浅谈电工电子产品加速寿命试验

浅谈电工电子产品加速寿命试验

广州广电计量检测股份有限公司环境可靠性检测中心颜景莲

1概述

寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。

加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。

2 常见的物理模型

元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。

2.1失效率模型

失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。

2.2应力与强度模型

该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。

应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。

2.3最弱链条模型

最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。

该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。

2.4反应速度模型

该模型认为元器件的失效是由于微观的分子与原子结构发生了物理或化学的变化而引起的，从而导致在产品特性参数上的退化，当这种退化超过了某一界限，就发生失效，主要模型有Arrhenius 模型和Eyring 模型等。 3加速因子的计算

加速环境试验是一种激发试验，它通过强化的应力环境来进行可靠性试验。加速环境试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比，通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。因此，加速因子的计算成为加速寿命试验的核心问题，也成为客户最为关心的问题。加速因子的计算也是基于一定的物理模型的，因此下面分别说明常用应力的加速因子的计算方法。 3.1温度加速因子

温度的加速因子由Arrhenius 模型计算：

???

??????????????×==stress l norma a stress normal AF T T k E L L T 11exp （1） 其中，L normal 为正常应力下的寿命，L stress 为高温下的寿命，T normal 为室温绝对温度，T stress 为高温下

的绝对温度，Ea 为失效反应的活化能（eV），k 为Boltzmann 常数，8.62×10－5

eV/K，实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius 模型，表1给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。

表1 半导体元器件常见失效类型的活化能

设备名称 失效类型 失效机理 活化能（eV）

IC 断开 Au-Al 金属间产生化合物

1.0 IC 断开 Al 的电迁移 0.6 IC（塑料） 断开 Al 腐蚀 0.56 MOS IC（存贮器） 短路 氧化膜破坏 0.3～0.35 二极管 短路 PN 结破坏（Au-Si 固相

反应）

1.5 晶体管 短路

Au 的电迁移

0.6 MOS 器件 阈值电压漂

移 发光玻璃极化

1.0 MOS 器件 阈值电压漂

移 Na 离子漂移至Si 氧化膜

1.2～1.4 MOS 器件

阈值电压漂

移

Si-Si 氧化膜的缓慢牵引

1.0

3.2电压加速因子

电压的加速因子由Eyring 模型计算：

][)(exp normal stress AF V V V ?×=β （2）

其中，V stress 为加速试验电压，V normal 为正常工作电压，β为电压的加速率常数。 3.3湿度加速因子

湿度的加速因子由Hallberg 和Peck 模型计算：

n

normal sress AF RH RH H ????

???

?=， n=2～3 （3） 其中，RH stress 为加速试验相对湿度，RH normal 为正常工作相对湿度，n 为湿度的加速率常数，不同的失效类型对应不同的值，一般介于2～3之间。 3.4温度变化加速因子

温度变化的加速因子由 Coffin－Mason 公式计算：

n normal

sress

AF T

T TE ???

?????ΔΔ= （4） 其中，为加速试验下的温度变化，sress T Δnormal T Δ为正常应力下的温度变化，n 为温度变化的加速率常数，不同的失效类型对应不同的值，一般介于4～8之间。 3.5计算实例

例题：某种电子产品在室温下使用，计划在75℃、85%RH 下做加速寿命测试，计算该加速试验的加速因子。

解析：本试验涉及温度和湿度两种应力，因此，分别计算各应力的加速因子，然后相乘得到整个加速试验的加速因子。

AF ＝ AF T ×AF H （5）

＝???????????

????×stress normal a T T k E 1

1exp ×n

normal sress RH RH ???

??

??? 其中，Ea 为激活能（eV），k 为玻尔兹曼常数且k=8.6×10-5eV/K，T 为绝对温度、RH 为相对湿度（单位％），一般情况下n 取为2。 根据产品的特性，取Ea 为0.6eV，室温取为25℃、75%RH，把上述数据带入计算，求AF＝37，即在75℃、85%RH 下做1小时试验相当于室温下寿命约37小时。

还需要说明的一点是，加速因子的计算公式都是建立在特定的模型基础上的，而模型的建立往往会包含一些假设，并且会忽略或简化次要的影响因素，因此计算的结果也仅仅具有指导和参考意义，不能死板地认为只要试验足够时间就一定能确保产品的寿命。

4加速寿命试验方法

4.1常用加速寿命试验方法

目前常用的加速寿命试验方法分为以下三种:

（1）恒定应力加速寿命试验:该试验方法是将试样分为几组，每组在固定的应力水平下进行寿命试验，各应力水平都高于正常工作条件下的应力水平，试验做到各组样品均有一定数量的产品发生失效为止。

（2）步进应力加速寿命试验:该试验方法是预先确定一组应力水平，各应力水平之间有一定的差距，从低水平开始试验，一段时间后，增加至高一级应力水平，如此逐级递增，直到试样出现一定的失效数量或者到了应力水平的极限停止试验。

（3）序进应力加速寿命试验:该试验方法是将试样从低应力开始试验，应力水平水试验时间等速升高，直到一定数量的失效发生或者到了应力水平的极限为止。

上述三种加速寿命试验方法，以恒定应力加速寿命试验最为成熟．尽管这种试验所需时间不是最短，但比一般的寿命试验的试验时间还是缩短了不少．因此它还是经常被采用的试验方法。后面两种试验方法对设备都有比较高的要求，试验成本比较高，因此目前开展的比较少。

4.2高加速寿命试验

高加速寿命试验（HALT）是目前比较先进成熟的寿命试验方法，属于步进应力加速寿命试验，具体含义是指在产品设计和制造工艺设计过程中，在加速测试环境下对产品施加所有可能达到的应力以期找到设计和制造工艺中的薄弱环节，并针对每一个薄弱环节提供改进设计和制造工艺的机会，从而达到缩短设计周期、提高可靠性和降低成本的目的。

HALT 测试施加的应力并不是完全模拟产品使用过程中出现的应力，而是对少量样品施加较大应力在短时间内发现产品设计和制造中存在的问题，施加的应力逐步提高并超过使用环境的应力范围，解决测试中所发现的问题，直到产品强度达到技术要求。

HALT主要测试过程为：逐步施加应力直到产品失效或出现故障；采取修正措施，修正产品的失效或故障；继续逐步施加应力直到产品再次失效或出现故障，并再次加以修正；重复以上应力-失效-修正的步骤；找出产品的基本操作界限和基本破坏界限。可施加的应力包括振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。

典型的HALT试程包括以下几个过程：

1)低温步进应力试验 ；

2)高温步进应力试验；

3)快速热循环试验；

4)振动步进应力试验 ；

5)综合应力试验 。

概括来讲，HALT是一种发现缺陷的工序,它通过设置逐级递增的环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，然后对暴露的缺陷和故障从设计、 工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升产品可靠性的目的，其最大的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而使暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。

5小结

加速环境试验技术通过在加严的应力条件下的试验，确定产品能承受安全应力的极限水平，获得有效的可靠性特征数据，并通过数理统计及外推的方法预测工作在特定条件下

的产品可靠性。该技术解决了试验样品数量和试验时间之间的矛盾，逐渐成为考核产品的材料和工艺过程，鉴定和改进产品质量的有效手段，成为可靠性工作的重要内容。

浅谈电工电子产品加速寿命试验

浅谈电工电子产品加速寿命试验 广州广电计量检测股份有限公司环境可靠性检测中心颜景莲 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。 2.3最弱链条模型 最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。 该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。暴露最显著、最迅速的地方，就是最薄弱的地方，也是最先失效的地方。

可靠性测试产品高加速寿命试验方法指南解析

术语和定义 HALT（High Accelerated Life Test）：高加速寿命试验，即试验中对试验对象施加的环境应力比试验对象整个生命周期内，包括运输、存储及运行环境内，可能受到的环境应力大得多，以此来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱环节，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到快速提升可靠性的目的。 运行限或操作限（Operation Limit）：指产品某应力水平上失效（样品不工作或其工作指标超限），但当应力值略有降低或回复初始值时，试样又恢复正常工作，则样品能够恢复正常的最高应力水平值称为运行限。 破坏限（Destruct Limit）：在某应力水平上升到某值时，样品失效，即使当应力回落到低于运行限时，试样仍然不能恢复正常工作，这时的应力水平值称为破坏限。 裕度（Margin）：产品运行环境应力的设计限与运行限或破坏限的差值。产品的裕度越大，则其可靠性越高。 夹具（Fixture）：在HALT试验的振动项目中固定试样的器具。振动试验必须使用夹具，使振台振动能量有效地传递给试样。 加速度传感器（Accelerometer）：在某方向测量试样振动加速度大小的传感器。在HALT试验的振动项目中使用加速度传感器可以监视试验箱振动能量通过夹具有效传递给试样的效率。 振动功率谱密度（Vibrating Power Spectral Density）：也称为加速谱密度，衡量振动在每个频率点的加速度大小，单位为（g2/Hz）。 Grms（Gs in a root mean square）：振动中衡量振动强度大小的物理单位，与加速度单位相同，物理含义为对振动功率谱密度在频率上积分后的平方根。 热电偶（Thermocouple）：利用“不同导体结合在一起产生与温度成比例的电压”这一物理规律制作的温度传感器。在HALT试验的热应力测试项目中，利用热电偶监视产品各点的温度分布。 功能测试（Functional Test）：对试样的测试，用以判断试样能否在测试环境下完成规定的功能，性能是否下降。一般是通过测量试样的关键参数是否达到指标或利用诊断模式测试试样的内部性能。 摘要：本文围绕产品HALT试验，详细介绍HALT试验基本要求、总体过程及试验过程。 关键词：HALT试验、基本要求、试验过程 1、HALT试验基本要求 1.1对试验设备的要求 1.1.1对试验箱的要求 做HALT试验的设备必须能够提供振动应力和热应力，并满足下列指标： 振动应力：必须能够提供6个自由度的随机振动；振动能量带宽为2Hz～10000Hz；振台在无负载情况下至少能产生65Grms的振动输出。 热应力：目标是为产品创造快速温度变化的环境，要求至少45℃/min的温变率；温度许可范围至少为－90℃～＋170℃。

电子产品可靠性试验国家实用标准应用清单

电子产品可靠性试验国家标准清单 GB/T 15120.1-1994 识别卡记录技术第1部分: 凸印 GB/T 14598.2-1993 电气继电器有或无电气继电器 GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法 GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则 GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制 GB/T 7347-1987 汉语标准频谱 GB/T 7348-1987 耳语标准频谱 GB/T 9259-1988 发射光谱分析名词术语 GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则 GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法 GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则 GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的最好线性无偏估计法(用于威布尔分布) GB/T 5080.1-1986 设备可靠性试验总要求 GB/T 5080.2-1986 设备可靠性试验试验周期设计导则 GB/T 5080.4-1985 设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)

GB/T 5080.5-1985 设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080.6-1985 设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080.7-1986 设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T 5081-1985 电子产品现场工作可靠性有效性和维修性数据收集指南 GB/T 6990-1986 电子设备用元器件(或部件)规中可靠性条款的编写指南 GB/T 6991-1986 电子元器件可靠性数据表示方法 GB/T 6993-1986 系统和设备研制生产中的可靠性程序 GB/T 7288.1-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件室便携设备粗模拟 GB/T 7288.2-1987 设备可靠性试验推荐的试验条件固定使用在有气候防护场所设备精模拟 GB/T 7289-1987 可靠性维修性与有效性预计报告编写指南 GB/T 9414.1-1988 设备维修性导则第一部分: 维修性导言 GB/T 9414.2-1988 设备维修性导则第二部分: 规与合同中的维修性要求 GB/T 9414.3-1988 设备维修性导则第三部分: 维修性大纲 GB/T 9414.4-1988 设备维修性导则第五部分: 设计阶段的维修性研究 GB/T 9414.5-1988 设备维修性导则第六部分: 维修性检验 GB/T 9414.6-1988 设备维修性导则第七部分: 维修性数据的收集分析与表示 GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法 GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验之一 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。

2.1 失效率模型图示： O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期 失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应

加速寿命试验公示计算汇总

加速寿命试验公示计算汇总 一、前言 新研究的医疗器械在上市前应确保在储存期( 通常 1 到5 年) 内产品的质量不应发生任何影响安全性和有效性变化，新产品一般没有实时和储存周围环境条件下确定有效期的技术资料。如果按实际储存时间和实际环境储存条件进行检测需要很长的时间才能获得结果，为了在实时有效期结果获得以前，有必要进行加速老化实验提供确定有效期的实验数据。 医疗器械设计人员能够准确地预计聚合物性能的变化对于医疗器械产业化是非常重要的。建立聚合物材料退行性变的动态模型是非常困难和复杂的，事实上材料短期产生的变化或变性的单速率表达形式可能不能充分反映研究的产品或材料在较长有效期的真实情况。为了设计试验方案能准确模拟医疗器械时间相关的退行性变，有必要对材料的组成、结构、成品用途、组装和灭菌过程的影响、失效模型机制和储存条件有深入的了解。 一个给定的聚合物具有以各种方式( 晶体、玻璃、不定形等) 组成的许多化学功能基团，并含有添加剂如抗氧化剂、无机充填剂、色素和加工助剂。所有这些变量的总和结合产品使用和储存条件变量决定了材料的化学性能的退行性变。得庆幸的是，生产医疗器械的大部分都是采用常用的几种高分子材料，这些材料已经广泛使用并且都进行了良好的表征。根据以碰撞理论为基础的阿列纽斯(Arrhenius) 模型建立的老化简化实验方案(Simplified Protocol for Accelerated Aging) ，也称“10 度原则”(10-degree rule) ，可在中度温度范围内适用于良好表征的聚合物，试验结果可以在要求的准确度范围内。 医疗器械或材料的老化是指随着时间的延长它们性能的变化，特别是与安全性和有效性有关的性能。加速老化是指将产品放置在比正常储存或使用环境更严格或恶劣的条件下，在较短的时间内测定器械或材料在正常使用条件下的发生变化的方法。 采用加速老化实验合格测试的主要原因是可以将医疗器械产品尽早上市。主要目标是可以给病人和企业带来利益，病人可以尽早使用这些最新的医疗器械，挽救病人的生命；企业可以增加销售获得效益，而又不会带来任何风险。尽管加速老化试验技术在学术领域已经比较成熟，但是这些技术在医疗器械产品的应用还是有限的。美国FDA 发布了一些关于接触眼镜、药物和生物制品等关于加速老化实验的指导性文件，还没有加速老化试验的标准。在我国尚无关于医疗器械有效期确定的加速老化的实验指导原则。国外许多医疗器械企业根据这些指导原则和文献建立自己的加速老化试验方法。（来源于：《中国医疗器械信息》2008年第14卷第5期《医疗器械加速老化实验确定有效期的基本原理和方法》） 二、实验条件和时间对比表

加速寿命试验的理论模型与试验方法

产品可靠性试验 6.2.1 可靠性试验的意义与分类 可靠性试验是为分析、评价、提高或保证产品的可靠性水平而进行的试验。产品的研制者通过试验获得产品设计、鉴定所需的可靠性数据（可靠性测定试验）。通过试验暴露产品缺陷，改进设计并获得可靠性增长信息（可靠性增长试验）。产品的制造者通过试验剔除零件批中的不合格品或暴露整机缺陷，消除早期故障（可靠性筛选或老化试验老化试验不是消除早期故障的）产品使用者通过试验验证产品批可靠性水平以保证接收的产品批达到规定要求（可靠性接收试验）。政府或行业管理部门通过试验获得数据库所需基础可靠性数据（可靠性测定试验），认证产品可靠性等级（可靠性验证试验），进行产品的可靠性鉴定与考核（可靠性鉴定试验）。 本节主要介绍可靠性测定试验，这是为获得产品可靠性特征量的估计值而进行的试验，根据需要可由试验结果给出可靠性特征量的点估计值和给定置信度下的区间估计。由于可靠性试验往往是旷日持久的试验，为节省时间与费用常采用加速试验的方式。本节将介绍某些加速寿命试验的理论模型与试验方法。 6.2.2 指数分布可靠性测定试验 大多数电子元器件、复杂机器及系统的寿命都服从指数分布。其待估参数为故障率λ，其他可靠性指标可利用估计值进行计算MTBF 已经有平均的意思了 1．定时截尾试验 （1）点估计试验进行至事先规定的截尾时间t c停止试验，设参与试验的n个样本中有r个发生关联故障，则由极大似然估计理论得出的故障率点估计值为 式中t i——第I个关联故障发生前工作时间（i=1，…，r）。 若在试验过程中及时将已故障产品修复或替换为新产品继续试验，则为有替换的定时截尾试验。此时λ的点估计为

可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论Word文档

一、可靠性理论基础 1.可靠度： 如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，当N足够大时，产品在t时刻的可靠度可近似表示为： 随时间的不断增长，将不断下降。它是介于1与0之间的数，即。 2.累积失效概率： 表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率，用F(t)表示，又称为失效分布函数。 如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t)，则当N足够大时，产品在该时刻的累积失效概率可近 似表示为： 3.失效分布密度： 表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。失效分布函数的导函数称为失效分布密度，其表达式如下： ?早期失效期； ?偶然失效期(或稳定使用期) ； ?耗损失效期。 二、寿命 老化：LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源的大小有关， 可描述为： B t为t时间后的亮度，B0为初始亮度。通常把亮度降到B t=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。 1. 平均寿命 如果已知总体的失效分布密度f（t），则可得到总体平均寿命的表达式如下： 2. 可靠寿命 可靠寿命T R是指一批LED产品的可靠度下降到r时，所经历的工作时间。T R可由R（T R）=r求解，假如该产品的失效分布属指数分布规律，则： 即可求得T R如下:

3. 中位寿命 中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命，即：对于指数分布情 况，可得： 二、LED寿命测试方法 LED寿命加速试验的目的概括起来有： ?在较短时间内用较少的LED估计高可靠LED的可靠性水平 ?运用外推的方法快速预测LED在正常条件下的可靠度； ?在较短时间内提供试验结果，检验工艺； ?在较短时间内暴露LED的失效类型及形式，便于对失效机理进行研究，找出失效原因； ?淘汰早期失效产品，测定元LED的极限使用条件 1. 温度加速寿命测试法 由于通常LED寿命达到10万小时左右，因此要测得其常温下的寿命时间太长，因此采用加速寿命的方法。 根据高温加速寿命得的结果外推其他温度下的寿命。LED温度加速老化寿命测试原理是基于Arrhenius 模型。 利用该模型可以发现由温度应力决定的反应速度的依赖关系，即 式中L为寿命，Ea为激活能，A为常数，k为玻尔兹曼常数，T为热力学温度。 因此测试温度应有两个，即还需测得另一个温度T2下器件寿命为L2。可以求得激活能Ea。样便可以求得温度 T1对某温度T3下的加速系数K3: 。有： 可见实验需要测得同一批器件在两个不同温度下的寿命，然后推得其他温度下的寿命。 这就要求被测器件的数量应足够多，才能避免个性影响，而得到共性，即得到统计寿命值才真实。 LED从正常状态进入劣化状态的过程中，存在能量势垒，跃过这个势垒所需要的能量必须由外部供给，这个能量势垒就称为激活能。

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2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。 2.1 失效率模型图示： O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期

失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。

加速寿命试验(7)

加速寿命试验 一般执行寿命试验之目的在评估产品于既定环境下之使用寿命，耗时较久，且须投入大量的金钱，而产品可靠度信息又不能实时获得并加以改善，导致失去许多"商机"与"竞争力"。因此，如何在实验室中以加速寿命试验(Accelerated Life Testing; ALT)的方法，在可接受的试验时间内评估产品的使用寿命，便成为整体可靠度试验工作中相当重要的一环，亦为可靠度试验中最具挑战性的课题。 基本上，加速寿命试验是在物理与时间上，加速产品的劣化肇因，以较短的时间试验，并据以推定产品在正常使用状态的寿命或失效率。如果产品的劣化机构单纯，拟订加速寿命试验计划较容易。但实际产品失效往往牵涉到很多失效机构，即使欲同时加速，加速程度也因失效机构而异，可能发生迥异于实际操作上的失效模式。因此，加速寿命试验之基本条件是不能破坏原有特性，要尽量选择失效机构不变化的试验条件，或失效机构容易单纯化的试验条件，使加速寿命试验结果之适用范围明确化。 例如某信息设备的输入电压限制为100~130V，若规划以200V为输入，当然就破坏了原有的设计特性。 一般说来，加速寿命试验考虑的三个要素为「环境应力」、「试验样本数」及「试验时间」。假如产品既复杂又昂贵，则样本数将较少，相对的须增加试验时间或环境应力，以加速其试验;反之如果产品造价较便宜，且数量多，则欲缩短试验时间的情况下，可考虑增加样本数或环境应力。惟如前面所叙述，加速寿命试验下的失效模式．必须与正常操作环境下之寿命试验相同，其试验结果才有意义。 谈加速寿命试验，最重要的是如何掌握其加速因子(Accelerated Factor)。假使相同产品，做二种不同应力(加速)条件的试验，其结果可得二个不同的特征寿命η1设为低应力试验条件)及η2(为高应力条件)，则η1/η2即为加速因子(高、低应力间相对的加速程度)，图6.20即为此种加速观念的示意图。在相同产品老化程度下，两种试验的时间显然不同，由图6.20所得T1/T2值即为加速因子。

加速寿命试验在车用电子喇叭质量改进中的应用肖会全

价值工程 西方就餐使用的是长方形的车餐桌。即使来宾中有地位、身份、 年纪高于主宾的，在排定位次时，仍要紧靠主人就坐。男主人坐主位，右手是第一重要客人的夫人，左手是第二重要客人的夫人，女主人坐在男主人的对面。她的两边是最重要的第一、第二位男客人。现在，如果不是非常正规的午餐或晚餐，这样一男一女的间隔坐法就显得不重要了。长方形餐桌体现出西方人的棱角与独立。 5饮食方式的不同 中西方的饮食方式有很大不同，这种差异对民族性格也有影响。在中国，任何一个宴席，不管是什么目的，都只会有一种形式，就是大家团团围坐，共享一席。筵席要用圆桌，这就从形式上造成了一种团结、礼貌、共趣的气氛。美味佳肴放在一桌人的中心，它既是一桌人欣赏、品尝的对象，又是一桌人感情交流的媒介物。人们相互敬酒、相互让菜、劝菜，在美好的事物面前，体现了人们之间相互尊重、礼让的美德。虽然从卫生的角度看，这种饮食方式有明显的不足之处，但它符合我们民族“大团圆”的普遍心态，反映了中国古典哲学中“和”这个范畴对后代思想的影响，便于集体的情感交流，因而至今难以改革。 西式饮宴上，食品和酒尽管非常重要，但实际上那是作为陪衬。宴会的核心在于交谊，通过与邻座客人之间的交谈，达到交谊的目 的。 如果将宴会的交谊性与舞蹈相类比，那么可以说，中式宴席好比是集体舞，而西式宴会好比是男女的交谊舞。由此可见，中式宴会和西式宴会交谊的目的都很明显，只不过中式宴会更多地体现在全席的交谊，而西式宴会多体现于相邻宾客之间的交谊。与中国饮食方式的差异更为明显的是西方流行的自助餐。此法是：将所有食物一一陈列出来，大家各取所需，不必固定在位子上吃，走动自由，这种方式便于个人之间的情感交流，不必将所有的话摆在桌面上，也表现了西方人对个性、对自我的尊重。但各吃各的，互不相扰，缺少了一些中国人聊欢共乐的情调。 中西的传统餐饮习惯随着时间的变化和社会的国际化慢慢地在变化，在融合。但是这些传统的餐饮文化反映着某一个时间段的中西方的文化特点。有着很大的研究意义和历史意义的。 参考文献： [1]易中天.餐桌上的文化.文汇报.笔会. [2]林大津.跨文化交际研究.福建人民出版社，1996.10：92-127.[3]李天民.现代国际礼仪知识.世界知识出版社出版，2003.12：109. 1车用电子喇叭质量改进中困难 产品质量改进通常需要经历DMAIC 过程，即定义、测量、分析、改进和控制五个阶段[1]。其中，在分析和改进阶段需要对分析结论及改进方案进行验证，常见的验证方式为通过寿命试验获取失效数据，进而通过数据分析估计产品的各种可靠性特征。随着汽车产业技术水平的不断发展，整车寿命及可靠性要求随之提高。车用电子 喇叭产品使用寿命也由过去通常的10万次提高到50万次、 100万次，甚至更高水平，由此带来的问题是获取寿命试验数据变得非常困难。例如：当产品的寿命为50万次时，在通常情况下，失效时间约为29天；当产品寿命为100万次时，失效时间将接近2个月。同时，若考虑到试验过程辅助时间及产品寿命差异，试验时间将变得更长。过长的试验周期造成了试验费用增加、试验设备效率降低、潜在风险升高等问题，更重要的是过长的试验时间使试验在一定程度上失去了意义。在试验进行期间，质量改进工作陷于停顿，延误最佳时机，甚至会造成生产线停工，正常生产被中断，无法满足发货需求或 成千上万的潜在风险品被制造出来。无论哪种情况， 都会给企业造成巨大损失，都是企业不能接受的。 2加速寿命试验 加速寿命试验为解决前述问题提供了有效途径。加速寿命试验（accelerated life testing ）是指在超过使用环境条件的应力水平下对 样品进行的寿命试验[2] 。加速寿命试验的特点是：通过分析，选择比 正常使用/试验环境更加严酷的应力水平 （即加速应力水平），在选定的加速应力水平下对样本进行寿命试验。由于试验条件变得严酷，产品失效加快，试验时间被缩短。通过加速寿命试验获取失效数据后，使用加速寿命试验模型对产品在正常使用/试验条件下的可 靠性特征进行估计[3，4] 。需要指出的是，在加速应力水平下，产品的失效机理不能发生变化。例如：正常使用/试验条件下，电子喇叭发音片的失效机理为机械疲劳，在加速应力水平下，失效机理仍应为机 械疲劳。若失效机理发生了变化， 则失去了加速寿命试验实施的前提条件。 2.1截尾试验在寿命试验中，由于试验所需时间较长，通常在全部样品失效前即结束试验，即采用截尾试验。截尾试验总体上分为两类：定数截尾试验和定时截尾试验。定数截尾试验是指当失效样品数达到规定数量或比例后即结束试验；定时截尾试验是指在达到规定试验时间后即结束试验，不考虑此时的失效样品数。 2.2删失数据在寿命试验中，失效数据往往与一般数据不同， 其区别在于它常常是删失的。总体上， 删失数据可区分为如下三种类型[5]：在对电子喇叭进行的寿命试验中，当试验进行到600小时，仍有3只样品未失效，若这时结束试验，对于这3只样品则我们得到的失效数据为寿命时间大于600小时，这种数据称为右删失数据；若当试验进行至600小时，发现某一样品失效，但准确失效时间我们不知道，则只可以判定该样品的寿命时间小于600小时，此时的数据称为左删失数据；同样地，若可以判定某一样品的失效时间在600至650小时之间， 则寿命时间数据为区间删失数据。3车用电子喇叭加速寿命试验应用实例—————————————————————— —作者简介：肖会全（1978-），男，黑龙江铁力人，助理工程师，硕士，研究方向为运作管理与质量管理。加速寿命试验在车用电子喇叭质量改进中的应用 Application of Accelerated Life Testing in improvement of Electrical Automotive Horn 肖会全Xiao Huiquan ；张杰Zhang Jie （北京工业大学经济与管理学院，北京100124） （School of Economics and Management ， Beijing University of Technology ，Beijing 100124，China ）摘要：针对车用电子喇叭产品在质量改进中的可靠性特征数据难于获取问题，采用加速寿命试验方法缩短试验时间，达到快速获取失效时 间数据的目的。本文通过实例，对应用背景、加速寿命试验条件、样本选取及数据处理进行了分析和说明。同时，针对车用电子喇叭产品的特殊 性，试验中不仅采用了提高工作电压的加速失效方法，同时采用了包括机械结构变更、工作方式调整在内的其它加速失效方法。 Abstract:Accelerated life testing is used here to get the data of failure time rapidly and to solve the problem that it is difficult to get the data of reliability character.An actual example is shown to analyze and explain the processes which include the background of application,conditions for accelerated life testing,samples and analysis for data.At the same time,according to the specificity of electrical automotive horn,different means are used to reduce the failure time,not only include increased voltage,but also include the changing for the structure of samples and the adjusting for the way of horn's work. 关键词：电子喇叭；加速寿命试验；截尾试验；删失数据；发音片Key words:electrical horn ；accelerated life testing ；curtailed test ；censoring data ；sound plate 中图分类号：U46 文献标识码：A 文章编号：1006-4311（2012）14-0298-02 ·298·

电工电子产品加速寿命试验

电工电子产品加速寿命试验之一 1概述 寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。 2 常见的物理模型 元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。 2.1失效率模型 失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。 2.1 失效率模型图示：

O 1 典型的失效率曲线 规定的失效率 随机失效 早期 失效 磨损失效 t 2.2应力与强度模型 该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。 应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。

【加速老化实验】,加速老化试验计算公式

【加速老化实验】,加速老化试验计算公式 【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验 寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。但是这种方法对寿命特别长的产品来说，就不是一种合适的方法。因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。经过人们的不断研究，在寿命试验的基础上，找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。 加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，加快产品失效，缩短试验周期。运用加速寿命模型，估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。 下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。 1 问题 高可靠的元器件或者整机其寿命相当长，尤其是一些大规模集成电路，在长达数百万小时以上无故障。要得到此类产品的可靠性数量特征，一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。解决此问题的方法，目前有以下几种： （１）故障数r=0的可靠性评定方法。 如指数分布产品的定时截尾试验 θL=2S(t0)

2χα(2) 22S(t)χαα00为总试验时间。为风险, =时，.1(2)=≈； 当α=时， χ(2)=≈6。 （２）加速寿命试验方法 如，半导体器件在理论上其寿命是无限长的，但由于工艺水平及生产条件的限制，其寿命不可能无限长。在正常应力水平S0条件下，其寿命还是相当长的，有的高达几十万甚至数百万小时以上。这样的产品在正常应力水平S0条件下，是无法进行寿命试验的，有时进行数千小时的寿命试验，只有个别半导体器件发生失效，有时还会遇到没有一只失效的情况，这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1，S2，…，Sk，在这些应力下进行寿命试验，使产品尽快出现故障。 （３）故障机理分析方法 研究产品的理、化、生微观缺陷，研究缺陷的发展规律，从而预测产品的故障及可靠性特征量。 2 加速寿命试验的思路 由产品故障的应力—强度模型（见图5-5） 图5-5 应力—强度模型 其中：R(t)=P(强度＞应力)，F(t)=P(应力≥强度) 当强度与应力均为确定型时，产品在t2故障。实际上强度与应力是概率风险型的，当均服从正态分布时，产品则可能提前在t1，以一定概率发生故障。

电子产品加速寿命试验技术

电子产品加速寿命试验技术 招生对象 －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－ 可靠性经理（主管）、技术部经理、可靠性工程师、质量经理、质量管理工程师、QC工程师、QA工程师、测试工程师、结构设计工程师、生产技术及工艺工程师等 【主办单位】中国电子标准协会 【咨询热线】0 7 5 5 – 2 6 5 0 6 7 5 7 1 3 7 9 8 4 7 2 9 3 6 李生【报名邮箱】martin#https://www.sodocs.net/doc/0016734022.html, （请将#换成@） 课程内容 －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－

【培训目标】 1.熟练掌握ALT的基本概念和基本理论 2.熟练掌握ALT的加速模型及数据分析方法 3.熟练掌握ALT的设计技术 4.熟练掌握整机产品的ALT技术 5.熟练掌握加速退化试验技术 6.掌握加速试验的最新技术 课程大纲： 课程大纲 本课程是中国工程物理研究院可靠性专家组成员、加速寿命试验（ALT）技术研究中心（筹建中）技术总负责人林先生多年ALT理论和实践研究总结而精心打造的融理论高度与实践高度为一体的课程；透过学员对本门课程的研习，帮助学员系统掌握开展加速寿命试验的方法和研究思路、加速寿命试验的设计与分析技术。力求使学员能独立承担产品的ALT项目。如您在工作中有ALT方面的疑难问题，请提前联系我们；林先生非常希望能在培训现场和您一块探讨，为您解忧！ 【培训大纲】 一. 加速寿命试验概论 1.从寿命试验到加速寿命试验 1.1 什么是寿命试验 1.2 寿命试验分类 2.为什么要开展加速寿命试验 2.1什么是加速寿命试验 2.2 加速寿命试验的目的 2.3 开展加速寿命试验的意义 3.加速寿命试验的基本类型 3.1 恒定应力加速寿命试验 3.2 步进应力加速寿命试验 3.3 序进应力加速寿命试验 3.4 其它 4.加速寿命试验中常用的加速应力 4.1 应力概念 4.2 常用的应力 4.3 什么是应力水平 4.4 应力作用效果的决定因素 4.5 选择加速应力时主要考虑的问题 5.截尾寿命试验 5.1 什么是截尾寿命试验 5.2 常用的截尾寿命试验 5.2.1 定时截尾寿命试验 5.2.2 定数截尾寿命试验 二. 如何判断产品的失效过程具有加速性 1.什么是加速性 2.失效过程的加速性是加速寿命试验的前提 3.加速性的存在与否判断原则

浅谈可靠性加速寿命试验

浅谈可靠性加速寿命试验 加速寿命试验是可靠性试验中的一项重要的试验方法。采取加速寿命试验的作用在于加快试验进程，为预测系统或设备的可靠度提供重要的依据。 可靠性试验的方法和试验的规模由试验的对象及要求来决定。对于系统、设备及元器件，各自采用的试验方法是不同的。对于整机，通过试验剔除对系统有影响的不可靠元器件；对于机械零部件侧重于疲劳寿命试验；而对于电子元器件则主要进行寿命试验。 产品或系统的可靠度，应该按最终使用条件评价。所以，寿命试验应该按实际的使用条件与实际的环境条件（应力）来进行。但由于时间上，经济上的考虑，总希望以较少的试验费用，早一些取得满意的结果。为此，所采用的手段之一，是通过提高环境应力（如温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷等），来加快试验进程，缩短产品或系统的寿命试验时间。这种为缩短试验时间而按严苛条件（应力）进行的加速寿命试验与强制老化试验，实际上大同小异。都是以严苛的条件，加速产品质量特性的老化、促进产品寿命缩短的试验。例如，开关与继电器之类的产品，是按工作次数来计测寿命的，为加速试验，可用更高速度进行接通与断开试验，以检测产品的可靠性寿命。 加速寿命试验与产品例行试验（例如，一般强度和变形的性能测定）是不同的。例行试验的目的，只是保证产品进出厂验收前，其各种性能参数是否符合一定的标准，而没有测定产品在规定时间内的失效率。从而不能对产品的可靠性提出任何保证。而加速寿命试验，是对产品在规定的使用时间内符合一定的可靠性指标提出保证。同时，加速寿命试验也是产品可靠性预测和检验的基础。 加速寿命试验比产品的例行试验时间要长。因为，时间短促难以取得足以说明可靠度水平的数据。在试验数据的处理上，例行试验由于它仅是性能的通过试验，所以数据处理简单，而加速寿命因为它要对某一批产品的可靠性进行推断，所以要采用严格的数据统计方法，以便得出较为可靠的结论。 采取加速寿命试验的作用在于：通过严苛条件试验，可以确定产品、零部件的安全裕度，剔除与筛选可靠度低的零件；在严苛条件下观察到的寿命值（或故障率），同正常条件下的寿命值之间，有一定的规律性，利用此种规律性，可以预测正常条件下的寿命值。 因为加速寿命试验是选择严苛条件下的试验，与系统或设备的正常使用条件有很大的差异，因此，在进行加速寿命试验时，应注意如下几个方面的要求，以便对系统或设备做出正确的评价。 （1）所选条件与正常条件比，加速试验不应改变故障的基本模式与机理，或者改变它们的相对优势。 根据系统和设备的最终用途来确定和选定加速寿命试验的规模、时间、条件，并根据加速寿命试验的目的和要求确定试验参数。如试验时间、故障率λ（t）、平

加速寿命试验理论依据

加速寿命试验理论依据 电子元器件的失效原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、金属化系统以及封装结构中存在的各种化学、物理的反应有关。器件从出厂经过贮存、运输、使用到失效的寿命周期，无时无刻不在进行着缓慢的化学物理变化。在各种外界环境下，器件还会承受了各种热、电、机械应力，会使原来的化学物理反应加速，而其中温度应力对失效最为敏感。实践证明，当温度升高以后，器件劣化的物理化学反应加快，失效过程加速，而Arrhenius模型就总结了由温度应力决定的化学反应速度依赖关系的规律性，为加速寿命试验提供了理论依据。 1. 以温度应力为加速变量的加速方程 由Arrhenius总结的经验公式如下 （8.5） 式中，dM/dt是化学反应速率，A是常数，E a是引起失效或退化过程的激活能，k是玻尔兹曼常数，T是绝对温度。 当器件在t0时刻处于正常状态数为M0，到t1时刻，器件处于失效状态数为M1。如果温度与时间无关，则积分式（8.1）得 （8.6） 令DM=M1-M0，t=t1-t0，得到 （8.7） 取对数 （8.8） 可写成 （8.9） 其中 （8.10） 上式就是根据Arrhenius模型得到的以温度应力为加速度变量的加速方程。用此方程来解释器件的高温贮存寿命试验是非常成功的。式中，t表示器件产品达到某一F(t)的时间，它的对数与绝对温度的倒数成线性关系。若用t～1/T单边对数坐标纸绘图，则可得到一条直线，然后用图估计法或数值法推算出器件在不同温度下的寿命值。 由式（8.1）可计算得到方程的斜率b、截距α和激活能E a，当T1>T2时

（8.11）激活能E a与方程的斜率b与器件的失效模式与失效机理有关。根据多年来的实践积累，有关半导体器件与微电路不同失效模式与机理的激活能数据列于表8.8。 表8.8 失效模式、失效机理与激活能 http://Kêhttps://www.sodocs.net/doc/0016734022.html,。 图8.3 不同激活能时温度与寿命的关系

高加速寿命试验及高加速应力筛选(HaltHass)试验规范

浙江科正电子信息产品检验有限公司 国家电子计算机外部设备质量监督检验中心 浙江省物联网应用工程质量检验中心 技术文件 CPL/JS 046-2013 高加速寿命试验及高加速应力筛选 （Halt/Hass）试验规范 2013-01-05发布2013-01-05实施

信高加速寿命试验及高加速应力筛选（HaltHass）试验规范 CPL/JS 046-2013 目录 1 目的 2 范围 3 术语 4 试验人员需求 5 试验设备需求 6 试验样本 7 功能性能测试需求 8 试验报告与文档 9 高加速寿命试验程序 10 高加速应力试验结束后的测试 1 目的 本文档主要用于指导企业实施高加速寿命实验过程。如果严格按照本指南实施，可以得到一个理想的高加速应力寿命实验结果，推广更多更健壮得产品到市场。 2 范围 在本文档中，成功执行和实施HALT过程的基本原理将被详细描述。它明确了技术人员职责、工具和设备需求以及测试试验资质。如果坚持按照本文档实施，就能够获得最基本的指南以执行和完成一个成功的HALT试验。本指南可用于各种产品部件，包括电子产品、电子－机械产品或者单纯的机械产品。 3 定义 3.1. 振动带宽： 3.2. 纠正措施：这里是指为了消除产品缺陷而进行得设计或者过程得改变。纠正措施可以包括部件或者材料改变，也包括产品设计和生产过程得变化。 3.3. 破坏极限：是指让一个或者多个产品不再拥有产品规范里规定得产品功能特性，即使应力降低，(中国可靠性网)产品也不能恢复。如我们常见得硬失效。 3.4. 功能测试：产品的一种测试，通过测量产品的功能性能、产品使用或者边界参数来评判产品是否实效（不能完成产品规定的功能）或者退化是否发生，这种测试也可以包括内部诊断。功能性测试贯穿于HALT试验的整个环境应力过程。 3.5. 振动加速度均方值： 3.6. 高加速寿命试验(HALT)：一种利用步进应力的过程，通过不同的加速应力发现产品的设计局限。HALT主要用于暴露产品的应力极限和确认产品的缺陷。 更改标记数量更改单号签名日期更改标记数量更改单号签名日期 拟制罗晓武审核陈益云批准王伟雄共7 页