晶粒度图片
45H-200X-1
1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.P
Ｌ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数
P: 测量直线上的截点Ｌ: 测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距一栏）截点的计算: 计算截点时注意:
1测量线段终点不是截点不予计算;
2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;
3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;
4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;
5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.
2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) –3.288
45H-200X-2
1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.P
Ｌ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数
P: 测量直线上的截点数Ｌ: 测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:
1测量线段终点不是截点不予计算;
2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;
3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;
4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;
5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.
2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288
45H-200X
1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.P
Ｌ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数
P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:
1测量线段终点不是截点不予计算;
2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;
3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;
4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;
5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.
2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288
45H-200X-4
1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.P
Ｌ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数
P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:
1测量线段终点不是截点不予计算;
2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;
3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;
4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;
5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.
2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288
45H-200X-5
1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.P
Ｌ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数
P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:
1测量线段终点不是截点不予计算;
2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;
3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;
4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;
5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.
2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288
45H-200X-6
1 截点法公式：Ｌ= Ｌ/M.P
Ｌ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数
P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:
1测量线段终点不是截点不予计算;
2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;
3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;
4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;
5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.
2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288
45H -200X-7
1 截点法公式：Ｌ= Ｌ /M.P
Ｌ:所使用的测量线段长度(mm), M: 观测用的放大倍数
P: 测量直线上的截点数Ｌ测量面上晶粒截距的平均值（查表平均截距）截点的计算: 计算截点时注意:
1测量线段终点不是截点不予计算;
2 终点正好接触到晶界时,计为0.5个截点;
3 测量线段与晶界相切时, 计为1个截点;
4 明显的与三个晶粒汇合点重合时,计为1.5个截点;
5 在不规则晶粒形状下,测量线在同一晶粒边界不同部位产生的两个截点;后又伸入形成新的截点, 计算截点时应包括新的截点.
2 平均晶粒度级别数G的计算：G=6.643856lg(M.P/L) – 3.288
ASTM平均晶粒度标准测试方法
A S T M平均晶粒度标准测 试方法 Document serial number【NL89WT-NY98YT-NC8CB-NNUUT-NUT108】
名称：E112-96（2004年重新核准） ——平均晶粒度标准测试方法1 这一标准是根据E112条款颁布的；E112之后紧跟的数字表示最初编辑的年份，或者表示最后修改的年份（如果有修改），括号内数字（如果有的话）则表示最终批准的年份，上标ε1表示从最后修改或批准之日起的一次编辑更换。 该标准被国防部各相关部门认可使用。 简介 这些金属平均晶粒度测试方法根本上是测量过程。因为这一过程完全是独立于金属及其合金材料的几何学问题。实际上，这些基本方法也应用于评估非金属的平均晶粒、晶体及晶胞尺寸。如果材料组织结构接近于标准对比图谱中的某一个图的话，可以采用对比法。截距法和求积法也经常应用于确定平均晶粒度。然而，对比法不能应用于单个晶粒的测量。 1 范围 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。 本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见 E1382。
ASTM平均晶粒度标准测试方法
名称：E112-96（2004年重新核准） ——平均晶粒度标准测试方法1 这一标准是根据E112条款颁布的；E112之后紧跟的数字表示最初编辑的年份，或者表示最后修改的年份（如果有修改），括号内数字（如果有的话）则表示最终批准的年份，上标ε1表示从最后修改或批准之日起的一次编辑更换。 该标准被国防部各相关部门认可使用。 简介 这些金属平均晶粒度测试方法根本上是测量过程。因为这一过程完全是独立于金属及其合金材料的几何学问题。实际上，这些基本方法也应用于评估非金属的平均晶粒、晶体及晶胞尺寸。如果材料组织结构接近于标准对比图谱中的某一个图的话，可以采用对比法。截距法和求积法也经常应用于确定平均晶粒度。然而，对比法不能应用于单个晶粒的测量。 1 范围 1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量 1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。 1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。 1.4 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见E1382。 1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。 1.6 测量数值应用SI单位表示。等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值. 1.7 本标准没有列出所有的安全事项。本标准的使用者应建立适合的安全健康的操作规范和使用局限性。 1.8 章节的顺序如下：
平均晶粒度概念
平均晶粒度概念 表示晶粒大小的尺度叫晶粒度。 晶粒度可用晶粒的平均面积或平均直径表示。工业生产上采用晶粒度等级来表示晶粒大小。标准晶粒度共分8级，1-4级为粗晶粒，5-8级为细晶粒。 一般晶粒度越大，也就是越细越好 钢的晶粒度按其奥氏体化条件与长大倾向刁又分成起始晶粒度、实际晶粒度、本质晶粒度三起始晶粒度指钢在临界温度以上加热，奥化过程中最初形成的奥氏体晶粒的晶粒度，即奥转变刚刚完成，其晶粒边界开始接触时的晶粒大，J 称初生晶粒度。实际晶粒度指某一实际条件下所得到的实粒大小。本质晶粒度只代表在某一条件下，奥氏体的长大倾向。 一、晶粒大小与力学性能的关系： 晶粒大小对材料的性能影响很大，实践证明，材料的屈服强度σs与晶粒直径d符合Hall-Petch公式：σs =σ0 + K d1/2 式中，σ0和K 是两个与材料有关的常数。 可见，晶粒越细小，材料的强度越高。不仅如此，晶粒细小还可以提高材料的塑性和韧性。 奥氏体的晶粒大小对钢随后的冷却转变及转变产物的组织和性能都有重要影响。通常，粗大的奥氏体晶粒冷却后得到粗大的组织，其力学性能指标较低。需要了解奥氏体晶粒度的概念以及影响奥氏体晶粒度的因素。
二、奥氏体晶粒度的概念： 奥氏体晶粒大小是用晶粒度来度量的。可用晶粒直径、单位面积中的晶粒数等方法来表示晶粒大小。晶粒度的评定一般采用比较法，即金相试样在放大100倍的显微镜下，与标准的图谱相比。YB27-77将钢的奥氏体晶粒度分为8级，1级最粗，8级最细(见P208图）。0级以下为超粗晶粒，8级以上超细晶粒。 奥氏体晶粒度级别（N）： 生产上用晶粒度N表示晶粒大小，晶粒度级别与晶粒的大小有如下关系：n = 2N-1 式中n表示放大100倍时，1平方英寸（645.16㎜2）上的晶粒数。n越大，N越大，晶粒越细。n0= 2N+3式中n0表示放大1倍时，1平方毫米上的晶粒数。 几个概念：起始晶粒度、本质晶粒度、实际晶粒度 1、起始晶粒度:奥氏体转变刚刚完成，即奥氏体晶粒边界刚刚相互接触时的奥氏体晶粒大小称为起始晶粒度。通常情况下，起始晶粒度总是比较细小、均匀的。起始晶粒大小取决于形核率和长大速度。加热转变终了时所得A晶粒度称为起始晶粒度。n0 = 1.01（I/V）1/2 式中：I-形核率，V-长大速度。 2、本质晶粒度:根据YB27-64试验方法，即在930±10℃，保温3~8h后测定的奥氏体晶粒大小称为本质晶粒度。如晶粒度为1~4级，称为本质粗晶粒钢，晶粒度为5~8级，则为本质细晶粒钢。本质晶粒度表示在规定的加热条件
奥氏体晶粒度测定
奥氏体晶粒 氏体是碳在γ-Fe中的间隙固溶体，具有面心立方结构。由于体积因素的限制（碳原子半径为0.077nm，而γ-Fe晶体结构的最大间隙即八面体间隙半径为0.053nm），碳在γ-Fe 中的最大固溶度只有2.11%（质量分数）。[1] 中文名 奥氏体晶粒 外文名 austenite grain 意义 钢在奥氏体化时所得到的晶粒 尺寸 奥氏体晶粒度 目录 ?分类 ?显示方法 ?测定方法 ?影响因素 奥氏体晶粒(austenite grain) 钢在奥氏体化时所得到的晶粒。此时的晶粒尺寸称为奥氏体晶粒度。 分类 奥氏体晶粒有起始晶粒、实际晶粒和本质晶粒3种不同的概念。 (1)起始晶粒。指加热时奥氏体转变过程刚刚结束时的晶粒，此时的晶粒尺寸称为奥氏体起始晶粒度。 (2)实际晶粒。指在热处理时某一具体加热条件下最终所得的奥氏体晶粒，其尺寸大小即为奥氏体实际晶粒度。
(3)本质晶粒。指各种钢加热时奥氏体晶粒长大的倾向，晶粒容易长大的称本质粗晶粒，晶粒不易长大的称本质细晶粒。通常在实际金属热处理条件下所得到的奥氏体晶粒大小，即为该条件下的实际晶粒度，而一系列实际晶粒度的测得即表示出该钢材的本质晶粒度。据中国原冶金工业部标准YB27—77规定，测定奥氏体本质晶粒度是将钢加热到930℃，保温3～8h后进行。因此温度略高于一般热处理加热温度，而相当于钢的渗碳温度，经此正常处理后，奥氏体晶粒不过分长大者，即称此钢为本质细晶粒钢。 显示方法 绝大部分钢的奥氏体只是在高温下才是稳定的。因此欲测定奥氏体晶粒就得设法将高温状态奥氏体轮廓的痕迹在室温下显示出来，常用的显示奥氏体晶粒的方法可归纳为渗入外来元素法、化学试剂腐蚀法和控制冷却速度法3种。 (1)渗入外来元素法。如渗碳法和氧化法，是利用奥氏体晶界优先形成渗碳体和氧化亚铁等组成物，形成网络显示出奥氏体轮廓。渗碳法一般适用于不高于0.3%c的渗碳钢和含不高于0.6%c而含碳化物元素较多的其他类型钢。氧化法却适用于任何结构钢和工具钢。 (2)化学试剂腐蚀法。钢材经不同温度的淬火一回火处理后，磨光并用饱和苦味酸水溶液和新洁尔灭几滴浸蚀能抑制马氏体组织，促使奥氏体晶界的显示。或者直接用盐酸1～ 5mL、苦味酸(饱和的)和乙醇浸蚀，使马氏体直接显示出来，利用马氏体深浅不同和颜色的差异而显示出奥氏体的晶粒大小，此法适用于合金化程度高的能直接淬硬的钢。 (3)控制冷却速度法。低碳钢、亚共析钢、共析钢、过共析钢可控制冷却速度使钢的奥氏体周围先共析析出网状铁素体、网状渗碳体，或使屈氏体沿晶界少量析出以显示出奥氏体晶粒。 测定方法 测定奥氏体晶粒度常用比较法和统计法。比较法测定奥氏体晶粒度是根据YB27—77 级别图与之相比较。标准晶粒度分8级，1～4级属粗晶粒，5～8级属细晶粒，8级以上的10～13级为超细晶粒。此法均在100倍显微镜下观察。晶粒度级别N与晶粒大小之间符合n=2或n’=2的关系，式中n为在放大100倍下观察时，每6.45mm视野中的平均晶粒数；n’为实际每1mm面积中平均晶粒数。若出现过粗或过细晶粒，需在50倍或大于100倍的显微镜下观察进行换算。表1为换算为100倍的晶粒度表。统计法实际为测定晶粒的平均直径法。表2为晶粒度与其他晶粒大小表示法的比较。 ①为了避免在晶粒号前出现“—”号，有人把—3、—2、—1等晶粒号改为0000、000、00号。
ASTM E112-10 平均晶粒度标准 -中文
金属平均晶粒度测定方法 1 范围 1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量 1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定式样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。 1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。 1.4 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见E1382。 1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。1.6 测量数值应用SI单位表示。等同的英寸－英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值. 1.7 本标准没有列出所有的安全事项。本标准的使用者英建立适合的安全健康的操作规范和使用局限性。 1.8 章节的顺序如下： 章节Number 范围 1 参考文献 2 术语 3 重要性和用途 4 使用概述 5 制样 6 测试7 校准8 显微照相的准备9 程序比较10
平面法（JEFFRIES）11 普通截取法12 海恩线截取法13 圆形截取法14 Hilliard 单环法14．2 Abrams 三环法14．3 统计分析15 非等轴晶试样16 含两相或多相及组元试样17 报告18 精度和偏差19 关键词20 附件 ASTM晶粒尺寸等级基础附件A1 晶粒度各测量值之间的换算附件A2 铁素体与奥氏体钢的奥氏体晶粒尺寸附件A3 断口晶粒尺寸方法附件A4 锻铜和铜基合金的要求附件A5 特殊情况的应用附件A6 附录 多个实验室的晶粒尺寸判定结果附录X1 参考附件附录X2 2、参考文献 2.1ASTM标准 E3 金相试样的准备 E7 金相学有关术语 E407 微蚀金属和合金的操作 E562计数法计算体积分数的方法
晶粒度
摘要: 对YB797-1971《单相铜合金晶粒度测量方法》中的比较法、直测计算法和面积法在α单相铜合金晶粒度测量中的优缺点进行了分析：指出了晶粒度测量置信度的计算中应注意的问题,指出计算机分析晶粒度系统是今后的发展方向。 1 引言 铜及铜合金是一种广泛应用的金属材料。铜合金由α单相组织构成时称为α单相铜合金,在加工过程中一般要经过火焰钎焊加工，火焰钎焊温度远远超过其再结晶温度,所以晶粒容易长大。合金的晶粒度直接关系到材料的力学性能和加工性能,所以晶粒度的控制和测量十分重要。作者结合多年从事该类单相铜合金晶粒度的测定工作,介绍实际测量中的一些经验和同行们进一步探讨。 2 晶粒度的测定方法 晶粒度表示方法有多种，可以使用长度、面积、体积或晶粒度指数来表示,常用的有平均直径、平均截距、晶粒公称直径、晶粒弗里特直径、平均晶粒截面面积、单位体积晶粒数和晶粒级别指数G等。测量晶粒度时,首先应当明确晶粒度的测定并非一项十分精确的测量，因为金属组织是由不同形状和尺寸的三维晶粒堆积而成：即使这些晶粒的尺寸和形状相同,通过该组织的任一截面(检验面)上分布的晶粒大小将是从最大值到零之间变化，因此，在检验面上不可能有绝对大小均匀的晶粒分布，也不可能有两个完全相同的检验面。目前国内很多单位仍然采用原冶金部颁布的YB797-1971《单相铜合金晶粒度测量方法》，该标准规定单相铜合金的晶粒度以晶粒的平均直径来表示。这也是多年以来对与该类合金晶粒度普遍使用的表示方法;标准规定显微镜放大倍数为100倍时，按晶粒平均直径的大小将晶粒度分成为0.010，0.015，0.020，0.025，01030，0.035，0.045，0.055，0.065，0.075，0.090，0.010，0.130，0.150，0.180(mm)15个等级，并给出了标准级别图。标准介绍了比较法、直测计算法和面积计算法等三种方法。2.1 比较法 该法通过选择与标准级别图相同的放大倍数，与相应的标准级别图进行直接比较,选取与试样图像最接近的级别作为评定结果。当晶粒度超出标准级别范围时，可采取缩小或放大显微镜放大倍数来观察(标准规定缩小的倍数为50×、放大的倍数为200×)，然后与标准级别图相比较，得出相应放大倍数下的实际晶粒度的等级。 比较法的最大优点是简便,其精确度一般可满足生产检验的要求，特别是当晶粒形貌与标准评级图形貌完全相似时，评级误差最小。它的明显缺点是受人为因素影响大，不同的测定得出的结果可能会不同。如需复检，应改变观察的放大倍数，以克服初检结果可能带来的主观偏见。不同观测者的测量结果允许在预定的置信度区间内有差异，如果对所测结果有争议，则规定采用截点法作为仲裁方法。 2.2 直测计算法 直测计算法又称截点法。该方法是通过规定长度测量网格上的晶界截点数来测定晶粒度的一种方法。根据测量网格的不同,截点法又可细分为直线截点法、单圆截点法和三圆截点法。YB797-1971标准中使用的是直线截点法,在适当放大倍数下,进行全面观察,选好具有代表性的
奥氏体晶粒度测定
实验钢的奥氏体晶粒度的测定 在钢铁等多晶体金属中，晶粒的大小用晶粒度来衡量，其数值可由下式求出: 式中：n —显微镜放大100倍时，6.45cm 2⑴n 2 ）面积内晶粒的个数。 N —晶粒度 奥氏体晶粒的大小称奥氏体晶粒度。钢中奥氏体晶粒度，一般分为 1?8等8个等级。其中 1级晶粒度晶粒最粗大，8级最细小（参看 YB27 —64）。 奥氏体晶粒的大小对以后冷却过程中所发生的转变以及转变所得的组织与性能都有极 大的影响。因此，研究奥氏体晶粒度的测定及其变化规律在科学研究及工业生产中都有着重 要的意义。 一、奥氏体晶粒度的一般概念 奥氏体晶粒按其形成条件不同， 通常可分为起始晶粒、 实际晶粒与本质晶粒三种， 它们 的大小分别以起始晶粒度，实际晶粒度与本质晶粒度等表示。 1、起始晶粒度 在临界温度以上，奥氏体形成刚刚结束时的晶粒尺寸， 称起始晶粒度。起始晶粒度决定 于奥氏体转变的形核率（n ）及线生长速度（c ）。每一平方毫米面积内奥氏体晶粒的数目 N 与n 及c 的关系为 N =1.01 -[ 2. 丿 由上式可知，若n 大而c 小，则起始晶粒就细小。若 n 小而c 大则起始晶粒就粗大。 在一般情况下n 及c 的数值决定于原始组织的形态和弥散程度以及加热时的加热速度等 因素。 由于在珠光体中存在着大量奥氏体形核部位， n 极大。故奥氏体的起始晶粒总是比较细 小的。如果加热速度快，则转变被推向高温，奥氏体起始晶粒将更加细化。这是因为，随着 加热速度的增大和转变温度的升高， 虽然形核n 和c 都增大，但n 比c 增加的幅度更大。 表 1 — 6示出钢在加热时，奥氏体的 n 与c 数值与加热温度的关系，由表 1 —6中的数据可知。 相变温度从740 C 提高到800C 时n 增大280倍而c 仅增加40倍。 表 — 奥氏体形核（）和线生长速度（）与温度的关系 应当指出，奥氏体起始晶粒随加热速度的增大而细化的现象，只是在加热速度不太大时比 较明显。当加热速度很大时起始晶粒不再随之细化（见表 1— 7） 表— 力口热速度对起始奥氏体晶粒大小的影响
平均晶粒度-金属材料的平均晶粒度标准测试方法
平均晶粒度-金属材料的平均晶粒度标准测试方法名称:E112-96(2004年重新核准) 1——平均晶粒度标准测试方法 这一标准是根据E112条款颁布的;E112之后紧跟的数字表示最初编辑的年份，或者表示最后修改的年份(如果有修改)，括号内数字(如果有的话)则表示最终批准的年份，上 1标ε表示从最后修改或批准之日起的一次编辑更换。 该标准被国防部各相关部门认可使用。 简介 这些金属平均晶粒度测试方法根本上是测量过程。因为这一过程完全是独立于金属及其合金材料的几何学问题。实际上，这些基本方法也应用于评估非金属的平均晶粒、晶体及晶胞尺寸。如果材料组织结构接近于标准对比图谱中的某一个图的话，可以采用对比法。截距法和求积法也经常应用于确定平均晶粒度。然而，对比法不能应用于单个晶粒的测量。 1 范围 1.1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用晶粒形状与标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织，但经具体规定后也适用于多相或多组元和试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量 1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。双峰分布的晶粒度参见标准E1181。测定分布在细小晶粒基体上个别非常粗大的晶粒的方法参见E930。 1.3本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量，也就是试样截面显示出的二维晶度，不适用于试样三维晶粒，即立体晶粒尺寸的测量。
1.4 试验可采用与一系列标准晶粒度图谱进行对比的方法或者在简单模板上进行计数的方法。利用半自动计数仪或者自动分析晶粒尺寸的软件的方法参见 E1382。 1.5本标准仅作为推荐性试验方法，它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。 1.6 测量数值应用SI单位表示。等同的英寸,英镑数值，如需标出，应在括号中列出近似值. 1.7 本标准没有列出所有的安全事项。本标准的使用者应建立适合的安全健康的操作规范和使用局限性。 1.8 章节的顺序如下: 章节顺序 1 范围 2 参考文献 3 术语 4 重要性和用途 5 使用概述 6 制样 7 测试 8 校准 9 显微照相的准备 10 程序比较 11 平面法(JEFFRIES) 12 普通截取法 13 海恩线截取法 14 圆形截取法 Hilliard 单环法 14(2 Abrams 三环法 14(3