硬盘各项参数解释

硬盘各项参数解释（转载）

01 =Read Error Rate / (底层)数据读取错误率

指从磁盘表面读取数据时发生的硬件读取错误的比率，Raw值对于不同的厂商有着不同的体系，单纯看做1个十进制数字是没有任何意义的。

*以上为Wiki上的英文翻译版本，此属性貌似存在分歧，有的说值高了好，有的说低了好,此处我们还是按照Wiki上的吧，反正只要 Worst不小于

Threshold 就行了。

**这里的Raw值也可能不同，比如我笔记本上的ST硬盘就Raw为0，而台式机上1.5T 的ST就为227901540。

02 =Throughput Performance / 吞吐性能(读写通量性能)

Raw值越高越好

整体(普通)的硬盘驱动器的吞吐性能。如果这个属性的值一直在下降有很大的可能性是硬盘有问题了。

* 一般在进行了人工 Offline S.M.A.R.T. 测试以后才会有值。

03 =Spin-Up Time / 马达旋转到标准转速所需时间

Raw值越低越好

主轴旋转加速的平均时间(从零转速到完全运转(标准转速)[毫秒])。

单位也可能为秒。

如果是0的话证明这一项没有读对，或者是这一项的数据生成错误。不应该出现0的结果。

04 =Start/Stop Count / 启动/停止计数

马达启动/停止周期的计数。当马达启动或硬盘完全停止工作后(断开电源)启动和硬盘从睡眠模式回复到先前状态，计数都会增加。

*一般来说开机一次这个就加1，也可以看做是通电次数，这一般是个寿命参考值，本身不具有任何指标性，购买硬盘时可以参考此值。

05 =Reallocated Sectors Count / 重新配扇区的计数

Raw值越低越好

对重新分配的扇区的计数，当硬盘发现一个读取/写入/校验

错误时它将这个扇区标示为“重新分配”，并且将数据传输到一个特殊的保留区(空闲区)。这个过程也称为是“重定向”，这个重新分配的扇区叫做“重新映射”。这就是为什么，现在的硬盘当进行表面测试的时候是找不到“坏块”的，所有的坏块都被隐藏在重新分配的扇区中。然而，随着重新定位的扇区增加，读取/写入速度趋向于降低。Raw值通常代表一系列已经发现和重映射的坏扇区，因此，这个属性值越高，硬盘就有越多的扇区被重定位，所以这个值是越小越好。

*

理想情况下这个值应该为0，如果不为0也不要太惊慌，而是应该比较密切的关注这个值的变化情况：如果连续几周没有变化，那你应该可以放心的继续使用比较长的一段时间；如果这个值持续攀升，那么请尽快备份所有数据，并考虑购买新硬盘。

06 =Read ***nel Margin / 读取通道边界

读取数据时通道的边界，这个属性的功能并不明确

07 =Seek Error Rate / 寻道错误率

磁头寻道错误的比率，如果机械定位系统中有局部的故障，那么寻道错误率会增加，这种故障是多种因素造成的。Raw值对于不同的厂商有着不同的体系，单纯看做1个十进制数字是没有任何意义的

08 =Seek Time Performance / 寻道时间性能

Raw值越高越好

磁头寻道操作的平均性能，如果这个属性的值持续下降，这是机械子系统有问题的标志

09 =Power-On Hours (POH) / 累计通电时间

Raw值越低越好

通电时间计数，Raw值显示在通电状态下的总小时数(或者是分钟，秒，取决于制造商)

磁盘加电时间。初始值的字段显示为此装置总开机时间的累计。

* 参考磁盘厂家给的该款硬盘的 MTBF(平均故障间隔时间)

可以估计故障概率。但是也有可能超过MTBF而不会出现故障，因为统计数据对于个体来说是不精确的，是一个寿命参考值，本身不具任何指标性。

**购买硬盘时可以看此值，新的硬盘一般为0或者几十以内，过分大的可能就是被人用过了。

0A =Spin Retry Count 或 Spin-up Retry Count / 旋转重试计数或马达重试计数 Raw值越低越好

马达重试启动尝试的的总数，这个属性存储马达尝试启动的到全速运转(第一次尝试失败的情况)的总数，这个属性的值的上升，是硬盘机械子系统有问题的标志

* 理想情况应该为0，在某些情况下可能人为造成这个值的非故障升高，比如电压供给不足。

0B =Recalibration Retries / 校准重试

Calibration_Retry_Count / 校准重试计数

Raw值越低越好

这个属性指被要求重新校验的次数(第一次尝试失败的情况下)。这个属性的值的上升，是硬盘机械子系统有问题的标志

0C =Power Cycle Count / 通电周期计数

这个属性是指这个硬盘电源开/关周期的总数。

这是个寿命参考值，本身不具任何指标性。

0D =Soft Read Error Rate / 软件读出误码率(可校正读出误码率)

Raw值越低越好

报告给操作系统的未修正的读取错误。

高值暗示有扇区不稳定。

B7 =SATA Downshift Error Count / SATA 降档错误计数

西部数据和三星的属性。

B8 =End-to-End error / 端对端错误

Raw值越低越好

这个属性是HP的SMART IV技术的一部分，它表示传输通过高速缓存内存数据缓冲区后主机和硬盘驱动器间的校验数据不匹配。

B9 =Head Stability / 头稳定性

西部数据的属性。

BA =Induced Op-Vibration Detection / 感应运算振动检测

西部数据的属性。

BB =Reported Uncorrectable Errors / 反馈无法校正的错误

Raw值越低越好

不能使用硬件ECC恢复的错误总数。

BC =Command Timeout / 命令超时

Raw值越低越好

因为HDD超时导致放弃操作的数量，通常情况下，这个属性值应该等于0，如果这个只远远高于0，那么，很可能电源供应有很严重的问题，或者数据线被氧化。

BD =High Fly Writes / 高飞写入

Raw值越低越好

HDD生产商实现

一个飞行高度监视器来尝试对于检测到记录头正在飞出它的正常操作范围时的写入操作提供额外的保护，如果发生不安全的飞行高度条件，写入进程停止工作，信息将被重写或者重定向到磁盘上一个安全的区域。这个显示在硬盘生命周期内检测到的这些错误的总数。这个特性实现在大多数现代的希捷驱动器和一些西部数据的驱动器中，西部数据驱动器开始于

WD企业级WDE18300和WDE9<0>180 Ultra2 SCSI硬盘驱动器，它将被包含在未来所有西部数据企业级产品中。

BE =Airflow Temperature (WDC) / 气流温度(西部数据)

Raw值越低越好

西部数据硬盘上的气流温度(和[C2]的 Temperature 数值一样，但是在有些型号上臂当前值会少50.此值已经废弃了)。

BE =Temperature Difference from 100 / 从100开始的温差

Raw值越高越好

值和 (100 –温度°C)相同, 允许制造商对于符合的最高温度设置一个最小限制(可

能是希捷专有？)。

BF =G-sense Error Rate / 加速度错误率或震动侦测错误率

Raw值越低越好

因外来的冲击和震动导致的错误数。

C0 =Power-off Retract Count / 断电磁头缩回计数

Emergency Retract Cycle Count (Fujitsu) / 紧急回缩周期计数(富士通)

Raw值越低越好

磁头被载离媒体的次数计数。磁头能在没完全断电的前缩回。

*这个属性所显示的数字表示这块磁盘自动关机(突然断电)的次数。

C1 =Load Cycle Count / 磁头伸出周期计数

Load/Unload Cycle Count (Fujitsu) / 磁头升降周期计数(富士通)

Raw值越低越好

从磁头零区域加载/卸载(升降)周期的次数。通常的便携式电脑(2.5英寸)加载(伸出)周期的寿命为200,000到600,000

,一些便携式电脑的驱动器被设计成当5秒内没有任何活丅动时就卸载(缩回)磁头。许多Linux安装程序后台1分钟内只写入文件系统几次。因此，每小时可能有100或更多次的磁头加载(伸出)周期，并且可能在1年之内就超出磁头伸出周期额定值。

*这是一个寿命参考值，本身不具任何指标性。

C2 =Temperature / 温度

Raw值越低越好

当前的内部温度。

* 具体温度极限参考硬盘厂家各款硬盘的技术指标。

C3 =Hardware ECC Recovered / 硬件ECC校正

Raw值对于不同的厂商有着不同的体系，单纯看做1个十进制数字是没有任何意义的。

C4 =Reallocation Event Count / 重新分配事丅件计数

Raw值越低越好

重新映射操作的计数。这个属性的Raw值显示了总的尝试从重新分配扇区转移数据到空闲空间的次数。不管成功与否都会被记录。

* 这个计数就包含了上次读操作有错误的不稳定扇区。如果下次这些扇区读操作无错误，这个值可能减少。

C5 =Current Pending Sector Count / 目前待映射扇区数

Raw值越低越好

“不稳定”扇区总数(因为读取错误，等待重新映射)。如果一个不稳定的扇区随后能成功写入或读取，这个值将降低，这个扇区将不被重新映射。一个读写错误的扇区不会被重新映射(因为以后它有可能又能读写)；取而代之的是，驱动器固件将记住此扇区需要被重新映射。并且会在当其被写入时重新映射。

*这里有个问题，即当被固件记录后，有些文章写到只有在写入出错的时候它才会被重新映射，而Wiki上的原文是“and remaps it the

next time it's written.”故这里标记一下。

C6 =Uncorrectable Sector Count / 无法校正扇区数

Off-Line Scan Uncorrectable Sector Count (Fujitsu) / 脱机无法校正扇区数(富士通)

Raw值越低越好

读写错误不能被校正的扇区总数。这个属性值的升高意味着盘片表面有缺陷或者是机械子系统有问题。

* 这些扇区目前已经不能读取，如果有文件使用这些扇区，则操作系统会返回读取错误；当下一次写操作发生时硬盘会对扇区自动重定位；同时，重定位扇区计数

(Reallocated Sector Count)增加，这个值减少。

C7 =UltraDMA CRC Error Count / Ultra DMA CRC 错误计数

Raw值越低越好

在数据传输错通过接口电缆时被ICRC(接口循环冗余校验)所确定的错误总数。

C8 =Write Error Rate (Fujitsu) / 写入错误率(富士通)

Raw值越低越好

当写入一个扇区时错误的总数。

* 一般不为零也不要紧，但是如果持续快速升高，暗示盘体/磁头机械有问题。

C9 =Soft Read Error Rate / 软读出误码率(可校正读出误码率)

Raw值越低越好

CA =Data Address Mark errors / 数据地址标记错误

Raw值越低越好

数据地址标记错误(或供应商特有)

CB =Run Out Cancel / ECC错误发生率

ECC Errors (Maxtor) / ECC错误 (迈拓)

Raw值越低越好

ECC错误的数量。

CC =Soft ECC Correction / 软件ECC校正

Raw值越低越好

因软件ECC导致的错误总数。

CD =Thermal Asperity Rate (TAR) / 过温率

Raw值越低越好

因温度过高导致的错误数量。

*温度过高的频率，代表主轴马达可能受损，或是散热不良。

CE =Flying Height / 飞行高度

磁头离盘片表面的高度。太低将增加头部撞击机率，太高将增加读取错误机率。

CF =Spin High Current / 旋上高电流

Raw值越低越好

当前用来使驱动器马达旋转所用的电涌(电流)量。

*也有资料写：主轴马达旋转时所使用的电流量，耗电量变大意味着轴承可能磨损。

D0 =Spin Buzz

因电力不足所启动马达所需的重试次数。

D1 =Offline Seek Performance / 离线寻轨性能

驱动器内部测试时的寻道性能。

D3 =Vibration During Write / 写入时震动

写入时震动。

D4 =Shock During Write / 写入时受冲击

写入时受冲击。

DC =Disk Shift / 磁盘移位

Raw值越低越好

盘片对于轴心的位移距离(通常是由于冲击或者热涨冷缩),衡量单位未知。 *通常由强烈的撞击或坠落造成。

221 DD =G-Sense Error Rate / 加速度错误率(震动侦测错误率)

Raw值越低越好

因外来的冲击和震动导致的错误数。

DE =Loaded Hours / 作业时间

数据加载操作时所花费的时间。

(磁头电枢的运动)

DF =Load/Unload Retry Count / 磁头升降重试次数

磁头改变位置的次数。

E0 =Load Friction / 加载摩擦

Raw值越低越好

在运行时因机械部分的摩擦而产生的阻力。

E1 =Load/Unload Cycle Count / 磁头升降周期计数

Raw值越低越好

加载(伸出)周期总数。

E2 =Load 'In'-time / 载入时间

加载磁头的总时间(不计在停放区所花费的时间)。

E3 =Torque Amplification Count /扭矩放大计数

Raw值越低越好

尝试弥补盘片速度变化的次数。

E4 =Power-Off Retract Cycle / 断电磁头缩回周期

Raw值越低越好

E6 =GMR Head Amplitude / 巨磁电阻头振幅

“颠簸”(重复前进/后退磁头动作的距离)的振幅。

E7 =Temperature / 温度

Raw值越低越好

驱动器温度。

F0 =Head Flying Hours / 磁头飞行小时

磁头在定位的时间。

*这是一个寿命参考值，但本身不具任何指标性。

F0 =Transfer Error Rate (Fujitsu) / 传输错误率(富士通) 数据传输时连接被重置的次数的计数。

F1 =Total LBAs Written / 总 LBAs 写入

总 LBAs 写入。

F2 =Total LBAs Read / 总LBAs 读取

总 LBAs 写入。

有些S.M.A.R.T.工具报告它的Raw值是一个复数，实际是因为它是48位而不是32位的。

FA =Read Error Retry Rate / 读取错误重试率

Raw值越低越好

FE =Free Fall Protection / 自由落体保护

Raw值越低越好

检测到“自由落体”的次数。

仪器分析名词解释及简答题

仪器分析复习资料 名词解释与简答题 名词解释 1.保留值：表示试样中各组分在色谱柱中的滞留时间的数值。通常用时间或用将各组分带 出色谱柱所需载气的体积来表示。 2.死时间：指不被固定相吸附或溶解的气体（如空气、甲烷）从进样开始到柱后出现浓度 最大值时所需的时间。 3.保留时间：指被测组分从进样开始到柱后出现浓度最大值时所需的时间。 4.相对保留值：指某组分2的调整保留值与另一组分1的调整保留值之比。 5.半峰宽度：峰高为一半处的宽度。 6.峰底宽度：指自色谱峰两侧的转折点所作切线在基线上的截距。 7.固定液： 8.分配系数：在一定温度下组分在两相之间分配达到平衡时的浓度比。 9.分配比：又称容量因子或容量比，是指在一定温度、压力下，在两相间达到平衡时，组 分在两相中的质量比。 10.相比:VM与Vs的比值。 11.分离度：相邻两组分色谱峰保留值之差与两个组分色谱峰峰底宽度总和之半的比值。 12.梯度洗提：就是流动相中含有多种（或更多）不同极性的溶剂，在分离过程中按一定的 程序连续改变流动相中溶剂的配比和极性，通过流动相中极性的变化来改变被分离组分的容量因子和选择性因子，以提高分离效果。梯度洗提可以在常压下预先按一定的程序将溶剂混合后再用泵输入色谱柱，这种方式叫做低压梯度，又叫外梯度，也可以将溶剂用高压泵增压以后输入色谱系统的梯度混合室，加以混合后送入色谱柱，即所谓高压梯度或称内梯度。 13.化学键合固定相：将各种不同有机基团通过化学反应共价键合到硅胶（担体）表面的游 离羟基上，代替机械涂渍的液体固定相，从而产生了化学键合固定相。 14.正相液相色谱法：流动相的极性小于固定相的极性。 15.反相液相色谱法：流动相的极性大于固定相的极性。 16.半波电位：扩散电流为极限扩散电流一半时的电位。 17.支持电解质（消除迁移电位）：如果在电解池中加入大量电解质，它们在溶液中解离为 阳离子和阴离子，负极对所有阳离子都有静电吸引力，因此作用于被分析离子的静电吸引力就大大的减弱了，以致由静电力引起的迁移电流趋近于零，从而达到消除迁移电流的目的。 18.残余电流：在进行极谱分析时，外加电压虽未达到被测物质的分解电压，但仍有微小的 电流通过电解池，这种电流称为残余电流。 19.迁移电流：由于静电吸引力而产生的电流称为迁移电流。 20.极大：在电解开始后，电流随电位的增加而迅速增大到一个很大的数值，当电位变得更 负时，这种现象就消失而趋于正常，这种现象称为极大或畸峰。 21.光谱分析：就是指发射光谱分析，或更确切地讲是原子发射光谱。 22.色散力：非极性分子间虽没有静电力和诱导力相互作用，但其分子却具有瞬间的周期变 化的偶极矩，只是这种瞬间偶极矩的平均值等于零，在宏观上显示不出偶极矩而已。这种瞬间偶极矩有一个同步电场，能使周围的分子极化，被极化的分子又反过来加剧瞬间偶极矩变化的幅度，产生所谓色散力。

硬盘个参数的含义及选择

菜鸟学堂专家解读内存硬盘参数含义 相关专题：技巧 时间：2009-09-03 05:22 来源：中关村在线 随着天气慢慢变冷，学生们的暑期也已经结束。就在9月1日开学的当天，笔者就发现北京的交通变得更加拥堵，因为赶着送孩子上课的车都已经在路上。从往年来看，开学也意味着中关村装机高潮即将来临，毕竟很多外地来京上学的朋友不会把家里的电脑扛过来，而是选择就近组装一台新机器，毕竟现在DIY配件价格不断下跌，一台主流配置也就3000左右。 对于攒机高手而言，组装一台机器并不是难事，但是对于大部分刚刚上大学的学生而言，还是一个完完全全的菜鸟。由于之前的学业繁重，所以对于电脑方面比较欠缺，也是在所难免。那么下面笔者就带领可爱的菜鸟们对三大件中的硬盘和内存做一个系统复习，并且由浅入深的通过讲解、评测看看参数与性能的关系，下面就开始上课了。 ● 硬盘主要参数详解： 硬盘内部结构详解 转速：硬盘通常是按每分钟转速(RPM，Revolutions Per Minute)计算：该指标代表了硬盘主轴马达（带动磁盘）的转速，比如5400 RPM就代表该硬盘中主轴转速为每分钟5400转。目前主流笔记本硬盘转速为5400RPM；台式机硬盘则为7200RPM。但随着技术的不断进步，笔记本和台式机均有万转产品问世。

单碟容量：单碟容量是硬盘相当重要的参数之一。硬盘是由多个存储碟片组合而成，而单碟容量就是指一个存储碟所能存储的最大数据量。目前在垂直记录技术的帮助下，单碟容量从之前80GB升级到250GB或者320GB，而三星则推出最高334GB单碟容量。硬盘单碟容量提高不仅仅可以带来总容量提升，有利于降低生产成，提高工作稳定性；而且单碟容量越大其内部数据传输速率就越快。 平均寻道时间：平均寻道时间指硬盘在盘面上移动读写磁头到指定磁道寻找相应目标数据所用的时间，单位为毫秒。当单碟容量增大时，磁头的寻道动作和移动距离减少，从而使平均寻道时间减少，加快硬盘访问速度。 硬盘背面PCB详解 缓存：缓存是硬盘与外部交换数据的临时场所。硬盘读/写数据时，通过缓存一次次地填充与清空，再填充，再清空，就像一个中转仓库一样。目前大多数硬盘缓存已经达到16MB，而对于大容量产品则均为32MB容量。 内部数据传输率：内部传输率是指硬盘磁头与缓存之间的数据传输率，简单说就是硬盘将数据从盘片上读取出来，然后存储在缓存上的速度。内部传输率可以明确表现出硬盘的读写速度，它的高低才是评价一个硬盘整体性能的决定性因素。目前大多数桌面级硬盘基本都在70-90MB/S之间，笔记本硬盘则在55MB/S 左右。 在了解完硬盘主要参数后，下面笔者教大家来通过硬盘标示来了解该块硬盘的容量、转速、缓存、接口类型等等。

S参数的含义

S参数的含义 以二端口网络为例，如单根传输线，共有四个S参数：S11，S12，S21，S22，对于互易网络有S12＝S21，对于对称网络有S11＝S22，对于无耗网络，有S11*S11+S21*S21＝1，即网络不消耗任何能量，从端口1输入的能量不是被反射回端口1就是传输到端口2上了。在高速电路设计中用到的微带线或带状线，都有参考平面，为不对称结构（但平行双导线就是对称结构），所以S11不等于S22，但满足互易条件，总是有S12＝S21。假设Port1为信号输入端口，Port2为信号输出端口，则我们关心的S参数有两个：S11和S21，S11表示回波损耗，也就是有多少能量被反射回源端（Port1）了，这个值越小越好，一般建议S11<0.1，即－20dB，S21表示插入损耗，也就是有多少能量被传输到目的端（Port2）了，这个值越大越好，理想值是1，即0dB，越大传输的效率越高，一般建议S21>0.7，即－3dB，如果网络是无耗的，那么只要Port1上的反射很小，就可以满足S21>0.7的要求，但通常的传输线是有耗的，尤其在GHz以上，损耗很显著，即使在Port1上没有反射，经过长距离的传输线后，S21的值就会变得很小，表示能量在传输过程中还没到达目的地，就已经消耗在路上了。对于由2根或以上的传输线组成的网络，还会有传输线间的互参数，可以理解为近端串扰系数、远端串扰系统，注意在奇模激励和偶模激励下的S参数值不同。需要说明的是，S参数表示的是全频段的信息，由于传输线的带宽限制，一般在高频的衰减比较大，S参数的指标只要在由信号的边缘速率表示的EMI发射带宽范围内满足要求就可以了。 信息电子产品的运算速度与传输信息量大幅提升，相关电子零部件的高频特性也愈显重要。如PCB、缆线、连接器等过去被视为单纯桥接作用的零部件，为满足高频应用的需要，现有规格逐渐纳入了衰减、特性阻抗、串音、传输延迟、传输延迟时滞、隔离效果、信号抖动等高频特性的项目。本文将主要介绍S参数在高频测量中的应用。 在个人计算机平台迈入GHz阶段之后，从计算机的中央处理器、显示界面、存储器总线到I/O接口，全部走入高频传送的国度，于是高频参数的测量便浮出了台面。通常高频测量必须考虑的基本项目包括下面几个： ◆Impedance─特性阻抗。我们常见的电缆/信号线有50、75、100欧姆等不同的阻抗标示，此处所指的阻抗并非直流电阻，而是所谓的特性阻抗，也就是信号传输的每一个经过驿站所面临的阻抗。 ◆S-Parameters——S参数（S11、S21、S12、S22） ◆Propagation Delay——传播延迟 ◆SWR——驻波比 ◆Crosstalk——串音 在高速传输运作下，信号载送的质量相当重要，为了获得最大的传输效率，各项高频参数将成为设计、除错改良、实际应用上的重要参考依据，并须特别注意阻抗（Impedance）的匹配问题、信号延迟时间（Propagation Delay）、时滞（Propagation Skew）、噪声（Noise）、信号损失（Loss）以及信号衰减（Attenuation）等课题。然而，这些参数不容易推算及测量，必须依靠高精密度的仪器来协助才能求得准确的数值。一般来说，在高频测试中所使用的仪器大致上有“时域反射计”（Time Domain Reflectometry）以及“网络分析仪”（Network Analyzer）。 对工程人员来说，S参数是一个重要的指标，S参数的原文名称是“Scattering-Parameter”。电磁能量是在空气等介质或导体中以电磁波形式传送，电磁波会因为回路特性阻抗的不匹配而产生信号反射。当回路内有无数个信号反射时，电磁能量分布与时间的变化就显得相当复杂。 在频率较低的场合，零部件的大小与构成信号波形的波长相比显得微小。反射波的影响相对于信号变化时间，很短时间内退出，故呈现稳定的状态。因此，可采用电压电流比的阻抗来表现器件的固有特性。一般是以“集中定数”回路来视之。也有人用节点（Lump）电路来称呼。其回路器件基本特征为： ◆电阻：能量损失（发热） ◆电容：静电能量 ◆电感：电磁能量

照明类常用专业名词解释

照明类常用专业名词解释 照明类常用专业名词解释 来源：HCB照明网作者：HCB 1、光(light) 光是一种电磁波,是整个电磁波谱中极小范围的一部分光是能量的一种形态;光是电磁波辐射到人的眼睛，经视觉神经转换为光线，即能被肉眼看见的那部份光谱。这类射线的波长范围在360到830nm之间，仅仅是电磁辐射光谱非常小的一部份。温度远远高于50Hz工作时的温度，从而产生更高色温的白色色表和更好的显色性。 可见光：由光源发出的辐射能中的一部分，即能产生视觉的辐射能.常被称作为“可见光”。 可见光的波长：从380nm----780nm 紫外线的波长：从100nm---380nm，肉眼看不见。 红外线的波长：从780nm---1mm，肉眼看不见。 2、色温(CT-color temperature) 是将一标准黑体加热，温度升高至某一程度时，颜色开始由红—浅红-橙黄-白-蓝白-蓝，逐渐变化，利用这种光色变化的特性，某光源的光色与黑体在某一温度下呈现的光色相同时，我们将黑体当时的绝对温度称为该光源的相关色温，用绝对温度 K(kelvim)表示。黑体辐射理论是建立在热辐射基础上的，所以白炽灯一类的热辐射光源的光谱功率分布与黑体在可见区的光谱功率分布比较接近，都是连续光谱，用色温的概念完全可以描述这类光源的颜色特性。 3、显色指数(Ra) 衡量光源显现被照物体真实颜色的能力参数。 显色指数(0-100)越高的光源对颜色的再现越接近自然原色。 3.1、色温与感觉 3.2、显色性的效果与用途

4、光通量(流明Lm)Φ (luminous flux ) 光源发射并被人的眼睛接收的能量之和即为光通量。流明是光通量的单位。一般情况下，同类型的灯的功率越高，光通量也越大。例如：一只 40W的普通白炽灯的光通量为350---470lm，而一只40W的普通直管形荧光灯的光通量为2800lm左右，为白炽灯的6--8倍。(发光愈多流明数愈大) 5、光效(luminous efficacy of light source) 光源所发出的总光通量与该光源所消耗的电功率(瓦)的比值，称为该光源的光效。单位：流明 /瓦(lm/W) 光源将电能转化为可见光的效率，即光源消耗每一瓦电能所发出的光，数值越高表示光源的效率越高。从经济(能效)方面考虑，光效是一个重要的参数。 白炽灯：8-14lm/W 单端荧光灯：55-80 lm/W 自镇流荧光灯：50-70 lm/W 高压钠灯：80-140 lm/W 金卤灯：60-90 lm/W 卤钨灯： 15-20 lm/W 6、平均寿命(average life) 指一批灯燃点，当其中有50%的灯损坏不亮时所燃点的小时数。单位：小时( h) 7、经济寿命(economic life) 在同时考虑灯泡的损坏以及光束输出衰减的状况下，其综合光束输出减至一特定比例的小时数。此比例用于室外的光源为百分之七十，用于室内的光源如日光灯为百分之八十。 8、光强(luminous intensity ) 光源在某一给定方向的单位立体角内发射的光通量称为光源在该方向的发光强度，简称光强。单位：坎德拉cd 9、照度(illuminance) 单位：勒克斯 (Lux, lx) 照度是光通量与被照面之比值。照度是用来说明被照面(工作面)上被照射的程度，通常用其单位面积内所接受的光通量来表示，单位为勒克斯(lx)或流明每平方米(lm/m2)。1 lux之照度为1 lumen之光通量均匀分布在面积为一平方米之区域。单位被照面上接收到的光通量称为照度。如果每平方米被照面上接收到的光通量为 1(1m)，则照度为1(1x)。单位：勒克斯(1x)。 1勒克斯(1x)相当于被照面上光通量为1流明(1m)时的照度。夏季阳光强烈的中午地面照度约5000 1x，冬天晴天时地面照度约为2000 1x，晴朗的月夜地面照度约0.2 1x。 10、亮度( luminance)

硬盘主要参数

硬盘（英文名：Hard Disc Drive，简称HDD，全名：温彻斯特式硬盘）作为电脑主要的存储设备之一，可以说在整个电脑系统中起着重要的作用，因为我们大多数的数据都是通过硬盘来存储的，这些数据比硬盘本身甚至整台电脑都要宝贵许多。 探秘硬盘内部结构 而我们平时了解硬盘，主要是从外观以及容量、性能等各种参数去认识，它的内部结构到底是怎么样的？相信多数人都不是很清楚。今天笔者就通过工具把一块硬盘大卸八块，跟大家一起探秘一下硬盘内部精密的结构，一起来看下吧。 另外有一点需要提醒大家：没事千万不要随意打开硬盘的外壳，因为硬盘的内部是不能沾染灰尘的，否则立即报废。我们本次的硬盘是已经不能使用的了，所以看了本篇文章的童鞋拆硬盘后导致硬盘坏了可不要来找我，嘿嘿。

在实际动手之前，我们先来了解一下硬盘结构的理论知识。总得来说，硬盘主要包括：盘片、磁头、盘片主轴、控制电机马达、磁头控制器、数据转换器、接口、缓存等几个部份。 一般在硬盘的正面都贴有硬盘的标签，标签上一般都标注着与硬盘相关的信息，例如产品型号、产地、出厂日期、产品序列号等。而硬盘的背面则是控制电路板，同时在硬盘的一端有数据接口和供电接口设计。

要拆解硬盘，工具是必不可少的。由于硬盘的安装螺丝是使用特殊的内六角螺丝，而且螺丝中心呈凹形，所以使用普通螺丝刀是没法拧开的。 拆掉六个螺丝之后就可以将电路板分离出来，这时可以看到，电路板和硬盘体之间还有一层软垫，以减免两者间发生短路的几率。

从上图可以看到，该硬盘采用了Marvell 88i8845E-BHY2主控芯片，内部集成了32MB缓存，而电机控制芯片则来自于SMOOTH的L7251。 出处：pconline 2010年09月09日作者：天涯为客责任编辑：lvke 要想打开硬盘，我们首先要把硬盘正面的9个安装螺丝拆卸下来。从上图可以看到，除了外围的7个螺丝外，硬盘的标签下面还隐藏有2个螺丝，大家拆卸时需要注意。

电子元器件的规格参数

123电子元器件的规格参数 描述电子元器件的特性参数的数量称为它们的规格参数。规格参数包括标称值、额定值和允许偏差等。电子元器件在整机中要占有一定的体积空间，所以其外形尺寸也是一种规格参数。 电子元器件的质量系数：用于度量电子元器件的质量水平，通常描述了元器件的特性参数、规格参数环境因素变化的规律，或者划定了他们不能完成功能的边界条件。 电子工艺的质量参数一般有：温度系数、噪声电动势、高频特性及可靠性等，从整机制造工艺方面考虑，主要有机械强度和可焊性。 通常，用信噪比来描述电阻、电容、电感一类无源元件的噪声指标，对于晶体管或集成电路一类有源器件的噪声，则用噪声系数来衡量。在设计制作接收微弱信号的高增益放大器时，应当尽量选用低噪声的电子元器件。使用专用的“噪声测试仪”可以方便的测量出元器件的噪声指标。 电子元器件的命名与标注 通常电子元器件的名称应该反映出它们的种类、材料、特征、型号、生产序号和区别代号，并且能够表示出主要的电器参数。电子元器件的名称由字母和数字组成。对于元件来说，一般用一个字母代表它的主称，如R表示电阻器，C 代表电容，L表示电感，W表示电位器，等等；用数字或字母表示其他信息。型号及参数在电子元器件上的标注：直标法、文字符号法和色标法。 文字符号法：①用元件的形状及其表面的颜色区别元件的种类，如在表面安装的元件中，除了形状的区别外，黑色表示电阻，棕色表示电容，淡蓝色表示电感。②电阻的基本标注单位是欧姆，电容的基本标注单位是皮法，电感的基本标注单位是微亨；用三位数字标注元件的数值。③对于十个基本标注单位以上的元件，前两位数字表示数值的有效数字，第三位数字表示数值的倍率。例如，对于电阻器上的标注，100表示其阻值为10×10^0=10,223表示其阻值为22×10^3=22K 对于电容器上的标注，103表示其容量为10×10^3pf=0.01uf,475表示其容量为47×10^5=4.7uf 对于电感器上的标注，820表示82×10^0=82Uh

光学名词解释大全

光学名词解释大全 aperture stop（孔径阑）－限制进入光学系统之光束大小所使用的光阑。astigmatism（像散）－一个离轴点光源所发出之光线过透镜系统后，子午焦点与弧矢焦点不在同一个位置上。 marginal ray（边缘光束）－由轴上物点发出且通过入射瞳孔边缘的光线。 chief ray（主光束）－由离轴物点斜向入射至系统且通过孔径阑中心的光线。chromatic aberration（色像差）－不同波长的光在相同介质中有不的折射率，所以轴上焦点位置不同，因而造成色像差。 coma（慧差）－当一离轴光束斜向入射至透镜系统，经过孔径边缘所成之像高与经过孔径中心所成之像高不同而形成的像差。 distortion（畸变）－像在离轴及轴上的放大率不同而造成，分为筒状畸变及枕状畸变两种形式。 entrance pupil（入射瞳孔）－由轴上物点发出的光线。经过孔径阑前的组件而形成的孔径阑之像，亦即由轴上物点的位置去看孔径阑所成的像。 exit pupil（出射瞳孔）－由轴上像点发出的光线，经过孔径阑后面的组件而形成的孔径阑之像，亦即由像平面轴上的位置看孔径阑所成的的像。 field curvature（场曲）－所有在物平面上的点经过光学系统后会在像空间形成像点，这些像点所形成的像面若为曲面，则此系统有场曲。 ; field of view（视场、视角）－物空间中，在某一距离光学系统所能接受的最大物体尺寸，此量值以角度为单位。 f-number（焦数）－有效焦距除以入射瞳孔直径的比值，其定义式如下：有时候f-number也称为透镜的速度，4 f 的速度是2 f 速度的两倍。 meridional plane（子午平面）－在一个轴对称系统中，包含主光线与光轴的平面。numerical aperture（数值孔径）－折射率乘以孔径边缘至物面（像面）中心的半夹角之正弦值，其值为两倍的焦数之倒数。数ˋ值孔径有物面数值孔径与像面数值孔径两种。sagittal plan（弧矢平面、纬平面）－包含主光线，且与子午平面正交的平面。sagittal ray（弧矢光束、纬光束）－所有由物点出发而且在弧矢平面上的斜光线。 ray-intercept curve（光线交切曲线）－子午光线截在像平面上的高度相对于经过透镜系统后发出之光线的斜率之关系图；或是定义为经过透镜系统后的光线位移相对于孔径坐标的图。此两种定义法可依使用者需要选择，在OSLO 中采用后者。 spherical aberration（球面像差）－近轴光束与离轴光束在轴上的焦点位置不同而产生。vignetting（渐晕、光晕）－离轴越远（越接近最大视场）的光线经过光学系统的有效孔径阑越小，所以越离轴的光线在离轴的像面上的光强度就越弱，而形成影像由中心轴向离轴晕开。 孔径光阑：限制进入光学系统的光束大小所使用的光阑。 ※球差：近轴光束与离轴光束在轴上的焦点位置不同而产生的像差。 ※像散：一个离轴点光源所发出光线经过系统后，子午焦点与弧矢焦点不在同一位置上。※边缘光束：由轴上物点发出且通过入瞳边缘的光线。 ※主光束：由离轴物点斜向入射至系统且通过孔径光阑中心的光线。 ※色像差：不同波长的光在相同介质中有不同的折射离，所以轴上焦点位置不同，因而造成色像差。 ※角放大率：近轴像空间主光线角与近轴物空间主光线角的比率叫做角放大率，角的测量与

硬盘黄色警告对照查询 硬盘检测参数详解

硬盘黄色警告对照查询硬盘检测参数详解一、SMART概述 硬盘的故障一般分为两种：可预测的（predictable）和不可预测的（unpredictable）。后者偶而会发生，也没有办法去预防它，例如芯片突然失效，机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等就是可预测的情况，可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。如果发生这种问题，SMART功能会在开机时响起警报，至少让使用者有足够的时间把重要资料转移到其它储存系统上。 最早期的硬盘监控技术起源于1992年，IBM在AS/400计算机的IBM9337硬盘阵列中的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis（故障预警分析技术）的监控技术，它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。不久，当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。通过该技术，硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量值传送给操作系统和用户的监控软件中，每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控和它们的安全阈值。 1995年，康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化，该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据

的支持，1996年6月进行了1.3版的修正，正式更名为S.M.A.R.T.（Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology），全称是“自我检测分析与报告技术”，成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

电子元器件S参数的含义和用途

电子元器件S参数的含义和用途 上网时间：2008-12-19 作者：Albert 来源：电子元件技术网中心议题： S参数介绍的由来和含义 S参数的使用范围 S参数在电路仿真中的应用 解决方案： 对于高频电路，需要采用网络法来进行分析，此时需要用到S参数 可以使用元器件厂家的S参数也可以自己搭建测试电路使用网络分析仪来测得S参数 要想深刻的理解S参数，需要具备足够的高频电子电路的基础知识 在进行射频、微波等高频电路设计时，节点电路理论已不再适用，需要采用分布参数电路的分析方法，这时可以采用复杂的场分析法，但更多地时候则采用微波网络法来分析电路，对于微波网络而言，最重要的参数就是S参数。在个人计算机平台迈入 GHz阶段之后，从计算机的中央处理器、显示界面、存储器总线到I/O接口，全部走入高频传送的国度，所以现在不但射频通信电路设计时需要了解、掌握S参数，计算机系统甚至消费电子系统的设计师也需要对相关知识有所掌握。 S参数的作用S参数的由来和含义 在低频电路中，元器件的尺寸相对于信号的波长而言可以忽略(通常小于波长的十分之一)，这种情况下的电路被称为节点(Lump)电路，这时可以采用常规的电压、电流定律来进行电路计算。其回路器件的基本特征为： 具体来说S参数就是建立在入射波、反射波关系基础上的网络参数，适于微波电路分析，以器件端口的反射信号以及从该端口传向另一端口的信号来描述电路网络。 针对射频和微波应用的综合和分析工具几乎都许诺具有用S参数进行仿真的能力，这其中包括安捷伦公司的ADS（Advanced Design System），ADS被许多射频设计平台所集成。 在进行需要较高频率的设计时，设计师必须利用参数曲线以及预先计算的散射参数（即S-参数）模型，才能用传输线和器件模型来设计所有物理元件。 电阻：能量损失（发热） 电容：静电能量 电感：电磁能量 但在高频微波电路中，由于波长较短，组件的尺寸就无法再视为一个节点，某一瞬间组件上所分布的电压、电流也就不一致了。因此基本的电路理论不再适用，而必须采用电磁场理论中的反射及传输模式来分析电路。元器件内部电磁波的进行波与反射波的干涉失去了一致性，电压电流比的稳定状态固有特性再也不适用，取而代之的是“分布参数”的特性阻抗观念，此时的电路被称为分布（Distributed）电路。分布参数回路元器件所考虑的要素是与电磁波的传送与反射为基础的要素，即： 反射系数

硬盘参数详解方方面面

硬盘参数详解方方面面 硬盘-英文名：Hard Disc Drive 简称HDD是电脑主要的存储媒介 一：硬盘的组成 1、接口 IDE：IDE是指把控制器与盘体集成在一起的硬盘驱动器，我们常说的的IDE接口，也叫ATA 接口，PATA接口、并行ATA接口，并口。 SCSI：SCSI是一种总线型的系统接口，它不是专门为硬盘设计的，SCSI接口的优势在于它支持多种设备，传输速度比ATA高，CPU的占用率很低，一般应用于服务器 SAS：即串行连接SCSI、兼容SATA、一般也是用于服务器。 Serial ATA：Serial ATA称为串行ATA接口（SATA接口），这是相对于IDE的并行接口来说的，与IDE接口比SATA接口有无可比拟的优势。 如图从左至右分别为IDE-SCSI-SATA 2、控制电路板 包括主轴调速电路、磁头驱动与伺服定位电路、读写电路、控制与接口电路等。如下图！ 3、硬盘部结构 磁头组件：磁头组件是硬盘中最精密的部位之一，有读写磁头、传动手臂、传动轴三部分组成。 磁头驱动机构：磁头驱动机构由声圈电动机和磁头驱动小车组成，新型大容量盘有防震动机构。 磁盘片：磁盘片是硬盘存储数据的载体。硬盘的盘体有一个或多个重叠在一起并由垫圈隔开的磁盘片组成。 主轴组件：主轴组件包括主轴部件，如轴承和马达等。如下图所示：

4、硬盘逻辑结构盘面 盘面：硬盘的每一个盘片都有两个盘面，即上、下两面，一般每个盘面都会利用，都可以存储数据，成为有效盘面，也有个别的硬盘盘面数为单数的。每一个这样的有效盘面都有一个盘面号，按从上到下的顺序从“0”开始编号。在硬盘系统中，盘面号又叫磁头号，因为每一个有效盘面都有一个对应的读写磁头。 磁道：磁盘在格式化时被划分成许多同心圆，这些同心圆轨迹叫做磁道。磁道从外向从0开始编号。 柱面：所有盘面上的同一磁道构成一个圆柱，通常称为柱面，柱面和磁道一样，由外向从0开始编号。数据的读写按柱面进行。即首先在同一柱面从0磁头开始进行读/写操作，依次向下直到同一柱面所有的磁头都读写过数据将柱面读完写满之后，才移到下一个柱面 扇区：操作系统以扇区形式将信息存储在硬盘上。在磁道上，按照一定的数据位长度截取的圆弧就是扇区，扇区从1开始编号。扇区中的数据作为一个单元同时的读出或写入。 簇：操作系统都是以簇为单位的文件来分配磁盘空间、每个簇只能由一个文件所占用、及时这个簇只有几字节、决不允许两个文件以上的文件公用一个簇、否则会造成数据的混乱。如下图！

常用电子元器件型号命名法及主要技术参数

常用电子元器件参考资料第一节部分电气图形符号 一．电阻器、电容器、电感器和变压器

二．半导体管 三．其它电气图形符号

第二节常用电子元器件型号命名法及主要技术参数一．电阻器和电位器 1．电阻器和电位器的型号命名方法 示例： (1)精密金属膜电阻器 R J 7 3 第四部分：序号 第三部分：类别（精密） 第二部分：材料（金属膜） 第一部分：主称（电阻器） (2) 多圈线绕电位器 W X D 3 第四部分：序号 第三部分：类别（多圈） 第二部分：材料（线绕） 第一部分：主称（电位器）

2．电阻器的主要技术指标 (1) 额定功率 电阻器在电路中长时间连续工作不损坏，或不显著改变其性能所允许消耗的最大功率称为电阻器的额定功率。电阻器的额定功率并不是电阻器在电路中工作时一定要消耗的功率，而是电阻器在电路工作中所允许消耗的最大功率。不同类型的电阻具有不同系列的额定功率，如表2所示。 (2) 标称阻值 阻值是电阻的主要参数之一，不同类型的电阻，阻值范围不同，不同精度的电阻其阻值系列亦不同。根据国家标准，常用的标称电阻值系列如表3所示。E24、E12和E6系列也适用于电位器和电容器。 (3) 允许误差等级 3．电阻器的标志内容及方法 (1)文字符号直标法：用阿拉伯数字和文字符号两者有规律的组合来表示标称阻值，额定功率、允许误差等级等。符号前面的数字表示整数阻值，后面的数字依次表示第一位小数阻值和第二位小数阻值，其文字符号所表示的单位如表5所示。如1R5表示1.5Ω，2K7表示2.7kΩ， 表５

例如： RJ71－0.125－5k1－II 允许误差±10% 标称阻值(5.1kΩ) 额定功率1/8W 型号 由标号可知，它是精密金属膜电阻器，额定功率为1/8W，标称阻值为5.1kΩ，允许误差为±10%。 (2)色标法：色标法是将电阻器的类别及主要技术参数的数值用颜色（色环或色点）标注在它的外表面上。色标电阻（色环电阻）器可分为三环、四环、五环三种标法。其含义如图1和图2所示。 标称值第一位有效数字 标称值第二位有效数字 标称值有效数字后0的个数 允许误差 图1 两位有效数字阻值的色环表示法 三色环电阻器的色环表示标称电阻值（允许误差均为±20%）。例如，色环为棕黑红，表示10?102＝1.0kΩ±20%的电阻器。 四色环电阻器的色环表示标称值（二位有效数字）及精度。例如，色环为棕绿橙金表示15?103＝15kΩ±5%的电阻器。 五色环电阻器的色环表示标称值（三位有效数字）及精度。例如，色环为红紫绿黄棕表示275?104＝2.75MΩ±1%的电阻器。

小区重选及相关参数配置

小区重选及相关参数配置 重选概念和分类： 小区重选（cell reselection）：指UE在空闲模式下通过监测邻区和当前小区的信号质量以选择一个最好的小区提供服务信号的过程。当邻区的信号质量及电平满足S准则且满足一定重选判决准则时，终端将接入该小区驻留。 小区重选过程包括测量和重选两部分过程，终端根据网络配置的相关参数，在满足条件时发起相应的流程 重选分为： 系统内小区测量及重选：同频小区测量、重选和异频小区测量、重选 系统间小区测量及重选 LTE中，SIB3-SIB8全部为重选相关信息 重选优先级 与2/3G网络不同，LTE系统中引入了重选优先级的概念 –在LTE系统，网络可配置不同频点或频率组的优先级，通过广播在系统消息中告诉UE，对应参数为cellReselectionPriority，取值为（0….7） 系统内同频优先级 系统内异频重选优先级

异系统优先级 –优先级配置单位是频点，因此在相同载频的不同小区具有相同的优先级 –通过配置各频点的优先级，网络能更方便地引导终端重选到高优先级的小区驻留达到均衡网络负荷、提升资源利用率，保障UE信号质量等作用 重选优先级也可以通过RRCConnectionRelease消息告诉UE，此时UE忽略广播消息中的优先级信息，以该信息为准。 消息块所在域对应载频 SIB3cellReselectionServingFreqinfo 当前载频，即服务小区载频 SIB5interFreqCarrierFreqLIst 某个E-UTRA异频载频 SIB6carrierFreqListUTRA-TDD 某个UTRA-TDD载频

仪器分析名词解释1

绪论 1 仪器分析： 是指通过测量物质是某些物理或者物理化学性质` 参数及其变化来确定物质的组成成分含量级化学结构的分析方法。仪器分析的产生与生产实践科学技术发展的迫切需要方法核心原理发现及相关技术产生等密切相关。 2 定性分析： 鉴定式样由哪些元素、离子、基团或化合物组成，即确定物质的组成。 3 定量分析： 测定试样中各种组分(如元素、根或官能团等)含量的操作。 4 精密度： 指同一分析仪器的同一方法多次测定所得到数据间的一致程度，是表征随机误差大小的指标，亦成为重复测定结果随测定平均值的分散度，即重现性。 5 灵敏度： 仪器或分析方法灵敏度是指区别具有微小浓度差异分析物能力的度量，它取决于两个因素：即校准曲线的斜率和仪器设备的重现性或精密度。 6 检出限： 又称检测下限或最低检出量，指一定置信水平下检出分析物或组分的最小量或最低浓度。它取决于分析物产生信号与本底空白信号波动或噪声统计平均值之比。 7 动态范围： 定量测定最低浓度（LOQ)扩展到校准曲线偏离线性响应（LOL）的浓度范围。 8 选择性： 一种仪器方法的选择性是指避免试样中含有其它组分干扰组分测定的程度。

9 分辨率： 指仪器鉴别由两相近组分产生信号的能力。不同类型仪器分辨率指标各不相同，光谱仪器指将波长相近两谱线（或谱峰）分开的能力；质谱仪器指分辨两相邻质量组分质谱峰的分辨能力；色谱指相邻两色谱峰的分离度；核磁共振波谱有它独特的分辨率指标，以临二氯甲苯中特定峰，在最大峰的半宽度为分辨率大小。 10 分析仪器的校正： 仪器分析中将分析仪器产生的各种响应信号值转变成被测物质的质量或浓度的过程称为校正。一般包括分析仪器的特征性能指标和定量分析方法校正。 光谱法导论 11 电磁辐射： 电场和磁场的交互变化产生的电磁波，电磁波向空中发射或汇聚的现象，叫电磁辐射举例说，正在发射讯号的射频天线所发出的移动电荷，便会产生电磁能量。 12 电磁辐射的吸收、发射、散射、折射、干涉、衍射： (1) 吸收物质选择性吸收特定频率的辐射能，并从低能级跃迁到高能级； (2) 发射将吸收的能量以光的形式释放出； (3) 散射丁铎尔散射和分子散射； (4) 折射折射是光在两种介质中的传播速度不同； (6) 干涉干涉现象； (7) 衍射光绕过物体而弯曲地向他后面传播的现象； 13 分子光谱、原子光谱 分子光谱：分子从一种能态改变到另一种能态时的吸收或发射光谱（可包括从

机械硬盘硬件参数及结构解析

机械硬盘硬件参数及结构解析 Minute)计算：该指标代表了硬盘主轴马达（带动磁盘）的转速，比如5400 RPM就代表该硬盘中主轴转速为每分钟5400转。目前主流笔记本硬盘转速为5400RPM；台式机硬盘则为7200RPM。但随着技术的不断进步，笔记本和台式机均有万转产品问世。单碟容量：单碟容量是硬盘相当重要的参数之一。硬盘是由多个存储碟片组合而成，而单碟容量就是指一个存储碟所能存储的最大数据量。目前在垂直记录技术的帮助下，单碟容量从之前80GB升级到250GB或者320GB，而三星则推出最高334GB单碟容量。硬盘单碟容量提高不仅仅可以带来总容量提升，有利于降低生产成，提高工作稳定性；而且单碟容量越大其内部数据传输速率就越快。平均寻道时间：平均寻道时间指硬盘在盘面上移动读写磁头到指定磁道寻找相应目标数据所用的时间，单位为毫秒。当单碟容量增大时，磁头的寻道动作和移动距离减少，从而使平均寻道时间减少，加快硬盘访问速度。硬盘背面PCB详解：缓存：缓存是硬盘与外部交换数据的临时场所。硬盘读/写数据时，通过缓存一次次地填充与清空，再填充，再清空，就像一个中转仓库一样。目前大多数硬盘缓存已经达到16MB，而对于大容量产品则均为32MB容量。内部数据传输率：内部传输率是指硬盘磁头与缓存之间的数据传输率，简单说就是硬盘将数据从盘片上读取出来，然后存储在缓存上的速度。内部传输率可以明确表现出硬盘的读

写速度，它的高低才是评价一个硬盘整体性能的决定性因素。目前大多数桌面级硬盘基本都在70-90MB/S之间，笔记本硬盘则在55MB/S左右。在了解完硬盘主要参数后，下面笔者教大家来通过硬盘标示来了解该块硬盘的容量、转速、缓存、接口类型等等。目前市面上销售的硬盘有好多牌子，但主要参数不尽相同。希望大家在有需要的时候，手拿硬盘做到心中有数，以不变应万变。 防止被js忽悠。

解读硬盘各项基本参数

前言：对于大多数的普通电脑用户来说，硬盘（英文名：Hard Disc Drive，简称HDD，全名：温彻斯特式硬盘）只是电脑系统中用来存储数据的一个载体，除了容量和价格上的差异以外好像并没有其它太大的区别。 硬盘 其实不然，硬盘的各项基本参数都影响着这个硬盘在各个方面的性能表现，与整个电脑系统的性能也有着密切的关系。今天，笔者就跟大家一起来了解下硬盘的各项基本参数，让大家在以后买硬盘时可以更得心应手，不再被忽悠。 -------------------------------------我是分割线 ------------------------------------ 温馨提示：如果您不了解硬盘内部结构，请阅读： 探秘硬盘内部结构： https://www.sodocs.net/doc/895776762.html,/cpu/study_cpu/1009/2215404.html --------------------------------------------------------------------- --------------- 硬盘基本参数：容量 作为整个电脑系统的数据存储器，容量是硬盘最主要的参数。硬盘的容量以兆字节（MB）或千兆字节（GB）为单位，1GB=1024MB。不过由于硬盘厂商在标称

硬盘容量时通常取1G=1000MB，因此我们在BIOS中或在格式化硬盘时看到的容量往往会比标称值要小一些。 250G B硬盘可用容量为232.88GB 硬盘的容量参数还包括硬盘的单碟容量。所谓的单碟容量是指硬盘单片盘片的容量，单碟容量越大，单位成本越低，平均访问时间也越短。目前在垂直记录技术的帮助下，主流硬盘的单碟容量达到了250GB~750G B不等。

ADC参数解释和关键指标

第五章ADC 静态电参数测试（一） 翻译整理：李雷 本文要点： ADC 的电参数定义 ADC 电参数测试特有的难点以及解决这些难题的技术 ADC 线性度测试的各类方法 ADC 数据规范（Data Sheet）样例 快速测试ADC 的条件和技巧 用于ADC 静态电参数测试的典型系统硬件配置 关键词解释 失调误差 Eo（Offset Error）：转换特性曲线的实际起始值与理想起始值（零值）的偏差。 增益误差E G（Gain Error）：转换特性曲线的实际斜率与理想斜率的偏差。（在有些资料上增益误差又称为满刻度误差） 线性误差Er（Linearity Error）：转换特性曲线与最佳拟合直线间的最大偏差。（NS 公司定义）或者用：准确度E A（Accuracy）：转换特性曲线与理想转换特性曲线的最大偏差（AD 公司定义）。 信噪比(SNR): 基频能量和噪声频谱能量的比值。 一、ADC 静态电参数定义及测试简介 模拟/数字转换器（ADC）是最为常见的混合信号架构器件。ADC是一种连接现实模拟世界和快速信号处理数字世界的接口。电压型ADC（本文讨论）输入电压量并通过其特有的功能输出与之相对应的数字代码。ADC的输出代码可以有多种编码技术（如：二进制补码，自然二进制码等）。 测试ADC 器件的关键是要认识到模/数转换器“多对一”的本质。也就是说，ADC 的多个不同的输入电压对应一个固定的输出数字代码，因此测试ADC 有别于测试其它传统的模拟或数字器件（施加输入激励，测试输出响应）。对于 ADC，我们必须找到引起输出改变的特定的输入值，并且利用这些特殊的输入值计算出ADC 的静态电参数（如：失调误差、增益误差，积分非线性等）。 本章主要介绍ADC 静态电参数的定义以及如何测试它们。 Figure5.1：Analog-to-Digital Conversion Process. An ADC receives an analog input and outputs the digital codes that most closely represents then input magnitude relative to full scale. 1．ADC 的静态电参数规范

LTE常用参数详解

LTE现阶段常用参数详解 1、功率相关参数 1.1、Pb（天线端口信号功率比） 功能含义：Element）和TypeA PDSCH EPRE的比值。该参数提供PDSCH EPRE（TypeA）和PDSCH EPRE（TypeB）的功率偏置信息（线性值）。用于确定PDSCH（TypeB） 的发射功率。若进行RS功率boosting时，为了保持Type A 和Type B PDSCH 中的OFDM符号的功率平衡，需要根据天线配置情况和RS功率boosting值根 据下表确定该参数。1，2，4天线端口下的小区级参数ρB/ρA取值： PB 1个天线端口2个和4个天线端口 0 1 5/4 1 4/5 1 2 3/5 3/4 3 2/5 1/2 对网络质量的影响：PB取值越大，RS功率在原来的基础上抬升得越高，能获得更好的 信道估计性能，增强PDSCH的解调性能，但同时减少了PDSCH （Type B）的发射功率，合适的PB取值可以改善边缘用户速率， 提高小区覆盖性能。 取值建议：1

1.2、Pa（不含CRS的符号上PDSCH的RE功率与CRS 的RE功率比） 功能含义：不含CRS的符号上PDSCH的RE功率与CRS的RE功率比 对网络质量的影响：在CRS功率一定的情况下，增大该参数会增大数据RE功率 取值建议：-3 1.3、PreambleInitialReceivedTargetPower（初始接收目标功率(dBm)） 功能含义：表示当PRACH前导格式为格式0时，eNB期望的目标信号功率水平，由广播消息下发。 对网络质量的影响：该参数的设置和调整需要结合实际系统中的测量来进行。该参数设 置的偏高，会增加本小区的吞吐量，但是会降低整网的吞吐量；设 置偏低，降低对邻区的干扰，导致本小区的吞吐量的降低，提高整 网吞吐量。 取值建议：-100dBm~-104dBm 1.4、PreambleTransMax（前导码最大传输次数） 功能含义：该参数表示前导传送最大次数。 对网络质量的影响：最大传输次数设置的越大，随机接入的成功率越高，但是会增加对 邻区的干扰；最大传输次数设置的越小，存在上行干扰的场景随机 接入的成功率会降低，但是会减小对邻区的干扰 取值建议：n8，n10

灯光名词解释

灯光名词解释 亮度： 亮度是指围绕某表面上的一点微单位面积，在给定方向所发射的发光强度除以该单元投影到同一方向上的面积，单位是：cd/c㎡。在灯光系统中一般都不会遇到亮度的概念。 照度： 照度是指在一个面上的光通密度，它是射入单位面积内的光通量，单位是LX。照度的定义和测量比较复杂，象平均柱面照度、等效球照度、标量照度等，它们的测量条件和计算方法有所不同。在建筑和装饰工程中经常会遇到、灯光系统中偶尔也涉及到照度概念。 光通量： 光通量是指光源在单位时间离向周围空间辐射的，能引起视觉反应能量，即可见光的能量。它描述的是光源的有效辐射值，单位是1m（流明）。 同样功率的灯具的光通量可能完全不同，这是因为它们的光效不同的缘故。比如：普通照明灯泡只有10 1m/瓦，而金属卤素灯可以达到80 1m/瓦。 色温： 色温是指光源发射的颜色与黑体在某一温度下辐射的光色相同时，黑体的温度称为该光源的色温，一般以开氏k为单位。比如3200k和5600k等。 色温高，光线的颜色偏冷：色温低，光线的颜色偏暖：色温适中时，光线接近于白色。 自然界正常日照下，光线的色温一般都要高于人工灯具的色温。通常情况下，阳光的色温为5600k左右，而演播室及演出用灯具的色温都在3200k左右。（热光源）。 不过近来电视演播室兴起的冷光源布光，是对传统光源的变革。冷光源的色温高，耗能低，发热小，在进行室内外摄相时，色温转换简单，画面自然，当然冷光源对调光台的性能要求也要高些。 通道： 在现代光控制中，新产生一种通道的概念。它指的是控制回路在某个灯具上的一个集合。具体讲就是：某个灯具所具有的功能需要被单独控制（比如：聚焦、频闪、变色等），而所占有的调光台输出回路的统称就是通道。 比如：一台电脑灯的功能有光圈、颜色、频闪、调光、镜片水平运动、垂直运动、那样它们占用的通道就是6个。由此可以看出，通道的概念还是传统灯光控制回路演变而来的，只不过现代灯具是将多个通道汇集在一台设备上统一控制的。当然，灯具越高级、越复杂、动作越多，占用的通道数就可能越多，对灯光控制台的要求也越高。比如：一台108个光路，具有数字输出的调光台，它要想控制具有12个通道的电脑灯，那样它最多只能控制9台这种灯具，怎样去控制就是信号和地址分配的问题了。 灯光控制信号类型