和衍射等多种效应,使得在相平面形成衬度(即明暗对比),从而显示出透射、衍射、高分辨等图像。对于非晶样品而言,形成的是质厚忖度像,当入射电子透过此类样品时,成像效果与样品的厚度或密度有关,即电子碰到的原子数量越多,或样品的原子序数越大,均可使入射电子与原子核产生较强的排斥作用——电子散射,使面通过物镜光阑参与成像的电子强度降低,忖度像变淡。另外,对于晶体样品而言,由于入射电子波长极短,与物质作用满足布拉格

电子显微镜入门手册(FEI)

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技术
EM 200
ISBN 978-0-578-06276-1

目录
本手册是电子显微镜和离子束显微镜的 启蒙读本,旨在引领学生和其他对此感 兴趣者进一步了解此迷人科学探索领域 背后的历史、技术和仪器。其目的在于 概要介绍电子显微镜和离子束显微镜的 工作方式,显微镜能够产生何种结果, 以及研究人员和科学家如何使用其数据 解决当前时代的一些最大挑战。 本手册中有不少令人惊叹的纳米级图 像,它们大多经过着色处理,这样便可 取得理想的视觉和艺术效果。 应用领域 ...................................................32 词汇表........................................................34 底层大有可为 (There’s Plenty of Room at the Bottom) ............................................. 2 介绍 .............................................................. 3 透射电子显微镜 .......................................9 扫描电子显微镜 .....................................20 扫描透射电子显微镜 ............................26 聚焦离子束系统和 DualBeam? 系统 ......................................28

扫描电镜生物样品制备步骤

扫描电镜样品制备方法 一、取材 组织块小于3立方毫米(单细胞培养或收集展片于盖玻片或滤膜上)。 二、固定 前固定:2.5%戊二醛(磷酸缓冲液配制)固定2小时或更长时间。 用0.1M pH7.4磷酸盐缓冲液漂洗三次,每次10分钟。 后固定:1% 锇酸固定液,固定1-2小时。 用0.1M pH7.4磷酸盐缓冲液漂洗三次,每次10分钟。 三、脱水 *脱水在4度冰箱内进行,所有脱水步骤建议在专用的冷冻干燥杯中进行,冷冻干燥杯请于实验前一天到电镜室领取。 *整个过程,样品不要暴露于空气。 1.乙醇脱水,每一级10-20分钟: 30%乙醇—50%乙醇—70%乙醇—90%乙醇—95%乙醇—100%乙醇; 2.然后从乙醇逐步过渡到叔丁醇,纯叔丁醇每次10分钟,3次以上; 此系列操作均在25度环境中进行; 3.纯叔丁醇4度冰箱过夜,样品结晶。 四、冷冻干燥 *需事先预约冷冻干燥时间; 第二天上午八点半讲冷冻结冰的样品用冰盒送至电镜室进行冷冻干燥。 五、喷金

附件1: 细菌类样品的前处理方法 1.盖玻片泡酸,清洗,烘干。用剪刀剪碎,挑出5mm*5mm大小玻片备用。玻 片过大或者过厚影响观察效果。 2.菌液或样品悬液离心,需要可进行清洗,加入固定液,吹散固定,于4度冰 箱固定2小时左右。 3.固定结束后,去固定液,加入PBS浸泡清洗,10分钟。离心去PBS,固体沉 淀根据量多少,加入适量PBS,制成浓度较高的悬液(目测较混浊)。样品浓度对后期吸附有较大影响,浓度过低可能吸附量会很少。 4.取鸡蛋清,稀释3-5倍(一定要稀释!蛋清过浓会包裹样品),之前准备好的 玻片放入液体内蘸一下,取出晾干至触摸感觉有点黏的状态(快干的状态)。 将第3步取得的悬液滴在玻片上,吸附30秒到1分钟,用滤纸吸去多余液体。 (样品悬液在玻片上停留时间过长将导致样品被蛋清完全包裹而无法观察)。 5.在玻片上滴加固定液,固定10分钟,固定后用PBS浸泡清洗10分钟,放入 干燥杯开始进行脱水。

常规电镜操作流程

常规电镜操作流程 以Spirit 120为例 1.电镜的日常维护 1.1如何加液氮 每天第一位使用的电镜的用户首先要检查电镜各项真空值是否正常,若正常可给电镜冷阱加注满液氮再观察使用。保持冷阱液氮液位的目的有二:(1)防止样品污染,(2)维持样品室真空度正常。 具体操作方法如下:将冷阱竖放置桌面上,向冷阱中倒入半罐液氮,待液氮表面平稳后,再将冷阱转移至电镜铜导线位置处,缓慢将铜导线放到冷阱中后放稳冷阱。完成以上步骤后再将冷阱中加满液氮,盖好盖子,冷却15分钟后再开始使用电镜。 1.2如何升/降高压 每日首位(最后一位)使用电镜的用户,需要给电镜升(降)高压,具体操作步骤如下: (1)升高压(Sprit 120电镜为例) 在Workset_Setup界面中找到High Tension以及Filament两项。下拉菜单选中40 kV后,再点亮High Tension按钮(颜色由灰色变为黄色),观察Filament中Emission电流变化情况,待电流值基本不变后,点击High Tension下拉菜单旁边向右按钮,高压值由40 kV 增至60 kV,再次观察Filament中Emission电流变化情况,待电流值基本不变后,再点击High Tension下拉菜单旁边向右按钮增加高

压值,如此几次直至高压升至100 kV。 高压升至100 kV后,勾上High Tension界面最下端的Free high tension一项,更改升高压的步长为3 kV后,点击这一栏中向右按钮将高压升至103 kV,观察Filament中Emission电流变化情况,待电流值基本不变后,再点向右按钮将高压升至106 kV,如此几次直至高压升至115 kV。 高压升至115 kV后,再将每次加高压步长缩小至1 kV,点击向右按钮缓慢将高压升至120 kV。注意:每改变一次高压值均要等电流稳定后再继续升高压。电压升至120 kV后勾掉Free high tension这项。 (2)降高压(Sprit 120电镜为例) 在Workset_Setup界面中找到High Tension以及Filament两项。点击下拉菜单旁边向左按钮,将电镜高压由120 kV降至100 kV,观察Filament中Emission电流变化情况,待电流值基本不变后,再点击下拉菜单旁边向左按钮继续降电镜高压。高压降至20 kV后,点High Tension按钮(由黄色变为灰色),关闭电镜高压。 1.3如何做Cryo-cycle 每天最后一位使用完电镜的用户,需要给电镜做Cryo-cycle,主要目的是维持电镜良好的真空状态。 Cryo-cycle的具体操作步骤如下:(1)首先要检查物镜光阑是否退出、样品台是否归零、放大倍数是否降至是几十倍、光斑是否扩至最大。(2)保证以上步骤完成后,先关column,再关灯丝电流,再逐级降高压至20KV后再关掉High tension。(3)扶稳冷阱,缓慢将冷阱从电镜上转移至桌面,注意不要碰到铜导线。将多余的液氮倒回保温瓶中备用,冷阱放回制定位置平放保存。(4)点击Cryo-cycle,待出现倒计时且进行1分钟后再刷卡下机。

JEM-1400电镜中文使用手册

JEOL 1400 TEM User Guide Prior to getting started 1.Turn on Monitors 1 and 2 2.Login to EMU server at Monitor 2 3.At Monitor 1, open the “TEM Centre” software 4.Make sure that “HT On” & “Beam Ready” are displayed in the HT/Beam condition window 5.Open Beam Controller window from Control menu ?Beam (dark) current should indicate: ?~44uA for 80kV ?~55uA for 100kV ?~65uA for 120kV 6.If HT is off, no beam current is displayed or you want to work at a higher or lower kV than that indicated, please seek help from Jenny, Sigrid or Katie

Loading a specimen 1.Remove the specimen holder from the microscope: ?Pull out in a straight line until it stops ?Turn anti-clockwise until it stops ?Pull out again for a short distance ?Turn anti-clockwise until it stops ?Pull out toggle switch and flip to AIR ?Wait 10 sec then remove holder from the microscope 2.Remove the specimen cartridge from the specimen holder ?Hold specimen cartridge with blunt forceps ?Insert levering rod into hole on specimen cartridge fastening jaw ?Raise the jaw by gently tilting the levering tool backward 3.Insert grid into specimen cartridge ?Use levering rod to hold back end of specimen cartridge down ?Use blunt forceps to lever up the brass specimen retainer ?Place a grid specimen side up into the retainer ?Again use the levering rod to hold the specimen cartridge down ?Use blunt forceps to clip the brass specimen retainer closed ?The brass specimen retainer should lie completely flat when closed

扫描电镜操作流程

SIRION场发射扫描电镜操作规程 一.开机 1.首先检查循环水系统,压力显示约4.5,温度显示约11-18度,为正常范围。 2.检查不间断电源的”LINE”,”INV.”指示灯亮,上部6只灯仅一只亮是为正常。 3.开电镜电脑(白色机箱)的电源,通过密码进入WINDOWS后,先启动”SCS”,然后启 动”Microscope Control”。 二.操作过程 1.有关样品的要求: 需用电镜观测的样品,必须干燥,无挥发性,有导电性,能与样品台牢固粘结(块状试样的下底部需平整,利于粘结)。粉末样品用导电胶带粘结后,需敲击检查,或用吹风机吹去粘结不牢固的粉末。含有机成份的样品(包括聚合物等),需经过干燥处理。 2.交换样品特别注意点: 该电镜的样品台是4轴马达驱动的精密机械,定位精度1微米,同时也可以手动旋钮驱动。样品室中暴露着镜头极靴,二次电子探头,低压背散射电子探头,能谱探头,红外相机,涡轮分子泵等电镜的核心部件,样品台驱动过程中存在着碰撞的可能性,交换样品和驱动样品台时要特别小心。比如样品室门应轻拉轻推;样品要固定牢固,防止掉到镜筒里去;样品高度要合适,Z轴移动样品或手动倾斜样品前,用CCD图象检查样品位置等等。 3.换样品过程:换样品前必须先检查加速电压是否已经关闭,条件符合,可按放气键(“VENT”)。交换样品台操作必须戴干净手套。固定好样品台后(固紧内六角螺丝),必须用专用卡尺测量样品高度,不允许超过规定高度。推进样品室,左手按住样品室门上手柄,右手点击抽真空软件键”PUMP”。整个换样品过程中,不要手动调节样品台位置(倾动除外)。 4.关高压过程:按下软件键“xx kV”,稍等待,听到V6阀的动作声音后,键颜色由黄色变灰色,表示高压已正式关闭。 5.开高压过程:样品室抽真空到达5e -5 mBar以上,可以开高压,观察图象。开高压:检查“Detector”菜单项中的“SE”或“TLD”被选中,按“HT”键,数秒后按软键“xx kV”,应听到V6阀开启的声音,等待键颜色变黄色。图象出来后,同时会弹出一个窗口,提示首先必须聚焦图象,然后按“OK”,使电脑能测出实际的样品高度,次序不可颠倒。在数千倍聚焦完成后(In Focus),按“OK”。 6.聚焦图象:按住鼠标右键,左或右向移动鼠标来聚焦图象。 7.消像散:按住左Shift键,按住鼠标右键移动,消除像散。 8.拍照:按“F2”键,电镜开始单次扫描。扫描结束,过数秒,冻结键(雪花图形)自动激活(变黄色)。这时可用“InOut”菜单中的Image保存图象。 9.拷贝图象:须用新光盘或未开封的新软盘拷贝。 三.关机 1.先关高压,放气后,取出样品后,重抽真空,然后关“Microscope Control”,再关WINDOWS。 电镜的电脑是控制整台电镜的,电脑的CMOS管理,显示卡及驱动程序等与普通电脑不同,请不要当作普通电脑来使用。禁止修改电脑的任何设置,禁止安装任何软件。禁止使用USB

电子显微镜技术

显微分析技术 摘要:透射电子显微镜、扫描电子显微镜以及扫描探针显微镜已经成为了分析纳米材料的重要手段之一。本文简要的介绍了透射电子显微镜、扫描电子显微镜以及扫描探针显微镜的发展以及应用。 引言 纳米科技是在20世纪80年代后才逐渐发展起来的前沿性、交叉性的新型科学领域,纳米材料的性能与其微观结构有着重要的关系,因此,纳米材料微观结构的表征对于认识纳米材料,推动纳米材料的应用有着深远的意义。 自16世纪出现了光学显微镜以后,把正常人眼睛仅能分辨约0.2mm 细节的能力,延伸到可以看细菌和微生物。20世纪30年代,科学家利用电子源制造出了扫描电子显微镜,其分辨率远远超出了光学显微镜。1932年M.Knoll和E.Ruska 研制出了第一台透射电子显微镜实验装置(TEM),1938年,V on.Ardence将扫描线圈加到透射电子显微镜上(TEM),制成了第一台扫描透射电子显微镜(STEM),放大倍数8000X,分辨率在500~1000 ?之间直到1952年,C.W.Qatley 和McMullan 在剑桥(Cambridge )制成了第一台现代的SEM,分辨率达到500?,很大程度的提高了人类认识微观世界的能力。但是,后来人们发现,当显微镜的放大率提高到1000-1500倍时,受光的衍射效应影响,图像将变得不再清晰。1982年国际商业机器公司苏黎世实验室的葛·宾尼(Gerd Binnig)博士和海·洛雷尔(Heimich Rohrer)博士及其同事们共同研制成功了世界第一台新型的表面分析仪器——扫描隧道显微镜(简称STM)。它的出现使人类第一次能够实时的观察单个原子在物质表面的排列状态和表面电子行为有关的物理、化学性质,为科学家提供了一种前所未有的直接观察单原子、单分子的手段,从而从根本上改变了人类对微观(纳米)世界的认识水平。STM的探针是由针尖与样品之间的隧道电流的变化决定的,因此要求样品表面能够导电,从而使得STM只能直接观察导体和半导体的表面结构对于非导电的物质则要求样品覆盖一层导电薄膜,但导电薄膜的粒度和均匀性难以保证,且导电薄膜掩盖了物质表面的细节为了克服

各种显微镜的讲义.doc

几种特殊的光学显微镜 (一)暗视野显微镜 暗视野显微镜不具备观察物体内部的细微结构的功能,但可以分辨 0.004μm 以上的微粒的存在和运动。因而常用于观察活细胞的结构和细胞内微粒的运动等。暗视野显微镜的基本原理是丁达尔效应。 暗视野显微镜的基本使用方法如下: 1.安装暗视野聚光器(或用厚实的黑纸片制成遮光板,放在普通显微镜的聚光器下方,也能得到暗视野效果)。 2.选用强光源,一般用显微镜灯照明,以防止直射光线进入物镜。 3.在聚光器和玻片之间加一滴香柏油,避免照明光线于聚光镜上进行全反射,达不到被检物体,而得不到暗视野照明。 4.进行中心调节,即水平移动聚光器,使聚光器的光轴与显微镜的光轴严格位于一直线上。升降聚光器,将聚光镜的焦点(图2 中圆锥光束的顶点)对准待检物。 5.选用与聚光器相应的物镜,调节焦距,按普通显微镜的方法操作。 (二)体视显微镜

体视显微镜又称实体显微镜或解剖镜,其成像为正立三维的空间影像,并具有立体感强、成像清晰宽阔、长工作距离(通常为110 mm)以及连续放大观看等特点。生物学上常用于解剖过程中的实时观察(附图13)。 普通光学显微镜的光源为平行光,因而形成的是二维平面影像;而体视显微镜采用双通道光路,双目镜筒中的左右两光束具有一定的夹角体视角(一般为 12o15o),因而能形成三维空间的立体图像。体视显微镜与普通光学显微镜的使用方法相近,但更为便捷。二者的主要区别在于: 1.体视显微镜的镜检对象可不必制作成装片。 2.体视显微镜载物台直接固定在镜座上,并配有黑白双面板或玻璃板,操作者可根据镜检的对象和要求加以选择。 3. 体视显微镜的成像是正立的,便于解剖操作。 4. 体视显微镜的物镜仅一只,其放大倍数可通过旋转调节螺旋连续调节。 (三)荧光显微镜 荧光显微镜是利用细胞内物质发射的荧光强度对其进行定性和定量研究的一种光学工具。细胞内的荧光物质物质有两类,一类直接经紫外线照射后即可发荧光,如叶绿素等;另有一些

显微镜的使用方法

实验一显微镜的构造及使用方法二 一、目的要求 1.了解显微镜的构造、性能及成像原理。 2.掌握显微镜的正确适用及维护方法。 二、实验器材 1.显微镜、纱布、绸布 2.酵母菌示教标本 三、普通光学显微镜简介 微生物的最显著的特点就是个体微小,必须借助显微镜才能观察到它们的个体形态和细胞结构。熟悉显微镜并掌握其操作技术是研究微生物不可缺少的手段。 显微镜可分为电子显微镜和光学显微镜两大类。光学显微镜包括:明视野显微镜、暗视野显微镜、相差显微镜、偏光显微镜、荧光显微镜、立体显微镜等。其中明视野显微镜为最常用普通光学显微镜,其它显微镜都是在此基础上发展而来的,基本结构相同,只是在某些部分作了一些改变。明视野显微镜简称显微镜。 (一)显微镜的构造 普通光学显微镜的构造可以分为机械和光学系统两大部分。 图1-1 显微镜构造 1.目镜 2.镜筒 3. 转换器 4. 物镜 5. 载物台 6. 聚光器 7. 虹彩光圈 8. 聚光镜调节钮9.反光镜10. 底座11. 镜臂12. 标本片移动钮 13. 细调焦旋钮14. 粗调焦旋钮15.电源开关16.光亮调节钮17.光源 1.机械系统: (1)镜座Base:在显微镜的底部,呈马蹄形、长方形、三角形等。 (2)镜臂Arm:连接镜座和镜筒之间的部分,呈圆弧形,作为移动显微镜时的握持部分。 (3)镜筒Tube:位于镜臂上端的空心圆筒,是光线的通道。镜筒的上端可插入接目镜,下面可与转换器相连接。镜筒的长度一般为160mm。显微镜分为直筒式和斜筒式; 有单筒式的,也有双筒式的。 (4)旋转器Nosepiece:位于镜筒下端,是一个可以旋转的圆盘。有3~4个孔,用于安

扫描电镜SEM-JEOL 7600F 详细操作步骤

Operating procedure for JEOL 7600F High Resolution Analytical SEM I. Specimen preparation There are several holders for different kinds of specimens and applications. During your initial training you should have received a general overview of these holders. Also, you should have received training on specimen mounting using the holder that best suits your specific application. Only use a holder for which you have received training by the tool instructor. If you wish to use a different holder, first contact the tool instructor. It is very important to know the kind of holder you are using and the way to mount specimens. For example, for the 12.5 and 26 mm holders, the correct way to mount your specimen is to flush its surface with the cylinder top face (see Fig. 1). FIG. 1. Specimen positioning on 12.5 and 26 mm holders. (Diagram taken from JEOL’s manual.) If your specimen needs to protrude above the cylinder’s top face (or the top face of another holder), you can still use this holder, but you need to estimate (with approx. 1 mm accuracy) the offset between the specimen and holder top surfaces. To make sure you are doing things correctly, use the sample height tool(see Fig. 2). Try to have the sample’s surface aligned with the zero offset line. If it needs to be above this line, read the offset in the meter scale. This offset value will be used when loading your sample in the SEM chamber.

无机非金属材料扫描电镜的制样流程

无机非金属材料扫描样品的制备流程 样品要求:试样经切割和磨抛处理成适宜扫描电镜观察的大小后还应进行喷金或蒸碳处理,使其导电。 切割设备:沈阳科晶自动化设备有限公司生产适用于无机非金属材料切割的的金刚石线切割机的型号有STX-202A、STX-1202A、STX-202AQ、STX-603、STX-2401、STX-402、STX-2017种。 外圆切割机的型号有:SYJ-400、SYJ-200、SYJ-150、SYJ-160、SYJ-800、SYJ-506 种。可根据材料的大小、切割的具体要求选择合适的切割设备。 耗材:金刚石线切割机用的各类直径的金刚石线、外圆切割机用的各类锯片、切割专用油、切割冷却粉、油石。 切割辅助设备:沈阳科晶自动化设备有限公司生产的MTI-3040和MTI-250加热平台,设备操作简单,温度≤200℃。 耗材:陶瓷树脂衬垫、石蜡 试样的镶嵌:沈阳科晶自动化设备有限公司生产的适用于无机非金属材料的冷镶嵌机的型号为CXQ-2500。 耗材:水晶胶、硬性冷镶模、软性冷镶模、弹性样品夹(冷镶嵌) 样品的磨抛:沈阳科晶自动化设备有限公司生产的手动研磨抛光机型号有UNIPOL-820、UNIPOL-830、UNIPOL-1210三种。自动精密研磨抛光机型号有UNIPOL-810、 UNIPOL-802、UNIPOL-1202、UNIPOL-1502四种。自动压力研磨抛光机型号有 UNIPOL-1000D、UNIPOL-1200S、UNIPOL-1200M、UNIPOL-800M、UNIPOL-1260五种。及 双面研磨抛光机UNIPOL-160D一种。 耗材:砂纸、金刚石磨片、树脂基金刚石磨片、研磨纸、研抛底片、磨料、抛光垫、抛光液、抛光膏、磁力橡胶 样品的清洗:沈阳科晶自动化设备有限公司生产的超声波清洗机的型号有VGT-1620QTD、VGT-1620TD 两种。等离子清洗设备的型号有PCE-6、PCE-8两种。可根据样品自身的特性选择合适 的清洗方法。 样品表面喷金和蒸碳:沈阳科晶自动化设备有限公司生产的GSL-1800X-ZF2小型蒸镀仪,VTC-16-3HD 3溅射蒸镀膜仪是电镜实验室喷金和蒸碳常用的最佳设备。 耗材:靶材 样品观察:将已经导电的试样用导电双面胶粘接到载样台上之后就可以用扫描电子显微镜进行观察了。 以上设备和对应耗材沈阳科晶自动化设备有限公司均有销售。

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