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TD-SCDMA 3GPP TS 34.122 V11.11.0 (2015-06)第一部分

3GPP TS 34.122 V11.11.0 (2015-06)

Technical Specification

3rd Generation Partnership Project;

Technical Specification Group Radio Access Network;

Terminal conformance specification;

Radio transmission and reception (TDD)

(Release 11)

The present document has been developed within the 3rd Generation Partnership Project (3GPP TM) and may be further elaborated for the purposes of 3GPP.

Keywords

UMTS, testing, terminal

3GPP

Postal address

3GPP support office address

650 Route des Lucioles - Sophia Antipolis

Valbonne - FRANCE

Tel.: +33 4 92 94 42 00 Fax: +33 4 93 65 47 16

Internet

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? 2015, 3GPP Organizational Partners (ARIB, ATIS, CCSA, ETSI, TSDSI, TTA, TTC).

UMTS? is a Trade Mark of ETSI registered for the benefit of its members

3GPP? is a Trade Mark of ETSI registered for the benefit of its Members and of the 3GPP Organizational Partners LTE? is a Trade Mark of ETSI registered for the benefit of its Members a nd of the 3GPP Organizational Partners GSM? and the GSM logo are registered and owned by the GSM Association

Contents Foreword (44)

1Scope (45)

2References (45)

3Definitions, abbreviations and equations (46)

3.1Definitions (46)

3.2Abbreviations (47)

3.3Equations (48)

4Frequency bands and channel arrangement (48)

4.1General (48)

4.2Frequency bands (48)

4.3TX–RX frequency separation (49)

4.3.13,84 Mcps TDD Option (49)

4.3.21,28 Mcps TDD Option (49)

4.3.37,68 Mcps TDD Option (49)

4.4Channel arrangement (49)

4.4.1Channel spacing (49)

4.4.1.13,84 Mcps TDD Option (49)

4.4.1.21,28 Mcps TDD Option (49)

4.4.1.37,68 Mcps TDD Option (49)

4.4.2Channel raster (49)

4.4.3Channel number (49)

4.4.4UARFCN (3,84 Mcps TDD Option) (49)

4.4.4A UARFCN (1.28 Mcps TDD Option) (50)

4.4.5UARFCN (7,68 Mcps TDD Option) (50)

5Transmitter Characteristics (51)

5.1General (51)

5.2User Equipment maximum output power (51)

5.2.1Definition and applicability (51)

5.2.2Minimum Requirements (51)

5.2.2.1 3.84 Mcps TDD option (51)

5.2.2.2 1.28 Mcps TDD option (52)

5.2.2.37.68 Mcps TDD option (52)

5.2.3Test purpose (53)

5.2.4Method of test (53)

5.2.4.1Initial conditions (53)

5.2.4.1.13,84 Mcps TDD Option (53)

5.2.4.1.21,28 Mcps TDD Option (54)

5.2.4.1.37,68 Mcps TDD Option (54)

5.2.4.2Procedure (55)

5.2.5Test Requirements (55)

5.2.5.13,84 Mcps TDD Option (55)

5.2.5.2 1.28 Mcps TDD Option (55)

5.2.5.37.68 Mcps TDD Option (56)

5.2A User Equipment maximum output power with E-DCH (56)

5.2A.1Definition and applicability (56)

5.2A.2Minimum Requirements (56)

5.2A.2.1 3.84 Mcps TDD option (56)

5.2A.2.2 1.28 Mcps TDD option (56)

5.2A.2.37.68 Mcps TDD option (57)

5.2A.3Test purpose (57)

5.2A.4Method of test (57)

5.2A.4.1Initial conditions (57)

5.2A.4.1.13,84 Mcps TDD Option (57)

5.2A.4.1.21,28 Mcps TDD Option (58)

5.2A.4.2Procedure (58)

5.2A.5Test requirements (58)

5.2A.5.1 3.84 Mcps TDD Option (58)

5.2A.5.2 1.28 Mcps TDD Option (58)

5.2A.5.37.68 Mcps TDD Option (59)

5.2B User Equipment maximum output power with HS-SICH and DPCH (59)

5.2B.1Definition and applicability (59)

5.2B.2Minimum Requirements (59)

5.2B.2.1 3.84 Mcps TDD option (59)

5.2B2.2 1.28 Mcps TDD option (59)

5.2B.2.37.68 Mcps TDD option (60)

5.2B.3Test purpose (60)

5.2B.4Method of test (60)

5.2B.4.1Initial conditions (60)

5.2B.4.2Procedure (60)

5.2B.5Test requirements (61)

5.2B.5.1 3.84 Mcps TDD Option (61)

5.2B.5.2 1.28 Mcps TDD Option (61)

5.2B.5.37.68 Mcps TDD Option (61)

5.3UE frequency stability (61)

5.3.1Definition and applicability (61)

5.3.2Minimum Requirements (61)

5.3.3Test purpose (62)

5.3.4Method of test (62)

5.3.4.1Initial conditions (62)

5.3.4.1.13,84 Mcps TDD Option (62)

5.3.4.1.21,28 Mcps TDD Option (62)

5.3.4.1.37,68 Mcps TDD Option (62)

5.3.4.2Procedure (63)

5.3.5Test Requirements (63)

5.4Output Power Dynamics (63)

5.4.1Uplink power control (63)

5.4.1.1Initial accuracy (3,84 Mcps TDD Option) (63)

5.4.1.1.1Definition and applicability (63)

5.4.1.1.2Minimum requirements (63)

5.4.1.1.3Test purpose (63)

5.4.1.1.4Method of test (64)

5.4.1.1.5Test requirements (64)

5.4.1.2Differential accuracy, controlled input (3,84 Mcps TDD Option) (65)

5.4.1.2.1Definition and applicability (65)

5.4.1.2.2Minimum requirements (65)

5.4.1.2.3Test purpose (65)

5.4.1.2.4Method of test (65)

5.4.1.2.5Test requirements (66)

5.4.1.2A Differential accuracy, controlled input (67)

5.4.1.3Open loop power control (1,28 Mcps TDD Option) (67)

5.4.1.3.1Definition and applicability (67)

5.4.1.3.2Minimum requirements (67)

5.4.1.3.3 Test purpose (67)

5.4.1.3.4Method of test (67)

5.4.1.3.5Test requirements (68)

5.4.1.4Closed loop power control (1,28 Mcps TDD Option) (69)

5.4.1.4.1Definition and applicability (69)

5.4.1.4.2Minimum requirements (69)

5.4.1.4.3Test purpose (69)

5.4.1.4.4Method of test (69)

5.4.1.4.5Test requirements (70)

5.4.1.5Initial accuracy (7,68 Mcps TDD Option) (71)

5.4.1.5.1Definition and applicability (71)

5.4.1.5.2Minimum requirements (71)

5.4.1.5.5Test requirements (72)

5.4.2Minimum output power (72)

5.4.2.1Definition and applicability (72)

5.4.2.2Minimum Requirements (72)

5.4.2.2.13,84Mcps TDD Option (72)

5.4.2.2.21,28Mcps TDD Option (72)

5.4.2.2.37,68Mcps TDD Option (73)

5.4.2.3Test purpose (73)

5.4.2.4Method of test (73)

5.4.2.4.1Initial conditions (73)

5.4.2.4.2Procedure (73)

5.4.2.5Test requirements (73)

5.4.2.5.13,84 Mcps TDD Option (73)

5.4.2.5.21,28 Mcps TDD Option (73)

5.4.2.5.37,68 Mcps TDD Option (73)

5.4.3Transmit OFF power (74)

5.4.3.1Definition and applicability (74)

5.4.3.2Minimum Requirements (74)

5.4.3.3Test purpose (74)

5.4.3.4Method of test (74)

5.4.3.5Test requirements (74)

5.4.4Transmit ON/OFF Time mask (74)

5.4.4.1Definition and applicability (74)

5.4.4.2Minimum requirements (74)

5.4.4.2.13,84Mcps TDD Option (74)

5.4.4.2.21,28Mcps TDD Option (75)

5.4.4.2.37,68Mcps TDD Option (75)

5.4.4.3Test Purpose (76)

5.4.4.4Method of test (76)

5.4.4.4.1Initial conditions (76)

5.4.4.4.2Procedure (76)

5.4.4.5Test requirements (76)

5.4.5Out-of-synchronisation handling of output power for continuous transmission (77)

5.4.5.1Definition and applicability (77)

5.4.5.2Minimum Requirement (77)

5.4.5.2.13,84 Mcps TDD Option (77)

5.4.5.2.21,28 Mcps TDD Option (78)

5.4.5.2.37,68 Mcps TDD Option (79)

5.4.5.3Test purpose (80)

5.4.5.4Method of test (81)

5.4.5.4.1Initial conditions (81)

5.4.5.4.2Procedure (81)

5.4.5.5Test Requirements (82)

5.4.6Out-of-synchronisation handling of output power for discontinuous transmission (82)

5.4.6.1Definition and applicability (82)

5.4.6.2Minimum Requirement (83)

5.4.6.2.13,84 Mcps TDD Option (83)

5.4.6.2.21,28 Mcps TDD Option (84)

5.4.6.2.37,68 Mcps TDD Option (85)

5.4.6.3Test purpose (86)

5.4.6.4Method of test (87)

5.4.6.4.1Initial conditions (87)

5.4.6.4.2Procedure (87)

5.4.6.5Test Requirements (88)

5.5Output RF spectrum emissions (88)

5.5.1Occupied bandwidth (88)

5.5.1.1Definition and applicability (88)

5.5.1.2Minimum Requirements (88)

5.5.1.4Method of test (89)

5.5.1.4.1Initial conditions (89)

5.5.1.4.2Procedure (89)

5.5.1.5Test requirements (89)

5.5.1.5.13,84 Mcps TDD Option (89)

5.5.1.5.21,28 Mcps TDD Option (90)

5.5.1.5.37,68 Mcps TDD Option (90)

5.5.2Out of band emission (90)

5.5.2.1Spectrum emission mask (90)

5.5.2.1.1Definition and applicability (90)

5.5.2.1.1.13,84 Mcps TDD Option (90)

5.5.2.1.1.21,28 Mcps TDD Option (90)

5.5.2.1.1.37,68 Mcps TDD Option (90)

5.5.2.1.2Minimum Requirements (90)

5.5.2.1.2.13,84 Mcps TDD Option (90)

5.5.2.1.2.21,28 Mcps TDD Option (91)

5.5.2.1.2.37,68 Mcps TDD Option (91)

5.5.2.1.3Test purpose (92)

5.5.2.1.4Method of test (92)

5.5.2.1.5Test requirements (93)

5.5.2.1.5.13,84 Mcps TDD Option (93)

5.5.2.1.5.21,28 Mcps TDD Option (94)

5.5.2.1.5.37,68 Mcps TDD Option (95)

5.5.2.1A Spectrum emission mask with E-DCH (95)

5.5.2.1A.1Definition and applicability (95)

5.5.2.1A.2Minimum Requirements (95)

5.5.2.1A.3Test purpose (96)

5.5.2.1A.4Method of test (96)

5.5.2.1A5Test requirements (97)

5.5.2.1B Spectrum emission mask with HS-SICH and DPCH (97)

5.5.2.1B.1Definition and applicability (97)

5.5.2.1B.2Minimum Requirements (98)

5.5.2.1B.3Test purpose (98)

5.5.2.1B.4Method of test (98)

5.5.2.1B5Test requirements (99)

5.5.2.2Adjacent Channel Leakage power Ratio (ACLR) (99)

5.5.2.2.1Definition and applicability (99)

5.5.2.2.2Minimum Requirements (100)

5.5.2.2.2.13,84Mcps TDD Option (100)

5.5.2.2.2.21,28Mcps TDD Option (100)

5.5.2.2.2.37,68Mcps TDD Option (100)

5.5.2.2.3Test purpose (100)

5.5.2.2.4Method of test (101)

5.5.2.2.5Test requirements (101)

5.5.2.2.5.13,84 Mcps TDD Option (101)

5.5.2.2.5.21,28 Mcps TDD Option (101)

5.5.2.2.5.37,68 Mcps TDD Option (102)

5.5.2.2A Adjacent Channel Leakage power Ratio (ACLR) with E-DCH (102)

5.5.2.2A.1Definition and applicability (102)

5.5.2.2A.2Minimum Requirements (102)

5.5.2.2A.2.13,84Mcps TDD Option (102)

5.5.2.2A.2.21,28Mcps TDD Option (102)

5.5.2.2A.2.37,68Mcps TDD Option (103)

5.5.2.2A.3Test purpose (103)

5.5.2.2A.4Method of test (103)

5.5.2.2A.5Test requirements (103)

5.5.2.2A.5.13,84 Mcps TDD Option (103)

5.5.2.2A.5.21,28 Mcps TDD Option (103)

5.5.2.2B.2.13,84Mcps TDD Option (104)

5.5.2.2B.2.21,28Mcps TDD Option (104)

5.5.2.2B.2.37,68Mcps TDD Option (104)

5.5.2.2B.3Test purpose (104)

5.5.2.2B.4Method of test (105)

5.5.2.2B.5Test requirements (105)

5.5.2.2B.5.13,84 Mcps TDD Option (105)

5.5.2.2B.5.21,28 Mcps TDD Option (105)

5.5.2.2B.5.37,68 Mcps TDD Option (105)

5.5.3Spurious emissions (105)

5.5.3.1Definition and applicability (105)

5.5.3.2Minimum Requirements (106)

5.5.3.2.13,84 Mcps TDD Option (106)

5.5.3.2.21,28Mcps TDD Option (106)

5.5.3.2.37,68 Mcps TDD Option (107)

5.5.3.3Test purpose (108)

5.5.3.3.13,84 Mcps Option (108)

5.5.3.3.21,28 Mcps Option (108)

5.5.3.3.37,68 Mcps Option (108)

5.5.3.4Method of test (108)

5.5.3.4.1Initial conditions (108)

5.5.3.4.2Procedure (108)

5.5.3.5Test requirements (109)

5.5.3.5.13,84 Mcps TDD Option (109)

5.5.3.5.21,28 Mcps TDD Option (109)

5.5.3.5.37,68 Mcps TDD Option (111)

5.6Transmit Intermodulation (111)

5.6.1Definition and applicability (111)

5.6.2Minimum Requirements (111)

5.6.2.13,84 Mcps TDD Option (111)

5.6.2.21,28 Mcps TDD Option (112)

5.6.2.37,68 Mcps TDD Option (112)

5.6.3Test purpose (112)

5.6.4Method of test (112)

5.6.4.1Initial conditions (112)

5.6.4.2Procedure (113)

5.6.4.2.13,84 Mcps TDD Option (113)

5.6.4.2.21,28 Mcps TDD Option (113)

5.6.4.2.37,68 Mcps TDD Option (113)

5.6.5Test requirements (113)

5.6.5.13,84 Mcps TDD Option (113)

5.6.5.21,28 Mcps TDD Option (113)

5.6.5.37,68 Mcps TDD Option (114)

5.7Transmit Modulation (114)

5.7.1Error Vector Magnitude (114)

5.7.1.1Definition and applicability (114)

5.7.1.2Minimum Requirements (114)

5.7.1.3Test purpose (115)

5.7.1.4Method of test (115)

5.7.1.4.1Initial conditions (115)

5.7.1.4.2Procedure (115)

5.7.1.5Test requirements (115)

5.7.1A Error Vector Magnitude with E-DCH16QAM (115)

5.7.1A.1Definition and applicability (115)

5.7.1A.2Minimum Requirements (115)

5.7.1A.4Method of test (116)

5.7.1A.4.1Initial conditions (116)

5.7.1A.4.2Procedure (116)

5.7.1B.1Definition and applicability (117)

5.7.1B.2Minimum Requirements (117)

5.7.B1.3Test purpose (117)

5.7.1B.4Method of test (117)

5.7.1B.4.1Initial conditions (117)

5.7.1B.4.2Procedure (117)

5.7.1B.5Test requirements (117)

5.7.2Peak code domain error (118)

5.7.2.1Definition and applicability (118)

5.7.2.2Minimum Requirement (118)

5.7.2.3Test purpose (118)

5.7.2.4Method of test (118)

5.7.2.4.1Initial conditions (118)

5.7.2.4.1.13,84 Mcps TDD Option (118)

5.7.2.4.1.21,28 Mcps TDD Option (118)

5.7.2.4.1.37,68 Mcps TDD Option (119)

5.7.2.4.2Procedure (119)

5.7.2.5Test requirements (119)

6Receiver Characteristics (119)

6.1General (119)

6.2Reference sensitivity level (120)

6.2.1Definition and applicability (120)

6.2.2Minimum Requirements (120)

6.2.2.13,84 Mcps TDD Option (120)

6.2.2.21,28 Mcps TDD Option (120)

6.2.2.37,68 Mcps TDD Option (121)

6.2.3Test purpose (121)

6.2.4Method of test (121)

6.2.4.1Initial conditions (121)

6.2.4.2Procedure (121)

6.2.5Test requirements (121)

6.2.5.13,84 Mcps TDD Option (121)

6.2.5.21,28 Mcps TDD Option (122)

6.2.5.37,68 Mcps TDD Option (122)

6.2A Reference sensitivity level (IMB) (122)

6.2A.1Definition and applicability (122)

6.2A.2Minimum Requirements (122)

6.2A.3Test purpose (123)

6.2A.4Method of test (123)

6.2A.4.1Initial conditions (123)

6.2A.4.2Procedure (123)

6.2A.5Test requirements (123)

6.3Maximum Input Level (124)

6.3.1Definition and applicability (124)

6.3.2Minimum requirements (124)

6.3.2.13,84 Mcps TDD Option (124)

6.3.2.21,28 Mcps TDD Option (124)

6.3.2.37,68 Mcps TDD Option (125)

6.3.3Test purpose (125)

6.3.4Method of test (125)

6.3.4.1Initial conditions (125)

6.3.4.2Procedure (125)

6.3.5Test requirements (125)

6.3A Maximum Input Level for HS-PDSCH Reception (16QAM) (125)

6.3A.1Definition and applicability (125)

6.3A.2Minimum requirements (125)

6.3A.3Test purpose (126)

6.3A.4Method of test (126)

6.3A.4.1Initial conditions (126)

6.3A.4.2Procedure (126)

6.3B Maximum Input Level for HS-PDSCH Reception (64QAM) (127)

6.3B.1Definition and applicability (127)

6.3B.2Minimum requirements (127)

6.3B.3Test purpose (127)

6.3B.4Method of test (127)

6.3B.4.1Initial conditions (127)

6.3B.4.2Procedure (128)

6.3B.5Test requirements (128)

6.3C Maximum Input Level (IMB) (128)

6.3C.1Definition and applicability (128)

6.3C.2Minimum requirements (128)

6.3C.3Test purpose (128)

6.3C.4Method of test (128)

6.3C.4.1Initial conditions (128)

6.3C.4.2Procedure (129)

6.3C.5Test requirements (129)

6.4Adjacent Channel Selectivity (ACS) (129)

6.4.1Definition and applicability (129)

6.4.2Minimum Requirements (129)

6.4.2.13,84 Mcps TDD Option (129)

6.4.2.21,28 Mcps TDD Option (130)

6.4.2.37,68 Mcps TDD Option (130)

6.4.3Test purpose (130)

6.4.4Method of test (130)

6.4.4.1Initial conditions (130)

6.4.4.2Procedure (131)

6.4.5Test Requirements (131)

6.4.5.13,84 Mcps TDD Option (131)

6.4.5.21,28 Mcps TDD Option (131)

6.4.5.37,68 Mcps TDD Option (132)

6.4A Adjacent Channel Selectivity (ACS) (IMB) (132)

6.4A.1Definition and applicability (132)

6.4A.2Minimum Requirements (132)

6.4A.3Test purpose (133)

6.4A.4Method of test (133)

6.4A.4.1Initial conditions (133)

6.4A.4.2Procedure (133)

6.4A.5Test Requirements (133)

6.5Blocking Characteristics (134)

6.5.1Definition and applicability (134)

6.5.2Minimum Requirements (134)

6.5.2.13,84 Mcps TDD Option (134)

6.5.2.21,28 Mcps TDD Option (135)

6.5.2.37,68 Mcps TDD Option (137)

6.5.3Test purpose (138)

6.5.4Method of test (138)

6.5.4.1Initial conditions (138)

6.5.4.2Procedure (138)

6.5.5Test requirements (139)

6.5.5.13,84 Mcps TDD Option (139)

6.5.5.21,28 Mcps TDD Option (140)

6.5.5.37,68 Mcps TDD Option (140)

6.5A Blocking Characteristics (IMB) (141)

6.5A.1Definition and applicability (141)

6.5A.2Minimum Requirements (141)

6.5A.3Test purpose (142)

6.5A.4Method of test (142)

6.5A.4.1Initial conditions (142)

6.5A.4.2Procedure (143)

6.5A.5Test requirements (143)

6.6.2.21,28 Mcps TDD Option (145)

6.6.2.37,68 Mcps TDD Option (145)

6.6.3Test purpose (145)

6.6.4Method of test (145)

6.6.4.1Initial conditions (145)

6.6.4.2Procedure (145)

6.6.5Test requirements (146)

6.6.5.13,84 Mcps TDD (146)

6.6.5.21,28 Mcps TDD (146)

6.6.5.37,68 Mcps TDD (146)

6.6A Spurious Response (IMB) (147)

6.6A.1Definition and applicability (147)

6.6A.2Minimum Requirements (147)

6.6A.3Test purpose (147)

6.6A.4Method of test (147)

6.6A.4.1Initial conditions (147)

6.6A.4.2Procedure (148)

6.6A.5Test requirements (148)

6.7Intermodulation Characteristics (148)

6.7.1Definition and applicability (148)

6.7.2Minimum Requirements (149)

6.7.2.13,84 Mcps TDD Option (149)

6.7.2.21,28 Mcps TDD Option (149)

6.7.2.37,68 Mcps TDD Option (149)

6.7.3Test purpose (150)

6.7.4Method of test (150)

6.7.4.1Initial conditions (150)

6.7.4.2Procedure (150)

6.7.5Test requirements (150)

6.7.5.13,84 Mcps TDD Option (150)

6.7.5.21,28 Mcps TDD Option (150)

6.7.5.37,68 Mcps TDD Option (151)

6.7A Intermodulation Characteristics (IMB) (151)

6.7A.1Definition and applicability (151)

6.7A.2Minimum Requirements (151)

6.7A.3Test purpose (152)

6.7A.4Method of test (152)

6.7A.4.1Initial conditions (152)

6.7A.4.2Procedure (152)

6.7A.5Test requirements (153)

6.8Spurious Emissions (153)

6.8.1Definition and applicability (153)

6.8.2Minimum Requirements (153)

6.8.2.13,84 Mcps TDD Option (153)

6.8.2.21,28 Mcps TDD Option (153)

6.8.2.37,68 Mcps TDD Option (154)

6.8.3Test purpose (155)

6.8.4Method of test (155)

6.8.4.1Initial conditions (155)

6.8.4.2Procedure (155)

6.8.5Test requirements (156)

6.8.5.13,84 Mcps TDD Option (156)

6.8.5.21,28 Mcps TDD Option (156)

6.8.5.37,68 Mcps TDD Option (157)

7Performance Requirements (159)

7.1General (159)

7.1.2Definition of Additive White Gaussian Noise (AWGN) Interferer (159)

7.2Demodulation in static propagation conditions (159)

7.2.1.2.13,84 Mcps TDD Option (159)

7.2.1.2.21,28 Mcps TDD Option (160)

7.2.1.2.37,68 Mcps TDD Option (160)

7.2.1.3Test purpose (161)

7.2.1.4Method of test (161)

7.2.1.4.1Initial conditions (161)

7.2.1.4.2Procedure (161)

7.2.1.5Test requirements (161)

7.2.1.5.1 3.84Mcps TDD Option (161)

7.2.1.5.2 1.28Mcps TDD Option (162)

7.2.1.5.37.68Mcps TDD Option (162)

7.3Demodulation of DCH in multipath fading conditions (162)

7.3.1Multipath fading Case 1 (162)

7.3.1.1Definition and applicability (162)

7.3.1.2Minimum requirements (162)

7.3.1.2.13,84 Mcps TDD Option (162)

7.3.1.2.21,28 Mcps TDD Option (163)

7.3.1.2.37,68 Mcps TDD Option (164)

7.3.1.3Test purpose (164)

7.3.1.4Method of test (164)

7.3.1.4.1Initial conditions (164)

7.3.1.4.2Procedure (165)

7.3.1.5Test requirements (165)

7.3.1.5.1 3.84Mcps TDD Option (165)

7.3.1.5.2 1.28Mcps TDD Option (165)

7.3.1.5.37.68Mcps TDD Option (165)

7.3.2Multipath fading Case 2 (165)

7.3.2.1Definition and applicability (165)

7.3.2.2Minimum requirement (166)

7.3.2.2.13,84 Mcps TDD Option (166)

7.3.2.2.21,28 Mcps TDD Option (166)

7.3.2.2.37,68 Mcps TDD Option (167)

7.3.2.3Test purpose (167)

7.3.2.4Method of test (168)

7.3.2.4.1Initial conditions (168)

7.3.2.4.2Procedure (168)

7.3.2.5Test requirements (168)

7.3.2.5.1 3.84Mcps TDD Option (168)

7.3.2.5.2 1.28Mcps TDD Option (168)

7.3.2.5.37.68Mcps TDD Option (168)

7.3.3Multipath fading Case 3 (169)

7.3.3.1Definition and applicability (169)

7.3.3.2Minimum requirements (169)

7.3.3.2.13,84 Mcps TDD Option (169)

7.3.3.2.21,28 Mcps TDD Option (169)

7.3.3.2.37,68 Mcps TDD Option (170)

7.3.3.3Test purpose (171)

7.3.3.4Method of test (171)

7.3.3.4.1Initial conditions (171)

7.3.3.4.2Procedure (171)

7.3.3.5Test requirements (171)

7.3.3.5.1 3.84Mcps TDD Option (171)

7.3.3.5.2 1.28Mcps TDD Option (171)

7.3.3.5.37.68Mcps TDD Option (172)

7.3A Demodulation of DCH in High speed train conditions (172)

7.3A.1Definition and applicability (172)

7.3A.1.13,84 Mcps TDD Option (172)

7.3A.1.21,28 Mcps TDD Option (172)

7.3A.2.37,68 Mcps TDD Option (173)

7.3A.3Test purpose (173)

7.3A.4Method of test (173)

7.3A.4.1Initial conditions (173)

7.3A.4.2Procedure (173)

7.3A.5Test requirements (173)

7.3A.5.1 3.84Mcps TDD Option (173)

7.3A.5.2 1.28Mcps TDD Option (173)

7.3A.5.37.68Mcps TDD Option (174)

7.4Base station transmit diversity mode for 3,84 Mcps TDD Option (174)

7.4.1Demodulation of BCH in SCTD mode (174)

7.5Power control in downlink (174)

7.5.1Definition and applicability (174)

7.5.2Power control in downlink for 3,84 Mcps TDD option, constant BLER Target (174)

7.5.2.1Minimum requirements (174)

7.5.2.2Test purpose (175)

7.5.2.3Method of test (175)

7.5.2.3.1Initial conditions (175)

7.5.2.3.2Procedure (175)

7.5.2.4Test Requirements (175)

7.5.3Power control in downlink for 1,28 Mcps TDD option, constant BLER Target(Release 6 and earlier) .. 175 7.5.3.1Definition and applicability (175)

7.5.3.2Minimum requirements (176)

7.5.3.3Test purpose (176)

7.5.3.4Method of test (176)

7.5.3.4.1Initial conditions (176)

7.5.3.4.2Procedure (177)

7.5.3.5Test Requirements (177)

7.5.3A Power control in downlink for 1,28 Mcps TDD option, constant BLER Target(Release 7 and later) (177)

7.5.3A.1Definition and applicability (177)

7.5.3A.2Minimum requirements (177)

7.5.3A.3Test purpose (178)

7.5.3A.4Method of test (178)

7.5.3A.4.1Initial conditions (178)

7.5.3A.4.2Procedure (178)

7.5.3A.5Test Requirements (178)

7.5.4Power control in the downlink for 1,28 Mcps TDD option, wind up effects (178)

7.5.4.1 Definition and applicability (178)

7.5.4.2Minimum requirements (179)

7.5.4.3Test purpose (179)

7.5.4.4Method of test (179)

7.5.4.5Test Requirements (180)

7.5.5Power control in the downlink for 1,28 Mcps TDD option, initial convergence (180)

7.5.5.1Definition and applicability (180)

7.5.5.2Minimum requirements (180)

7.5.5.3Test purpose (181)

7.5.5.4Method of test (181)

7.5.5.5Test Requirements (181)

7.6Uplink Power Control (181)

7.6.1Definition and applicability (181)

7.6.2Minimum requirements (181)

7.6.3Test purpose (183)

7.6.4Method of test (183)

7.6.4.1Initial conditions (183)

7.6.4.2Procedure (183)

7.6.5Test Requirements (183)

7.7Demodulation of DCH in moving conditions (184)

7.7.1Definition and applicability (184)

7.7.2.1 3.84 Mcps TDD Option (184)

7.7.2.2 1.28 Mcps TDD Option (184)

7.7.2.37.68 Mcps TDD Option (185)

7.7.3Test purpose (185)

7.7.4Method of test (185)

7.7.4.1Initial conditions (185)

7.7.4.2Procedure (185)

7.7.5Test Requirements (185)

7.7.5.1 3.84 Mcps option (185)

7.7.5.2 1.28 Mcps option (185)

7.7.5.37.68Mcps option (186)

7.8Demodulation of DCH in birth-death conditions (186)

7.8.1Definition and applicability (186)

7.8.1.13,84 Mcps TDD Option (186)

7.8.1.21,28 Mcps TDD Option (186)

7.8.1.37,68 Mcps TDD Option (186)

7.8.2Minimum requirements (186)

7.8.2.1 3.84 Mcps TDD Option (186)

7.8.2.2 1.28 Mcps TDD Option (187)

7.8.2.37.68 Mcps TDD Option (187)

7.8.3Test purpose (187)

7.8.4Method of test (187)

7.8.4.1Initial conditions (187)

7.8.4.2Procedure (187)

7.8.5Test Requirements (188)

7.8.5.1 3.84 Mcps option (188)

7.8.5.2 1.28 Mcps option (188)

7.8.5.37.68 Mcps option (188)

8Requirements for Support of RRM (189)

8.1General (189)

8.2Idle Mode Tasks (189)

8.2.1RF Cell Selection Scenario (189)

8.2.1.1Introduction (189)

8.2.2Cell Re-Selection (189)

8.2.2.1Scenario 1: Cell re-selection to intra frequency TDD cell (189)

8.2.2.1.1Definition and applicability (189)

8.2.2.1.1.13,84 Mcps TDD Option (189)

8.2.2.1.1.21,28 Mcps TDD Option (189)

8.2.2.1.1.37,68 Mcps TDD Option (189)

8.2.2.1.2Minimum requirement (189)

8.2.2.1.2.13,84 Mcps TDD Option (189)

8.2.2.1.2.21,28 Mcps TDD Option (190)

8.2.2.1.2.37,68 Mcps TDD Option (190)

8.2.2.1.3Test purpose (190)

8.2.2.1.4Method of test (190)

8.2.2.1.4.13,84 Mcps TDD Option (190)

8.2.2.1.4.1.1Initial conditions (190)

8.2.2.1.4.1.2Procedure (193)

8.2.2.1.4.21,28 Mcps TDD Option (193)

8.2.2.1.4.37,68 Mcps TDD Option (195)

8.2.2.1.4.3.1Initial conditions (195)

8.2.2.1.4.3.2Procedure (197)

8.2.2.1.5Test Requirements (197)

8.2.2.1.5.13,84 Mcps TDD Option (197)

8.2.2.1.5.21,28 Mcps TDD Option (197)

8.2.2.1.5.37,68 Mcps TDD Option (197)

8.2.2.2Scenario 2: Cell re-selection to inter-frequency TDD cell (198)

8.2.2.2.1Definition and applicability (198)

8.2.2.2.2Minimum requirement (198)

8.2.2.2.2.13,84 Mcps Option (198)

8.2.2.2.2.21,28 Mcps Option (198)

8.2.2.2.2.37,68 Mcps Option (199)

8.2.2.2.3Test purpose (199)

8.2.2.2.4Method of test (199)

8.2.2.2.4.13,84 Mcps Option (199)

8.2.2.2.4.1.1Initial conditions (199)

8.2.2.2.4.1.2Procedure (201)

8.2.2.2.4.21,28 Mcps Option (201)

8.2.2.2.4.37,68 Mcps Option (203)

8.2.2.2.4.3.1Initial conditions (203)

8.2.2.2.4.3.2Procedure (205)

8.2.2.2.5Test Requirements (205)

8.2.2.2.5.13,84 Mcps Option (205)

8.2.2.2.5.21,28 Mcps Option (205)

8.2.2.2.5.37,68 Mcps Option (205)

8.2.2.2A Scenario 2A: 3,84 Mcps TDD cell re-selection for 1,28 Mcps TDD UE (206)

8.2.2.2B Scenario 2B: 1,28 Mcps TDD cell re-selection for 3,84 Mcps TDD UE (206)

8.2.2.2C Scenario 2C: 3,84 Mcps TDD cell re-selection for 7,68 Mcps TDD UE (206)

8.2.2.2C.1Definition and applicability (206)

8.2.2.2C.2Minimum requirement (206)

8.2.2.2C.3Test purpose (206)

8.2.2.2C.4Method of test (206)

8.2.2.2C.4.1Initial conditions (206)

8.2.2.2C.4.2Procedure (207)

8.2.2.2C.5Test Requirements (208)

8.2.2.2D Scenario 2D: 7,68 Mcps TDD cell re-selection for 3,84 Mcps TDD UE (208)

8.2.2.2D.1Definition and applicability (208)

8.2.2.2D.2Minimum requirement (208)

8.2.2.2D.3Test purpose (208)

8.2.2.2D.4Method of test (208)

8.2.2.2D.4.1Initial conditions (208)

8.2.2.2D.4.2Procedure (209)

8.2.2.2D.5Test Requirements (210)

8.2.2.3Scenario 3: TDD/FDD Cell re-selection (210)

8.2.2.3.1Definition and applicability (210)

8.2.2.3.1.13,84 Mcps Option (210)

8.2.2.3.1.21,28 Mcps Option (210)

8.2.2.3.1.37,68 Mcps Option (210)

8.2.2.3.2Minimum requirements (210)

8.2.2.3.3Test purpose (211)

8.2.2.3.4Method of test (211)

8.2.2.3.4.13,84 Mcps Option (211)

8.2.2.3.4.1.1Initial conditions (211)

8.2.2.3.4.1.2Procedure (212)

8.2.2.3.4.21,28 Mcps Option (213)

8.2.2.3.4.37,68 Mcps Option (214)

8.2.2.3.4.3.1Initial conditions (214)

8.2.2.3.4.3.2Procedure (215)

8.2.2.3.5Test requirements (215)

8.2.2.4Scenario 4: inter RAT cell re-selection (216)

8.2.2.4.1Definition and applicability (216)

8.2.2.4.1.13,84 Mcps Option (216)

8.2.2.4.1.21,28 Mcps Option (216)

8.2.2.4.1.37,68 Mcps Option (216)

8.2.2.4.2Minimum requirement (216)

8.2.2.4.2.13,84 Mcps Option (216)

8.2.2.4.4.13,84 Mcps Option (217)

8.2.2.4.4.1.1Initial conditions (217)

8.2.2.4.4.1.2Procedure (218)

8.2.2.4.4.21,28 Mcps Option (219)

8.2.2.4.4.37,68 Mcps Option (220)

8.2.2.4.5Test Requirements (221)

8.2.2.4.5.13,84 Mcps Option (221)

8.2.2.4.5.21,28 Mcps Option (221)

8.2.2.4.5.37,68 Mcps Option (221)

8.2.2.5Scenario 4A: inter RAT cell acquisition and re-selection (221)

8.2.2.5.1Definition and applicability (221)

8.2.2.5.1.13,84 Mcps Option (221)

8.2.2.5.1.21,28 Mcps Option (222)

8.2.2.5.1.37,68 Mcps Option (222)

8.2.2.5.2Minimum requirement (222)

8.2.2.5.2.13,84 Mcps Option (222)

8.2.2.5.2.21,28 Mcps Option (222)

8.2.2.5.2.37,68 Mcps Option (222)

8.2.2.5.3Test purpose (222)

8.2.2.5.4Method of Test (222)

8.2.2.5.4.13,84 Mcps Option (222)

8.2.2.5.4.21,28 Mcps Option (222)

8.2.2.5.4.2.1Initial conditions (222)

8.2.2.5.4.2.2Procedure (223)

8.2.2.5.4.37,68 Mcps Option (224)

8.2.2.5.5Test Requirements (224)

8.2.2.5.5.13,84 Mcps Option (224)

8.2.2.5.5.21,28 Mcps Option (224)

8.2.2.5.5.37,68 Mcps Option (224)

8.2.2.5A Scenario 4B: UTRAN to GSM Cell Re-Selection: HCS with only UTRA level changed (224)

8.2.2.5A.1Definition and applicability (224)

8.2.2.5A.1.13,84 Mcps Option (224)

8.2.2.5A.1.21,28 Mcps Option (224)

8.2.2.5A.1.37,68 Mcps Option (224)

8.2.2.5A.2Minimum requirement (224)

8.2.2.5A.2.13,84 Mcps Option (224)

8.2.2.5A.2.21,28 Mcps Option (224)

8.2.2.5A.2.37,68 Mcps Option (225)

8.2.2.5A.3Test purpose (225)

8.2.2.5A.4Method of Test (225)

8.2.2.5A.4.13,84 Mcps Option (225)

8.2.2.5A.4.21,28 Mcps Option (225)

8.2.2.5A.4.2.1Initial conditions (225)

8.2.2.5A.4.2.2Procedure (226)

8.2.2.5A.4.37,68 Mcps Option (227)

8.2.2.5A.5Test Requirements (227)

8.2.2.5A.5.13,84 Mcps Option (227)

8.2.2.5A.5.21,28 Mcps Option (227)

8.2.2.5A.5.37,68 Mcps Option (227)

8.2.2.6Scenario 5:TDD/E-UTRA cell re-selection (227)

8.2.2.6.1UTRA to E-UTRA TDD cell reselection: E-UTRA is of higher priority (227)

8.2.2.6.1.5.2 1.28Mcps Option (232)

8.2.2.6.1.5.37.68Mcps Option (233)

8.2.2.6.2UTRA to E-UTRA TDD cell reselection: E-UTRA is of lower priority (233)

8.2.2.6.2.5Test requirement (238)

8.2.2.7Scenario 6: Inter-band Cell Re-selection for 1.28 Mcps TDD UE (239)

8.2.2.7.1Definition and applicability (239)

8.2.2.7.2Minimum requirement (239)

8.2.2.7.5Test Requirements (242)

8.3UTRAN Connected Mode Mobility (242)

8.3.1TDD/TDD Handover for 3,84 Mcps Option (242)

8.3.1.1Handover to intra-frequency cell (242)

8.3.1.1.1Definition and applicability (242)

8.3.1.1.2Minimum requirement (242)

8.3.1.1.3Test purpose (243)

8.3.1.1.4Method of test (243)

8.3.1.1.5Test requirements (250)

8.3.1.2Handover to inter-frequency cell (250)

8.3.1.2.1Definition and applicability (250)

8.3.1.2.2Minimum requirement (250)

8.3.1.2.3Test purpose (251)

8.3.1.2.4Method of test (251)

8.3.1.2.5Test requirements (257)

8.3.1A TDD/TDD Handover for 1,28 Mcps Option (257)

8.3.1A.1Handover to intra-frequency cell (257)

8.3.1A.1.1Scenario 1 (257)

8.3.1A.1.2Scenario 2 (265)

8.3.1A.2Handover to inter-frequency cell (271)

8.3.1A.2.1Scenario 1 (271)

8.3.1A.2.2Scenario 2 (277)

8.3.1A.3Handover to inter-band cell (284)

8.3.1A.3.1Scenario 1 (284)

8.3.1A.3.2Scenario 2 (291)

8.3.1A.3.3Scenario 3 (297)

8.3.1B TDD/TDD Handover for 7,68 Mcps Option (303)

8.3.1B.1Handover to intra-frequency cell (303)

8.3.1B.1.1Definition and applicability (303)

8.3.1B.1.2Minimum requirement (303)

8.3.1B.1.3Test purpose (303)

8.3.1B.1.4Method of test (303)

8.3.1B.1.5Test requirements (310)

8.3.1B.2Handover to inter-frequency cell (310)

8.3.1B.2.1Definition and applicability (310)

8.3.1B.2.2Minimum requirement (310)

8.3.1B.2.3Test purpose (311)

8.3.1B.2.4Method of test (311)

8.3.1B.2.5Test requirements (317)

8.3.2TDD/FDD Handover for 3,84 Mcps Option (317)

8.3.2.1Definition and applicability (317)

8.3.2.2Minimum requirement (317)

8.3.2.3Test purpose (318)

8.3.2.4Method of test (318)

8.3.2.5Test requirements (324)

8.3.2A TDD/FDD Handover for 1,28 Mcps Option (324)

8.3.2A.1Definition and applicability (324)

8.3.2A.2Minimum requirement (324)

8.3.2A.3Test purpose (325)

8.3.2A.4Method of test (325)

8.3.2A.4.1Initial conditions (325)

8.3.2A.4.2Procedure (327)

8.3.2A.5Test requirements (331)

8.3.2B TDD/FDD Handover for 7,68 Mcps Option (331)

8.3.2B.1Definition and applicability (331)

8.3.2B.2Minimum requirement (331)

8.3.2B.3Test purpose (332)

8.3.2B.4Method of test (332)

8.3.3.1.21,28 Mcps option (338)

8.3.3.1.37,68 Mcps option (339)

8.3.3.2Minimum requirement (339)

8.3.3.2.13,84 Mcps option (339)

8.3.3.2.21,28 Mcps option (339)

8.3.3.2.37,68 Mcps option (339)

8.3.3.3Test purpose (339)

8.3.3.3.13,84 Mcps option (339)

8.3.3.3.21,28 Mcps option (339)

8.3.3.4Method of test (339)

8.3.3.4.13,84 Mcps option (339)

8.3.3.4.21,28 Mcps option (343)

8.3.3.4.37,68 Mcps option (348)

8.3.3.5Test requirements (352)

8.3.3.5.13,84 Mcps option (352)

8.3.3.5.21,28 Mcps option (352)

8.3.3.5.37,68 Mcps option (352)

8.3.3a UTRA TDD to E-UTRA FDD Handover (352)

8.3.3a.1Definition and applicability (353)

8.3.3a.1.13,84 Mcps option (353)

8.3.3a.1.21,28 Mcps option (353)

8.3.3a.1.37,68 Mcps option (353)

8.3.3a.2Minimum requirement (353)

8.3.3a.2.13,84 Mcps option (353)

8.3.3a.2.21,28 Mcps option (353)

8.3.3a.2.37,68 Mcps option (354)

8.3.3a.3Test purpose (354)

8.3.3a.3.13,84 Mcps option (354)

8.3.3a.3.21,28 Mcps option (354)

8.3.3a.3.37,68 Mcps option (354)

8.3.3a.4Method of test (354)

8.3.3a.4.13,84 Mcps option (354)

8.3.3a.4.21,28 Mcps option (354)

8.3.3a.4.37,68 Mcps option (361)

8.3.3a.5Test Requirments (361)

8.3.3a.5.13,84 Mcps option (361)

8.3.3a.5.21,28 Mcps option (361)

8.3.3a.5.37,68 Mcps option (362)

8.3.3b UTRA TDD to E-UTRA TDD Handover (362)

8.3.3b.1Definition and applicability (363)

8.3.3b.1.13,84 Mcps option (363)

8.3.3b.1.21,28 Mcps option (363)

8.3.3b.1.37,68 Mcps option (363)

8.3.3b.2Minimum requirement (363)

8.3.3b.2.13,84 Mcps option (363)

8.3.3b.2.21,28 Mcps option (363)

8.3.3b.2.37,68 Mcps option (364)

8.3.3b.3Test purpose (364)

8.3.3b.3.13,84 Mcps option (364)

8.3.3b.3.21,28 Mcps option (364)

8.3.3b.3.37,68 Mcps option (364)

8.3.3b.4Method of test (364)

8.3.3b.4.13,84 Mcps option (364)

8.3.3b.4.21,28 Mcps option (364)

8.3.3b.4.37,68 Mcps option (371)

8.3.3b.5Test Requirments (371)

8.3.3b.5.13,84 Mcps option (371)

8.3.3b.5.21,28 Mcps option (371)

8.3.3c.1.21,28 Mcps option (373)

8.3.3c.1.37,68 Mcps option (373)

8.3.3c.2Minimum requirement (373)

8.3.3c.2.13,84 Mcps option (373)

8.3.3c.2.21,28 Mcps option (373)

8.3.3c.2.37,68 Mcps option (374)

8.3.3c.3Test purpose (374)

8.3.3c.3.13,84 Mcps option (374)

8.3.3c.3.21,28 Mcps option (374)

8.3.3c.3.37,68 Mcps option (374)

8.3.3c.4Method of test (374)

8.3.3c.4.13,84 Mcps option (374)

8.3.3c.4.21,28 Mcps option (374)

8.3.3c.4.37,68 Mcps option (380)

8.3.3c.5Test Requirments (380)

8.3.3c.5.13,84 Mcps option (380)

8.3.3c.5.21,28 Mcps option (380)

8.3.3c.5.37,68 Mcps option (381)

8.3.3d UTRA TDD to E-UTRA TDD Handover: unknown target cell (381)

8.3.3d.1Definition and applicability (381)

8.3.3d.1.13,84 Mcps option (381)

8.3.3d.1.21,28 Mcps option (381)

8.3.3d.1.37,68 Mcps option (382)

8.3.3d.2Minimum requirement (382)

8.3.3d.2.13,84 Mcps option (382)

8.3.3d.2.21,28 Mcps option (382)

8.3.3d.2.37,68 Mcps option (382)

8.3.3d.3Test purpose (382)

8.3.3d.3.13,84 Mcps option (382)

8.3.3d.3.21,28 Mcps option (382)

8.3.3d.3.37,68 Mcps option (383)

8.3.3d.4Method of test (383)

8.3.3d.4.13,84 Mcps option (383)

8.3.3d.4.21,28 Mcps option (383)

8.3.3d.4.37,68 Mcps option (389)

8.3.3d.5Test Requirments (389)

8.3.3d.5.13,84 Mcps option (389)

8.3.3d.5.21,28 Mcps option (389)

8.3.3d.5.37,68 Mcps option (390)

8.3.3e TDD/GSM Handover: non-synchronization target cell (390)

8.3.4Cell Re-selection in CELL_FACH (394)

8.3.4.1Scenario 1: TDD/TDD cell re-selection single carrier case (394)

8.3.4.1.1Definition and applicability (394)

8.3.4.1.1.13,84 Mcps TDD option (394)

8.3.4.1.1.21,28 Mcps TDD option (394)

8.3.4.1.1.37,68 Mcps TDD option (394)

8.3.4.1.2Minimum requirement (394)

8.3.4.1.2.13,84 Mcps TDD option (394)

8.3.4.1.2.21,28 Mcps TDD option (394)

8.3.4.1.2.37,68 Mcps TDD option (394)

8.3.4.1.3Test purpose (395)

8.3.4.1.4Method of test (395)

8.3.4.1.4.13,84 Mcps TDD option (395)

8.3.4.1.4.21,28 Mcps TDD option (398)

8.3.4.1.4.37,68 Mcps TDD option (400)

8.3.4.1.5Test Requirements (404)

8.3.4.1.5.13,84 Mcps TDD option (404)

8.3.4.1.5.21,28 Mcps TDD option (404)

8.3.4.2.1.21,28 Mcps TDD option (405)

8.3.4.2.1.37,68 Mcps TDD option (405)

8.3.4.2.2Minimum requirement (405)

8.3.4.2.2.13,84 Mcps TDD option (405)

8.3.4.2.2.21,28 Mcps TDD option (405)

8.3.4.2.2.37,68 Mcps TDD option (405)

8.3.4.2.3Test purpose (405)

8.3.4.2.4Method of test (406)

8.3.4.2.4.13,84 Mcps TDD option (406)

8.3.4.2.4.21,28 Mcps TDD option (409)

8.3.4.2.4.37,68 Mcps TDD option (412)

8.3.4.2.5Test Requirements (416)

8.3.4.2.5.13,84 Mcps TDD option (416)

8.3.4.2.5.21,28 Mcps TDD option (416)

8.3.4.2.5.37,68 Mcps TDD option (417)

8.3.4.3Scenario 3: TDD/GSM cell re-selection (417)

8.3.4.3.1Definition and applicability (417)

8.3.4.3.1.13,84 Mcps TDD option (417)

8.3.4.3.1.21,28 Mcps TDD option (417)

8.3.4.3.1.37,68 Mcps TDD option (417)

8.3.4.3.2Minimum requirement (417)

8.3.4.3.2.13,84 Mcps TDD option (417)

8.3.4.3.2.21,28 Mcps TDD option (418)

8.3.4.3.2.37,68 Mcps TDD option (418)

8.3.4.3.3Test purpose (418)

8.3.4.3.4Method of test (418)

8.3.4.3.4.13,84 Mcps TDD option (418)

8.3.4.3.4.21,28 Mcps TDD option (418)

8.3.4.3.4.37,68 Mcps TDD option (421)

8.3.4.3.5Test Requirements (421)

8.3.4.3.5.13,84 Mcps TDD option (421)

8.3.4.3.5.21,28 Mcps TDD option (421)

8.3.4.3.5.37,68 Mcps TDD option (422)

8.3.4A Cell Re-selection in Enhanced CELL_FACH (422)

8.3.4A.1Scenario 1: Cell Re-selection to Intra-Frequency TDD cell (422)

8.3.5Cell Re-selection in CELL_PCH (430)

8.3.5.1Scenario 1: TDD/TDD cell re-selection single carrier case (430)

8.3.5.1.1Definition and applicability (430)

8.3.5.1.1.13,84 Mcps TDD option (430)

8.3.5.1.1.21,28 Mcps TDD option (430)

8.3.5.1.1.37,68 Mcps TDD option (430)

8.3.5.1.2Minimum requirement (430)

8.3.5.1.2.13,84 Mcps TDD option (430)

8.3.5.1.2.21,28 Mcps TDD option (431)

8.3.5.1.2.37,68 Mcps TDD option (431)

8.3.5.1.3Test purpose (431)

8.3.5.1.4Method of test (431)

8.3.5.1.4.13,84 Mcps TDD option (431)

8.3.5.1.4.21,28 Mcps TDD option (434)

8.3.5.1.4.37,68 Mcps TDD option (437)

8.3.5.1.5Test Requirements (440)

8.3.5.1.5.13,84 Mcps TDD option (440)

8.3.5.1.5.21,28 Mcps TDD option (440)

8.3.5.1.5.37,68 Mcps TDD option (441)

8.3.5.2Scenario 2: TDD/TDD cell re-selection multi carrier case (441)

8.3.5.2.1Definition and applicability (441)

8.3.5.2.1.13,84 Mcps TDD option (441)

8.3.5.2.1.21,28 Mcps TDD option (441)

8.3.5.2.2.13,84 Mcps TDD option (441)

8.3.5.2.2.21,28 Mcps TDD option (441)

8.3.5.2.2.37,68 Mcps TDD option (442)

8.3.5.2.3Test purpose (442)

8.3.5.2.4Method of test (442)

8.3.5.2.4.13,84 Mcps TDD option (442)

8.3.5.2.4.1.1Initial conditions (442)

8.3.5.2.4.21,28 Mcps TDD option (444)

8.3.5.2.4.2.1Initial conditions (444)

8.3.5.2.4.37,68 Mcps TDD option (447)

8.3.5.2.4.3.1Initial conditions (447)

8.3.5.2.5Test Requirements (449)

8.3.5.2.5.13,84 Mcps TDD option (449)

8.3.5.2.5.21,28 Mcps TDD option (449)

8.3.5.2.5.37,68 Mcps TDD option (450)

8.3.6Cell Re-selection in URA_PCH (450)

8.3.6.1Scenario 1: TDD/TDD cell re-selection single carrier case (450)

8.3.6.1.1Definition and applicability (450)

8.3.6.1.1.13,84 Mcps TDD option (450)

8.3.6.1.1.21,28 Mcps TDD option (450)

8.3.6.1.1.37,68 Mcps TDD option (450)

8.3.6.1.2Minimum requirement (450)

8.3.6.1.2.13,84 Mcps TDD option (450)

8.3.6.1.2.21,28 Mcps TDD option (450)

8.3.6.1.2.37,68 Mcps TDD option (451)

8.3.6.1.3Test purpose (451)

8.3.6.1.4Method of test (451)

8.3.6.1.4.13,84 Mcps TDD option (451)

8.3.6.1.4.1.1Initial conditions (451)

8.3.6.1.4.1.2Procedure (453)

8.3.6.1.4.21,28 Mcps TDD option (453)

8.3.6.1.4.2.1Initial conditions (453)

8.3.6.1.4.2.2Procedure (456)

8.3.6.1.4.37,68 Mcps TDD option (456)

8.3.6.1.4.3.1Initial conditions (456)

8.3.6.1.4.3.2Procedure (459)

8.3.6.1.5Test Requirements (459)

8.3.6.1.5.13,84 Mcps TDD option (459)

8.3.6.1.5.21,28 Mcps TDD option (459)

8.3.6.1.5.37,68 Mcps TDD option (460)

8.3.6.2Scenario 2: TDD/TDD cell re-selection multi carrier case (460)

8.3.6.2.1Definition and applicability (460)

8.3.6.2.1.13,84 Mcps TDD option (460)

8.3.6.2.1.21,28 Mcps TDD option (460)

8.3.6.2.1.37,68 Mcps TDD option (460)

8.3.6.2.2Minimum requirement (460)

8.3.6.2.2.13,84 Mcps TDD option (460)

8.3.6.2.2.21,28 Mcps TDD option (460)

8.3.6.2.2.37,68 Mcps TDD option (461)

8.3.6.2.3Test purpose (461)

8.3.6.2.4Method of test (461)

8.3.6.2.4.13,84 Mcps TDD option (461)

8.3.6.2.4.1.2Procedure (463)

8.3.6.2.4.21,28 Mcps TDD option (463)

8.3.6.2.4.37,68 Mcps TDD option (465)

8.3.6.2.4.3.2Procedure (469)

8.3.6.2.5Test Requirements (469)

8.3.6.2.5.13,84 Mcps TDD option (469)

8.3.6.2.5.21,28 Mcps TDD option (469)

8.3.6.2.5.37,68 Mcps TDD option (470)

莱卡TS02全站仪器使用步骤

莱卡TS02全站仪器使用步骤一、在工作之前首先检查仪器、脚架、棱镜及对准杆连接完好，在检测仪器和笔记本之间的上传和下载的运行正常。二、在一天的测量工作结束后最好是当天下载下来及时处理。下载的方式如下： 1、打开软件----工具---数据交换---串口右击设置选择相对的com （比如COM1)，确定---点击com1---左击com1. 2、在软件右侧选择文件---作业--工程名---存储（到你的这资料盘里）。 3、再将左侧的数据左击拖到你要存储的资料盘---文件格式选择CASS.文件名后缀改为DAT。---开始传输。三、如有需要放样的点提前把上传的数据文件上传到仪器里。上传的方式如下： 1、打开软件---输入ASCLL数据---选择CSV格式的文件---输入---下一步知道点击不动为止----改0-点名，1-北坐标，2-东坐标，3-正高。 ----下一步---点击完成----右击项目----新建（取名）---确定---点击该文件----分配----关闭----打开工具---输出LANDXML----取名----保存。 2、桌面上的XML文件复制到我的资料盘里，开始交换，----把你要交换的文件（在右侧），左击拖到左侧的空文件夹里。 3、在全站仪里找到数据对照。

四、在工作中架设仪器注意事项： 1、把仪器架设到已知点上打开全站仪开关，将仪器中央的激光点对准已知点进行调平校正。 2、在设站之前将当地的气压、海拔输入仪器中进行气压改正。五、全站仪的简单使用 1、全站仪定向 a、其中一点设站，架全站仪，另一点放棱镜； b、点击数据采集，输入测站点（就是架设仪器点）的坐标和仪器高，点击下一步； c、输入定向点坐标（就是不架设仪器的一点）坐标，输入棱镜高。 d、仪器瞄准棱镜，点击测存、计算、在进行测距查看和架设棱镜点的坐标和输入的坐标误差大不大，不大的话定向完成。差别太大需重复b、c步骤。六、测图 1、确定棱镜高，根据地形调节。 2、将棱镜高输入仪器，将棱镜竖立在待求点，点击测量，保存坐标。 3、继续测量，点击同前，最好是再找第三个点校核。 4、测图完成后导出数据，用cass作图，就好了。七、放样方法 1、根据已知点的两个坐标点给全站仪定向，然后调出放样点坐标。 2、全站仪会显示角度和距离，你转动全站仪使显示的角度接近零。

结构力学第二章几何组成分析(典型例题)

［例题2-1-1］计算图示体系的自由度。，可变体系。（a ）（ b ）解：（a ）几何不变体系，无多余约束（ b ）几何可变体系［例题2-1-2 ］计算图示体系的自由度。桁架几何不变体系，有多余约束。解：几何不变体系，有两个多余约束［例题 2-1-3］计算图示体系的自由度。桁架自由体。解：几何不变体系，无多余约束［例题 2-1-4］计算图示体系的自由度。，几何可变体系。解：几何可变体系［例题 2-1-5］计算图示体系的自由度。刚架自由体。解：几何不变体系，有6个多余约束［例题2-2-1］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-2］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-3］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-4］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。

几何不变体系，有一个多余约束［例题2-2-5］对图示体系进行几何组成分析。二元体规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-6 ］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则，三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-7］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题 2-2-8］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-3-1］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-2］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-3］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-4］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。

第二章几何组成分析

第二章几何组成分析 1. 图示铰接体系是超静定结构。（） 2. 图中多余联系数目为4。（） 3. 图示体系是超静定结构。（） 4. 图示体系在给定荷载情况下可处于平衡，因此可作为结构承担荷载。（）

5. 图示体系是超静定结构。（） 6. 图中体系多余联系数目为。（） 7. 图中体系多余联系数目为。（） 8. 铰A相当于几个简单铰。 ( )

9. 图示多余联系数目为 ( ) 10. 图示多余联系数目为 ( ) 11. 两刚片用一杆一铰彼此相连，所组成的体系是 ( ) A.有多余联系几何不变体系 B.可变性无法确定 C.无多余联系几何不变体系 D.瞬变体系 12. 图示体系是 ( ) A.常变的 B.无多余联系几何不变的 C.瞬变的 D.有多余联系几何不变的

13. 静定结构是 ( ) A.常变体系 B.有多余联系几何不变体系 C.体系 D.余联系几何不变 14. 三刚片用三个不共线的铰两两相连，则所组成的体系是 ( ) A. 瞬变 B. 常变 C.余联系几何不变 D.变也可能瞬变 15. 图示体系是 ( ) A. 常变的 B. 无多余约束几何不变的 C. 瞬变的 D. 有多余约束几何不变的 16. 图示铰接体系是 ( ) A. 常变的 B. 无多余约束几何不变的

C. 瞬变的 D. 有多余约束几何不变的 17. 图示铰接体系是 ( ) A. 常变的 B. 无多余约束几何不变的 C. 瞬变的 D. 有多余约束几何不变的 18. 图示体系是 ( ) A. 常变的 B. 无多余约束几何不变的 C. 瞬变的 D. 有多余约束几何不变的

徕卡全站仪使用说明书

徕卡（LEICA）TC9051、基本技术参数以下叙述适合徕卡TC905全站仪，TC605、TC805与此相似。 1.1 主要技术指标水准器灵敏度：圆水准器4＇/2mm 电子水准器： 5 激光对中器：精度0.8mm/1.5m 光斑直径 2.5mm/1.5m 补偿器：液体双轴补偿器显示屏：液晶4*16字符自动改正：视准误差垂直度盘指标差地球曲率及折光差垂直轴双向倾斜内部存储器：3000个点观测值或4000个点坐标通讯接口：RS232 仪器重量：TC605 4.3kg TC805 5.6kg TC905 5.6kg 工作温度：-20℃—+50℃ 电池：

GEB77 GEB70 GEB71 5000—2000 7000 —700测距次数800 1400—48 5 12 工作时间h（测角测距）5 1.5 1 充电器）GKL23（h充电时间3.0 0.9 0.2 kg 重量 1.2TC905及其键盘

1.3 仪器的整置 1.3.1 检视当您打开仪器箱时，首先检查仪器外观是否完好，附件是否齐全。仪器箱内应有如下物品：①仪器；②使用手册；③防护罩；④改针；⑤内6角扳手；⑥TCTOOLS软件磁盘；⑦备用电池； ⑧数据传输电缆。 1.3.2 整置仪器仪器应置于GST20三脚架之上，采用激光对中器整平对中，对中方法如下：①按住键 2秒钟以上，激活激光对中器，此时显示屏出现电子水准器，地面可见红色激光斑点； ②调节脚螺旋使电子水准器居中，同时使激光斑点对准地面点位中心；③按键关闭激光对点器，准备进行正常测量。 2、键盘介绍键盘按功能类别分为四组，各组用不同的颜色加以区分：灰色组—固定键橙色组—功能键绿色组—控制键黄色组—输入键 2.1 固定键（灰色）

徕卡全站仪使用说明和注意事项

Leica全站仪使用说明和注意事项全站仪的基本结构和以前我们使用的经纬仪一样，同样是利用水平度盘和垂直度盘测角。在此基础上，用电子角度探测器取代光学测微器，并在望远镜上加上同轴测距仪。这一点使测量工作变得更简单；目前，Leica在公司测量当中主要在以下几点当中运用较为广泛：a:大梁对中 b:大车车轮直线度（要求，需调整。 Leica中东坐标及北坐标的建立：

east坐标徕卡全站仪是一种精密光学和电子相结合的仪器，正确合理的使用和保养对提高仪器的使用寿命、保持仪器的精度有很大作用；因此在使用过程中以下几点需特别注意： 1）仪器从箱中取出需小心轻放，由于仪器里面有部分零件为精密部件，故任何大的动作有可能影响到仪器的测量精度； 2）仪器装上三脚架（仪器为专用三脚架）时，锁紧螺栓要牢靠，以防仪器摔下摔坏； 3）操作仪器时，动作要轻柔平稳，转动仪器不要用力过猛，要匀速、轻缓； 4）使用过程中应避免阳光直晒，以免影响测量精度。原则上下雨天，空气湿度较大，仪器不得使用； 5）仪器万一受潮后，应先取出电池后，应先将仪器进行干燥处理后在使用； 6）仪器表面清洁应用软毛刷轻轻涮出，如有水气或油污，可用干净的丝绸、脱脂棉或擦镜纸轻轻擦净，切莫用手触摸光学零件，仪表显示屏应定期清理上面的灰尘，油污；同时，操作仪器时，对按键要轻触，不得用力过大； 7）仪器长期不用时，要取出电池，同时对于废旧的电池要做适当处理，千万不要放在仪器内（以防电池漏液而损坏仪器内部控制电路）；仪器盒里面要放适当干燥剂，干燥剂失效后要立即调换；箱子应放于干燥、清洁、通风良好的室内； 8）仪器应在－10～+45℃温度下使用； 9）为保证仪器的测量精度，仪器应每年定期到相关检验权力机构进行检定检测。

第2章平面体系的几何组成分析

第2章平面体系的几何组成分析 10 .图示体系是---------------------------- 体系，因为02.有多余约束的体系一定是几何不变体系。（） 03.图中链杆1和2的交点O可视为虚铰。（） 11 .联结两个刚片的任意两根链杆的延线交点称为 ------------- ，它的位置是------------------ 定的 12 .试对图示体系进行几何组成分析。 04.三个刚片用三个铰两两相互联结而成的体系是： A ?几何不变； B?几何常变； C.几何瞬变； D.几何不变几何常变或几何瞬变。（） 05.联结三个刚片的铰结点，相当的约束个数为： A . 2 个； B. 3 个； C. 4 个； D.5个。（） 06.两个刚片，用三根链杆联结而成的体系是： A ?几何常变； B.几何不变； C.几何瞬变； D.几何不变或几何常变或几何瞬变。（）07.图示体系是： A?几何瞬变有多余约束； B ?几何不变； C ?几何常变； D?几何瞬变无多余约束。（） C B 13 . 14 . 对图示体系进行几何组成分析成分析。 15 .对图示体系进行几何组成分析。 E 08 .在不考虑材料------------- 的条件下，体系的位置和形状不能改变的体系称为几何------------- 体系 09 .几何组成分析中，在平面内固定一个点，需要

18.对图示体系进行几何组成分析。 19.对图示体系进行几何组成分析 20.对图示体系进行几何组成分析 21 .对图示体系进行几何组成分析。 16 . 对图示体系进行几何组成分析。对图示体系进行几何组成分析17 . E

徕卡全站仪使用说明书

徕卡（LEICA）TC905 1、基本技术参数以下叙述适合徕卡TC905全站仪，TC605、TC805与此相似。 1.1 主要技术指标水准器灵敏度：圆水准器4＇/2mm 电子水准器： 5" 激光对中器：精度0.8mm/1.5m 光斑直径 2.5mm/1.5m 补偿器：液体双轴补偿器显示屏：液晶4*16字符自动改正：视准误差垂直度盘指标差地球曲率及折光差垂直轴双向倾斜内部存储器：3000个点观测值或4000个点坐标通讯接口：RS232 仪器重量：TC605 4.3kg TC805 5.6kg TC905 5.6kg 工作温度：-20℃—+50℃

1.2TC905及其键盘 1.3 仪器的整置 1.3.1 检视当您打开仪器箱时，首先检查仪器外观是否完好，附件是否齐全。仪器箱内应有如下物品：①仪器；②使用手册；③防护罩；④改针；⑤内6角扳手；⑥TCTOOLS软件磁盘； ⑦备用电池；⑧数据传输电缆。 1.3.2 整置仪器仪器应置于GST20三脚架之上，采用激光对中器整平对中，对中方法如下：①按住键2秒钟以上，激活激光对中器，此时显示屏出现电子水准器，地面可见红色激光斑点；②调节脚螺旋使电子水准器居中，同时使激光斑点对准地面点位中心；③按键关闭激光对点器，准备进行正常测量。 2、键盘介绍键盘按功能类别分为四组，各组用不同的颜色加以区分：灰色组—固定键橙色组—功能键绿色组—控制键黄色组—输入键

… 3、配置菜单在开始测量之前，应通过“CONFIG MENU”对仪器进行配置，以便使仪器处于正确的工作状态。 3.1配置菜单按住键超过2秒即可进入配置菜单“CONFIG MENU”。见附图1。 3.2输入距离改正数按住键超过2秒进入配置菜单“CONFIG MENU”，选择“1.PPM/MM”并确认，显示界面如下：输入相应的ppm和mm值。ppm为温度气压改正值，单位为mm/km；mm为棱镜常数，单

结构力学第二章结构的几何组成分析

第二章结构的几何组成分析李亚智航空学院·航空结构工程系

2.1 概述结构要能承受各种可能的载荷，其几何组成要稳固。即受力结构各元件之间不发生相对刚体移动，以维持原来的几何形状。在任意载荷作用下，若不考虑元件变形，结构保持其原有几何形状不变的特性称为几何不变性。在载荷作用下的系统可分为三类。 2.1.1 几何可变系统特点：不能承载，只能称作“机构”。 2 1 3 4 P 2’3’

2.1.2 几何不变系统特点：能承载，元件变形引起几何形状的微小变化，可以称为结构。 2.1.3 瞬时几何可变系统特点：先发生明显的几何变形，而后几何不变。 P 213 4 2’ 3’ 2’3’ P 2 1 34 5 ∞ →=2321N N 1 2 3 P 内力巨大，不能作为结构。 N 21 N 23 P 2

由以上分析可见，只有几何不变的系统才能承力和传力，作为“结构”。系统几何组成分析的目的：（1）判断系统是否几何不变，以决定是否能作为结构使用；（2）掌握几何不变结构的组成规律，便于设计出合理的结构；（3）区分静定结构和静不定结构，以确定不同的计算方法。

2.2 几何不变性的判断 2.2.1 运动学方法将结构中的某些元件看成自由体，拥有一定数量的自由度；将结构中的另一些元件看成约束。如果没有足够多的约束去消除自由度，系统就无法保持原有形状。所谓运动学方法，就是指这种引用“约束”和“自由度”的概念来判断系统几何不变性的方法。

1、自由度与约束（1）自由度的定义决定一物体在某一坐标系中的位置所需要的独立变量的数目称为自由度，用n 表示。平面一个点有2个独立坐标，故n =2空间一个点有3个独立坐标，故n =3 x y y ?x ?A A ' x y A y A x A z A z A ' O

结构力学第二章几何组成分析(典型例题)

［例题2-1-1］计算图示体系的自由度。，可变体系。（a）（b）解：（a ）几何不变体系，无多余约束（b ）几何可变体系［例题2-1-2］计算图示体系的自由度。桁架几何不变体系，有多余约束。解：几何不变体系，有两个多余约束［例题2-1-3］计算图示体系的自由度。桁架自由体。解：几何不变体系，无多余约束［例题2-1-4］计算图示体系的自由度。，几何可变体系。解：几何可变体系［例题2-1-5］计算图示体系的自由度。刚架自由体。解：几何不变体系，有6个多余约束［例题2-2-1］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-2］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-3］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-4］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。

几何不变体系，有一个多余约束［例题2-2-5］对图示体系进行几何组成分析。二元体规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-6］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则，三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-7］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-8］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-3-1］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-2］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-3］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-4］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。

浅谈莱卡1201 全站仪的使用方法

浅谈莱卡1201+全站仪的使用方法摘要：沪杭客运专线工程测量中，莱卡系列1201+全站仪起到了比较突出的作用，如何更好的运用全站仪，使莱卡1201+全站仪发挥最大的功效，下面从仪器调校、仪器安置、作业管理、仪器设置、测量、放样、日常保养几个方面进行简单阐述。关键词:仪器设置测量放样一、引言随着社会经济和科学技术不断发展，测绘技术水平也相应地得到了迅速地提高。测绘作业手段也有了一个质的飞越，测绘仪器设备由过去的光学经纬仪，逐渐过渡到半站仪，以至到现在的全站仪。随着仪器设备不断的创新，工作效率不断地得到提升，同时也对我们操作全站仪提出了更高的要求。二、使用前仪器综合调校从存放到工作环境，每度温差1℃大约需要适应时间2分钟。所以在室内与室外温差较大的情况下，应让仪器适应外界环境15-30分钟，然后进行操作。使用前仪器需进行综合调校以消除仪器自身误差。在测定仪器误差前，应使用电子水准气泡整平仪器。此时基座、脚架和地面必须稳固安全，避免振动和干扰。同时仪器必须避免强热闪烁或空气扰动。这里所说的综合调校是用程序进行的，莱卡全站仪在正常使用情况下一般只需组合校准和补偿器校准。 1.组合校准是指:补偿器纵向和横向指标差、竖直角指标差、水平照准误差、ATR零位误差。在主菜单，工具，检查&校准菜单，选择组合校准（l,t,i,c,ATR）。 2.补偿器校准是指：补偿器纵向和横向指标差。通常情况下每次使用全站仪前都需要进行补偿器校准，而组合校准可以一个星期校准一次。

三、仪器的安置 1.根据身高和观测姿势的舒适性，调节三脚架到合适的高度。将脚架置于地面控制点上方，尽可能地将脚架面中心对准该点。 2.拧紧中心连接螺旋，将基座及仪器固定到脚架上。 3.按PROG 键并持续2秒钟以打开仪器。按 SHIFT (F12) 以进入，在此状态下可对仪器进行，整平和激光对中。 4.移动脚架腿，并转动基座脚螺旋，使激光对准地面点。 5.伸缩脚架腿整平圆水准器。 6.通过电子水准器的指示，转动基座脚螺旋以精确整平仪器。 7.通过移动三脚架头上的基座，将仪器精确对准地面点，然后旋紧中心连接螺旋。 8.重复第 6. 步和第 7. 步，直至达到所要求的精度。四、作业管理 1．仪器安置完成后，退回到主菜单，按数字建3进入作业管理。 2．在作业管理窗口按F2（增加）打开创建新作业的窗口。 3．在名称一栏输入作业名称，在描述栏输入作业的简要。 4．F6（换页）切换到坐标系窗口，如果有坐标系要选择。在这个窗口内设定，缺省为NONE。 5．F6（换页）切换到平均窗口，选取平均方式，输入平均前限差检查值。如果选关闭即不进行平均。 6．F1（保存），保存作业设置。五、仪器的设置

结构力学第二章几何组成分析(典型例题)

. ［例题2-1-1］计算图示体系的自由度。，可变体系。（a）（b）解：（a ）几何不变体系，无多余约束（b ）几何可变体系［例题2-1-2］计算图示体系的自由度。桁架几何不变体系，有多余约束。解：几何不变体系，有两个多余约束［例题2-1-3］计算图示体系的自由度。桁架自由体。解：几何不变体系，无多余约束［例题2-1-4］计算图示体系的自由度。，几何可变体系。解：几何可变体系［例题2-1-5］计算图示体系的自由度。刚架自由体。解：几何不变体系，有6个多余约束［例题2-2-1］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-2］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-3］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。

几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-4］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。

几何不变体系，有一个多余约束［例题2-2-5］对图示体系进行几何组成分析。二元体规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-6］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则，三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-7］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-2-8］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题2-3-1］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-2］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-3］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何瞬变体系［例题2-3-4］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。

西北工业大学航空学院结构力学课后题答案第二章结构的几何组成分析

第二章结构的几何组成分析 2-1 分析图2-27所示平面桁架的几何不变性，并计算系统的多余约束数。 3571 (a) (a)解：视杆为约束，结点为自由体。 C ＝11，N ＝7×2＝14 f =11－7×2＋3=0 该桁架布局合理，不存在有应力的杆，故为无多余约束的几何不变系。 (b) (b)解：视杆和铰支座为约束，结点为自由体。 C ＝9＋2＋1＝12，N ＝6×2＝12 f ＝12－6×2＝0 该桁架布局合理，不存在有应力的杆，故为无多余约束的几何不变系。 (c) (c)解：视杆和铰支座为约束，结点为自由体。 C ＝10＋2×2＝14，N ＝6×2＝12 ｆ＝14－12＝2 该桁架为有两个多余约束的几何不变系。

12 17 (d) (d)解：视杆和铰支座为约束，结点为自由体。 C ＝30＋3＝33，N ＝17×2＝34 ｆ＝33－34＝-1 故该桁架为几何可变系。 8 (e) (e)解：视杆为约束，结点为自由体。 C ＝13，N ＝8×2＝16 ｆ＝13－16＋3＝0 将1-2-3-4、5-6-7-8看作两刚片，杆3-6、杆2-7、杆4-5相互平行，由两刚片原则知，为瞬时可变系统。 6 (f) (f)解：视杆和固定铰支座为约束，结点为自由体。 C ＝22＋3×2＝28，N ＝14×2＝28 ｆ＝28－28＝0

将12-13-14、7-11-12、1-2-3-4-5-6-7-8-9-10看作三刚片，三刚片由铰7、铰12、铰14连结，三铰共线，故该桁架为瞬时可变系统。 (g) (g)解：视杆和固定铰支座为约束，结点为自由体。 C＝24＋4×2＝32，N＝16×2＝32 ｆ＝32－32＝0 由于杆15-14-3、杆12-11-4、杆9-5相交于一点，故该桁架为瞬时可变系。 (h) (h)解：视杆和固定铰支座为约束，结点为自由体。 C＝12＋2×2＝16，N＝8×2＝16 ｆ＝16－16＝0 该桁架布局合理，加减二元体之后，无有应力的杆，故该桁架为无多余约束的几何不变系。 2-2分析如图所示平面刚架和混合杆系的几何不变性，计算系统的多余约束数。 (a) (a)解：视杆和铰支座为约束，结点为自由体。其中杆1-2、杆3-4为复连杆。 C＝3×2+2＋4＝12，N＝6×2＝12 ｆ＝12－12＝0 故该系统为几何不变系。

徕卡全站仪使用说明书

徕卡（LEICA ）TC905 1、基本技术参数以下叙述适合徕卡TC905 全站仪，TC605 、TC805 与此相似 1.1 主要技术指标 1.1.1 测程（单位：米） 1.1.4 其它技术指标水准器灵敏度：圆水准器4＇/2mm 电子水准器：5 激光对中器：精度0.8mm/1.5m 光斑直径2.5mm/1.5m 补偿器：液体双轴补偿器显示屏：液晶4*16 字符自动改正：视准误差垂直度盘指标差地球曲率及折光差垂直轴双向倾斜内部存储器：3000 个点观测值或4000 个点坐标通讯接口：RS232 仪器重量：TC605 4.3kg TC805 5.6kg TC905 5.6kg 工作温度：-20℃—+50 ℃ 电池：

GEB77 GEB70 GEB71 5000 —2000 7000 —700 测距次数800 1400 —48 5 12 工作时间h（测角测距）5 1.5 1 充电器）GKL23 （h 充电时间3.0 0.9 0.2 kg 重量 1.2 TC905 及其键盘

1.3 仪器的整置 1.3.1 检视当您打开仪器箱时，首先检查仪器外观是否完好，附件是否齐全。仪器箱内应有如下物品：①仪器；②使用手册；③防护罩；④改针；⑤内6 角扳手；⑥ TCTOOLS 软件磁盘；⑦备用电池；⑧数据传输电缆。 1.3.2 整置仪器仪器应置于GST20 三脚架之上，采用激光对中器整平对中，对中方法如下：①按住 2 秒钟以上，激活激光对中器，此时显示屏出现电子水准器，地面可见红色激光②调节脚螺旋使电子水准器居中，同时使激光斑点对准地面点位中心；③按键关闭激光对点器，准备进行正常测量。 2、键盘介绍键盘按功能类别分为四组，各组用不同的颜色加以区分：灰色组—固定键橙色组—功能键绿色组—控制键黄色组—输入键 2.1 固定键（灰色）斑点；

第二章结构的几何构造分析(龙驭球第三版)

第2章结构的几何构造分析本章内容：§2-1 几何构造分析的几个概念 §2-2 平面几何不变体系的组成规律 §2-3 平面杆件体系的计算自由度 §2-4 在求解器中输入平面结构体系(略) §2-5 用求解器进行几何构造分析(略) §2-6 小结主要内容：第三讲 §2-1 几何构造分析的几个概念 1. 几何不变体系和几何可变体系一般结构必须是几何不变体系几何不变体系—在不考虑材料应变的条件下，体系的位置和形状是不能改变的。几何可变体系—在不考虑材料应变的条件下，体系的位置和形状是可以改变的。 2. 自由度平面内一点有两种独立运动方式，即一点在平面内有两个自由度。一个刚片在平面内有三种独立运动方式，即一个刚片在平面内有三个自由度。自由度个数=体系运动时可以独立改变的坐标数 3. 约束一个支杆相当于一个约束，如图(a)；一个铰相当于两个约束，如图(b)；一个刚性结合相当于三个约束，如图(c)

4. 多余约束如果在一个体系中增加一个约束，而体系的自由度并不减少，此约束称为多余约束。有一根链杆是多余约束 5. 瞬变体系特点：从微小运动的角度看，这是一个可变体系；经微小位移后又成为几何不变体系；在任一瞬变体系中必然存在多余约束。可变体系瞬变体系：可产生微小位移常变体系：可发生大位移 6. 瞬铰 O为两根链杆轴线的交点，刚片I可发生以O为中心的微小转动，O点称为瞬时转动中心。两根链杆所起的约束作用相当于在链杆交点处的一个铰所起的约束作用，这个铰称为瞬铰。 7. 无穷远处的瞬铰

两根平行的链杆把刚片I与基础相连接，则两根链杆的交点在无穷远处。两根链杆所起的约束作用相当于无穷远处的瞬铰所起的作用。无穷远处的含义（1）每一个方向有一个∞点；（2）不同方向有不同的∞点；（3）各∞点都在同一直线上，此直线称为∞线；（4）各有限点都不在线∞上。 §2-2 平面几何不变体系的组成规律 1. 三个点之间的连接方式规律1 不共线的三个点用三个链杆两两相连，则所组成的铰接三角形体系是一个几何不变的整体，且没有多余约束。 2. 一个点与一个刚片之间的连接方式规律2 一个刚片与一个点用两根链杆相连，且三个铰不在一直线上，则组成几何不变的整体，且没有多余约束。 3. 两个刚片之间的连接方式规律3 两个刚片用一个铰和一根链杆相连，且三个铰不在一直线上，则组成几何不变的整体，且没有多余约束。

第二章结构的几何组成分析.

第二章结构的几何组成分析儿何构造分析的日的主要是分析、刿断一个休系是否儿何可变，或者如何保证它成为几何不变体系，只有几何不变体系才可以作为结构。 § 2-1几何构造分析的几个概念一、几何不变体系和几何可变体系儿何町变休系：不考虑材料应变条件下，体系的位置和形状可以改变的体系。

三、约束对物体的运动起限制作用的其他物体称为约束（联系），体系的自山度可因加入联系而减少，能减少一个自由度的装置称为一个联系。常川的联系勺琏杆和饺。 1根链杆一1个约束 K 1个单铁一2个约束 \ 连接3个刚片的复铁一1个约束，即2个m? 饺连接n个刚片的父较一5?1）个单钱 1个单刚结点一3个约東连接3个刚片的复刚结点一6个约束，即2个单刚结点连接n个刚片的父刚结点一（ml）个m?刚结点

W=3X 4 — (2X4 +3)= 1 W = 3 X 7 — (2X9+3) = 0 四、多余约束分消必要约束和非必要约束。如果在一个体系中增加一个约柬，而体系的门山 Ji￡ )［不因此ifU 减少，此约束称为多余约束。五、平面杆件体系的计算自由度 1:1 W=3m- (2〃+3x+〃协…刚片数： …单饺总数; g …讯刚Yj 点总数; 尸…连杆总数。 9-2X (2) =5 6-2X (1) =4 zz/=7 /I-9 r= 3 加=4 // — 4 r= 3

?!5 w = 3 X4 —( 3 X4+3)= — 3 W = 3 X4 —(3X4+2)=— 2 超f 浄疋衍豹 W=3x 4 — (2X 4+ 3)= 1 也=4 力=4 r= 3 IV > 0 体系儿何町变; W =0 无多余约束时，体系儿何不变; W <0 体系冇名余约束。 XJ2 —(2 XI6+4) =0

徕卡TS30全站仪操作培训

TS30全站仪操作培训 2013年2月28日

徕卡TS30超高精度全站仪技术参数角度测量精度Hz V 0.5" (0.15mgon) 最小显示0.01" 绝对编码连续四重角度探测原理绝对编码，连续，四重角度探测距离测量(棱镜) 圆棱镜(GPR1) 3500m 测程360? 棱镜(GRZ4) 1500m 反射贴片(60mm x 60mm)250m 精密0.6mm + 1ppm / 一般为7s 精度/测量时间（棱镜）标准1mm + 1ppm /一般为2.4s 精度/测量时间（反射片）1mm + 1ppm / 一般为7s 距离测量(无棱镜) 测程1000m 精度/测量时间2mm + 2ppm / 一般为3s 激光光斑大小30m 处/ 50m 处7mm x 10mm / 8mm x 20mm

驱动（压电陶瓷）最大加速度360?（400gon ）/ s 2 最大加速度和转速转速180?（200gon ）/ s 倒镜时间 2.9s 旋转?23s 180（200gon ）定位时间 2.3s 自动目标识别（ATR ）模模1000m /800m ATR 模式/ LOCK 模式工作范围圆棱镜(GPR1)1000m / 800m 360? (GRZ4, GRZ122)800m / 600m 精度ATR 定位精度±1mm /测量时间（200m 处最小棱镜分辨率间距为30cm ）1000m 处定位精度±2mm 测量时间(GPR1) 3 –4s 超级搜索(PS) 测程360? 棱镜(GRZ4, GRZ122) 300m 一般5s 搜索时间般综合数据望远镜放大倍数/ 调焦范围30x / 1.7m 至无穷远 /1/4VGA 键盘和显示屏显示/ 键盘1/4 VGA, 彩色触摸屏, 双面/ 34键，带屏幕，键盘照明

结构力学第二章几何组成分析(典型例题)

第二章几何组成分析典型例题［例题 2-1-1 ］解：计算图示体系的自由度。，可变体系。几何可变体系［例题 2-1-5 ］计算图示体系的自由度。刚架自由体。（a）（b）解：解：（a）几何不变体系，无多余约束几何不变体系，有 6 个多余约束［例题 2-2-1 ］（b）几何可变体系［例题 2-1-2 ］计算图示体系的自由度。桁架几何不变体系，有多余约束。解：几何不变体系，有两个多余约束［例题 2-1-3 ］计算图示体系的自由度。桁架自由体。解：几何不变体系，无多余约束［例题 2-1-4 ］计算图示体系的自由度。，几何可变体系。对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题 2-2-2 ］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题 2-2-3 ］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题 2-2-4 ］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。

［例题 2-3-1 ］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，有一个多余约束［例题 2-2-5 ］对图示体系进行几何组成分析。二元体规则。几何瞬变体系［例题 2-3-2 ］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题 2-2-6 ］对图示体系进行几何组成分析。两刚片规则，三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题 2-2-7 ］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何瞬变体系［例题 2-3-3 ］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束［例题 2-2-8 ］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何瞬变体系［例题 2-3-4 ］对图示体系进行几何组成分析。三刚片规则。几何不变体系，且无多余约束

第二章结构的几何组成分析

第2章结构的几何组成分析 1. 教学内容一个体系要能承受荷载，首先它的几何构造应当合理，能够使几何形状和位置保持不变。因此，在进行结构受力分析之前，先进行几何构造分析。在几何构造分析中，最基本的规律是三角形规律。规律本身是简单浅显的，但规律的运用则变化无穷。因此，学习本章时遇到的困难不在于学懂，而在于灵活运用。本章在全书中只是一个短小的前奏，只是从几何构造的角度讨论建筑力学中的一个侧面，根本不涉及到内力和应变。但是构造分析与内力分析之间又是密切相关的，本章内容将在后面许多章节中得到应用。 2. 教学目的理解自由度、可变体系与不变体系、瞬变体系、瞬铰的概念；正确理解三角形规律，并能熟练应用三角形规律分析平面体系的几何构造；掌握计算自由度的计算方法，能计算一般平面体系的自由度。 3. 重难点重点：理解自由度、可变体系与不变体系、瞬变体系、瞬铰的概念，应用三角形规律分析平面体系的几何构造难点: 熟练应用三角形规律分析平面体系的几何构造 3. 本章目录第一节、基本概念（包括：几何不变体系和几何可变体系、几何组成分析中的几个概念、自由度）第二节、平面几何不变体系的组成规律第三节、平面体系几何组成分析举例

第四节、结构的几何组成和静定性的关系第五部分、作业 4. 参考章节《建筑力学》，第十章、结构的几何构造分析，pp.145-153。第一节、基本概念 1. 教学要求理解自由度、几何可变体系与几何不变体系、瞬变体系、瞬铰的概念。 2. 本节目录 ?1. 几何不变体系和几何可变体系 ?2. 运动自由度 S ?3. 约束 ?4. 多余约束和非多余约束 ?5. 瞬变体系 ?6. 瞬铰和无穷远处的瞬铰 ?7. 思考与讨论 3. 参考章节《建筑力学》，pp.11-14。 2.1.1 几何不变体系和几何可变体系几何不变体系：体系的位置和形状是不能改变的(图2-1b)。几何可变体系：体系的位置或形状是可以改变的(图2-1a)。以上讨论的前提：不考虑材料的应变。

西北工业大学航空学院结构力学答案第二章结构的几何组成分析

第二章结构的几何组成分析 2-1分析图2-27所示平面桁架的几何不变性，并计算系统的多余约束数。 (a) (a)解：视杆为约束，结点为自由体。 C＝11，N＝7×2＝14 f =11－7×2＋3=0 该桁架布局合理，不存在有应力的杆，故为无多余约束的几何不变系。 (b) (b)解：视杆和铰支座为约束，结点为自由体。 C＝9＋2＋1＝12，N＝6×2＝12 f ＝12－6×2＝0 该桁架布局合理，不存在有应力的杆，故为无多余约束的几何不变系。 (c) (c)解：视杆和铰支座为约束，结点为自由体。 C＝10＋2×2＝14，N＝6×2＝12 ｆ＝14－12＝2 该桁架为有两个多余约束的几何不变系。

12 17 (d) (d)解：视杆和铰支座为约束，结点为自由体。 C ＝30＋3＝33，N ＝17×2＝34 ｆ＝33－34＝-1 故该桁架为几何可变系。 (e) (e)解：视杆为约束，结点为自由体。 C ＝13，N ＝8×2＝16 ｆ＝13－16＋3＝0 将1-2-3-4、5-6-7-8看作两刚片，杆3-6、杆2-7、杆4-5相互平行，由两刚片原则知，为瞬时可变系统。 6 (f) (f)解：视杆和固定铰支座为约束，结点为自由体。 C ＝22＋3×2＝28，N ＝14×2＝28 ｆ＝28－28＝0

全站仪使用方法及使用步骤(详细)

全站仪使用方法及使用步骤一、全站型电子速测仪简称全站仪，它是一种可以同时进行角度（水平角、竖直角）测量、距离（斜距、平距、高差）测量和数据处理，由机械、光学、电子元件组合而成的测量仪器。由于只需一次安置，仪器便可以完成测站上所有的测量工作，故被称为“全站仪”。二、全站仪上半部分包含有测量的四大光电系统，即水平角测量系统、竖直角测量系统、水平补偿系统和测距系统。通过键盘可以输入操作指令、数据和设置参数。以上各系统通过I/O接口接入总线与微处理机联系起来。三、微处理机（CPU）是全站仪的核心部件，主要有寄存器系列（缓冲寄存器、数据寄存器、指令寄存器）、运算器和控制器组成。微处理机的主要功能是根据键盘指令启动仪器进行测量工作，执行测量过程中的检核和数据传输、处理、显示、储存等工作，保证整个光电测量工作有条不紊地进行。输入输出设备是与外部设备连接的装置（接口），输入输出设备使全站仪能与磁卡和微机等设备交互通讯、传输数据。四、目前，世界上许多著名的测绘仪器生产厂商均生产有各种型号的全站仪。不同型号的全站仪，其具体操作方法会有较大的差异。下面简要介绍全站仪的基本操作与使用方法。（一）全站仪的操作与使用 1.全站仪的基本操作与使用方法（1）测量前的准备工作 1）电池的安装（注意：测量前电池需充足电） ①把电池盒底部的导块插入装电池的导孔。 ②按电池盒的顶部直至听到“咔嚓”响声。 ③向下按解锁钮，取出电池。 2）仪器的安置。

①在实验场地上选择一点，作为测站，另外两点作为观测点。 ②将全站仪安置于点，对中、整平。 ③在两点分别安置棱镜。 3）竖直度盘和水平度盘指标的设置。 ①竖直度盘指标设置。松开竖直度盘制动钮，将望远镜纵转一周（望远镜处于盘左，当物镜穿过水平面时），竖直度盘指标即已设置。随即听见一声鸣响，并显示出竖直角。 ②水平度盘指标设置。松开水平制动螺旋，旋转照准部360，水平度盘指标即自动设置。随即一声鸣响，同时显示水平角。至此，竖直度盘和水平度盘指标已设置完毕。注意：每当打开仪器电源时，必须重新设置和的指标。 4）调焦与照准目标。操作步骤与一般经纬仪相同，注意消除视差。（2）角度测量 1）首先从显示屏上确定是否处于角度测量模式，如果不是，则按操作转换为距离模式。 2）盘左瞄准左目标A,按置零键，使水平度盘读数显示为0°00′00〃，顺时针旋转照准部，瞄准右目标B，读取显示读数。 3）同样方法可以进行盘右观测。 4）如果测竖直角，可在读取水平度盘的同时读取竖盘的显示读数。（3）距离测量 1）设置棱镜常数测距前须将棱镜常数输入仪器中，仪器会自动对所测距离进行改正。 2）设置大气改正值或气温、气压值光在大气中的传播速度会随大气的温度和气压而变化，15℃和760mmHg是仪器设置的一个标准值，此时的大气改正为0ppm。实测时，可输入温度和气压值，全站仪会自动计算大气改正值（也可直接输入大气改正值），并对测距结果进

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