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硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解
硬盘SMART检测参数详解

硬盘SMART检测参数详解

用户最不愿意看到的事情,莫过于在毫无警告的情况下发现硬盘崩溃了。诸如RAID的备份和存储技术可以在任何时候帮用户恢复数据,但为预防硬件崩溃造成数据丢失所花费的代价却是相当可观的,特别是在用户从来没有提前考虑过在这些情况下的应对措施时。

硬盘的故障一般分为两种:可预测的(predictable)和不可预测的(unpredictable)。后者偶而会发生,也没有办法去预防它,例如芯片突然失效,机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况,可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。

对于可预测的情况,如果能通过磁盘监控技术,通过测量硬盘的几个重要的安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。那么在发生故障前,至少有足够的时间让使用者把重要资料转移到其它储存设备上。

最早期的硬盘监控技术起源于1992年,IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis(故障预警分析技术)的监控技术,它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况,然后由监控软件得出两种结果:“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。

不久,当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。通过该技术,硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量

值传送给操作系统和用户的监控软件中,每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。

1995年,康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化,该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持,1996年6月进行了1.3版的修正,正式更名为S.M.A.R.T.(Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology),全称就是“自我检测分析与报告技术”,成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。

SMART的目的是监控硬盘的可靠性、预测磁盘故障和执行各种类型的磁盘自检。如今大部分的ATA/SATA、SCSI/SAS和固态硬盘都搭载内置的SMART系统。作为行业规范,SMART规定了硬盘制造厂商应遵循的标准,满足SMART标准的条件主要包括:

1)在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定;

2)在特定系统平台下,能够正常使用SMART;通过BIOS检测,能够识别设备是否支持SMART并可显示相关信息,而且能辨别有效和失效的SMART信息;

3)允许用户自由开启和关闭SMART功能;

4)在用户使用过程中,能提供SMART的各项有效信息,确定设备的工作状态,并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘及操作系统都支持SMART技术并且开启的情况下,若硬盘状态不良,SMART功能会在开机时响起警报,SMART技术能够在屏幕上显示英文警告信息:“WARNING IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE,A FAILURE MAY BE IMMINENT.”(警告:立刻备份你的数据并更换硬盘,硬盘可能失效。)

SMART功能不断从硬盘上的各个传感器收集信息,并把信息保存在硬盘的系统保留区(service area)内,这个区域一般位于硬盘0物理面的最前面几十个物理磁道,由厂商写入相关的内部管理程序。这里除了SMART信息表外还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。用户使用的监测软件通过名为“SMART Return Status”的命令(命令代码为:B0h)对SMART信息进行读取,且不允许最终用户对信息进行修改。

smartmontools是smart的的软件包程序,由smartctl和smartd两部分工具程序组成,它们一起为Linux平台提供对磁盘退化和故障的高级警告。

ID

属性ID,通常是一个1到255之间的十进制或十六进制的数字。硬盘SMART 检测的ID代码以两位十六进制数表示(括号里对应的是十进制数)硬盘的各项检测参数。目前,各硬盘制造商的绝大部分SMART ID代码所代表的参数含义是一

致的,但厂商也可以根据需要使用不同的ID代码,或者根据检测项目的多少增减ID代码。一般来说,以下这些检测项是必需的:

01(001) Raw_Read_Error_Rate 底层数据读取错误率

04(004) Start_Stop_Count 启动/停止计数

05(005) Reallocated_Sector_Ct 重映射扇区数

09(009) Power_On_Hours 通电时间累计,出厂后通电的总时间,一般磁盘寿命三万小时

0A(010) Spin_Retry_Count 主轴起旋重试次数(即硬盘主轴电机启动重试次数)

0B(011) Calibration_Retry_Count 磁盘校准重试次数

0C(012) Power_Cycle_Count 磁盘通电次数

C2(194) Temperature_Celsius 温度

C7(199) UDMA_CRC_Error_Count 奇偶校验错误率

C8(200) Write_Error_Rate: 写错误率

F1(241) Total_LBAs_Written:表示磁盘自出厂总共写入的的数据,单位是LBAS=512Byte F2(242) Total_LBAs_Read:表示磁盘自出厂总共读取的数据,单位是LBAS=512Byte

ATTRIBUTE_NAME

硬盘制造商定义的属性名。,即某一检测项目的名称,是ID代码的文字解释。

FLAG

属性操作标志(可以忽略)

当前值(value)

当前值是各ID项在硬盘运行时根据实测原始数据(Raw value)通过公式计算的结果,1到253之间。253意味着最好情况,1意味着最坏情况。计算公式由硬盘厂家自定。

硬盘出厂时各ID项目都有一个预设的最大正常值,也即出厂值,这个预设的依据及计算方法为硬盘厂家保密,不同型号的硬盘都不同,最大正常值通常为100或200或253,新硬盘刚开始使用时显示的当前值可以认为是预设的最大正常值(有些ID项如温度等除外)。随着使用损耗或出现错误,当前值会根据实测数据而不

断刷新并逐渐减小。因此,当前值接近临界值就意味着硬盘寿命的减少,发生故障的可能性增大,所以当前值也是判定硬盘健康状态或推测寿命的依据之一。

最差值(Worst)

最差值是硬盘运行时各ID项曾出现过的最小的value。

最差值是对硬盘运行中某项数据变劣的峰值统计,该数值也会不断刷新。通常,最差值与当前值是相等的,如果最差值出现较大的波动(小于当前值),表明硬盘曾出现错误或曾经历过恶劣的工作环境(如温度)。

临界值(Threshold)

在报告硬盘FAILED状态前,WORST可以允许的最小值。

临界值是硬盘厂商指定的表示某一项目可靠性的门限值,也称阈值,它通过特定公式计算而得。如果某个参数的当前值接近了临界值,就意味着硬盘将变得不可靠,可能导致数据丢失或者硬盘故障。由于临界值是硬盘厂商根据自己产品特性而确定的,因此用厂商提供的专用检测软件往往会跟Windows下检测软件的检测结果有较大出入。

硬盘的每项SMART信息中都有一个临界值(阈值),不同硬盘的临界值是不同的,SMART针对各项的当前值、最差值和临界值的比较结果以及数据值进行分析后,提供硬盘当前的评估状态,也是我们直观判断硬盘健康状态的重要信息。根据SMART的规定,状态一般有正常、警告、故障或错误三种状态。

SMART判定这三个状态与SMART的Pre-failure/advisory BIT(预测错误/发现位)参数的赋值密切相关,当Pre-failure/advisory BIT=0,并且当前值、最差值远大于临界值的情况下,为正常标志。当Pre-failure/advisory BIT=0,并且当前值、最差

值大于但接近临界值时,为警告标志;当Pre-failure/advisory BIT=1,并且当前值、最差值小于临界值时,为故障或错误标志

原始值(RAW_VALUE)

制造商定义的原始值,从VALUE派生。

数据值是硬盘运行时各项参数的实测值,大部分SMART工具以十进制显示数据。

数据值代表的意义随参数而定,大致可以分为三类:

1)数据值并不直接反映硬盘状态,必须经过硬盘内置的计算公式换算成当前值才能得出结果;

2)数据值是直接累计的,如Start/Stop Count(启动/停止计数)的数据是50,即表示该硬盘从出厂到现在累计启停了50次;

3)有些参数的数据是即时数,如Temperature(温度)的数据值是44,表示硬盘的当前温度是44℃。

因此,有些参数直接查看数据也能大致了解硬盘目前的工作状态。

TYPE

属性的类型(Pre-fail或Oldage)。Pre-fail类型的属性可被看成一个关键属性,表示参与磁盘的整体SMART健康评估(PASSED/FAILED)。如果任何Pre-fail

类型的属性故障,那么可视为磁盘将要发生故障。另一方面,Oldage类型的属性可被看成一个非关键的属性(如正常的磁盘磨损),表示不会使磁盘本身发生故障。

UPDATED

表示属性的更新频率。Offline代表磁盘上执行离线测试的时间。

WHEN_FAILED

如果VALUE小于等于THRESH,会被设置成“FAILING_NOW”;如果WORST 小于等于THRESH会被设置成“In_the_past”;如果都不是,会被设置成“-”。在“FAILING_NOW”情况下,需要尽快备份重要文件,特别是属性是Pre-fail类型时。“In_the_past”代表属性已经故障了,但在运行测试的时候没问题。“-”代表这个属性从没故障过。

一般情况下,用户只要观察当前值、最差值和临界值的关系,并注意状态提示信息即可大致了解硬盘的健康状况。下面简单介绍各参数的含义,以红色标出的项目是寿命关键项,蓝色为固态硬盘(SSD)特有的项目。

在基于闪存的固态硬盘中,存储单元分为两类:SLC(Single Layer Cell,单层单元)和MLC(Multi-Level Cell,多层单元)。SLC成本高、容量小、但读写速度快,可靠性高,擦写次数可高达100000次,比MLC高10倍。而MLC虽容量大、成本低,但其性能大幅落后于SLC。为了保证MLC的寿命,控制芯片还要有智能磨损平衡技术算法,使每个存储单元的写入次数可以平均分摊,以达到100万小时的平均无故障时间。因此固态硬盘有许多SMART参数是机械硬盘所没有的,如存储单元的擦写次数、备用块统计等等,这些新增项大都由厂家自定义,有些尚无详细的解释,有些解释也未必准确,此处也只是仅供参考。下面凡未注明厂商的固态硬盘特有的项均为SandForce主控芯片特有的,其它厂商各自单独注明。

01(001)底层数据读取错误率Raw Read Error Rate

数据为0或任意值,当前值应远大于与临界值。

底层数据读取错误率是磁头从磁盘表面读取数据时出现的错误,对某些硬盘来说,

大于0的数据表明磁盘表面或者读写磁头发生问题,如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。不过对希捷硬盘来说,许多硬盘的这一项会有很大的数据量,这不代表有任何问题,主要是看当前值下降的程度。

在固态硬盘中,此项的数据值包含了可校正的错误与不可校正的RAISE错误(UECC+URAISE)。

注:RAISE(Redundant Array of Independent Silicon Elements)意为独立硅元素冗余阵列,是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术,保证内部有类似RAID阵列的数据安全性。

02(002)磁盘读写通量性能Throughput Performance

此参数表示硬盘的读写通量性能,数据值越大越好。当前值如果偏低或趋近临界值,表示硬盘存在严重的问题,但现在的硬盘通常显示数据值为0或根本不显示此项,一般在进行了人工脱机SMART测试后才会有数据量。

03(003)主轴起旋时间Spin Up Time

主轴起旋时间就是主轴电机从启动至达到额定转速所用的时间,数据值直接显示时间,单位为毫秒或者秒,因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说,这一项仅仅是一个参考值,硬盘每次的启动时间都不相同,某次启动的稍慢些也不表示就有问题。

硬盘的主轴电机从启动至达到额定转速大致需要4秒~15秒左右,过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0,这就要看当前值和最差值来判断了。

对于固态硬盘来说,所有的数据都是保存在半导体集成电路中,没有主轴电机,所以这项没有意义,数据固定为0,当前值固定为100。

04(004)启停计数Start/Stop Count

这一参数的数据是累计值,表示硬盘主轴电机启动/停止的次数,新硬盘通常只有几次,以后会逐渐增加。系统的某些功能如空闲时关闭硬盘等会使硬盘启动/停止的次数大为增加,在排除定时功能的影响下,过高的启动/停止次数(远大于通电次数0C)暗示硬盘电机及其驱动电路可能有问题。

这个参数的当前值是依据某种公式计算的结果,例如对希捷某硬盘来说临界值为20,当前值是通过公式“100-(启停计数/1024)”计算得出的。若新硬盘的启停计数为0,当前值为100-(0/1024)=100,随着启停次数的增加,该值不断下降,当启停次数达到81920次时,当前值为100-(81920/1024)=20,已达到临界值,表示从启停次数来看,该硬盘已达设计寿命,当然这只是个寿命参考值,并不具有确定的指标性。

这一项对于固态硬盘同样没有意义,数据固定为0,当前值固定为100。

05(005)重映射扇区计数Reallocated Sectors Count/ 退役块计数Retired Block Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

当硬盘的某扇区持续出现读/写/校验错误时,硬盘固件程序会将这个扇区的物理地址加入缺陷表(G-list),将该地址重新定向到预先保留的备用扇区并将其中的数据一并转移,这就称为重映射。执行重映射操作后的硬盘在Windows常规检测中是无法发现不良扇区的,因其地址已被指向备用扇区,这等于屏蔽了不良扇区。

这项参数的数据值直接表示已经被重映射扇区的数量,当前值则随着数据值的增加而持续下降。当发现此项的数据值不为零时,要密切注意其发展趋势,若能长期保持稳定,则硬盘还可以正常运行;若数据值不断上升,说明不良扇区不断增加,硬盘已处于不稳定状态,应当考虑更换了。如果当前值接近或已到达临界值(此时的

数据值并不一定很大,因为不同硬盘保留的备用扇区数并不相同),表示缺陷表已满或备用扇区已用尽,已经失去了重映射功能,再出现不良扇区就会显现出来并直接导致数据丢失。

这一项不仅是硬盘的寿命关键参数,而且重映射扇区的数量也直接影响硬盘的性能,例如某些硬盘会出现数据量很大,但当前值下降不明显的情况,这种硬盘尽管还可正常运行,但也不宜继续使用。因为备用扇区都是位于磁盘尾部(靠近盘片轴心处),大量的使用备用扇区会使寻道时间增加,硬盘性能明显下降。

这个参数在机械硬盘上是非常敏感的,而对于固态硬盘来说同样具有重要意义。闪存的寿命是正态分布的,例如说MLC能写入一万次以上,实际上说的是写入一万次之前不会发生“批量损坏”,但某些单元可能写入几十次就损坏了。换言之,机械硬盘的盘片不会因读写而损坏,出现不良扇区大多与工艺质量相关,而闪存的读写次数则是有限的,因而损坏是正常的。所以固态硬盘在制造时也保留了一定的空间,当某个存储单元出现问题后即把损坏的部分隔离,用好的部分来顶替。这一替换方法和机械硬盘的扇区重映射是一个道理,只不过机械硬盘正常时极少有重映射操作,而对于固态硬盘是经常性的。

在固态硬盘中这一项的数据会随着使用而不断增长,只要增长的速度保持稳定就可以。通常情况下,数据值=100-(100×被替换块/必需块总数),因此也可以估算出硬盘的剩余寿命。

Intel固态硬盘型号的第十二个字母表示了两种规格,该字母为1表示第一代的50纳米技术的SSD,为2表示第二代的34纳米技术的SSD,如SSDSA2M160G2GN 就表示是34nm的SSD。所以参数的查看也有两种情况:

50nm的SSD(一代)要看当前值。这个值初始是100,当出现替换块的时候这个值并不会立即变化,一直到已替换四个块时这个值变为1,之后每增加四个块当前

值就+1。也就是100对应0~3个块,1对应4~7个块,2对应8~11个块…… 34nm的SSD(二代)直接查看数据值,数据值直接表示有多少个被替换的块。

06(006)读取通道余量Read Channel Margin

这一项功能不明,现在的硬盘也不显示这一项。

07(007)寻道错误率Seek Error Rate

数据应为0,当前值应远大于与临界值。

这一项表示磁头寻道时的错误率,有众多因素可导致寻道错误率上升,如磁头组件的机械系统、伺服电路有局部问题,盘片表面介质不良,硬盘温度过高等等。

通常此项的数据应为0,但对希捷硬盘来说,即使是新硬盘,这一项也可能有很大的数据量,这不代表有任何问题,还是要看当前值是否下降。

08(008)寻道性能Seek Time Performance

此项表示硬盘寻道操作的平均性能(寻道速度),通常与前一项(寻道错误率)相关联。当前值持续下降标志着磁头组件、寻道电机或伺服电路出现问题,但现在许多硬盘并不显示这一项。

09(009)通电时间累计Power-On Time Count (POH)

这个参数的含义一目了然,表示硬盘通电的时间,数据值直接累计了设备通电的时长,新硬盘当然应该接近0,但不同硬盘的计数单位有所不同,有以小时计数的,也有以分、秒甚至30秒为单位的,这由磁盘制造商来定义。

这一参数的临界值通常为0,当前值随着硬盘通电时间增加会逐渐下降,接近临界值表明硬盘已接近预计的设计寿命,当然这并不表明硬盘将出现故障或立即报废。参考磁盘制造商给出的该型号硬盘的MTBF(平均无故障时间)值,可以大致估计剩余寿命或故障概率。

对于固态硬盘,要注意“设备优先电源管理功能(device initiated power management,DIPM)”会影响这个统计:如果启用了DIPM,持续通电计数里就不包括睡眠时间;如果关闭了DIPM功能,那么活动、空闲和睡眠三种状态的时间都会被统计在内。

0A(010)主轴起旋重试次数Spin up Retry Count

数据应为0,当前值应大于临界值。

主轴起旋重试次数的数据值就是主轴电机尝试重新启动的计数,即主轴电机启动后在规定的时间里未能成功达到额定转速而尝试再次启动的次数。数据量的增加表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题,整机供电不足也会导致这一问题。

0B(011)磁头校准重试计数Calibration Retry Count

数据应为0,当前值应远大于与临界值。

硬盘在温度发生变化时,机械部件(特别是盘片)会因热胀冷缩出现形变,因此需要执行磁头校准操作消除误差,有的硬盘还内置了磁头定时校准功能。这一项记录了需要再次校准(通常因上次校准失败)的次数。

这一项的数据量增加,表示电机驱动电路或是机械子系统出现问题,但有些型号的新硬盘也有一定的数据量,并不表示有问题,还要看当前值和最差值。

0C(012)通电周期计数Power Cycle Count

通电周期计数的数据值表示了硬盘通电/断电的次数,即电源开关次数的累计,新硬盘通常只有几次。

这一项与启停计数(04)是有区别的,一般来说,硬盘通电/断电意味着计算机的开机与关机,所以经历一次开关机数据才会加1;而启停计数(04)表示硬盘主轴电机的启动/停止(硬盘在运行时可能多次启停,如系统进入休眠或被设置为空闲

多少时间而关闭)。所以大多情况下这个通电/断电的次数会小于启停计数(04)的次数。

通常,硬盘设计的通电次数都很高,如至少5000次,因此这一计数只是寿命参考值,本身不具指标性。

0D(013)软件读取错误率Soft Read Error Rate

软件读取错误率也称为可校正的读取误码率,就是报告给操作系统的未经校正的读取错误。数据值越低越好,过高则可能暗示盘片磁介质有问题。

AA(170)坏块增长计数Grown Failing Block Count(Micron 镁光)

读写失败的块增长的总数。

AB(171)编程失败块计数Program Fail Block Count

Flash编程失败块的数量。

AC(172)擦写失败块计数Erase Fail Block Count

擦写失败块的数量。

AD(173)磨损平衡操作次数(平均擦写次数)/ Wear Leveling Count(Micron 镁光)

所有好块的平均擦写次数。

Flash芯片有写入次数限制,当使用FAT文件系统时,需要频繁地更新文件分配表。如果闪存的某些区域读写过于频繁,就会比其它区域磨损的更快,这将明显缩短整个硬盘的寿命(即便其它区域的擦写次数还远小于最大限制)。所以,如果让整个区域具有均匀的写入量,就可明显延长芯片寿命,这称为磨损均衡措施。

AE(174)意外失电计数Unexpected Power Loss Count

硬盘自启用后发生意外断电事件的次数。

B1(177)磨损范围对比值Wear Range Delta

磨损最重的块与磨损最轻的块的磨损百分比之差。

B4(180)未用的备用块计数Unused Reserved Block Count Total(惠普)

固态硬盘会保留一些容量来准备替换损坏的存储单元,所以可用的预留空间数非常重要。这个参数的当前值表示的是尚未使用的预留的存储单元数量。

B5(181)编程失败计数Program Fail Count

用4个字节显示已编程失败的次数,与(AB)参数相似。

B5(181)非4KB对齐访问数Non-4k Aligned Access(Micron 镁光)

B6(182)擦写失败计数Erase Fail Count

用4个字节显示硬盘自启用后块擦写失败的次数,与(AC)参数相似。

B7(183)串口降速错误计数SATA Downshift Error Count

这一项表示了SATA接口速率错误下降的次数。通常硬盘与主板之间的兼容问题会导致SATA传输级别降级运行。

B8(184)I/O错误检测与校正I/O Error Detection and Correction(IOEDC)“I/O错误检测与校正”是惠普公司专有的SMART IV技术的一部分,与其他制造商的I/O错误检测和校正架构一样,它记录了数据通过驱动器内部高速缓存RAM传输到主机时的奇偶校验错误数量。

B8(184)点到点错误检测计数End to End Error Detection Count

Intel第二代的34nm固态硬盘有点到点错误检测计数这一项。固态硬盘里有一个

LBA(logical block addressing,逻辑块地址)记录,这一项显示了SSD内部逻辑块地址与真实物理地址间映射的出错次数。

B8(184)原始坏块数Init Bad Block Count(Indilinx芯片)

硬盘出厂时已有的坏块数量。

B9(185)磁头稳定性Head Stability(西部数据)

意义不明。

BA(186)感应运算振动检测nduced Op-Vibration Detection(西部数据)意义不明。

BB(187)无法校正的错误Reported Uncorrectable Errors(希捷)

报告给操作系统的无法通过硬件ECC校正的错误。如果数据值不为零,就应该备份硬盘上的数据了。

报告给操作系统的在所有存取命令中出现的无法校正的RAISE(URAISE)错误。

BC(188)命令超时Command Timeout

由于硬盘超时导致操作终止的次数。通常数据值应为0,如果远大于零,最有可能出现的是电源供电问题或者数据线氧化致使接触不良,也可能是硬盘出现严重问题。

BD(189)高飞写入High Fly Writes

磁头飞行高度监视装置可以提高读写的可靠性,这一装置时刻监测磁头的飞行高度是否在正常范围来保证可靠的写入数据。如果磁头的飞行高度出现偏差,写入操作就会停止,然后尝试重新写入或者换一个位置写入。这种持续的监测过程提高了写入数据的可靠性,同时也降低了读取错误率。这一项的数据值就统计了写入时磁头飞行高度出现偏差的次数。

BD(189)出厂坏块计数Factory Bad Block Count(Micron 镁光芯片)

BE(190)气流温度Airflow Temperature

这一项表示的是硬盘内部盘片表面的气流温度。在希捷公司的某些硬盘中,当前值=(100-当前温度),因此气流温度越高,当前值就越低,最差值则是当前值曾经到达过的最低点,临界值由制造商定义的最高允许温度来确定,而数据值不具实际意义。许多硬盘也没有这一项参数。

BF(191)冲击错误率G-sense error rate

这一项的数据值记录了硬盘受到机械冲击导致出错的频度。

C0(192)断电返回计数Power-Off Retract Count

当计算机关机或意外断电时,硬盘的磁头都要返回停靠区,不能停留在盘片的数据区里。正常关机时电源会给硬盘一个通知,即Standby Immediate,就是说主机要求将缓存数据写入硬盘,然后就准备关机断电了(休眠、待机也是如此);意外断电则表示硬盘在未收到关机通知时就失电,此时磁头会自动复位,迅速离开盘片。

这个参数的数据值累计了磁头返回的次数。但要注意这个参数对某些硬盘来说仅记录意外断电时磁头的返回动作;而某些硬盘记录了所有(包括休眠、待机,但不包括关机时)的磁头返回动作;还有些硬盘这一项没有记录。因此这一参数的数据值在某些硬盘上持续为0或稍大于0,但在另外的硬盘上则会大于通电周期计数(0C)或启停计数(04)的数据。在一些新型节能硬盘中,这一参数的数据量还与硬盘的节能设计相关,可能会远大于通电周期计数(0C)或启停计数(04)的数据,但又远小于磁头加载/卸载计数(C1)的数据量。

对于固态硬盘来说,虽然没有磁头的加载/卸载操作,但这一项的数据量仍然代表了不安全关机,即发生意外断电的次数。

C1(193)磁头加载/卸载计数Load/Unload Cycle Count

对于过去的硬盘来说,盘片停止旋转时磁头臂停靠于盘片中心轴处的停泊区,磁头与盘片接触,只有当盘片旋转到一定转速时,磁头才开始漂浮于盘片之上并开始向外侧移动至数据区。这使得磁头在硬盘启停时都与盘片发生摩擦,虽然盘片的停泊区不存储数据,但无疑启停一个循环,就使磁头经历两次磨损。所以对以前的硬盘来说,磁头起降(加载/卸载)次数是一项重要的寿命关键参数。

而在现代硬盘中,平时磁头臂是停靠于盘片之外的一个专门设计的停靠架上,远离盘片。只有当盘片旋转达到额定转速后,磁头臂才开始向内(盘片轴心)转动使磁头移至盘片区域(加载),磁头臂向外转动返回至停靠架即卸载。这样就彻底杜绝了硬盘启停时磁头与盘片接触的现象,西部数据公司将其称为“斜坡加载技术”。由于磁头在加载/卸载过程中始终不与盘片接触,不存在磁头的磨损,使得这一参数的重要性已经大大下降。

这个参数的数据值就是磁头执行加载/卸载操作的累计次数。从原理上讲,这个加载/卸载次数应当与硬盘的启停次数相当,但对于笔记本内置硬盘以及台式机新型节能硬盘来说,这一项的数据量会很大。这是因为磁头臂组件设计有一个固定的返回力矩,保证在意外断电时磁头能靠弹簧力自动离开盘片半径范围,迅速返回停靠架。所以要让硬盘运行时磁头保持在盘片的半径之内,就要使磁头臂驱动电机(寻道电机)持续通以电流。而让磁头臂在硬盘空闲几分钟后就立即执行卸载动作,返回到停靠架上,既有利于节能,又降低了硬盘受外力冲击导致磁头与盘片接触的概率。虽然再次加载会增加一点寻道时间,但毕竟弊大于利,所以在这类硬盘中磁头的加载/卸载次数会远远大于通电周期计数(0C)或启停计数(04)的数据量。不过这种加载/卸载方式已经没有了磁头与盘片的接触,所以设计值也已大大增加,

通常笔记本内置硬盘的磁头加载/卸载额定值在30~60万次,而台式机新型节能硬盘的磁头加载/卸载设计值可达一百万次。

C2(194)温度Temperature

温度的数据值直接表示了硬盘内部的当前温度。硬盘运行时最好不要超过45℃,温度过高虽不会导致数据丢失,但引起的机械变形会导致寻道与读写错误率上升,降低硬盘性能。硬盘的最高允许运行温度可查看硬盘厂商给出的数据,一般不会超过60℃。

不同厂家对温度参数的当前值、最差值和临界值有不同的表示方法:希捷公司某些硬盘的当前值就是实际温度(摄氏)值,最差值则是曾经达到过的最高温度,临界值不具意义;而西部数据公司一些硬盘的最差值是温度上升到某值后的时间函数,每次升温后的持续时间都将导致最差值逐渐下降,当前值则与当前温度成反比,即当前温度越高,当前值越低,随实际温度波动。

C3(195)硬件ECC校正Hardware ECC Recovered

ECC(Error Correcting Code)的意思是“错误检查和纠正”,这个技术能够容许错误,并可以将错误更正,使读写操作得以持续进行,不致因错误而中断。这一项的数据值记录了磁头在盘片上读写时通过ECC技术校正错误的次数,不过许多硬盘有其制造商特定的数据结构,因此数据量的大小并不能直接说明问题。

C3(195)实时无法校正错误计数On the fly ECC Uncorrectable Error Count

这一参数记录了无法校正(UECC)的错误数量。

C3(195)编程错误块计数Program Failure block Count(Indilinx芯片)C4(196)重映射事件计数Reallocetion Events Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据值记录了将重映射扇区的数据转移到备用扇区的尝试次数,是重映射操作的累计值,成功的转移和不成功的转移都会被计数。因此这一参数与重映射扇区计数(05)相似,都是反映硬盘已经存在不良扇区。

C4(196)擦除错误块计数Erase Failure block Count(Indilinx芯片)

在固态硬盘中,这一参数记录了被重映射的块编程失败的数量。

C5(197)当前待映射扇区计数Current Pending Sector Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据表示了“不稳定的”扇区数,即等待被映射的扇区(也称“被挂起的扇区”)数量。如果不稳定的扇区随后被读写成功,该扇区就不再列入等待范围,数据值就会下降。

仅仅读取时出错的扇区并不会导致重映射,只是被列入“等待”,也许以后读取就没有问题,所以只有在写入失败时才会发生重映射。下次对该扇区写入时如果继续出错,就会产生一次重映射操作,此时重映射扇区计数(05)与重映射事件计数(C4)的数据值增加,此参数的数据值下降。

C5(197)读取错误块计数(不可修复错误)Read Failure block Count(Indilinx 芯片)

C6(198)脱机无法校正的扇区计数Offline Uncorrectable Sector Count

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据累计了读写扇区时发生的无法校正的错误总数。数据值上升表明盘片表面介质或机械子系统出现问题,有些扇区肯定已经不能读取,如果有文件正在使用这些扇区,操作系统会返回读盘错误的信息。下一次写操作时会对该扇区执行重映射。

C6(198)总读取页数Total Count of Read Sectors(Indilinx芯片)

C7(199)Ultra ATA访问校验错误率Ultra ATA CRC Error Rate

这个参数的数据值累计了通过接口循环冗余校验(Interface Cyclic Redundancy Check,ICRC)发现的数据线传输错误的次数。如果数据值不为0且持续增长,表示硬盘控制器→数据线→硬盘接口出现错误,劣质的数据线、接口接触不良都可能导致此现象。由于这一项的数据值不会复零,所以某些新硬盘也会出现一定的数据量,只要更换数据线后数据值不再继续增长,即表示问题已得到解决。

C7(199)总写入页数Total Count of Write Sectors(Indilinx芯片)

C8(200)写入错误率Write Error Rate / 多区域错误率Multi-Zone Error

Rate(西部数据)

数据应为0,当前值应远大于临界值。

这个参数的数据累计了向扇区写入数据时出现错误的总数。有的新硬盘也会有一定的数据量,若数据值持续快速升高(当前值偏低),表示盘片、磁头组件可能有问题。

C8(200)总读取指令数Total Count of Read Command(Indilinx芯片)

C9(201)脱道错误率Off Track Error Rate / 逻辑读取错误率Soft Read Error Rate

数据值累积了读取时脱轨的错误数量,如果数据值不为0,最好备份硬盘上的资料。C9(201)TA Counter Detected(意义不明)

C9(201)写入指令总数Total Count of Write Command(Indilinx芯片)CA(202)数据地址标记错误Data Address Mark errors

此项的数据值越低越好(或者由制造商定义)。

CA(202)TA Counter Increased(意义不明)

CA(202)剩余寿命Percentage Of The Rated Lifetime Used(Micron 镁光芯片)

最新版MHDD使用方法图解(硬盘坏道检测工具)

MHDD使用方法图解(2) Mhdd工具说明: 1、Mhdd是俄罗斯Maysoft公司出品的专业硬盘工具软件,具有很多其他硬盘工具软件所无法比拟的强大功能,它分为免费版和收费的完整版,本文介绍的是免费版的详细用法。这是一个G表级的软件,他将扫描到的坏道屏蔽到磁盘的G表中。(小知识:每一个刚出厂的新硬盘都或多或少的存在坏道,只不过他们被厂家隐藏在P表和G表中,我们用一般的软件访问不到他。G表,又称用户级列表,大约能存放几百个到一千左右的坏道;P表,又称工厂级列表,能存放4000左右的坏道或更多。)由于它扫描硬盘的速度非常快,已成为许多人检测硬盘的首选软件。 2、此软件的特点:不依赖主板BIOS,支持热插拔。Mhdd可以不依赖于主板BIOS直接访问IDE口,可以访问128G的超大容量硬盘(可访问的扇区范围从512到137438953472),即使你用的是286电脑,无需BIOS支持,也无需任何中断支持.热插拔的顺序要记清楚:插的时候,先插数据线,再插电源线。拔的时候,先拔电源线,再拔数据线。但我劝你不熟练最好不要热插拔,以免你不小心烧了硬盘赖我。 3、Mhdd最好在纯DOS环境下运行;但要注意尽量不要使用原装Intel品牌主板; 4、不要在要检测的硬盘中运行Mhdd; 5、Mhdd在运行时需要记录数据,因此不能在被写保护了的存储设备中运行(比如写保护的软盘、光盘等) 软件运行: 我们在DOS下运行Mhdd29:输入命令Mhdd29,按回车,出现主界面:

Mhdd软件应用: 主界面列出了Mhdd的所有命令,下面我们主要讲解Mhdd的几个常用命令: PORT;ID;SCAN; HPA; RHPA; NHPA; PWD ;UNLOCK ;DISPWD ;ERASE ;AERASE ;STOP 首先输入命令PORT(热键是:SHIFT+F3),按回车。这个命令的意思是扫描IDE口上的所有硬盘。

硬盘常见故障的原因

硬盘常见故障的原因 硬盘常见故障的原因: 1、硬盘的连接或设置错误 硬盘的数据线或电源线和硬盘接口接触不良,造成硬盘无法正常工件、在同一要数据线上连接两个硬盘,而硬盘的跳线没有正确设置,造成bios无法正确识别硬盘。 2、硬盘供电问题 硬盘的供电电路如果出现了问题,会直接导致硬盘不能正常工作。造成硬盘不通电、硬盘检测不到、盘片不转、磁头不寻道等故障。供电电路常出问题的部位是:插座的接线柱、滤波电容、二极管、三级管、场效应管、电感、保险电阻等。 3、接口电路故障 接口是硬盘与电脑之间传输数据的通道,接口电路出现故障有可能会导致检测不到硬盘、乱码、参数误认等现象。接口电路容易出现故障的部位是接口芯片与之匹配的晶振损坏、接口插针断裂、接口排阻损坏。 4、磁头芯片故障 芯片出现问题可能会出现磁头不能正确寻道、数据不能写入盘片、不能识别硬盘、有异响等故障现象。 5、电机驱动芯片故障 用于驱动硬盘主轴电机和音圈电机。现在的硬盘由于转速太

高导致芯片的发热量大而损坏。据不完全统计,70%左右的硬盘电路故障是由芯片损坏引起的。 6、硬盘坏道 硬盘由于经常非法关机或使用不当造成坏道,导致电脑系统文件损坏或丢失,电脑无法启动或死机。 7、硬盘引导区损坏 由于感染了引导型病毒,硬盘的引导区被修改,导致电脑无法正常读取硬盘,此故障通常提示lnvalid partiton tabel信息。 8、硬盘被逻辑锁锁住 由于被“黑客”攻击,电脑的硬盘被逻辑锁锁住,导致硬盘无法正常启动。 9、分区表丢失 由于病毒破坏造成硬盘分区表损坏或丢失,将导致系统无法启动。 10、其它部件损坏 包括主轴电机、磁头、音圈电机、定位卡子等损坏,将导致硬盘无法正常工作。 硬盘常见故障的

MHDD磁盘坏道扫描工具使用方法(详细图文教程)

MHDD磁盘坏道扫描工具使用方法(详细图文教程) 点评:MHDD是俄罗斯Maysoft公司出品的专业硬盘工具软件,具有很多其他硬盘工具软件所无法比拟的强大功能,它分为免费版和收费的完整版。本文就如何使用MHDD的一些基本命令的方法做一简单的介绍MDHH一般在一些系统盘中都会集成,除非是官方原版,一些ghost版本中,都会提供,大家可以看下。 MDHH扫描硬盘坏道的必用,虽然还有其他工具,但是很少用,最少我个人很少用其他工具,比较说效率源我都非常的少用,也只有MHDD找不到硬盘时才有可能用。 首先就是确定开机启动项是否为光盘启动?如果不是光盘启动的话,就算把光盘放到光驱里的话,他还是不会启动光盘的。笔记本的话,一般不用设置因为默认就已经是光盘启动了。 开机并确定第一启动项是光驱之后,开机进入光盘界面,以下只是随便一张系统安装盘,进入此界面之后,找一下有没“运行MHDD硬盘检测工具”此项,有的话,直接使用键盘上下键移动到此项确定即可直接运行了。如果没有的话,那么肯定是在“运行DOS工具集”这个里面了,移动到这里回车确认即可进入DOS工具集。 (图1光盘引导菜单中的DOS工具集和mdhh硬盘检测工具)

进入DOS工具集之后,如下图所示,部分系统盘可能不一样,但是几乎找一下都会有MHDD硬盘扫描维护这个的。绝多数DOS工具集里都有这个的。 输入MHDD回车确认,这个mhdd不区别大小写。即可进入MHDD扫描工具的使用。而光盘DOS工具集里面还有更多的工具,其他工具也可以用用,但是我一般其他的不怎么用,我一般只用MHDD硬盘扫描维护和低格其他倒是很少用。 (图2DOS工具集合图) 扫描工具,一般不用管他就会自动进入到以下图3所示的界面,而且就会自动扫描到当前主板上挂载的东西,如果有硬盘、光驱、U盘的话,就会有全部显示出来而且如下图3所示的显示出这些东西的序号、型号和容量。至于本文这里只挂载了一个硬盘,所以就只显示一个硬盘。 输入序号3,然后回车确定。说明一下这个3就是mhdd工具检测到的硬盘序列号。

硬盘可能出现的故障大全

硬盘故障大全 硬盘故障大全 2.BIOS设置中硬盘模式的含义 3.Fdisk无法读取硬盘分区 4.Windows XP挂起到硬盘后的异常故障解决 5.报废硬盘维修实录 6.常见硬盘自举失败的分析 7.从死神手中抢回宝贵的硬盘数据 8.低格能否消除硬盘坏道 9.故障硬盘数据拯救全攻略 10.打开硬盘分区出错 11.解决多硬盘盘符混乱问题 12.解决硬盘坏磁道问题 13.硬盘引导型故障分析及排除 14.解开硬盘逻辑死锁的一种有效方法 15.开机启动时的硬盘故障分析及排除 16.利用DM软件使硬盘再生 17.令维修人员大跌眼镜的硬盘故障 18.启动时硬盘的停顿如何解决? 19.浅谈IDE硬盘常见故障与维护 20.巧用Ghost擦去硬盘坏扇区 21.巧装大硬盘上XP 22.如何维修硬盘坏道 23.什么样的“坏硬盘”可修复 24.谈谈硬盘出现物理坏道的迹象及修复技巧 25.挽救被损硬盘一例 26.挽救硬盘的几个方法 27.我的硬盘会打盹 28.小跳线解决硬盘容量限制 29.一次硬盘数据恢复的经验 30.一分钟教你辨别返修硬盘 31.移动硬盘故障的5种可能 32.硬盘保护卡安全漏洞及解决办法 33.硬盘编号一点通 34.硬盘不能分区的困惑、管路敷设技术通过管线敷设技术不仅可以解决吊顶层配置不规范高中资料试卷问题,而且可保障各类管路习题到位。在管路敷设过程中,要加强看护关于管路高中资料试卷连接管口处理高中资料试卷弯扁度固定盒位置保护层防腐跨接地线弯曲半径标高等,要求技术交底。管线敷设技术中包含线槽、管架等多项方式,为解决高中语文电气课件中管壁薄、接口不严等问题,合理利用管线敷设技术。线缆敷设原则:在分线盒处,当不同电压回路交叉时,应采用金属隔板进行隔开处理;同一线槽内,强电回路须同时切断习题电源,线缆敷设完毕,要进行检查和检测处理。、电气课件中调试对全部高中资料试卷电气设备,在安装过程中以及安装结束后进行高中资料试卷调整试验;通电检查所有设备高中资料试卷相互作用与相互关系,根据生产工艺高中资料试卷要求,对电气设备进行空载与带负荷下高中资料试卷调控试验;对设备进行调整使其在正常工况下与过度工作下都可以正常工作;对于继电保护进行整核对定值,审核与校对图纸,编写复杂设备与装置高中资料试卷调试方案,编写重要设备高中资料试卷试验方案以及系统启动方案;对整套启动过程中高中资料试卷电气设备进行调试工作并且进行过关运行高中资料试卷技术指导。对于调试过程中高中资料试卷技术问题,作为调试人员,需要在事前掌握图纸资料、设备制造厂家出具高中资料试卷试验报告与相关技术资料,并且了解现场设备高中资料试卷布置情况与有关高中资料试卷电气系统接线等情况,然后根据规范与规程规定,制定设备调试高中资料试卷方案。、电气设备调试高中资料试卷技术电力保护装置调试技术,电力保护高中资料试卷配置技术是指机组在进行继电保护高中资料试卷总体配置时,需要在最大限度内来确保机组高中资料试卷安全,并且尽可能地缩小故障高中资料试卷破坏范围,或者对某些异常高中资料试卷工况进行自动处理,尤其要避免错误高中资料试卷保护装置动作,并且拒绝动作,来避免不必要高中资料试卷突然停机。因此,电力高中资料试卷保护装置调试技术,要求电力保护装置做到准确灵活。对于差动保护装置高中资料试卷调试技术是指发电机一变压器组在发生内部故障时,需要进行外部电源高中资料试卷切除从而采用高中资料试卷主要保护装置。

MHDD使用方法图解

MHDD磁盘坏道扫描工具使用方法图解教程 MDHH扫描硬盘坏道的必用,虽然还有其他工具,但是很少用,最少我个人很少用其他工具,比较说效率源我都非常的少用,也只有MHDD找不到硬盘时才有可能用。 首先就是确定开机启动项是否为光盘启动?如果不是光盘启动的话,就算把光盘放到光驱里的话,他还是不会启动光盘的。笔记本的话,一般不用设置因为默认就已经是光盘启动了。 开机并确定第一启动项是光驱之后,开机进入光盘界面,以下只是随便一张系统安装盘,进入此界面之后,找一下有没“运行MHDD硬盘检测工具”此项,有的话,直接使用键盘上下键移动到此项确定即可直接运行了。如果没有的话,那么肯定是在“运行DOS工具集”这个里面了,移动到这里回车确认即可进入DOS工具集。 (图1光盘引导菜单中的DOS工具集和mdhh硬盘检测工具) 进入DOS工具集之后,如下图所示,部分系统盘可能不一样,但是几乎找一下都会有MHDD硬盘扫描维护这个的。绝多数DOS工具集里都有这个的。 输入MHDD回车确认,这个mhdd不区别大小写。即可进入MHDD扫描工具的使用。 而光盘DOS工具集里面还有更多的工具,其他工具也可以用用,但是我一般其他的不怎么用,我一般只用MHDD硬盘扫描维护和低格其他倒是很少用。 (图2DOS工具集合图) 扫描工具,一般不用管他就会自动进入到以下图3所示的界面,而且就会自动扫描到当前主板上挂载的东西,如果有硬盘、光驱、U盘的话,就会有全部显示出来而且如下图3所示的显示出这些东西的序号、型号和容量。至于本文这里只挂载了一个硬盘,所以就只显示一个硬盘。 输入序号3,然后回车确定。说明一下这个3就是mhdd工具检测到的硬盘序列号。

硬盘物理坏道隔离软件使用详解

硬盘物理坏道隔离软件使用详解 硬盘是电脑极重要的一部分,所有的资料和数据都会保存在硬盘中,一旦硬盘出现错误,有时数据的损失会比整个电脑报废的损失还要大。不过,作为电脑的硬件之一,许多人总以为硬盘轻易不容易损坏,一旦坏了就是不能启动的情况,还有人认为坏道是很容易识别的,发现了用什么磁盘医生之类的软件修理就行了,再不行就低格吧!其实硬盘坏道,几乎可以称为硬盘的致命伤。笔者见识过许多因为延误时机,自己乱用各种软件修理,最后把偌大个硬盘整成一块废铁的例子。 修理硬盘坏道 对于逻辑坏道,我们可以修复,对于物理坏道,我们应采用隔离的办法,以最大程度减少损失,防止坏道进一步扩散为目标。我见过有些人在报纸上吹说用某个特殊软件能修理物理坏道,最要命的是许多人对低格硬盘的迷信,实在是误人之语。所谓低级格式化,指的是将空白的磁盘划分出柱面和磁道,然后再将磁道划分为若干个扇区,每个扇区又划分出标识部分ID、间隔区GAP和数据区DATA等。低级格式化只能在DOS环境下完成,而且只能针对—块硬盘而不能支持单独的某一个分区。有些坏磁道和坏扇区能够通过低级格式化来修复,但对于真正的硬盘磁盘表面物理划伤则无法进行修复,这只有通过各种办法标出坏扇区的位置,以便让操作系统不去使用,以防止扩大坏道进而延长硬盘使用。特别想强调,低级格式化是一种损耗性操作,对硬盘的寿命有一定的负面影响,所以,如无必要,用户们尽量不要低级格式化硬盘。 对于逻辑坏道,一般情况下我们用操作系统自带的工具和一些专门的硬盘检查工具就能发现并修复。如:Windows自带的Scandisk磁盘扫描程序就是发现硬盘逻辑坏道最常用的工具,而我们常见的Format命令不能对任何硬盘坏道起到修补作用,这点大家要明白。我们可在Windows系统环境下,在“我的电脑”中选中要处理的硬盘盘符,选

硬盘常见故障排除实例50个

硬盘常见故障排除实例 1.开机时硬盘无法工作 故障现象 开机时硬盘无法自举,系统不认硬盘。 分析处理 这种故障往往是最令人感到可怕的。产生这种故障的主要原因是硬盘主引导扇区数据被破坏,表现为硬盘主引导标志或分区标志丢失。这种故障的罪魁祸首往往是病毒,它将错误的数据覆盖到了主引导扇区中。市面上一些常见的杀毒软件都提供了修复硬盘的功能,大家不妨一试。但若手边无此类工具盘,则可尝试将全0数据写入主引导扇区,然后重新分区和格式化,其方法如下:用一张干净的DOS启动盘启动计算机,进入A:\>后,输入以下命令(括号内为注释): A:\>DEBUG(进入DEBUG程序) -F1003FF0(将数据区的内容清为0) -A400(增加下面的命令) MOVAX,0301 MOVBX,0100 MOVCX,0001 MOVDX,0080 INT13 INT03 -G=400(执行对磁盘进行操作的命令) -Q(退DEBUG程序) 用这种方法一般能使你的硬盘复活,但由于要重新分区和格式化,里面的数据可就难保了。以上是硬盘在日常使用中的一些常见故障及解决方法,希望能对大家有所启发。如果硬盘的故障相当严重并不能用上述的一些方法处理时,则很可能是机械故障。由于硬盘的结构相当复杂,所以不建议用户自己拆卸,而应求助于专业人员予以维修。 2.SATA硬盘提示“写入缓存失败” 故障现象 最近朋友送我一块120GB的希捷SATA硬盘,我挂在自己的机器上当从盘使用。但是碰到一个问题,这块硬盘开机时可以正常读取,过一段时间之后(20分钟左右)就提示“写入缓存失败”,然后就无法读取了;不过,重启计算机又可以继续使用,过一会又重复上述现象。 分析处理 SATA硬盘是不分“主/从盘”的,你可以在BIOS中指定从哪块硬盘启动。你说的故障有两种可能,一种是硬盘数据线接触不良;另一种则是SATA硬盘本身可能出现了问题。对于前者,通常是由于SATA插槽与插头松动所致,可以想办法加固一下(如使用橡皮盘捆起来或小纸片垫一下),看问题能否解决。对于后者而言,可能是硬盘本身过热,或芯片故障所致,硬盘本身过热的话,可以想办法安装硬盘散热器。或是芯片有问题,只能送修了。

dos硬盘检测图文教程

DOS指令“MHDD”硬盘坏道检测图文教程 DOS下的专业硬盘检测和坏道维修软件MHDD图文教程 使用MHDD修护硬盘坏道教程 MHDD 扫描硬盘坏道 准备工具带有MHDD工具的光盘(就是windows XP系统盘选择里面的DOS工具箱) 首先光盘启动运行MHDD 就会有一个选项你看到你所要扫描的硬盘型号按前面数键进入MHDD 界面 输入scan (表示扫描)或按F4 后:出现如下图 这里有参数设置 start LBA 表示要扫描的起始扇区 end LBA 表示结束扇区这设置如果你知道范围节省时间只扫描是否有坏道的话就不会改直接按F4 开始扫描了,如下图:

下面说修复:当你扫描完后有坏道 MHDD扫描时候右下角会有数字那第一个就是扇区的起始最后一个就是坏道扇区结束修复和扫描一样 按F4 进入参数设置界面但是要开启修复功能:如下图 start LBA 填入你硬盘坏道的起始扇区 end LBA 填入你硬盘坏道结束扇区 Remap 选为 ON 表示开启修复功能 Timeout 为时间一盘是默认 LOOP/TEST REPAIR 设置为ON 表示开启这里是反复擦写可以修复玩固环道 ERASE 为OFF 表示关闭 设置完成,按F4 开始修理了。 到这里扫描和修复就完了。 另外2种修复的方法,本人已经尝试过,非常管用! 1.先按SHIFT+F3扫描硬盘连接并选择,按F4键,先用一般模式扫一遍,再用高级模式扫一变,具体方法是选择LBA模式,remap项OFF,Loop the test/repair 项OFF,其余项ON,选择完毕CTRL+ENTER执行扫描,扫描完毕,执行上面操作,选CHS模式,Loop the test/repair项OFF,Erase WAITs项OFF,其余项选ON,选择完毕,执行扫描,OK!!!大家切记不要直接用高级模式进行扫描,有些朋友为了急于求成,就直接用高级模式对硬盘进行操作,这种做法是错误的,如果直接用高级模式扫的话,一次好不了的话,那么MHDD对其就无可奈何了,要么认不到硬盘,要么坏道无法修复) 修复成功率(1类坏道百分之九十以上,2类坏道百分之七十,3类坏道百分之十)

在检查硬盘坏道时那些150ms 500ms数值是什么意思

在检查硬盘坏道时那些150ms500ms数值是什么意思 所有的块都代表:硬盘某一部分在测试时的读取速度(那是单个扇区扫描时的响应速度,只要没有图中<150ms (绿块)及以下的块出现,你的硬盘就是可靠的), 假设该绿块的读取速度为N,则:150ms≥N<500ms (ms为毫秒,1秒/1000) 也就是说,测试过程中,MHDD在读取这一部分时的速度为以上公式中的数值范围,并不是硬盘有坏道。 这个数值产生的原因不一定就是硬盘本身造成的,也可能是其他原因。因为主机工作的时影响其性能的外因很多。 发现问题就用DM 清零在格式化重新分区。 问题应该都可以解决。 硬盘是电脑极重要的一部分,所有的资料和数据都会保存在硬盘中,一旦硬盘出现错误,有时数据的损失会比整个电脑报废的损失还要大。不过,作为电脑的硬件之一,许多人总以为硬盘轻易不容易损坏,一旦坏了就是不能启动的情况,还有人认为坏道是很容易识别的,发现了用什么磁盘医生之类的软件修理就行了,再不行就低格吧!其实硬盘坏道,几乎可以称为硬盘的致命伤。笔者见识过许多因为延误时机,自己乱用各种软件修理,最后把偌大个硬盘整成一块废铁的例子。 修理硬盘坏道 对于逻辑坏道,我们可以修复,对于物理坏道,我们应采用隔离的办法,以最大程度减少损失,防止坏道进一步扩散为目标。我见过有些人在报纸上吹说用某个特殊软件能修理物理坏道,最要命的是许多人对低格硬盘的迷信,实在是误人之语。所谓低级格式化,指的是将空白的磁盘划分出柱面和磁道,然后再将磁道划分为若干个扇区,每个扇区又划分出标识部分ID、间隔区GAP和数据区DATA 等。低级格式化只能在DOS环境下完成,而且只能针对—块硬盘而不能支持单独的某一个分区。有些坏磁道和坏扇区能够通过低级格式化来修复,但对于真正的硬盘磁盘表面物理划伤则无法进行修复,这只有通过各种办法标出坏扇区的位置,以便让操作系统不去使用,以防止扩大坏道进而延长硬盘使用。特别想强调,低级格式化是一种损耗性操作,对硬盘的寿命有一定的负面影响,所以,如无必要,用户们尽量不要低级格式化硬盘。 对于逻辑坏道,一般情况下我们用操作系统自带的工具和一些专门的硬盘检查工具就能发现并修复。如:Windows自带的Scandisk磁盘扫描程序就是发现硬盘逻辑坏道最常用的工具,而我们常见的Format命令不能对任何硬盘坏道起到修补作用,这点大家要明白。我们可在Windows系统环境下,在“我的电脑”中选中要处理的硬盘盘符,选择其“属性”,在出现的“工具”按钮中选择“查错状态”,再在“扫描类型”中选“全面检查”,并将“自动修复错误”打上“勾”,然后“开始”即可。如果系统在启动时不进行磁盘扫描或已不能进入Windows系统,我们也可用软盘或光盘启动盘启动电脑后,在相应的盘符下,如“A:”下运行Scandisk *:(注:*为要扫描的硬盘盘符),回车后来对相应需要扫描修复的硬盘分区进行修理。 但是,如果是硬盘物理坏道,那么千万千万记住不要试图用这些方法来修复,相反用各种工具反复扫描,就是对硬盘的物理坏区强制进行多次读写,必然会使坏道变多,进而扩散,正确的方法是用下面的方法果断地把已有坏道的地方隔离开。这是一种很无奈的办法,但是一个20G的硬盘,如果因为坏道,屏蔽了15G,总还有5G空间可用,如果不这样做,最后的结果是整个硬盘全部报废。

常见硬盘故障英文提示信息

硬盘常见英文提示 网上对硬盘错误的英文提示有很多的资料,我只是列出一些常见的硬盘故障的提示,主要针对喜欢折腾电脑的又是新手的朋友,高手绕道啊,呵呵。下面绝大部分是我遇见过的硬盘故障。 1、Date error(数据错误): 从软盘或硬盘上读取数据不存在不可修复错误,磁盘上有坏扇区或坏的文件分配表。 2、Hard disk configuration error(硬盘配置错误): 硬盘配置不正错,跳线不对,硬盘参数设置不正确等。 3、Hard disk controller failure(硬盘控制器失效): 控制器卡(多功能卡)松动,连线不对,硬盘配置不正确,跳线不对,硬盘参数设置不正确等。 4、Hard disk failure(硬盘失效故障): 控制器卡(多功能卡)故障,硬盘配置不正确,跳线不对,硬盘物理故障。 5、Hard disk drive read failure(硬盘驱动器读取失效): 控制器卡(多功能卡)松动,硬盘配置不正确,硬盘参数设置不正确,硬盘记录数据被破坏等。 6、No boot device available(无引导设备): 系统找不到为引导设备的软盘或硬盘。 7、No boot sector on hard disk drive (硬盘上无引导扇区): 硬盘上引导扇区丢失,感染了病毒或配置参数不正确。 8、Non system disk or disk error(非系统盘或磁盘错误): 作为引导的磁盘不是系统盘,不含有系统引导和核心文件,或磁盘片本身故障。 9、Sector not found (扇区未找到): 系统在软盘和硬盘上不能定位给定扇区 10、seek error(搜索错误): 系统在软盘和硬盘上不能定位给定扇区,磁道或磁头。 11、Reset failed(硬盘复位失败): 硬盘或硬盘接口的电路故障。 12、Fatal error Rad Hard Disk(硬盘致命错误): 硬盘或硬盘接口故障

MHDD(硬盘检测)使用方法图解

MHDD(硬盘检测)使用方法图解 技术QQ:597684157 Mhdd工具说明: 1、Mhdd是俄罗斯Maysoft公司出品的专业硬盘工具软件,具有很多其他硬盘工具软件所无法比拟的强大功能,它分为免费版和收费的完整版,本文介绍的是免费版的详细用法。这是一个G表级的软件,他将扫描到的坏道屏蔽到磁盘的G表中。(小知识:每一个刚出厂的新硬盘都或多或少的存在坏道,只不过他们被厂家隐藏在P表和G表中,我们用一般的软件访问不到他。G表,又称用户级列表,大约能存放几百个到一千左右的坏道;P表,又称工厂级列表,能存放4000左右的坏道或更多。)由于它扫描硬盘的速度非常快,已成为许多人检测硬盘的首选软件。 2、此软件的特点:不依赖主板BIOS,支持热插拔。Mhdd可以不依赖于主板BIOS直接访问IDE口,可以访问128G的超大容量硬盘(可访问的扇区范围从512到137438953472),即使你用的是286电脑,无需BIOS支持,也无需任何中断支持.热插拔的顺序要记清楚:插的时候,先插数据线,再插电源线。拔的时候,先拔电源线,再拔数据线。但我劝你不熟练最好不要热插拔,以免你不小心烧了硬盘赖我。 3、Mhdd最好在纯DOS环境下运行;但要注意尽量不要使用原装Intel品牌主板; 4、不要在要检测的硬盘中运行Mhdd; 5、Mhdd在运行时需要记录数据,因此不能在被写保护了的存储设备中运行(比如写保护的软盘、光盘等) 软件运行: 我们在DOS下运行Mhdd29:输入命令Mhdd29,按回车,出现主界面:

Mhdd软件应用: 主界面列出了Mhdd的所有命令,下面我们主要讲解Mhdd的几个常用命令: PORT;ID;SCAN; HPA; RHPA; NHPA; PWD ;UNLOCK ;DISPWD ;ERASE ;AERASE ;STOP 首先输入命令PORT(热键是:SHIFT+F3),按回车。这个命令的意思是扫描IDE口上的所有硬盘。

使用“DiskGenius”精确隐藏硬盘坏道的方法

使用“DiskGenius”精确隐藏硬盘坏道的方法 现在大家手中可能都有些有坏道的硬盘,也可能现在机器上的硬盘也出问题了。硬盘有坏道,肯定不会全部都是坏道,不能使用了。但我们因此而不能使用了,那么就太可惜了。所以,只要把有坏道的区域隐藏起来,就如同使用新硬盘一样了,不会对使用有任何影响。 下面我具体讲一下如何正确检测硬盘坏道的位置,然后如何分区并把坏道区域隐藏: 一、首先把硬盘中所有的文件全部移动到其它硬盘上,然后删除所有分区,使硬盘为一个区。(如果没有条件,也可一个分区,一个分区的检测,此分区发现坏道,把文件移动到其它分区,再做处理。但隐藏坏道的方式是一样的) 二、首先运行“DiskGenius”,在工具栏上,点击“硬盘”----“坏道检测与修复”,会出现下图示的窗口。 (PS:由于我只是用我硬盘中有坏道的区域做教材,所以起始柱面号不是为0)

三、检测完毕后,看下图 四、分析报表:(下图为检测报表)

柱面号,是我们要记住的坏道位置。我们的硬盘无论多大,1G空间大约占用131个柱面。按图所示,第一坏道的位置是9672,那么硬盘前面部分(0----9671)是好的区域,因此,就用9600/131=73.000G,(我使用9600,略去72,是为了离开坏道远点)得到了好的部分为73G空间。再看上图,最后坏道的位置是10124,那么可用10124-9671/131=3.400G,知道了坏道区域为3.4G多。这样,我们可分出4G做为坏道区域。如果还有其它坏道区域,以此为例。 五、全部分区分区好后,先不要“应用更改”。因为我们使用的计算数值为近似值,所以会有误差。为了避免把坏道部分,分到好的区域内,我们检查一下,看下图: 六、确认没有问题了,将分出的坏道区域分区全部删除即可(即只把坏道区域分区删除,这就等于,没有将坏道区域分区,也就达到了隐藏并且不使用的目的)。然后,点击工具栏上的“保存更改”按键,我们要做的工作就完成了。 PS:有些朋友看后,说不明白。 看不明白的朋友,应该是从来也没有使用过“DiskGenius”。如果使用过,特别是使用

硬盘坏道屏蔽FBDISK+教程

硬盘坏道屏蔽FBDISK+教程 它是一个将有坏磁道的硬盘分区的程序。它可将有坏磁道的硬盘自动重新分区,将坏磁道设为隐藏分区,好磁道设为可用分区; 将坏磁道分隔开以防止坏磁道扩散。但如果坏磁道过于分散,就会产生许多分散的可用的分区;限于分区规则只能设4个主分区, 程序会选其中最大的四个分区设为可用,其它设为隐藏。 坏盘分区器FBDISK1.0 坏盘分区器现改名为FBDISK(Fixed Bad Disk)。它是一个将有坏磁道的硬盘分区的程序。它可将有坏磁道的硬盘自动重新分区,将坏磁道设为隐藏分区,好磁道设为可用分区;将坏磁道分隔开以防止坏磁道扩散。但如果坏磁道过于分散,就会产生许多分散的可用的分区;限于分区规则只能设4个主分区,程序会选其中最大的四个分区设为可用,其它设为隐藏。 现1.0版作了以下改进: 1、增加了对大于8G的硬盘的外理能力;可外理500G以下的硬盘。 2、所有分区都设为FAT32,用以支持大于2G的分区。 3、增加了剩余时间显示。 本程序包含二个文件fbdisk.exe和readme.txt。 使用: 本程序只对物理1号硬盘进行处理。先制作一张启动盘(Win97、Win98、WinMe都可以),并拷入本程序;用启动盘启动电脑进入DOS状态。运行本程序,会先显示硬盘的参数,并问你是否扫描硬盘Start scan hard disk?(Y/N)。按Y后开始进行扫描,并显示进度及剩余时间。这个剩余时间只是估计值,一开始可能会不准确及不稳定,但当进度过了10%时就会稳定下来,时间也比较准确了。当遇到有坏磁道时会显示坏磁道所在位置。硬盘扫描完成后程序会给出分区意见,并问你是否将其写入硬盘Write to disk?(Y/N)。到这时为止,程序还没有向硬盘写入任何数据。这时只要按Y,就会将其写入硬盘,并显示Write disk OK!说明写入成功,分区完成。分区完成后用这张启动盘重新启动后就可格式化硬盘了。 说明: 请小心使用本程序,它会对硬盘数据产生不可恢复的破坏。对使用本软件而产生的任何损失,本人概不负责。 硬盘作为电脑中的重要存储设备,虽然其使用寿命较长,但也是相对脆弱的配件之一。经过长时间的使用后,特别是使用过程中发生诸如磕碰、震动等意外,甚至过高的温度等环境因素也会对硬盘造成损害,使之出现零磁道损坏或者其他故障,最终影响了硬盘的寿命。如果在保修期内,你当然可以将硬盘拿到商家更换或维修。而如果超出了保质期,一般的做法是视情采用软修复措施,即使用诺顿NU、PCTOOL等专门的工具软件来尝试进行修复。 坏道分类

硬盘常见故障的分析及处理

硬盘常见故障的分析及处理 [摘要] 本文主要对工作中常见的硬盘故障进行了分析,并提出了解决的方法. [关键词] 硬盘无法启动运行缓慢数据丢失 随着广播电视的数字化飞速发展,国内地市级以上的电视台大多都在使用高效、快捷的基于计算机技术的非线性编辑系统和播出系统。比如阿拉善电视台为制作中心引进非线性编辑系统和为播控中心引进的数字化播控系统已近六年了,这些设备的引进确实使节目制作人员和播出人员的工作效率得到了提高和工作质量得到了大幅提升。而非线性编辑系统和播出系统在使用的过程中经常会出现一些问题,使正常的工作受到影响,而发生故障次数较多和对工作影响最大的就是硬盘的故障,所以了解硬盘常见故障的发生及解决方法便成了工作人员和维护人员迫切的事情。 由硬盘引发故障而造成的现象主要有系统无法正常启动,系统运行缓慢,频繁死机或数据丢失。下面就这些常见故障一一分析。 系统无法正常启动 我们在工作中经常会遇到由于硬盘发生故障而导致系统无法正常启动的现象,这通常有硬盘的软、硬件方面的原因: 一、硬件故障及其排除方法 1、硬件接触不良:硬盘接口松动导致接触不良,一般只需重新拔插接口即可排除故障。 2、硬盘电缆损坏:硬盘线是指连接硬盘接口和硬盘盘体的电缆线多次插拔后有可能引起信号线断裂。此时需要更换硬盘电缆线。 3、硬盘盘体或电路损坏:如果出现CMOS设置中找不到硬盘,硬盘不能低级格式化,低级格式化时坏道增多等情况,多数因为硬盘体或电路损坏,因考虑更换硬盘。 二、软件故障及其排除方法 1、CMOS参数丢失:硬盘参数存储在CMOS中,可以通过CMOS设置程序查询或修改。不同类型与容量的硬盘对应着不同的参数,这些参数一旦丢失或发生错误,就会导致硬盘不能启动。可通过硬盘参数自动检测功能恢复正确的硬盘参数。 2、硬盘操作系统瘫痪:从硬盘启动操作系统的条件是活动分区的逻辑盘中必须装有完整的操作系统。当操作系统出现故障时,可用与硬盘相同的操作系统软盘从A驱引导,并执行“SYS C:”命令进行修复。 3、硬盘主引导扇区损坏:硬盘主引导扇区位于硬盘的0磁道0柱面1扇区,共512个字节。其内容是在执行Fdisk程序对硬盘分区时产生的。它主要由硬盘主引导记录MBR(Main Boot Record)、硬盘分区表DPT(Disk Partition Table)和分区结束标志组成。主引导记录占用了446个字节(偏移0----偏移1BDH);硬盘分区表是以80H或00H为开始标志,以55AAH为结束标志,共占用64个字节(偏移1BEH ------偏移1FDH),最后两个字节“55AA”(偏移1FEH----偏移1FFH)是分区的有效结束标志。 硬盘主引导记录MBR包含了硬盘的一系列参数和一段引导程序,其中硬盘引导程序的主要作用是检查分区表是否正确并且在系统硬件完成自检以后引导具有激活标志的分区上的操作系统,并将控制权交给启动程序。因此,如果硬

硬盘坏道检测工具MHDD的使用方法

电脑使用不正常,有时候进不了操作系统,有时候进去了,一会就蓝屏了,有时候开机画面,不停的出现磁盘自检现象。这个时候,我们要考虑硬盘是否有坏道了,那么在怎么检测硬盘坏道呢,如果坏道不是很多的话,大部分数据时可以恢复回来的,这样,重要的东西就不会丢失。 那么怎么检测硬盘有坏道呢?检测硬盘坏道工具很多,现在我们提供一个硬盘坏道检测软件“MHDD”,这个软件是专业的硬盘检测工具。 首先,在电脑上插入U盘启动工具(U盘启动系统怎么做,请参照:教你怎么制作大白菜U 盘启动系统),开机---按“DEL”键,如下图一: 进入主板BIOS画面,如图二:

移动到“SATA Configuration”硬盘设置选项,如图三: 按“Enter”回车键,如图四:

我们可以看到,SATA 1 上面接了ST(希捷)1000G的硬盘,”SATA2:None “SATA2 上面没有设备,”SATA3:TSSTCORPdvd-ROM” SATA3上面接了一个DVD光驱,同理,STAT4 上面没有接设备。接着,我们用键盘上的方向键移动到”BOOT”启动项上面,如下图五: 选择“Hard Drive BBS priorities”硬盘启动选择,按“Enter”回车键,如图六:

我们可以看到,“BOOT OPTION #1”这是第一启动,我们看到上图,第一启动时硬盘,我们现在要用U盘启动,那么,第一启动,我们要设置成为U盘启动,在“BOOT OPTION #1” 选项上按“Enter”回车键,出现如图七: 选择“SANDISK”这个是我闪迪的U盘,按“Enter”回车,出现如图八:

硬盘的常见错误提示及解决方法

硬盘的常见错误提示及解决方法 收集者:小路发布于:https://www.sodocs.net/doc/3b16907992.html, 发布时间:2008-4-11 12:59:28 发布人:小路 减小字体增大字体 一、显示:“c:drive failure run setup utility,press(f1)to resume” 此类故障是硬盘参数设置不正确所以从软盘引导硬盘可用,只要重新设置硬盘参数即可。二、显示:“no rom basic,system halted” 病因分析:造成该故障的原因一般是引导程序损坏或被病毒感染,或是分区表中无自举标志,或是结束标志55aah被改写。 治疗方法:从软盘启动,执行命令“fdisk/mbr"即可。fdisk中包含有主引导程序代码和结束标志55aah,用上述命令可使fdisk中正确的主引导程序和结束标志覆盖硬盘上的主引导程序,这一招对于修复主引导程序和结束标志55aah损坏既快又灵。对于分区表中无自举标志的故障,可用ndd迅速恢复。 三、显示“error loading operating system”或“missing operating system” 病因分析:造成该故障的原因一般是dos引导记录出现错误。dos引导记录位于逻辑0扇区,是由高级格式化命令format生成的。主引导程序在检查分区表正确之后,根据分区表中指出的dos分区的起始地址,读dos引导记录,若连续读五次都失败,则给出“error loading opear ting system”的错误提示,若能正确读出dos引导记录,主引导程序则会将dos引导记录送入内存0:7c00h处,然后检查dos引导记录的最后两个字节是否为55aah,若不是这两个字节,则给出“missing operation system”的提示。 治疗方法:一般情况下用ndd修复即可。若不成功,只好用format c:/s命令重写dos引导记录,也许你会认为格式化后c盘数据将丢失,其实不必担心,数据仍然保存在硬盘上,格式化c盘后可用nu8.0中的unformat恢复。如果曾经用dos命令中的mirror或nu8.0中的image 程序给硬盘建立过image镜像文件,硬盘可完全恢复,否则硬盘根目录下的文件全部丢失,根目录下的第一级子目录名被更名为dir0、dir1、 dir2……,但一级子目录下的文件及其下级子目录完好无损,至于根目录下丢失的文件,你可用nu8.0中的unerase再去恢复即可。 四、显示:“invalid drive specification” 治疗方法: 1、重新分区格式化。 2、如0磁道损坏需要低级格式化,然后用set comspec(指定command文件位置),使得com mand远离0磁道。 当硬盘出现分区故障后,希望用户先用上述方法解决,若不成功,对硬盘分区格式化是解决软故障的基本方法,但信息将被清除。 其使用原则是:能用高格解决的不用分区,能用分区解决的不用低级格式化 高级分区技巧 在讲解高级分区技巧之前,我们有必要先来了解一下簇的概念。 文件系统是操作系统的重要组成部分,现在我们常用的windows操作系统都可以支持多种文件系统,例如fat16、fat32以及ntfs文件系统等。文件系统是操作系统与驱动器之间的一个接口,当操作系统请求从硬盘里读取一个文件时,会请求相应的文件系统(fat16、fat32、ntfs)打开文件,而簇的概念也在此时出现。虽然我们知道扇区是磁盘最小的物理存储单元,但对于dos操作系统来说,扇区要小得多(仅仅512个字节),dos无法对数目众多的扇区进行寻址。根据dos的设计初衷,dos只能处理216个磁盘单元,而磁盘单元可以是扇区,也可以是由扇区集合所构成的簇。所以当使用fat16格式时,扇区必须组成“簇”的形式,每个簇可以包括

mhdd4.6使用方法-图文教程-图文详解-修复坏道

mhdd4.6使用方法图文教程图文详解修复坏道 1、MHDD图文教程-功能简介 2、MHDD图文教程-硬盘检测 3、MHDD图文教程-修改容量 4、MHDD图文教程-坏道维修 MHDD图文教程 dos下的专业硬盘检测和坏道维修软件MHDD图文教程2009年12月18日星期五下午01:44使用MHDD修护硬盘坏道教程 MHDD 扫描硬盘坏道 准备工具带有MHDD工具的光盘(雨林木风系统工具光盘就有,我就不多说) 首先光盘启动运行MHDD 就会有一个选项你看到你所要扫描的硬盘型号按前面数键进入MHDD 界面 输入scan (表示扫描)或按F4 后:出现如下图 这里有参数设置start LBA 表示要扫描的起始扇区end LBA 表示结束扇区这设置如果你知道围节省时间只扫描是否有坏道的话就不会改直接按F4 开始扫描了 如下图:

下面说修复:当你扫描完后有坏道MHDD扫描时候右下角会有数字那第一个就是扇区的起始最后一个就是坏道扇区结束修复和扫描一样 按F4 进入参数设置界面但是要开启修复功能:如下图 start LBA 填入你硬盘坏道的起始扇区end LBA 填入你硬盘坏道结束扇区 Remap 选为ON 表示开启修复功能 Timeout 为时间一盘是默认 LOOP/TEST REPAIR 设置为ON 表示开启这里是反复擦写可以修复玩固环道 ERASE 为OFF 表示关闭 设置完成,按F4 开始修理了。 到这里扫描和修复就完了。 另外2种修复的方法,本人已经尝试过,非常管用! 1.先按SHIFT+F3扫描硬盘连接并选择,按F4键,先用一般模式扫一遍,再用高级模式扫一变,具体方法是选择LBA

Mhdd工具说明

MHDD使用方法图解(一) 数据恢复教程—MHDD 使用手册 MHDD是俄罗斯Maysoft公司出品的专业硬盘检测及维修工具软件,具有很多其他硬盘工具软件所无法比拟的强大功能。MHDD所有对硬盘的操作要完全独占端口执行,不需要任何BIOS支持,也不需要使用任何中断,所有的操作都是直接完成的。所以不管被检测的硬盘上安装的是何种操作系统,对MHDD效果都是一样的,它能够独立地访问硬盘驱动上包括从第一个扇区到最后一个扇区的所有扇区而不论上面有何种信息。 而MHDD可以不依赖于主板BIOS直接访问硬盘接口,但要注意不要在被检测的硬盘中运行MHDD,被检测硬盘最好作为从盘。MHDD在运行时需要记录数据,因此不能在写保护设备中运行,比如写保护的软盘、光盘等。 MHDD需要工作在DOS环境下,可以访问到137G以上的超大容量硬盘。MHDD运行时是没有“菜单”可供选择的,它的功能都是在DOS环境下通过指令输入的方式实现的,或者通过组合键自动输入命令。 在DOS环境下运行MHDD后出现如图A-1所示的界面: 屏幕第一行的左半部分为状态寄存器,右半部分为错误寄存器。左边的状态寄存器显示的是硬盘的状态,具体含义如下: BUSY 硬盘忙且对指令不反应 WRFT 写入失败 DREQ 硬盘需要和主机交换数据 DRSC 硬盘初检通过 DRDY 找到硬盘

当ERR指示闪烁时,注意屏幕的右上角,错误类型显示在那里,其含义如下: AMNF 地址标志出错 T0NF 0磁道没找到 ABRT 指令被中止 IDNF 扇区ID没找到 UNCR 不可纠正的错误 BBK 校验错误 在这两个区域之间,有一块空的区域,如果硬盘被密码加锁了,这里会出现一个加亮的“PWD”字样。如果使用了HPA功能修改过容量,那么这里会出现加亮的“HPA”字样。 在屏幕第二行就是硬盘参数行,左边显示的是硬盘的当前参数,当扫描时右边显示的是当前的磁头位置。 执行“help”命令或按“F1”键可以查看MHDD的具体命令及用法,如图A-2、A-3、A-4所示:

DOS命令下硬盘坏道检测和修复

DOS命令下硬盘坏道检测和修复 首先需要先确认硬盘的坏道是逻辑坏道还是物理坏道。 方法很简单,在电脑刚启动时按“F8”键,选择“Command Prompt only”进入DOS模式。这种方法的操作系统必须为Windows95/98,若为Windows2000/XP/2003,请使用DOS启动盘启动。然后执行“Scandisk X:”(X为怀疑有故障的盘符),Scandisk便会检查硬盘,对产生的逻辑坏道会自行弹出对话框,选择“Fix it”对逻辑坏道进行初级修复。 如扫描程序在某一进度停滞不前,那么硬盘就有了物理坏道。 对于已进行初级修复的仍有逻辑坏道的硬盘,正常启动后回到Windows下,进入“我的电脑”中,选择有逻辑坏道的分区,单击鼠标右键,选择“属性”、“工具”、“开始检查”,就弹出“磁盘扫描程序”,选中“完全”,并将“自动修复错误”打上勾,单击“开始”,就开始对该分区进行扫描和修复。 而对于有物理坏道的硬盘,上述方法就没用了。对于这样的故障,如果硬盘还没过质保期,就去找销售商更换或维修。但如果过了质保期,可以自己动手修理了,推荐使用原厂的DM工具,对硬盘进行“清零”处理,很多小问题用DM都能解决,而且经上面处理过后,再使用其它软件,硬盘修复的时间能大为缩短。 然后再使用HDDREG、MHDD、FB这些软件进行处理。这几款软件功能类似,使用上各有特色。HDDREG可以通过磁性逆转方式来达到修复坏道的目的,据称可以修复大约60%的受损硬盘,在修复坏道的同时又不影响硬盘原有的数据信息,而这是低级格式化程序所做不到的。

当然还可以用Partition Magic手工处理,达到隐藏坏道的目的。 具体的做法是:首先启动Partition Magic,选中“Operation”菜单下的“Check”命令,对硬盘进行直接扫描,标记坏簇后,选中“Operation”菜单下的“Advanced”、“bad sector retset”,最后把坏簇分成一个独立的分区,再通过“Hide partiton”命令将分区隐藏即可。 如果电脑启动时出现信息:“TRACK 0 BAD,DISK UNUSABLE”,那么修复起来就比较麻烦,因为此信息说明硬盘的零磁道损坏了,一般出现这种情况,大多数人就把硬盘做报废处理。但绝非不能修复,原理很简单,只要用1扇区代替0扇区就行了,在这里向大家推荐“DiskMan”,它是一款比较常用的硬盘工具。 下载后在纯DOS下运行,方法如下: 在“硬盘”菜单中选中要修复的盘(一般为C盘),然后依次进入“工具”、“参数修改”将“起始柱面”的值由“0”改为“1”,确定后保存退出。就可以对硬盘进行重新分区了。 目前,专业硬盘维修软件“PC-3000”与硬盘厂商的维修方式就非常相似。PC-3000是由俄罗斯著名硬件实验室--ACE Laboratory研究开发的商用的专业修复硬盘综合工具。它通过分析和逆向工程,将厂商的指令代码甚至Firmware破解,使得可以编制出程序软件,自由的读取、修改和写入硬盘系统信息区的信息。 像硬盘厂商一样,编写程序对磁盘表面按照物理地址进行扫描,重新构造出新的缺陷扇区列表写进系统保留区来替换原有的列表。经过这样的软件维修的硬盘,理论上与硬盘厂商维修的硬盘几乎没有差别。

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