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Filmetrics光学膜厚测量仪

产品名称: Filmetrics光学膜厚测量仪

产品型号: F20、F30、F40、F50、F70、F10-RT、PARTS

简单介绍

美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。

Filmetrics光学膜厚测量仪的详细介绍

其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovolt aics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。

通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如:

半导体工业: 光阻、氧化物、氮化物。

LCD工业: 间距(cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。

光电镀膜应用: 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。

极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:

F20 : 这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。

F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。

F40:這型號安裝在任何顯微鏡外，可提供最小5um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。

F50:這型號配備全自動XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。

F70:仅通过在F20基本平台上增加镜头，使用Filmetrics最新的颜色编码厚度测量法（CTM），把设备的测量范围极大的拓展至3.5mm。

F10-RT：在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。

椭偏仪测量薄膜厚度与折射率

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率近代科学技术中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，能够更加迅速和精确地测量薄膜的光学参数例如厚度和折射率已变得非常迫切。在实际工作中可以利用各种传统的方法来测定薄膜的光学参数，如布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜。另外，还有称重法、X 射线法、电容法、椭偏法等等。其中，椭圆偏振测量（椭偏术）是研究两媒质界面或薄膜中发生的现象及其特性的一种光学方法，其原理是利用偏振光束在界面或薄膜上的反射或透射时出现的偏振变换。因为椭偏法具有测量精度高，灵敏度高，非破坏性等优点，已广泛用于各种薄膜的光学参数测量，如半导体、光学掩膜、圆晶、金属、介电薄膜、玻璃（或镀膜）、激光反射镜、大面积光学膜、有机薄膜等，也可用于介电、非晶半导体、聚合物薄膜、用于薄膜生长过程的实时监测等测量。实验目的了解椭圆偏振测量的基本原理，并掌握一些偏振光学实验技术。实验原理光是一种电磁波，是横波。电场强度E 、磁场强度H 和光的传播方向构成一个右旋的正交三矢族。光矢量存在着各种方位值。与光的强度、频率、位相等参量一样，偏振态也是光的基本量之一。在一光学材料上镀各向同性的单层介质膜后，光线的反射和折射在一般情况下会同时存在的。通常，设介质层为n 1、n 2、n 3，φ1为入射角，那么在1、2介质交界面和2、3介质交界面会产生反射光和折射光的多光束干涉。这里我们用2δ表示相邻两分波的相位差，其中222cos /dn δπφλ=，用r 1p 、 r 1s 表示光线的p 分量、s 分量在界面1、2间的反射系数，用r 2p 、r 2s 表示光线的p 分量、s 分量在界面2、3间的反射系数。由多光束干涉的复振幅计算可知： 2122121i p p rp ip i p p r r e E E r r e ?δ --+= + (1) 2122121i s s rs is i s s r r e E E r r e ? δ --+=+ (2) 其中E ip 和E is 分别代表入射光波电矢量的p 分量和s 分量，E rp 和E rs 分别代表反射光波电矢量的p 分量和s 分量。现将上述E ip 、E is 、E rp 、E rs 四个量写成一个量G ，即：

湿膜厚度仪使用方法

OU3410 湿膜厚度仪使用方法使用说明书

基本概述湿膜测厚仪又叫湿膜测厚规、湿膜测试仪、湿膜检测仪、湿膜厚度测量仪、湿膜测厚仪厂家、湿膜测厚仪价格、梳式湿膜测厚仪、湿油漆测厚仪、湿涂层如何检测、湿膜卡、湿膜片、湿膜厚度卡具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

欧谱梳式湿膜厚度规是测量色漆、清漆等各种涂料湿膜涂刷厚度的测量工具，数值以微米(m m)表示。湿膜厚度规适用于平整的基板上，测量精度高。本厚度量程为10～100m m、20～200m m、250～700m m、50～750m m、50～950m m、25～2000m m、25～3000m m七种规格供选择，以适应不同行业的需要。使用方法：各种涂料施工后，立即将湿膜厚度规稳定垂直的放在平整的湿膜涂层表面，将湿膜厚度规从湿膜中移出，即可测得湿膜涂层的厚度。湿膜厚度应是在被湿膜浸润的那个最短的齿及邻近那个没有被浸到的齿之间。以同样方式在不同的位置再测取两次，以得到一定范围内的代表性结果。使用完毕后，将湿膜厚度规洗净、揩干。

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https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 表面粗糙度仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 粗糙度测量仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 粗糙度测试仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 喷砂粗糙度仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 光洁度仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 便携式粗糙度仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 粗糙度仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 粗糙度检测仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 附着力测试仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 漆膜划格器https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 百格刀测试https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 百格刀 https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, LED观片灯https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 黑白密度计https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 光泽度仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 工业观片灯https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 黑度仪 https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 黑度计 https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 无损检测 https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 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湿膜厚度测试仪

OUPU 湿膜厚度测试仪使用说明书

台阶仪测试薄膜厚度实验

东南大学材料科学与工程实验报告学生姓名班级学号实验日期2014.9.5 批改教师课程名称电子信息材料专业方向大型实验批改日期实验名称台阶仪测试薄膜厚度实验报告成绩一、实验目的：掌握测试薄膜厚度原理和方法，了解台阶仪操作技术。二、实验原理： LVDT是线性差动变压器的缩写，为机电转换器的一种。利用细探针扫描样品表面，当检测到一个高度差别则探针做上下起伏之变化，此变化在仪器内部的螺旋管先圈内造成磁通量的变化，再有内部电子电路转换成电压讯号，进而求出膜厚。LVDT线性位置感应器，可测量的位移量小到几万分之一英寸至几英寸。 LVDT的工作原理是由振荡器产生一高频的参考电磁场，并内建一支可动的铁磁主轴以及两组感应线圈，当主轴移动造成强度改变由感应线圈感应出两电压值，相比较后即可推算出移动量。三、实验步骤：（1）开机准备（2）放置样品（3）参数设置（4）扫描结果分析（5）数据保存四、实验内容： Si基底上沉积金属Cr薄膜的厚度的测量五、实验结果与分析：样品：硅片上镀铬薄膜；实验参数：长度1000μm；持续时间40s；针压力3mg；表面轮廓是Hills and Valleys.

由实验曲线及数据，可得薄膜厚度约为（868.8-617.0）=251.8μm。六、思考题： 1、对于用台阶仪对非完美薄膜的厚度测量，Step Hight的M和R Cursor点的选择？两个点分别选在图线中的拐点处，这样倾斜的曲线会水平，比较容易得到薄膜的厚度 2、怎么样才能得到一个比较shape的台阶？在制备时在衬底上覆盖一个形状规则比如长方形的陪片，且覆盖片要尽量薄，边缘应整齐，这样产生的台阶才会陡峭，方便测量

椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告

椭偏仪测量薄膜厚度与折射率实验报告组别：6９组院系:０６11 姓名:林盛学号：PB06２104 ４5 实验题目：椭偏仪测量薄膜厚度与折射率实验目得：了解椭偏仪测量薄膜参数得原理，初步掌握反射型椭偏仪得使用方法。实验原理: 椭圆偏振光经薄膜系统反射后,偏振状态得变化量与薄膜得厚度与折射率有关,因此只要测量出偏振状态得变化量,就能利用计算机程序多次逼近定出膜厚与折射率。参数描述椭圆偏振光得P波与S波间得相位差经薄膜系统关系后发生得变化，描述椭圆偏振光相对振幅得衰减。有超越方程: ? 为简化方程，将线偏光通过方位角得波片后，就以等幅椭圆偏振光出射，；改变起偏器方位角就能使反射光以线偏振光出射，,公式化简为: 这时需测四个量，即分别测入射光中得两分量振幅比与相位差及反射光中得两分量振幅比与相位差，如设法使入射光为等幅椭偏光,，则;对于相位角，有: 因为入射光连续可调,调整仪器,使反射光成为线偏光，即=0或()，则或，可见只与反射光得p波与s波得相位差有关,可从起偏器得方位角算出、对于特定得膜，就是定值,只要改变入射光两分量得相位差,肯定会找到特定值使反射光成线偏光, =０或（）. 实验仪器:椭偏仪平台及配件、He-Nｅ激光器及电源、起偏器、检偏器、四分之一波片、待测样品、黑色反光镜等。

实验内容： 1.按调分光计得方法调整好主机. 2.水平度盘得调整。 3.光路调整。 4.检偏器读数头位置得调整与固定. 5.起偏器读数头位置得调整与固定。 6.波片零位得调整。 7.将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定得入射角７0即望远镜转过 40，并使反射光在白屏上形成一亮点。 8.为了尽量减小系统误差，采用四点测量. 9.将相关数据输入“椭偏仪数据处理程序”，经过范围确定后,可以利用逐次逼近法，求出与之对应得d与n ；由于仪器本身得精度得限制,可将d得误差控制在１埃左右，ｎ得误差控制在0、01左右. 实验数据: 将表格中数据输入“椭偏仪数据处理程序",利用逐次逼近法,求出与之对应得厚度d与折射率ｎ分别为: 误差分析: 实验测得得折射率比理论值偏大,厚度比理论值偏小，其可能原因有： 1.待测介质薄膜表面有手印等杂质，影响了其折射率。 2.在开始得光路调整时,没有使二者严格共轴,造成激光与偏振片、1/４波片之间不就是严格得正入射,导致测量得折射率与理论值存在偏差。 3.消光点并非完全消光，所以消光位置只能由人眼估测,所以可能引入误差。 4.由于实验中需多次转动及调节、安装仪器,会破坏仪器得共轴特性.虽经多次调节，但还就是会产生误差.

光学膜厚测量仪

Filmetrics光学膜厚测量仪产品名称: Filmetrics光学膜厚测量仪产品型号: F20、F30、F40、F50、F70、F10-RT、PARTS 产品展商: 岱美有限公司简单介绍美国Filmetrics光学膜厚测量仪，测量膜层厚度从1nm到3.5mm。利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。 Filmetrics光学膜厚测量仪的详细介绍其可测量薄膜厚度在1nm到1mm之间，测量精度高达1埃，测量稳定性高达0.7埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovolt aics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。通过Filmetrics膜厚测量仪最新反射式光谱测量技术,最多4层透明薄膜厚度、n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如: 半导体工业: 光阻、氧化物、氮化物。 LCD工业: 间距(cell gaps)，ito电极、polyimide 保护膜。光电镀膜应用: 硬化镀膜、抗反射镀膜、过滤片。极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择: F20 : 这简单入门型号有三种不同波长选择(由220nm紫外线区至1700nm近红外线区)为任意携带型，可以实现反射、膜厚、n、k值测量。 F30:这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。

椭偏仪测折射率和薄膜厚度

物理实验报告实验名称：椭偏仪测折射率和薄膜厚度学院：xx 学院专业班级：xxx 学号：xxx 学生姓名：xxx 实验成绩预习题（一空一分，共10 分） 1.（单选题）起偏器和检偏器的刻度范围为多少？（B） A.0 ° ~180° B.0 ° ~360° 2.（单选题）黑色反光镜在仪器调整中起什么作用？

实验预习题成绩：（B） A. 确定起偏器的方位 B. 确定检偏器的方位 C.确定波片的方位 3.（单选题）在椭偏仪实验中坐标系是选在待测薄膜的（B）上。 A 入射面 B 表面 4.（单选题）椭偏仪的数据处理方法有三种，即查图法、查表法、迭代法解非线性超越方程，本实验中使用（B） A 查图法 B 查表法 5.（填空题））调整椭偏仪光路的步骤是，首先使激光光线与分光计仪器主轴垂直，并通过载物台中心，然后确定（C）的0 刻度位置，这要利用（A）的布鲁斯特角特性，然后再确定（B）0 刻度位置，最后调整1/4 波片，使其快轴与（C）成± 45° 选择答案： A 黑色反光镜 B 检偏器 C 起偏器

6.（填空题）将起偏器套在平行光管上，使0°位置朝上，从载物台上取下黑色反射镜，将检偏器管转到共轴位置，整体调节起偏器使检流计（A），固定起偏器螺钉。此时起偏器与检偏器通光方向（C）。选择答案： A 光强最小 B 光强最大 C 平行 D 垂直

原始数据记录成绩： 1/4 玻片起偏器角度检偏器角度+45°（＞ 90°）103.4 91.7 +45°（＜ 90°）21.2 51.6 -45 °（＞ 90°）106.5 98.6 -45 °（＜ 90°）21.2 51.6 薄膜厚度： 110.0000 折射率： 1.4800

涂层厚度测量仪

OU3500 涂层厚度测量仪使用说明书

附表一：功能OU3500F OU3500N OU3500FN 测量原理磁性涡流磁性/涡流测量范围标准配置探头（F1/N1)：0 1250μm 测量精度±（3%H+1）μm（零点校准）±（1%H+1）μm（二点校准）统计量平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV) 存贮和统计500个测量值零点校准√√√二点校准√√√删除功能√√√自动关机√√√蜂鸣声提示√√√错误提示√√√ 标准配置主机、F1探头、基体、校准片、说明书、包装箱主机、N1探头、基体、校准片、说明书、包装箱 F1(N1)探头、基体、校准片、说明书、包装箱选配件F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02 F400、N400、 F1/90、F10、 CN02、打印机、通讯软件

一、概述本仪器根据探头类型的不同，分别运用磁感应和涡流原理测量覆层厚度，并符合以下工业标准： JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 1.1 应用本仪器是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。配置不同的探头，适用于不同场合。 1.2 测量原理本仪器根据探头类型的不同，采用了磁性法和涡流法两种测厚方法。 F型探头采用磁性法，可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。 N型探头采用涡流法，可测量非铁磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)和奥氏体不锈钢上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。 1.3 仪器配置 1.3.1 标准配置主机 ---------------------------------------1台探头（F1或N1） -----------------------1支基体 ---------------------------------------1块标准片 ------------------------------------5片 9V碱性电池------------------------------1节使用说明书 ------------------------------1本 1.3.2 可选件其他型号探头 ---------------------------（适用于OU3500）打印机 ------------------------------------1台(适用于OU3500B) 通讯电缆 ---------------------------------1条(适用于OU3500B) - 1 -

漆膜测厚仪

OU3500 漆膜测厚仪使用说明书

基本概述漆膜测厚仪又叫干漆膜测厚仪、干油漆漆膜测厚仪、漆膜测厚仪价格、油漆漆膜涂层测厚仪、漆膜厚度测厚仪、漆膜厚度检测仪、干漆膜测厚仪价格、漆膜涂层测厚仪、油漆漆膜涂层测厚仪、玻璃鳞片防腐层测厚仪、玻璃鳞片涂层测厚仪、玻璃片涂层测厚仪、防腐磷片测厚仪、电镀镀层测厚仪、热镀锌锌层测厚仪、镀锌层测厚仪、镀锌厚度检测仪、电镀涂层测厚仪、镀涂层测厚仪价格、两用型涂层测厚仪、镀层涂层测厚仪、涂层厚度测厚仪、便携式涂层测厚仪、数字式涂层测厚仪、两用涂层测厚仪、油漆涂层测厚仪、铁基/非铁基涂层测厚仪、电子涂层测厚仪、非磁性涂层测厚仪、涂层镀层测厚仪、高精度涂层测厚仪、表面涂层测厚仪、漆膜厚度测量仪是便携式、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。

路面标线厚度测定仪

路面标线厚度测定仪产品名称：OU3300标线测厚仪 ?产地：中国销售：沧州欧谱 ?OU3300标线厚度测定仪是专为生产、质量监督、工程施工和监理等单位测量标线厚度而设计和生产的。标线厚度测定仪符合我国标线技术标准GB/T16311-2005的要求 ? 一、产品特点： OU3300标线厚度测定仪是专为生产、质量监督、工程施工和监理等单位测量标线厚度而设计和生产的。具有结构合理、操作简单、适用性广、测量精度高、数字保持功能、测量安全及可靠性好等特点。 OU3300标线厚度测定仪符合我国标线技术标准GB/T16311-2005的要求。二、技术指标测量范围：0~12mm 测量精度：0.01mm 三、结构组成 OU3300标线厚度测定仪主要由数字式高精度百分表头、测厚度机构和百分表锁止螺钉组成。四、操作步骤 1. 准备：将测量底座和移动平块（测厚度机构）处于同一水平上，再将数字式高精度百分表头置入测厚度机构的安装座内，然后调紧螺钉。 2. 显示屏读数清零：将数字式高精度百分表头显示屏清零。 3. 测量：将测量底座置于待测标线上面，使其与移动块的接合处的边缘与标线边缘平行，移动块能够自由落下或下移即可测量标线的厚度。为便于读数可按数字式高精度百分表头的保持按钮，提起标线厚度测定仪读取并记录数值。

五、注意事项 1. 为了保障测量结果的准确度，在测量前应尽量调整好标线厚度测量仪的零值。 2. 为了确保移动块的移动应在试验前应注意调整好其与标线的相对位置。 3. 测量时应注意解除数字式高精度百分表头的保持功能，一般连续按保持按钮3次即可，让标线厚度测定仪处于测量状态。 4. 注意防止仪器在测量过程的跌落，以免仪器的损坏。长时间没有测量任务时应取出数字式高精度百分表的电池，以延长其使用寿命。 5. 本仪器知识产权归本公司所有，严禁仿制；否则，本公司将终止履行相关维修义务，并保留法律的权利。 6. 对本使用说明书如有疑惑欢迎赐教。七、贮存条件测定器及其附件应存放在干燥、清洁、无振动、无易燃、易腐蚀物品的环境条件下。资料来源：测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声波测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 钢板测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 金属测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 管道测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 钢管测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 厚度测量仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 高温测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 壁厚测量仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声波测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 铸铁测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 膜厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 涂层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 涂层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 镀层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 油漆测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 油漆测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 漆膜测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 薄膜测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 锌层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 防腐层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 磁感应测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 涡流测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 膜厚测试仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 覆层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 电镀层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 涂镀层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 镀锌层测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 电解测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 氧化膜测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 磁性测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 干膜测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 湿膜测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 镀铬测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 标线测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 磷化膜测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 湿膜厚度规https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 钢结构测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 镀铬测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 涂层厚度仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 涂料测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 镀镍测厚仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 管道探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 磁粉探伤机https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 焊缝探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声波探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声波探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 钢轨探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 金属探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 便携式探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 钢结构探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 磁粉探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声波探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 超声波检测仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 铸件探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html, 容器探伤仪https://www.sodocs.net/doc/3f5317827.html,