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电子产品可靠性试验国家标准清单

电子产品可靠性试验国家标准清单
电子产品可靠性试验国家标准清单

电子产品可靠性试验国家标准清单

GB/T 15120.1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印

GB/T 14598.2-1993 电气继电器有或无电气继电器

GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法

GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则

GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制

GB/T 7347-1987 汉语标准频谱

GB/T 7348-1987 耳语标准频谱

GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语

GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则

GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法

GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则

GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布)

GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求

GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则

GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案

GB/T 5080.6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验

GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南

GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南

GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法

GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序

GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟

GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟

GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南

GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言

GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求

GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲

GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究

GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验

GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示

GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法

GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

GB/T 7349-1987 高压架空输电线变电站无线电干扰测量方法

GB/T 7432-1987 同轴电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标

GB/T 7433-1987 对称电缆载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标

GB/T 7434-1987 架空明线载波通信系统抗无线电广播和通信干扰的指标

GB 7495-1987 架空电力线路与调幅广播收音台的防护间距

GB 9254-1988 信息技术设备的无线电干扰极限值和测量方法

GB/T 9382-1988 彩色电视广播接收机可靠性验证试验贝叶斯方法

GB/T 12190-1990 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法

GB/T 12776-1991 机动车辆点火系统干扰抑制方法及抑制器插入损耗的测量和允许值GB/* 9307-1988 彩色显像管包装

GB/* 9380-1988 彩色电视广播接收机包装

GB/T 7450-1987 电子设备雷击保护导则

GB/* 9381-1988 电视广播接收机运输包装件试验方法

GB 8898-1988 电网电源供电的家用和类似一般用途的电子及有关设备的安全要求GB/T 9361-1988 计算机场地安全要求

GB 9378-1988 广播电视演播系统的视音频和脉冲设备安全要求

GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法

GB/* 2776-1981 电子元件单孔安装轴套型式与尺寸

GB/T 4210-1984 电子设备用机电元件名词术语

GB/T 5076-1985 具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量

GB/T 5077-1985 电容器和电阻器的最大外形尺寸

GB/T 5078-1985 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法

GB/T 5095.1-1985 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第一部分: 总则

GB/T 5095.2-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分: 一般检查电连续性接触电阻测试绝缘试GB/T 5095.3-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第三部分: 载流容量试验

GB/T 5095.4-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分: 动态应力试验

GB/T 5095.5-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分: 撞击试验(自由元件) 静负荷试验(固定试验

GB/T 5095.8-1986 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第八部分: 连接器接触件及接端的机械试验

GB/T 5095.9-1986电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第九部分: 电缆夹紧试验爆炸危险性试验耐化学腐频电阻试验电容试验屏蔽与滤波试验磁干扰试验

GB/T 6591-1986 电子设备用电容器和电阻器名词术语

GB/T 11250.1-1989 复合金属覆层厚度的测定金相法

GB/T 11250.2-1989 复合金属覆层厚度的测定X荧光法

GB/T 11250.3-1989 复合金属覆镍层厚度的测定容量法

GB/T 11250.4-1989 复合金属覆铝层厚度的测定重量法

GB/* 12080-1989 真空电容器引出环尺寸系列

GB/* 12081-1989 可变真空电容器转动圈数系列

GB/T 2472-1981 电子设备用固定式电容器工作电压系列

GB/T 2473-1981 电子设备用矩形金属外壳电容器外形尺寸系列

GB/T 2474-1981 电子设备用圆形金属外壳电容器外形尺寸系列

GB/T 2693-1990 电子设备用固定电容器第一部分: 总规范

GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法

GB/T 4165-1984 电子设备用可变电容器的使用导则

GB/T 4166-1984 电子设备用可变电容器的试验方法

GB/T 4874-1985 直流固定金属化纸介电容器总规范

GB/* 4875.1-1985 CJ10型直流固定金属化纸介电容器详细规范

GB/* 4875.2-1985 CJ11型直流固定金属化纸介电容器详细规范

GB/* 4875.3-1985 CJ30型直流固定金属化纸介电容器详细规范

GB/* 4875.4-1985 CJ40型直流固定金属化纸介电容器详细规范

GB/* 4875.5-1985 CJ41型直流固定金属化纸介电容器详细规范

GB/T 5966-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 分规范: 1 类瓷介固定电容器

GB/T 5967-1986 电子设备用固定电容器第八部分: 空白详细规范: 1 类瓷介固定电容器评定水平E(可供认证用) GB/T 5968-1986 电子设备用固定电容器第九部分: 分规范: 2 类瓷介固定电容器(可供认证用)

GB/T 5969-1986电子设备用固定电容器第九部分: 空白详细规范: 2 类瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5970-1986 电子元器件详细规范CT1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 5971-1986 电子元器件详细规范CC1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)

GB/T 5993-1986 电子设备用固定电容器第四部分: 分规范固体和非固体电解质铝电容器(可供认证用)

GB/T 5994-1986电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 5995-1986 电子元器件详细规范CD11型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/T 6252-1986 电子设备用A类调谐可变电容器类型规范

GB/T 6253-1986 电子设备用B类微调可变电容器类型规范

GB/T 6254-1986 电子设备用C类预调可变电容器类型规范

GB/T 6261-1986电子设备用固定电容器第五部分: 分规范额定电压不超过3000V的固定直流云母电容器(可供认证GB/T 6262-1986 电子设备用固定电容器第五部分: 空白详细规范固定云母电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 6263-1986 电子元器件详细规范CY-0 1 2 3 固定云母电容器评定水平E (可供认证用)

GB/T 6347-1986电子设备用固定电容器第11部分: 空白详细规范: 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流E(可供认证用)

GB/* 6348-1986电子元器件详细规范CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6349-1986电子元器件详细规范CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 6350-1986电子元器件详细规范CL12型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平E GB/* 7207-1987 电子元器件详细规范CD10型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 7208-1987 电子元器件详细规范CD13型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 7209-1987 电子元器件详细规范CD15型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 7210-1987 电子元器件详细规范CD19型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 7211-1987 电子元器件详细规范CD26型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 7212-1987 电子元器件详细规范CD27型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/T 7213-1987 电子设备用固定电容器第十五部分: 分规范非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用)

GB/T 7214-1987电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范固定电解质和多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/* 7215-1987 电子元器件详细规范CA42型固体电解质固定钽电容器评定水平E (可供认证用)

GB/T 7332-1987 电子设备用固定电容器第二部分: 分规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器(可供认证用)

GB/T 7333-1987电子设备用固定电容器第二部分: 空白详细规范: 金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可GB/* 7334-1987 电子元器件详细规范CL20型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 7335-1987 电子元器件详细规范CL21型金属化聚酯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 7336-1987 电子元器件详细规范CC52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)

GB/* 7337-1987 电子元器件详细规范CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)

GB/* 8555-1987 CKTB 400/7.5/60 型可变陶瓷真空电容器

GB/T 9320-1988 电子设备用固定电容器第八部分(1): 分规范1类高压瓷介电容器(可供认证用)

GB/T 9321-1988电子设备用固定电容器第八部分(1): 空白详细规范1 类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用GB/T 9322-1988 电子设备用固定电容器第九部分(1): 分规范2 类高压瓷介电容器(可供认证用)

GB/T 9323-1988电子设备用固定电容器第九部分(1): 空白详细规范2类高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 9324-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 分规范多层片状瓷介电容器(可供认证用)

GB/T 9325-1988 电子设备用固定电容器第十部分: 空白详细规范: 多层片状瓷介电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9583-1988 电子元器件详细规范CA型固体电解固定钽电容器

GB/T 9597-1988 电子设备用固定电容器分规范: 1类高功率瓷介电容器(可供认证用)

GB/T 9598-1988 电子设备用固定电容器空白详细规范: 1 类高功率瓷介电容器评定水平E(可供认证用)

GB/* 9599-1988 电子元器件详细规范CC81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 9600-1988 电子元器件详细规范CT81型高压瓷介电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 9604-1988 电子元器件详细规范CD288型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 9605-1988 电子元器件详细规范CD289型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 9606-1988 电子元器件详细规范CBB13 型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/* 9607-1988 电子元器件详细规范CD30型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 9608-1988 电子元器件详细规范CD110型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 9609-1988 电子元器件详细规范CD291, CD292, CD293 型固定铝电解电容器(可供认证用)

GB/* 9610-1988 电子元器件详细规范CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 10185-1988 电子设备用固定电容器第7部分:分规范: 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10186-1988电子设备用固定电容器第7部分: 空白详细规范:金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/* 10187-1988 电子元器件详细规范CB14型金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E (可供认证用)

GB/T 10188-1988 电子设备用固定电容器第13部分: 分规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10189-1988电子设备用固定电容器第13部分: 空白详细规范: 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水GB/T 10190-1988 电子设备用固定电容器第16部分: 分规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(可供认证用) GB/T 10191-1988电子设备用固定电容器第16部分: 空白详细规范: 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 11300-1989 电子设备用A 类调谐可变电容器空白详细规范

GB/T 11301-1989 电子设备用装有整体C 类预调电容器的A 类调谐可变电容器空白详细规范

GB/T 11302-1989 电子设备用B 类微调可变电容器空白详细规范

GB/T 11303-1989 电子设备用C 类预调可变电容器空白详细规范

GB/T 11304-1989 电子设备用固定电容器第四部分: 空白详细规范固体电解质铝电容器评定水平E (可供认证用) GB/T 11305-1989 电子设备用固定电容器分规范: 3 类瓷介电容器(可供认证用)

GB/T 11306-1989 电子设备用固定电容器空白详细规范: 3 类瓷介电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 11307-1989 电子元器件详细规范CS1 型瓷介固定电容器评定水平E (可供认证用)

GB/* 11308-1989 电子元器件详细规范CH11型金属箔式聚酯- 聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E

GB/T 14005-1992电子设备用固定电容器第六部分: 空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平GB/T 12775-1991 电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范

GB/T 12794-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质箔电极钽电容器评定水平E(可供GB/T 12795-1991电子设备用固定电容器第十五部分: 空白详细规范非固体电介质多孔阳极钽电容器评定水平E(可GB/T 14004-1992 电子设备用固定电容器第六部分: 分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器

GB/T 5730-1985 电子设备用固定电阻器第二部分: 分规范低功率非线绕固定电容器(可供认证用)

GB/T 5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分: 空白详细规范: 低功率非线绕固定电阻器评定水平E (可供认证GB/T 5732-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 分规范功率型固定电阻器(可供认证用)

GB/T 5733-1985 电子设备用固定电阻器第四部分: 空白详细规范功率型固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 5734-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 分规范精密固定电阻器(可供认证用)

GB/T 5735-1985 电子设备用固定电阻器第五部分: 空白详细规范精密固定电阻器评定水平E (可供认证用)

GB/* 5834-1986 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 5873-1986电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ14型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7016-1986 固定电阻器电流噪声测量方法

GB/T 7017-1986 电阻器非线性测量方法

GB/* 7275-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/T 7338-1987 电子设备用固定电阻器第六部分: 分规范各电阻器可单独测量的固定电阻网络(可供认证用)

GB/T 7339-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值和功耗相同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)

GB/T 7340-1987电子设备用固定电阻器第六部分: 空白详细规范阻值和功耗不同, 各电阻器可单独测量的固定电阻认证用)

GB/* 8551-1987 电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器评定水平E (可供认证用) GB/* 8552-1987电子元器件详细规范低功率非线绕固定电阻器RJ13型金属膜固定电阻器评定水平E (可供认证用)

GB/T 12276-1990 电子设备用固定电阻器第七部分: 分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) GB/T 12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分: 空白详细规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平GB/T 6663-1986 直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)

GB/T 6664-1986 直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E(可供认证用)

GB/* 6665-1986 电子元器件详细规范MF11型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平E

GB/* 6666-1986 电子元器件详细规范MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器评定水平E

GB/T 7153-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)

GB/T 7154-1987 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范评定水平E (可供认证用)

GB/T 10193-1988 电子设备用压敏电阻器第一部分: 总规范(可供认证用)

GB/T 10194-1988 电子设备用压敏电阻器第二部分: 分规范浪涌抑制型压敏电阻器(可供认证用)

GB/T 10195-1988电子设备用压敏电阻器第二部分: 空白详细规范浪涌抑制型压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/* 10196-1988电子元器件详细规范浪涌抑制用压敏电阻器MYG1型过压保护压敏电阻器评定水平E (可供认证用GB/T 13189-1991 旁热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用)

GB/T 4596-1984 电子设备用三相变压器E型铁心

GB/T 8554-1987 电子和通信设备用变压器和电感器测试方法和试验程序

GB/T 9632-1988 通信用电感器和变压器磁芯测量方法

GB/T 11441-1989 通信和电子设备用变压器和电感器铁心片

GB/T 14006-1992 通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第一部分: 采用YEI-1铁心片的变压器和电感器

GB/T 2414-1980 压电陶瓷材料性能测试方法圆片的径向伸缩振动长条的横向长度伸缩振动GB/T 3351-1982 人造石英晶体的型号命名

GB/T 3388-1982 压电陶瓷材料型号命名方法

GB/T 3389.1-1982 压电陶瓷材料性能测试方法常用名词术语

GB/T 3389.2-1982 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d33的静态测试

GB/T 3389.3-1982 压电陶瓷材料性能测试方法居里温度Tc的测试

GB/T 3389.4-1982 压电陶瓷材料性能测试方法柱体纵向长度伸缩振动模式

GB/T 3389.6-1982 压电陶瓷材料性能测试方法长方片厚度切变振动模式

GB/T 3389.7-1986 压电陶瓷材料性能测试方法强场介电性能的测试

GB/T 3389.8-1986 压电陶瓷材料性能测试方法热释电系数的测试

GB/T 6426-1986 铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法

GB/T 6427-1986 压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法

GB/T 6627-1986 人造石英晶体棒材型号命名方法

GB/T 6628-1986 人造石英晶体棒材

GB/T 9532-1988 铌酸锂钽酸锂锗酸铋硅酸铋压电单晶材料型号命名方法

GB/T 11113-1989 人造石英晶体中杂质的分析方法

GB/T 11114-1989 人造石英晶*错的X 射线形貌检测方法

GB/T 11309-1989 压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d@33的准静态测试

GB/T 11310-1989 压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试

GB/T 11311-1989 压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试

GB/T 11312-1989 压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法

GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试

GB/T 11387-1989 压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法

GB/T 12633-1990 压电晶体性能测试术语

GB/T 12634-1990 压电晶体电弹常数测试方法

GB/T 12864-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)

GB/T 12865-1991电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范调幅无线电设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认GB/T 12866-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器分规范通信设备用压电陶瓷滤波器(可供认证用)

GB/T 12867-1991 电子设备用压电陶瓷滤波器空白详细规范通信设备用压电陶瓷滤波器评定水平E (可供认证用) GB/T 9623-1988 通信用电感器和变压器磁芯第一部分: 总规范(可供认证用)

GB/T 9624-1988 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 分规范电感器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)

GB/T 9625-1988通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 空白详细规范电感器用磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认GB/T 9626-1988 通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 分规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯(可供认证用)

GB/T 9627-1988通信用电感器和变压器磁芯第三部分: 空白详细规范宽带变压器用磁性氧化物磁芯评定水平A和GB/T 9628-1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 分规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯(可供认证用GB/T 9629-1988通信用电感器和变压器磁芯第四部分: 空白详细规范电源变压器和扼流圈用磁性氧化物磁芯评定

GB/T 9630-1988 磁性氧化物制成的罐形磁芯及其附件的尺寸

GB/* 9631-1988 电子元器件详细规范UYF10 磁性氧化物磁芯评定水平A (可供认证用) GB/T 9634-1988 磁性氧化物零件外形缺陷极限规范的指南

GB/T 9635-1988 天线棒测量方法

GB/T 9636-1988 磁性氧化物制成的圆天线棒和扁天线棒

GB/T 10192-1988 磁性氧化物制成的螺纹磁芯的尺寸

GB/T 11433-1989 磁性氧化物制成的管针柱磁芯的尺寸

GB/T 11434-1989 铁氧体原材料化学分析方法

GB/T 11435-1989 铁氧体交流消音头磁芯

GB/T 11436-1989 软磁铁氧体材料成品半成品化学分析方法

GB/T 11437-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范(可供认证用)

GB/T 11438-1989 广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A (可供认证用) GB/* 11439-1989 通信用电感器和变压器磁芯第二部分: 性能规范起草导则

GB/* 11440-1989 微波铁氧体规范起草导则

GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规范(可供认证用)

GB/T 12797-1991 微电机用永磁铁氧体磁体分规范(可供认证用)

GB/T 12798-1991 磁性氧化物或铁粉制成的轴向引线磁芯

GB/T 6429-1986 石英谐振器型号命名方法

GB/T 6430-1986 晶体盒型号命名方法

GB/T 8553-1987 晶体盒总规范

GB/T 12273-1990 石英晶体元件总规范(可供认证用)

GB/T 12274-1990 石英晶体振荡器总规范(可供认证用)

GB/T 12275-1990 石英晶体振荡器型号命名方法

GB/T 12859-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器总规范(可供认证用)

GB/T 12860-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范低频压电陶瓷谐振器

GB/T 12861-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范低频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 12862-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器分规范高频压电陶瓷谐振器(可供认证用)

GB/T 12863-1991 电子设备用压电陶瓷谐振器空白详细规范高频压电陶瓷谐振器评定水平E(可供认证用) GB/T 9537-1988 电子设备用键盘开关第一部分: 总规范(可供认证用)

GB/* 5818-1986 音响设备用圆形连接器总规范(可供认证用)

GB/* 5819.1-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS1 型圆形连接器(可供认证用)

GB/* 5819.2-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YS2 型圆形连接器(可供认证用)

GB/* 5819.3-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YC型圆形连接器(可供认证用)

GB/* 5819.4-1986 音响设备用圆形连接器详细规范YL型圆形连接器(可供认证用)

GB/T 9020-1988 视频同轴连接器总规范

GB/* 9021.1-1988 SL10型视频连接器

GB/* 9021.2-1988 SL12型视频连接器

GB/* 9021.3-1988 SL16型视频连接器

GB/T 9024-1988 印制板用频率低于3MHz的连接器总则和制订详细规范的导则

GB/T 9538-1988 带状电缆连接器总规范

GB/* 9539-1988 电子元器件详细规范DC2型带状电缆连接器

GB/T 11313-1989 射频同轴连接器总规范

GB/* 11314-1989 N 型射频同轴连接器

GB/* 11315-1989 BNC 型射频同轴连接器

GB/* 11316-1989 SMA 型射频同轴连接器

GB/* 11317-1989 绕接技术

GB/T 12270-1990 射频同轴连接器电气试验和测试程序屏蔽效率

GB/T 12271-1990 射频同轴连接器射频插入损耗测试方法

GB/T 12272-1990 射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法

GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范

GB/* 11492-1989 FD08 FD12和FD15型间隙放电器技术条件

GB/* 11280-1989电子元器件详细规范有质量评定的有或无机电继电器试验览表3 JZC 21F 型直流电磁继电器(可供GB/T 11321-1989 波导元件模数尺寸选择指南

GB/T 11449.1-1989 波导法兰盘第一部分: 一般要求

GB/T 11449.2-1989 波导法兰盘第二部分: 普通矩形波导法兰盘规范GB/T 11449.3-1989 波导法兰盘第三部分: 扁矩形波导法兰盘规范

GB/T 11449.4-1989 波导法兰盘第四部分:圆形波导法兰盘规范

GB/T 11449.5-1989 波导法兰盘第六部分: 中等扁矩形波导法兰盘规范GB/T 11449.6-1989 波导法兰盘第七部分: 方形波导法兰盘规范

GB/T 11450.1-1989 空心金属波导第一部分: 一般要求和测量方法

GB/T 11450.2-1989 空心金属波导第二部分:普通矩形波导有关规范GB/T 11450.3-1989 空心金属波导第三部分: 扁矩形波导有关规范

GB/T 11450.4-1989 空心金属波导第四部分: 圆形波导有关规范

GB/T 11450.5-1989 空心金属波导第六部分: 中等扁矩形波导有关规范GB/T 11450.6-1989 空心金属波导第七部分: 方形波导有关规范

GB/T 11451-1989 软波导组件性能

GB/T 12774-1991 同轴电气假负载总规范

GB/T 13415-1992 射频混频器总规范

GB/T 13416-1992 射频传输线(同轴)开关总规范

GB/T 1360-1978 印制电路网格

GB/T 4588.1-1984 无金属化孔单双面印制板技术条件

GB/T 4588.2-1984 有金属化孔单双面印制板技术条件

GB/T 4588.3-1988 印制电路板设计和使用

GB/T 4588.4-1988 多层印制板技术条件

GB/T 4677.1-1984 印制板表层绝缘电阻测试方法

GB/T 4677.3-1984 印制板拉脱强度测试方法

GB/T 4677.4-1984 印制板抗剥强度测试方法

GB/T 4677.5-1984 印制板翘曲度测试方法

GB/T 4677.6-1984 金属和氧化覆盖层厚度测试方法截面金相法GB/T 4677.7-1984 印制板镀层附着力试验方法胶带法

GB/T 4677.8-1984 印制板镀涂覆层厚度测试方法反向散射法GB/T 4677.9-1984 印制板镀层孔隙率电图象测试方法

GB/T 4677.10-1984 印制板可焊性测试方法

GB/T 4677.11-1984 印制板耐热冲击试验方法

GB/T 4677.12-1988 印制板互连电阻测试方法

GB/T 4677.13-1988 印制板金属化孔电阻的变化热循环测试方法GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法

GB/T 4677.15-1988 印制板绝缘涂层耐溶剂和耐焊剂试验方法GB/T 4677.16-1988 印制板一般检验方法

GB/T 4677.17-1988 多层印制板内层绝缘电阻测试方法

GB/T 4677.18-1988 多层印制板层间绝缘电阻测试方法

GB/T 4677.19-1988 印制板电路完善性测试方法

GB/T 4677.20-1988 印制板镀层附着性试验方法摩擦法

GB/T 4677.21-1988 印制板镀层孔隙率测试方法气体暴露法GB/T 4677.22-1988 印制板表面离子污染测试方法

GB/T 4677.23-1988 印制板阻燃性能测试方法

GB/T 4721-1992 印制电路用覆铜箔层压板通用规则

GB/T 4722-1992 印制电路用覆铜箔层压板试验方法

GB/T 4723-1992 印制电路用覆铜箔酚醛纸层压板

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GB/T 4725-1992 印制电路用覆铜箔环氧玻璃布层压板

GB/T 4825.1-1984 印制板导线局部放电测试方法

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GB/T 5489-1985 印制板制图

GB/T 7613.1-1987 印制板导线耐电流试验方法

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GB/T 7613.3-1987 印制板金属化孔耐电流试验方法

GB/T 9315-1988 印制电路板外形尺寸系列

GB/* 9491-1988 锡焊用液态焊剂(松香基)

GB/* 10243-1988 多层印制板用粘结片预浸材料

GB/* 10244-1988 电视广播接收机用印制板规范

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GB/* 3661-1983 测试电容传声器技术条件

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GB/* 1956-1989 电子管型号命名方法

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电子产品可靠性试验-环境试验要点

一、可靠性理论基础 二、试验(GB) 一.总则:GB2421-2008 电工电子产品环境试验 本系列标准不涉及环境试验样品性能要求,环境试验期间和试验以后,试验样品的容许性能限值由被试验样品的相关规范规定。 基准标准大气压:20℃,101.3KPa 测量与试验标准大气压:15℃-30℃,25%RH-75%RH,86KPa-106KPa。 自由空气条件:无限大空间,空气运动只受散热试验样品本身影响,样品辐射能量全部由周围空气吸收。 散热试验样品与非散热试验样品界定:在自由空气条件和试验标准大气压下,温度稳定后测得的试验样品温度与环境温度是否大于5℃。 环境温度:是采用在试验样品之下0mm - 5 0mm的一个水平面上面,而且与试验样品和试验箱壁等距离处或者距离试样品1 m处若干温度。( 二者取温度值小的) 的平均值。应采取适当措施防止热辐射影响这些温度的测量。 热稳定:试验样品表面温度与最后所测表面温度之差<3℃(非散热试验样最后所测表面温度即试验箱温度;散热试验样品则需多次测量才能确定) A: 低温。 B: 高温 C: 恒定湿热。 D: 交变湿热 E: 冲撞( 例如冲击和碰撞) 。 F: 振动。 G: 稳态加速度。 H: 待定( 原分配在贮存试验) 。 J : 长霉。 K: 腐蚀性大气( 例如盐雾) 。 L: 砂尘。 M: 高气压或低气压 N: 温度变化。 P : 待定( 原分配在“可燃性”试验) Q: 密封( 包括板密封,容器密封与防止流体浸入和漏出的密封) 。 R: 水( 例如雨水、滴水) 。 S : 辐射( 例如太阳辐射,但不包括电磁辐射) T: 锡焊( 包括耐焊接热) 。 U: 引出端强度( 元件的)。 V: 待定( 原分配在“噪声”. 但“噪声诱发的振动”将归于试验F g ,即“振动”系列试验之一) 。W: 待定。 X:作为字头与另一个大写字母一起用于新增加的试验方法命名。例如试验XA:在清洗剂中浸渍 Y: 待定。 Z:用于表示综合试验与组合试验。方法如下:Z后面跟一斜杠和一组综合实验或组合试验相关的大写字母。例如Z/AM:试验低温和低气压综合试验。 综合试验:≥2种试验环境同时作用于试验样品。组合实验:依次连续暴露≥2种试验环境分别进行试验 试验顺序(s e q u e n c e o f t e s t s)试验样品被依次暴露到两种或两种以上试验环境中的顺序。 1 各次暴露之间的时间间隔通常对试验样品不产生明显影响 2 各次暴露之间通常要进行预处理和恢复 3 通常在每次暴露之前和之后进行检测,前一项暴露的最后检测就是下项暴露的初始检测 受控恢复条件:实际试验温度±1℃(15℃-30℃),73%RH-77%RH,86KPa-106KPa。(测量前如果要求对试验样品进行干燥,除有关规范另有规定外,应在下述的条件下干燥6 h。标准干燥条件55±2℃/<20%) 恢复条件: 条件试验后,在检测之前:试验样品应在检测环境温度下稳定;当样品试验后电气参数变化很快,应按受控恢

产品可靠性试验标准

内部机密 产品可靠性测试标准 文件版本:V1.0 江苏中讯数码电子有限公司 企业标准 文档编号 撰写人 审核人 批准人 创建时间 2010.01.01发布 2010.01.01 实施

文件修改履历

目录 一.目的 (4) 二.编制依据 (4) 三.适用范围 (4) 四.定义 (4) 五.主要职责 (4) 六.试验场所 (5) 七.可靠性测试内容 (5) 1.加速寿命测试 (5) 1.1跌落试验 (5) 1.2振动试验 (5) 1.3湿热试验 (6) 1.4静电试验 (6) 2.气候试应性测试 (7) 2.1低温试验 (7) 2.2高温试验 (7) 2.3盐雾试验 (7) 3.结构耐久测试 (8) 3.1按键/叉簧测试 (8) 3.2跌落测试 (8) 4.表面装饰测试 (8) 4.1丝印、喷油测试 (8) 5.特殊条件测试 (9) 5.1低温加电试验 (9) 5.1恒温湿热加电试验 (9) 八.最终检验 (9) 九.判断标准 (9) 十.试验程序 (10)

一 .目的 1.对产品硬件设计、制造进行验证确认符合相应国家标准; 2.在特定的可接受的环境下评估产品的质量和可靠性; 3.在特定的可接受的环境下评估产品的安全性; 4.统一并规范企业内产品硬件测试检验方法。 二.编制依据 1.GB/T2421-1999 电工电子产品环境试验第一部分:总则 2.GB/T2422-1995 电工电子产品环境试验术语 3.GB/T4796-2001 电工电子产品环境参数分类及其严酷程度分级 4.GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第1部分:试验方法试验A:低温 5.GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温 6.GB/T2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落7.GB/T2423.10-1995 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc和导则:振动8.GB/T2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验试验Ca:恒定湿热试验方法 9.GB/T2423.17-2001 电工电子产品环境试验第2部分:试验Ka盐雾试验方法 10.GB/T17626.2-1998 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 三.适用范围 1.本文件使用于中讯数码有限公司所生产的所有产品。 2.根据技术中心的要求,本标准适用于提供相应的测试环境对一些部件进行可靠性测试四.定义 为了了解、考核、评价、分析和提高产品可靠性而进行的试验。 五.主要职责 1.技术中心 1.1定义项目/产品可靠性测试计划 1.2完成、跟踪项目/产品可靠性测试结果 1.3参与产品可靠性测试问题的分析及改进 1.4提供制定/修改可靠性测试程序及标准建议 1.5参与测试设备/仪器的日常管理、维护 1.6参与可靠性测试设备/仪器的开发 2.质管部

电工电子产品环境试验国家标准汇编

电工电子产品环境试验国家标准汇编 一、GB/T2423 有以下51个标准组成: 1 GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验A: 低温 2 GB/T 2423.2-2001 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验B: 高温 3 GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法 4 GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Db: 交变湿热试验方法 5 GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验第二部分:试验方法试验Ea和导则: 冲击 6 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Eb和导则:碰撞 7 GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ec和导则: 倾跌与翻倒(主要用于设备型样品) 8 GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ed: 自由跌落 9 GB/T 2423.9-2001 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Cb: 设备用恒定湿热 10 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Fc和导则: 振动(正弦) 11 GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fd: 宽频带随机振动--一般要求 12 GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fda: 宽频带随机振动--高再现性 13 GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdb: 宽频带随机振动中再现性 14 GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验Fdc: 宽频带随机振动低再现性 15 GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Ga和导则: 稳态加速度 16 GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验J和导则: 长霉 17 GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程试验Ka: 盐雾试验方法 18 GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验第二部分: 试验--试验Kb:盐雾, 交变(氯化钠溶液) 19 GB/T 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法 20 GB/T 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法 21 GB/T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程试验M: 低气压试验方法 22 GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验N: 温度变化 23 GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验试验Q:密封 24 GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分: 试验方法试验Sa: 模拟地面上的太阳辐射 25 GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM: 低温/低气压综合试验 26 GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM: 高温/低气压综合试验

电子产品可靠性试验国家标准清单

电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120、1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印 GB/T 14598、2-1993 电气继电器有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管与半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689、1-1981 恒定应力寿命试验与加速寿命试验方法总则 GB/T 2689、2-1981 寿命试验与加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、3-1981 寿命试验与加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689、4-1981 寿命试验与加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080、1-1986 设备可靠性试验总要求 GB/T 5080、2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则 GB/T 5080、4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计与区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080、5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080、6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080、7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性与维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南 GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法 GB/T 6993-1986 系统与设备研制生产中的可靠性程序 GB/T 7288、1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室内便携设备粗模拟 GB/T 7288、2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 9414、1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言 GB/T 9414、2-1988 设备维修性导则第二部分: 规范与合同中的维修性要求 GB/T 9414、3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲 GB/T 9414、4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究 GB/T 9414、5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验 GB/T 9414、6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示 GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

电子产品可靠性试验

电子产品可靠性试验 第一章 可靠性试验概述 1 电子产品可靠性试验的目的 可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。具体目的有: (1) 发现产品的设计、元器件、零部件、原材料和工艺等方面的各种缺陷; (2) 为改善产品的完好性、提高任务成功性、减少维修人力费用和保障费用提供信息; (3) 确认是否符合可靠性定量要求。 为实现上述目的,根据情况可进行实验室试验或现场试验。 实验室试验是通过一定方式的模拟试验,试验剖面要尽量符合使用的环境剖面,但不受场地的制约,可在产品研制、开发、生产、使用的各个阶段进行。具有环境应力的典型性、数据测量的准确性、记录的完整性等特点。通过试验可以不断地加深对产品可靠性的认识,并可为改进产品可靠性提供依据和验证。 现场试验是产品在使用现场的试验,试验剖面真实但不受控,因而不具有典型性。因此,必须记录分析现场的环境条件、测量、故障、维修等因素的影响,即便如此,要从现场试验中获得及时的可靠性评价信息仍然困难,除非用若干台设备置于现场使用直至用坏,忠实记录故障信息后才有可能确切地评价其可靠性。当系统规模庞大、在实验室难以进行试验时,则样机及小批产品的现场可靠性试验有重要意义。 2 可靠性试验的分类 2.1 电子装备寿命期的失效分布 目前我们认为电子装备寿命期的典型失效分布符合“浴盆曲线”,可以划分为三段:早期失效段、恒定(随机或偶然)失效段、耗损失效段。可参阅图1.2.1。 早期失效段,也称早期故障阶段。早期失效出现在产品寿命的较早时期,产品装配完成即进入早期失效期,其特点是故障率较高,且随工作时间的增加迅速下降。早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产生,例如原材料缺陷引起绝缘不良,焊接缺陷引起虚焊,装配和调整不当引起参数漂移,元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的质量管理措施加以暴露和排除。 恒定失效段,也称偶然失效段,其故障由装备内部元器件、零部件的随机性失效引起,其特点是故障率低,比较稳定,因此是装备主要工作时段。 耗损失效段,其特点是故障率迅速上升,导致维修费用剧增,因而报废。其故障原因主要是结构件、元器 件的磨损、疲劳、老化、损耗等引起。 2.2 试验类型及其分布曲线的变化 针对电子装备寿命期失效分布的三个阶段,人们在设计制造和使用装备时便有针对地采取措施,以提高可靠性和降低寿命周期的费用。在设计制造阶段,要尽量减少设计缺陷和制造缺陷,即便如此仍然会存在早期失效和随机失效。为此,承制方需要运用工程试验的手段来暴露和消除早期失效,降低随机失效的固有水平。通过这些措施,可以改变产品的寿命分布曲线的形状,可参阅图1.2.2。在耗损阶段,用户可通过维修和局部更新的手段延长装备的使用寿命。 图 1.2.2 示意了两组产品寿命失效率分布曲线,图中表明产品B 的可靠性水平比产品A 的优良,因为B 的恒定失效率比A 的低,B 的早期失效段比A 的短。如果曲线A 和B 是同一种产品的不同阶段的失效率分布,则表明该产品经过了可靠性增长试验,取得成效,因此曲线B 的恒定失效率大为 失效率 早期 耗损 失效 偶然失效段 失效 时间 图1.2.1 电子装备寿命期失效分布的浴盆曲线示意

可靠性测试标准

Q/GSXH.Q. 质量管理体系第三层次文件1004.03-2001 可靠性试验规范

拟制:审核:批准: 海锝电子科技有限公司版次:C版 可靠性试验规范 1. 主题内容和适用范围 本档规定了可靠性试验所遵循的原则,规定了可靠性试验项目,条件和判据。 2. 可靠性试验规定 2.1 根据IEC国际标准,国家标准及美国军用标准,目前设立了14个试验项 目(见后目录〕。 2.2 根据本公司成品标准要求,用户要求,质量提高要求及新产品研制、工艺 改进等加以全部或部分采用上述试验项目。 2.3 常规产品规定每季度做一次周期试验,试验条件及判据采用或等效采用产 品标准;新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。 2.4 采用LTPD的抽样方法,在第一次试验不合格时,可采用追加样品抽样方 法或采用筛选方法重新抽样,但无论何种方法只能重新抽样或追加一次。 2.5 若LTPD=10%,则抽22只,0收1退,追加抽样为38只,1收2退。 抽样必须在OQC检验合格成品中抽取。 3.可靠性试验判定标准。

环境条件 (1)标准状态 标准状态是指预处理, 后续处理及试验中的环境条件。论述如下: 环境温度: 15~35℃ 相对湿度: 45~75% (2)判定状态 判定状态是指初测及终测时的环境条件。论述如下: 环境温度: 25±3℃ 相对湿度: 45~75% 4.试验项目。 目录 4.1 高温反向偏压试验------------------------------------ 第4页4.2 压力蒸煮试验------------------------------------ 第6页4.3 正向工作寿命试验------------------------------------ 第7页4.4 高温储存试验------------------------------------ 第8页4.5 低温储存试验------------------------------------ 第9页4.6 温度循环试验------------------------------------ 第10页4.7 温度冲击试验------------------------------------ 第11页4.8 耐焊接热试验------------------------------------ 第12页4.9 可焊性度试验------------------------------------ 第13页4.10 拉力试验------------------------------------ 第14页

电工电子产品基本环境试验规程

电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb:设备用恒定湿热试验方法 GB 2423. 9——89 Basic environmsental testing procedures for electric and electronic products Test Cb:Damp heat ,steady state,primarily for equipment 1主题内容与适用范围 本标准规定了电工电产品的基本环境试验规程:设备用恒定湿热试验方法。 本标准适用于确定电工电子产品,主要是指设备在湿热条件下使用和贮存的适应性,本试验主要用以观察试验样品在恒定温度、无凝露、经规定时间高湿环境下的影响。 本标准特别适用于大型设备或试验时可能与试验室外的测试验装置有复杂联接的设备,这种联接需要一定的装配时间,在安装期间,可以不用预热或维持特定的试验条件。 本标准包括数种不同温、湿度的严酷等级供选择应用,选择严酷等级时要根据试验样品的使用环境及其工作特点。 本标准可应用于散热和非散热试验样品,对散热试验样品进行试验时,试验样品的周围温、湿度会受散发的热量影响而变化。此时这两个参数的测量应按GB2423.2中规定的自由空气条件的测量方法进行。 2试验箱(室)的要求 2.1试验箱(室)的结构要求 a.室内的温、湿度条件由安装在工作空间的传感装置进行监测。对散热试验样品的试验,传感器的安装位置还要参照GB2422中2.7.2条的说明执行。 b.工作空间的温度和相对湿度要求保持在标称值及其规定的容差范围之内。同时还应考虑试验样品的影响。 本标准中规定的温度误差包括测量的绝对误差和温度的缓慢变化。 对非散热试验样品来说,温度误差还包括工作空间的温度均匀性。为了保证相对湿度不超过允许误差,需要将工作空间内任何两点的温差,在任何瞬间保持在较窄的范围之内,一般规定不超过1℃。同样,短期的温度波动也有必要保持在较窄的范围之内。 对散热试验样品来说,试验条件受试验样品本身散热的影响,会使它附近的温、湿度条件与本标准2.1a条中规定位置测得的数据有些差异。 c.凝结水要连续排出箱(室)外,在未净化之前不能重复使用。 d.试验箱(室)内壁和顶上的凝结水不能滴落到试验样品上。 e.保持室内湿度用水的电阻率不小于500Ω.m。

电子产品检验试题卷

电子产品检验题库 一单选题 [第1题](B )是保障人体健康、人身、财产安全的标准和法律及行政法规规定强制执行的国家标准 A.推荐标准 B.法定标准 C.试行标准 D.标准草案 [第2题]主要是指满足客户的可靠性要求(c ) A.可信性要求 B.适用性要求 C.性能要求 D.安全性要求 [第3题]强制性国家标准的代号为( A )。 A.GB B.GB/T C.ISO D.IEC [第4题](A )是在中国由国务院标准化行政主管部门制定。 A.国家标准 B.专业标准 C.区域标准 D.企业标准 [第5题]标准、计量和质量检验在企业中的相互关系是:(B)构成质量检验的技术基础,它们对质量工作的开展起着技术支撑与导向作用。 A.计量 B.标准、 C.标准和计量 D.以上都不是 [第6题]介于( B ) 之间的误差或变差,考虑重复性、量具成本、维修成本的前提下,测量系统可以接受。 A.5%至10% B.10%至30% C.10%至20% D.30%至35% [第7题]检验误差按性质分不包含:(B ) A.系统误差 B.相对误差 C.随机误差 D.粗大误差

[第8题]推荐性国家标准的代号为( B )。 A.GB B.GB/T C.ISO D.IEC [第9题](D )包括设计文件、工艺文件 A.说明文件 B.质量检验 C.标准文件 D.技术文件 [第10题]产品的可靠性是指产品在( A )完成规定功能的能力。 A.规定条件下 B.规定时间内 C.规定条件下和规定时间内 D.规定范围内 二多选题 [第11题]我们通常所说的的三检制指:(ACD )。 A.自检 B.巡检 C.互检 D.专检 [第12题]我国现行的标准分为(ABCD )。 A.国家标准 B.行业标准 C.地方标准 D.经备案的企业标准。 [第13题]环境试验程序包括预处理、______、____、__________、恢复______五个步骤。(ABCD) A.初始检测 B.试验 C.检验 D.最后测量 [第14题]电容器有__________、____________、___________三种主要失效模式。(ABD) A.开路 B.短路 C.不稳定 D.电参数退化

可靠性国家标准

中国可靠性国家标准 中国可靠性国家标准 GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲 GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语 GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术失效模式和效应分析(FMEA)程序 GB/T 7827-1987 可靠性预计程序 GB/T 7828-1987 可靠性设计评审 GB/T 7829-1987 故障树分析程序 GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号 GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验术语 GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分: 通用要求 GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 (用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 (用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法 (用于威布尔分布) GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法 GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法 GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法总则 GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度试验设备 GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法湿热试验设备 GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法盐雾试验设备 GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法太阳辐射试验设备 GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法高低温低气压试验设备 GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法腐蚀气体试验设备 GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用机械振动台 GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用电动振动台 GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法振动 (正弦) 试验用液压振动台 GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法恒加速度试验用离心式试验机 GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 湿度组合循环试验设备 GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法温度/ 振动 (正弦) 综合试验设备GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法水试验设备 GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程试验 A: 低温试验方法 GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程试验J:长霉试验方法 GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程试验Kb: 交变盐雾试验方法 (氯化钠溶液)

GB 标准系列大全 环境试验要求

HG/T 2423-2008 工业对苯二甲酸二辛酯 (单行本完整清晰扫描版) 367KB GB/T 2423.39-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ee:弹跳 440KB GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验Ed自由跌落257KB GB/T 2423.32-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ta 润湿称量法可焊性 (横版扫描色淡不太清晰)- 990KB GB 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验Z-AM低温-低气压综合试验.pdf 1445KB GBT 2423.24-1995 电工电子产品环境试验第二部分试验方法试验Sa 模拟地面上的太阳辐射.pdf 176KB GB 2423.11-1997 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd 宽频带随机振动一般要求 (单行本完整清晰扫描版).pdf 3007KB GBT 2423.57-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ei 冲击冲击响应谱合成.pdf 24000KB GB/T 2423.102-2008 电子电子产品环境试验第2部分:试验方法试验:温度(低温、高温)低气压振动(正弦)综合 998KB GB/T 2423.101-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验:倾斜和摇摆 329KB

混合模式 3461KB GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Db 交变湿热(12h+12h循环) 4604KB GB/T 2423.43-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法振动、冲击和类似动力学试验样品的安装 3736KB GB/T 2423.17-2008 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ka:盐雾 (单行本完整清晰扫描版) 836KB GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ga和导则稳态加速度 2833KB GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fc:振动(正弦) 8313KB QB/T 2423-1998 聚氯乙烯(PVC)电气绝缘压敏胶粘带 157KB GB/T 2423.9-2001 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Cb 设备用恒定湿热 207KB GB/T 2423.52-2003 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验77:结构强度与撞击 223KB

电子产品的可靠性试验研究及方法

电子产品的可靠性试验研究及方法 电子产品的可靠性是指产品在规定的条件下及规定的时间内完成规定功能的能力,它是电子产品质量的一个重要组成部分。一个电子产品尽管其技术性能指标很高,但 如果它的可靠性不高,它的质量就不能算是好的。 1、引言 电子产品的可靠性是指产品在规定的条件下及规定的时间内完成规定功能的能力,它是电子产品质量的一个重要组成部分。一个电子产品尽管其技术性能指标很高,但 如果它的可靠性不高,它的质量就不能算是好的。产品的可靠性不高将会给生产带来 很大损失,随着控制系统的大型化,一个系统所用的电子元件越来越多,只要其中一 个元件发生故障,一般都会导致整个系统发生故障,由此产生的经济损失将远远超过 一个元件本身的价值,所以元件的可靠性越来越重要。电子产品是否适应预定的环境 和满足可靠性指标,必须通过可靠性试验进行鉴定或考核;有时还需通过试验来暴露 产品在设计和工艺中存在的问题,通过故障分析确定主要的故障模式和发生的原因, 进而采取改进措施。所以可靠性试验不仅是可靠性活动的重要环节,也是进一步提高 产品可靠性的有效措施。 2、电子产品可靠性特点 电子产品的可靠性变化一般都有一定的规律,其特征曲线如图1所示,由于其形状象浴盆,通常称之为“浴盆曲线”。从图1可以看出,在产品试验和设计初期,由 于设计制造中的错误、软件不完善以及元器件筛选不够等原因而造成早期失效率高, 通过修正设计、改进工艺、老化元器件、以及整机试验等,使产品进入稳定的偶然失 效期;使用一段时间后,由于器件耗损、整机老化以及维护等原因,产品进入了耗损 失效期。这就是可靠性特征曲线呈“浴盆曲线”型的原因。 通常我们定义,在多次实验中,某随机事件出现的次数叫做该事件的频数。如在M次试验中,事件A出现的频数是M,则事件A出现的相对频数是M / N。在状态不变的条件下,在多实践中,事件A出现的相对频数就反映了该事件A出现的可能性。它 是事件A出现的一个大概的百分率,称为事件A概率,记为P(A)。 P(A)=M / N (N很大)(1)

国家标准可靠性试验

汽车发动机可靠性试验方法 1围 本标准规定了汽车发动机在台架上的一般可靠性试验方法,其中包括负荷试验规(如交变负荷、混合负荷和全速全负荷)、冷热冲击试验规及可靠性评定方法。 本标准适用于乘用车、商用车的水冷发动机,不适用于摩托车及拖拉机发动机。该类发动机属往复式、转子式,不含自由活塞式。其中包括点燃机及压燃机;二冲程机及四冲程机;非增压机及增压机(机械增压及涡轮增压、水对空及空对空中冷);适用于燃用汽油、柴油、天然气、液化石油气和醇类等燃料的发动机。 新设计或重大改进的汽车发动机定型、转厂生产的发动机认证以及现生产的发动机质量检验均可按本标准规定的方法进行可靠性试验。 本标准还可作为发动机制造厂和汽车制造厂之间的技术依据。 2规性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB/T 15089 机动车辆及挂车分类 GB/T 17754 摩擦学术语 GB/T 18297-2001 汽车发动机性能试验方法 3术语和定义 GB/T 17754和GB/T 18297确立的以及下列术语和定义适用于本标准。 3.1 气门下沉量 气门与气门座的接触锥面在工作中磨蚀,气门沿其轴线方向陷入气门座的距离。 3.2 最大净功率转速 不高于额定转速的情况下,发动机带全套车用附件(见GB/T 18297-2001第7章)所输出的最大有效功率时的转速,符号为np。 3.3 最大净扭矩转速 发动机带全套车用附件(见GB/T 18297-2001第七章)所输出的最大有效扭矩的时候,符号为nm。 3.4 额定净功率 发动机带全套车用附件(见GB/T 18297-2001第七章),在额定转速下、全负荷时所输出的校正有效功率。 4试验发动机 试验发动机2台(A发动机及B发动机)应符合发动机制造厂的技术条件,所有紧固件应拧紧至规定值,气门间隙调整至规定值,采用制造厂规定的润滑脂及密封胶。 5试验一般要求 试验所用仪表精度、测量部位及试验数据的计算按GB/T 18297-2001第4章和第5章的规定。 6对试验一般条件的控制 6.1 燃料 燃料牌号按发动机制造厂的规定。汽油温度控制在298K+—5K;柴油温度控制在311 K +—5K;其他燃油温度控制按照发动机制造厂的规定。 6.2 机油 机油牌号按发动机制造厂的规定。机油温度控制在363K到398K之间或按发动机制造

汽车电子产品的环境试验

汽车电子产品的环境试验 一、概述 电子产品在汽车中的应用越来越广泛,电子技术的应用几乎已经深入到汽车的所有系统,电子产品占整车成本的比例逐年提高,特别是高档汽车有的已达40%~50%。目前汽车电子产品主要分以下三类:(a)、电子元器件。包括GPS、音箱、汽车DVD、倒车雷达、控制器、运算放大器、切换式电源供应器、各类微处理器、计算机等。(b)、继电器及电机马达。包括各类继电器、雨刮器电机、电动天线、空调电机、暖风电机、电动坐椅、前后视镜电机、中央控制门锁、交流发电机、清洗泵电机等。(c)、各类传感器。其中传感器和继电器的发展最为活跃。它是汽车上应用最多的两类汽车电子设备。目前我国已成为世界第三大汽车生产国,全球主要汽车厂商均已在我国投资建厂。迫于成本压力,大多数汽车厂商正在逐步推进进口零部件的国产化,这给我国汽车电子部件生产企业的发展带来了巨大的机遇。 但是,电子产品应用在汽车上将面临使用环境的挑战。汽车电子产品面对的是一个室外使用、随时移动运转的环境,而且根据产品安装位置不同,必须承受的环境应力条件也相差很大。因此,汽车电子产品的环境试验要求非常高,必须经过各种苛刻环境实验的考验,确保产品在预期的寿命内能够正常工作,这也是汽车电子产品比一般电子产品价格贵的原因。 为考核汽车电子产品的环境适应性,各车厂都制订了自身的环境条件标准。对于车厂的前装产品,厂家按照车厂得到要求试验条件进行试验,不必清楚原因。但对于后装产品,为了适应市场的需求,我们就应该深入了解相关标准的要求,根据标准制定环境试验的条件的项目。 二、汽车电子产品的环境试验标准 国际标准化组织中,ISO/TC22/SC3 负责汽车电气和电子技术领域的标准化工作。汽车电子产品的应用环境包括电磁环境、电气环境、气候环境、机械环境、化学环境等。电磁环境主要研究的是汽车电子产品的电磁兼容特性,我们在此不作描述。我们主要介绍汽车电子的其他特性。目前ISO制订的汽车电子标准环境条件和试验标准主要包含如下方面: ?ISO16750-1:道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验:总则 ?ISO16750-2:道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验:供电环境 ?ISO16750-3:道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验:机械环境 ?ISO16750-4:道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验:气候环境 ?ISO16750-5:道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验:化学环境 ?ISO20653 汽车电子设备防护外物、水、接触的等级 ?ISO21848 道路车辆-供电电压42V的电气和电子装备电源环境 国内目前汽车电子产品的环境试验标准主要还是按照产品的技术条件来规定。全国汽车标准化技术委员会(SAC/TC114)正在参照ISO标准制订相应的国家和行业标准。 ISO的标准在欧美车系的车厂中得到了广泛采用,而日系车厂的要求相对ISO标准来说偏离较大。为了确保达到标准的限值,各汽车车厂的内控的环境条件标准一般比ISO的要求要苛刻。 三、汽车电子产品环境试验必须考虑的因素 汽车电子产品进行环境试验时,必须考虑的因素主要包括: (1)地理和气候的因素。道路车辆几乎世界所有的陆地区域使用和运行。值得注意气候环境条件,包括可预期的每天的变化和季节的变化。应考虑给出全世界的温度,湿度,降水和大气条件的范围,还应包括灰尘,污染和海拔高度等。

电子产品可靠性测试规范

产品可靠性测试规范 1.目的 本文制定产品可靠性测试的要求和方法,确保产品符合可靠性的质量 要求。 2.范围 本文件适用本公司所有产品。 3.内容 3.1 实验顺序 除客户特殊要求外,试验样品进行试验时,一般按下表的顺序进行: 3.2实验条件 3.2.1 实验条件:

3.2.2 试验机台误差: a.温度误差:高温为+/-2℃,低温为+/-3℃. b.振动振幅误差:+/-15%. c.振动频率误差:+/-1Hz. 3.2.3 落地试验标准 3.2.3.1 落地试验应以箱体四角八边六面(任一面底部相连之四角、与此四角相连之八边, 六面为前、后、左、右、上、下这六个面)按规定高度垂直落下的方式进行。 重量高度 0~10kg以内75cm 10~20kg以内60 cm 20kg以上53 cm 3.2.3.2 注意事项: 5.2.3.2.1 箱内样品及包材在每个步骤后进行外观与功能性检验。 5.2.3.2.2 跌落表面为木板。 3.2.4 推、拉力试验方法和标准 3.2. 4.1、目的:为了评定正常生产加工下焊锡与焊盘或焊盘与基材的粘结质量。 3.2. 4.2、DIP类产品,需把元件用剪钳剪去只留下元件脚部分(要求留下部分 可以自由通过元件孔),且须把该焊盘与所连接的导线分开,然后固定 在制具上用拉力机以垂直于试样的力拉线脚(如下图),直到锡点或焊 盘拉脱为止,然后即可在拉力计上读数。 拉力方向 焊锡 焊盘

(图1) 3.2. 4.3、SMT类产品,片式元件用推力计以如下图所示方向推元件。推至元件或焊盘脱落后在推 拉力计上读数。并把结果记录在报告上。 三极管推力方向如下图所示,推至元件或焊盘脱落后在推拉力计上读数,并记录。 3.2. 4.4、压焊类产品,夹住排线(FFC或FPC)以如下图所示方向做拉力,拉至FFC或FPC 断或焊锡与焊盘脱离(锡点脱离)或焊盘与基材脱离(起铜皮),把结果记录在报告 上。 3.2. 4.5、产品元器件抽样需含盖全面规格尺寸。产品各抗推、拉力标准为;

电子产品产品环境(机械)测试规范V2.0(2018)

电子产品环境(机械)测试规范 目录 一.目的 (3) 二.概述 (3) 三.适用范围 (3) 1.新产品 (3) 2.变更产品 (3) 四.引用标准和规范 (3) 五.定义 (4) 1.正弦振动 (4) 2.随机振动 (4) 3.冲击 (4) 4.碰撞 (4) 5.跌落 (4) 六.样本选取 (4) 七.试验方法 (5) 2

1.电梯相关、通用变频器、伺服产品 (5) 1.1包装类产品 (5) 1.2.裸机强度试验(电梯专用零部件适用) (6) 1.3.安装振动试验 (6) 2.试验方法-机器人产品 (6) 2.1包装类产品 (6) 2.2安装振动试验 (7) 3试验方法-车载空调变频器 (8) 3.1包装类试验 (8) 3.2裸机振动试验 (8) 八.环境(机械)试验常见缺陷类型 (9) 九.试验流程方法 (9) 十.电梯相关产品测试规范与OTIS51628差异及测试时间统计 (10) 十一.顺序应力试验 (11) 十二.注意事项 (12)

一.目的 环境(机械)测试规范,是研发阶段验证产品机械性能是否满足设计要求的验证活动,通过测试可以发现结构强度、安装、焊接、包装等方面的薄弱点,并通过失效分析、改进、再验证,使产品结构、安装、焊接、包装等方面的性能达到研发预期。 二.概述 本文主要包含随机振动、正弦振动、冲击、碰撞、跌落相关的测试规范。规范覆盖的产品分为电梯相关产品、通用变频器、伺服产品、机器人产品、车载空调变频器。 三.适用范围 1.新产品 新开发产品。 2.变更产品 变更产品,分为产品设计变更和供应商变更,由研发和测试评估是否需要做相关机械试验;重要变更建议做,如结构、装配工艺、PCB厂家、贴片工艺等重要变更。 四.引用标准和规范 ●IEC60721-3-3,国际电工电子参考标准,环境条件分类 ●GB/T12668.2-2002(IEC61800-2-1998),低压交流变频电气传动系统额定值的规 定 ●GBT 16439-2009 交流伺服系统通用技术条件 ●GB/T 4857.1 包装运输包装件试验时各部位的表示方法 ●GB/T 4857.5 包装运输包装件跌落试验方法 ●GB/T 4857.18 包装运输包装件编制性能试验大纲定量数据 ●GB-T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Fc 振动(正 弦) ●GB-T 2423.08-1995 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ed自由跌落 ●GB-T 2423.06-1995 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Eb和导则碰

与可靠性试验相关标准

与可靠性试验相关标准汇总 GB/T 5910 《轿车质量分布》 GB/T 12678-90 《汽车可靠性行驶试验方法》 GB/T 12534-90 《汽车道路试验方法通则》 GB/T 12679-1990 《汽车耐久性行驶试验方法》 《总后勤部汽车试验场汽车产品定型可靠性行驶试验规范》(定远) GB/T 13043-2006 《客车定型试验规程》 GB/T 13044-1991《轻型客车定型试验规程》 GB/T 1332-1991《载货汽车定型试验规程》 GB/T 18388-2001《电动汽车定型试验规程》 《实施汽车强制性项目检验和定型试验规程的规范性要求》(发布日期:2004-09-20 ) QC/T 252-1998 《专用汽车定型试验规程》 QC/T 526-1999 《汽车发动机定型试验规程》 QC/T 29020-1991 《微型货车定型试验规程》 Q/FT A039-2006《车辆磨合行驶技术规范》 Q/FT A042-2006《车辆用离合器系统道路可靠性要求及试验方法》 Q/FT A074-2006 《N3类变型车可靠性试验规范》 Q/FT A088-2003《汽车驱动桥总成试验方法》 Q/FT A089-2003《汽车机械式变速箱总成试验方法》 Q/FT A090-2003 《汽车前轴总成试验方法》 Q/FT A140-2006《零部件装车可靠性验证标准(试行)》 Q/FT B172-2004 《发动机装车道路试验规范(试行稿)》 Q/FT B174-2004 《前轴装车道路试验规范(试行稿)》 Q/FT B175-2004 《中后桥装车道路试验规范(试行稿)》 Q/FT B185-2004《大、中型城市公交车产品定型可靠性试验及评定方法(试行稿)》Q/FT B186—2004《轻型载货汽车产品定型可靠性试验及评定方法(试行稿)》Q/FT B187—2004《中重型载货汽车产品定型可靠性试验及评定方法(试行稿)》Q/FT B188—2004《轻型客车产品定型可靠性试验及评定方法(试行稿)》 Q/FT B214-2008《乘用车产品整车及零部件可靠性行驶试验及评定方法》 试验所 林中材 08.12.4

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