测试策略和测试方法简介

1软件测试策略

软件测试的策略、方法和技术是多种多样的。对于软件测试技术，可以从不同的角度加以分类：

1.从是否需要执行被测软件的角度，可分为静态测试和动态测试。

2.从测试是否针对系统的内部结构和具体实现算法的角度来看，可分为白盒测试和黑

盒测试。

2静态方法与动态方法

所谓静态方法是指不运行被测程序本身，仅通过分析或检查源程序的文法、结构、过程、接口等来检查程序的正确性。静态方法通过程序静态特性的分析，找出欠缺和可疑之处，例如不匹配的参数、不适当的循环嵌套和分支嵌套、不允许的递归、未使用过的变量、空指针的引用和可疑的计算等。静态测试结果可用于进一步的查错，并为测试用例选取提供指导。

动态方法是指通过运行被测程序，检查运行结果与预期结果的差异，并分析运行效率和健壮性等性能，这种方法由三部分组成：构造测试实例、执行程序、分析程序的输出结果。

3功能测试与结构测试

3.1功能测试/黑盒测试

功能测试是指在对程序进行的功能抽象的基础上，将程序划分成功能单元，然后在数据抽象的基础上，对每个功能单元生成测试数据进行测试。用这种方法进行测试时，被测程序被当作打不开的黑盒，因而无法了解其内部构造，因此又称为黑盒测试。

黑盒测试也称功能测试或数据驱动测试，它是在已知产品所应具有的功能，通过测试来检测每个功能是否都能正常使用。在测试时，把程序看作一个不能打开的黑盒子，在完全不考虑程序内部结构和内部特性的情况下，测试者在程序接口进行测试，只检查程序功能是否按照需求规格说明书的规定正常使用，程序是否能适当接收输入数据而产生正确的输出信息，并且保持外部信息的完整性。

在功能测试中，被测软件的输入域和输出域往往是无限域，因此穷举测试通常是不可行的。必须以某种策略分析软件规格说明，从而得出测试用例集，尽可能全面而又高效地对软件进行测试。下面就说明几种功能测试的方法：

1.等价类划分

所谓等价类，就是指某个输入域的集合，集合中的每个输入对揭露程序错误来说是

等效的，把程序的输入域划分成若干部分，然后从每个部分中选取少数代表性数据

作为测试用例，这就是等价类划分方法。它是功能测试的基本方法。

2.因果图法

因果图是一种形式语言，由自然语言写成的规范转换而成，这种形式语言实际上是

一种使用简化记号表示数字逻辑图。因果图法是帮助人们系统地选择一组高效测试

用例的方法，此外，它还能指出程序规范中的不完全性和二义性。

3.边值分析

实践证明，软件在输入、输出域的边界附近容易出现差错，边值分析是考虑边界条

件而选取测试用例的一种功能测试方法。所谓边界条件，是相对于输入和输出等价

类直接在其边缘上，稍高于和稍低于其边界的这些状态条件。边值分析是对等价类

划分的有效补充。

3.2结构测试/白盒测试

结构测试是根据被测程序的内部结构设计测试用例的一类测试，又称为白盒测试。白盒测试也称结构测试或逻辑驱动测试，它是知道产品内部工作过程，可通过测试来检测产品内部动作是否按照规格说明书的规定正常进行，按照程序内部的结构测试程序，检验程序中的每条通路是否都有能按预定要求正确工作，而不顾它的功能。其主要方法有逻辑驱动、基路测试等，主要用于软件验证。白盒法全面了解程序内部逻辑结构、对所有逻辑路径进行测试。白盒法是穷举路径测试。在使用这一方案时，测试者必须检查程序的内部结构，从检查程序的逻辑着手，得出测试数据。贯穿程序的独立路径数是天文数字。但即使每条路径都测试了仍然可能有错误。第一，穷举路径测试决不能查出程序违反了设计规范，即程序本身错误的程序。第二，穷举路径测试不可能查出程序中因遗漏路径而出错。第三，穷举路径测试可能发现不了一些与数据相关的错误。

与功能测试不同的是，结构测试涉及程序内部结构。尽管用户更倾向于基于程序规格说明的功能测试，但是结构测试能发现潜在的逻辑错误，而这种错误往往是功能测试发现不了的。它们各有利弊，常常结合使用。

1.采用逻辑覆盖的结构测试。逻辑覆盖又包含以下五种:语句覆盖、判定覆盖、

条件覆盖、判定与条件覆盖、路径覆盖。

2.域测试。这是一种基于程序结构的测试方法。这里的“域”是指程序的输入空间。

域测试正是在分析输入空间的基础上，选择适当的测试点以后进行测试的。

3.符号测试。符号测试是基于代数运算的一种结构测试方法。符号测试方法受分

支问题、二义性问题和大程序问题的困扰，这些问题严重地影响着它的发展前

景。

4.数据流测试。数据流测试是指一个基于通过程序的控制流，从建立的数据目标

状态的序列中发现异常的结构测试方法。

5.定义域测试。定义域测试的重点在分类方面，它还要判断出定义域的正确性。

定义域测试与集合理论密切相关。

6.程序变异测试。这是一种基于程序错误的测试方法，它的目的是要说明程序中

不含有某些特定的错误。

3.3灰盒测试

实际上现在还有一个新的概念，灰盒测试。灰盒测试介乎于黑盒测试和白盒测试之间，既关注于输出对于输入的正确性，也关注于内部的格式，但不像白盒测试那般详细、完整。

只是通过一些表征性的现象、事件和标志来判定内部的运行状态，有时候输出结果是正确的但是内部已经出现了错误，这种情况很多，如果通过白盒测试来暴露所有问题效率上可能比较低，所以才产生了灰盒测试。

(完整word版)教案-材料现代分析测试方法

西南科技大学 材料科学与工程学院 教师教案 教师姓名：张宝述 课程名称：材料现代分析测试方法 课程代码：11319074 授课对象：本科专业：材料物理 授课总学时：64 其中理论：64 实验：16（单独开课） 教材：左演声等. 材料现代分析方法. 北京工业大 学出版社，2000 材料学院教学科研办公室制

2、简述X射线与固体相互作用产生的主要信息及据此建立的主要分析方法。 章节名称第三章粒子（束）与材料的相互作用 教学 时数 2 教学目的及要求1．理解概念：（电子的）最大穿入深度、连续X射线、特征X射线、溅射；掌握概念：散射角（2 ）、电子吸收、二次电子、俄歇电子、背散射电子、吸收电流（电子）、透射电子、二次离子。 2．了解物质对电子散射的基元、种类及其特征。 3．掌握电子与物质相互作用产生的主要信号及据此建立的主要分析方法。 4．掌握二次电子的产额与入射角的关系。 5．掌握入射电子产生的各种信息的深度和广度范围。 6．了解离子束与材料的相互作用及据此建立的主要分析方法。 重点难点重点：电子的散射，电子与固体作用产生的信号。难点：电子与固体的相互作用，离子散射，溅射。 教学内容提要 第一节电子束与材料的相互作用 一、散射 二、电子与固体作用产生的信号 三、电子激发产生的其它现象第二节离子束与材料的相互作用 一、散射 二、二次离子 作业一、教材习题 3-1电子与固体作用产生多种粒子信号（教材图3-3），哪些对应入射电子？哪些是由电子激发产生的？ 图3-3入射电子束与固体作用产生的发射现象 3-2电子“吸收”与光子吸收有何不同？ 3-3入射X射线比同样能量的入射电子在固体中穿入深度大得多，而俄歇电子与X光电子的逸出深度相当，这是为什么？ 3-8配合表面分析方法用离子溅射实行纵深剖析是确定样品表面层成分和化学状态的重要方法。试分析纵深剖析应注意哪些问题。 二、补充习题 1、简述电子与固体作用产生的信号及据此建立的主要分析方法。 章节第四章材料现代分析测试方法概述教学 4

光学薄膜现代分析测试方法

一、金相实验室 ? Leica DM/RM 光学显微镜 主要特性：用于金相显微分析，可直观检测金属材料的微观组织，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脱碳层、氮化层及焊接、冷加工、铸造、锻造、热处理等等不同状态下的组织组成，从而判断材质优劣。须进行样品制备工作，最大放大倍数约1400倍。 ? Leica 体视显微镜 主要特性：1、用于观察材料的表面低倍形貌，初步判断材质缺陷； 2、观察断口的宏观断裂形貌，初步判断裂纹起源。 ?热振光模拟显微镜 ?图象分析仪 ?莱卡DM/RM 显微镜附 CCD数码照相装置 二、电子显微镜实验室 ?扫描电子显微镜(附电子探针) (JEOL JSM5200，JOEL JSM820，JEOL JSM6335) 主要特性： 1、用于断裂分析、断口的高倍显微形貌分析，如解理断裂、疲劳断裂（疲劳辉纹）、晶间断裂（氢脆、应力腐蚀、蠕变、高温回火脆性、起源于晶界的脆性物、析出物等）、侵蚀形貌、侵蚀产物分析及焊缝分析。 2、附带能谱，用于微区成分分析及较小样品的成分分析、晶体学分析，测量点阵参数/合金相、夹杂物分析、浓度梯度测定等。 3、用于金属、半导体、电子陶瓷、电容器的失效分析及材质检验、放大倍率：10X—300,000X；样品尺寸：0.1mm—10cm；分辩率:1—50nm。 ?透射电子显微镜（菲利蒲 CM-20,CM-200） 主要特性： 1、需进行试样制备为金属薄膜，试样厚度须<200nm。用于薄膜表面科学分析，带能谱，可进行化学成分分析。 2、有三种衍射花样：斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。斑点花样用于确定第二相、孪晶、有序化、调幅结构、取向关系、成象衍射条件。菊池线花样用于衬度分析、结构分析、相变分析以及晶体精确取向、布拉格位移矢量、电子波长测定。会聚束花样用于测定晶体试样厚度、强度分布、取向、点群、空间群及晶体缺陷。 三、X射线衍射实验室 ? XRD-Siemens500—X射线衍射仪 主要特性： 1、专用于测定粉末样品的晶体结构（如密排六方，体心立方，面心立方等），晶型，点阵类型，晶面指数，衍射角，布拉格位移矢量，已及用于各组成相的含量及类型的测定。测试时间约需1小时。 2、可升温（加热）使用。 ? XRD-Philips X’Pert MRD—X射线衍射仪 主要特性： 1、分辨率衍射仪，主要用于材料科学的研究工作，如半导体材料等，其重现性精度达万分之一度。 2、具备物相分析（定性、定量、物相晶粒度测定；点阵参数测定），残余应力及织构的测定；薄膜物相鉴定、薄膜厚度、粗糙度测定；非平整样品物相分析、小角度散射分析等功能。 3、用于快速定性定量测定各类材料（包括金属、陶瓷、半导体材料）的化学成分组成及元素含量。如：Si、P、S 、Mn、Cr、Mo、Ni、V、Fe、Co、W等等，精确度为0.1%。 4、同时可观察样品的显微形貌，进行显微选区成分分析。

现代分析测试方法复习总结

第一章X射线衍射分析 激发：1.较高能级是空的或未填满，由泡利不相容原理决定。 2.吸收能量是两能级能量之差。 辐射的吸收：辐射通过物质时，某些频率的辐射被组成物质的粒子选择性吸收而使辐射强度减弱的现象，实质为吸收辐射光子能量发生粒子的能级跃迁。 辐射的发射：1.光电效应：以光子激发原子所发生的激发和辐射过程。被击出的电子称为光电子。 2.俄歇效应：高能级电子向低能级跃迁时，除以辐射X射线的形式释放能量外，这些能量可能被周围某个壳层上的电子所吸引，并促使该电子受激溢出原子成为二次电子，该二次电子具有特定的能量值，可以用来表征这些原子。所产生的二次电子即为俄歇电子。 原子内层电子受激吸收能量发生跃迁，形成X射线的吸收光谱。光子激出内层电子，外层电子向空位跃迁产生光激发，形成二次X射线，构成X射线的荧光光谱。 X射线产生条件：1.产生自由电子。2.使电子做定向高速运动。3.在运动路径设置使其突然减速的阻碍物。 X射线属于横波，波长为0.01~10nm能使某些荧光物质发光，使照相底片感光，使部分气体电离。 X射线谱是X射线强度与波长的关系曲线。 特征X射线：强度峰的波长反映物质的原子序数特征。，产生特征X射线的最低电压为激发电压，也叫临界电压。 阳极靶材原子序数越大，所需临界电压值越高。 K层电子被击出的过程定义为K系激发，随之的电子跃迁叫K系辐射。 相干散射：X射线通过物质时，在入射束电场的作用下，物质原子中的电子受迫振动，同时向四周辐射出与入射X射线相同频率的散射X射线，同一方向上各散射波可以互相干涉。 非相干散射：X射线光子冲击束缚力较小的电子或自由电子时，会产生一种反冲电子，而入射X射线光子则偏离入射方向，散射X射线光子波长增大，因能量减小程度不同，故不可干涉。 入射X射线光子能量到达一定阀值，可击出物质原子内层电子，同时外层高能态电子向内层的空位跃迁时辐射出波长一定的特征X射线。该阀值对应的波长为吸收限或K系特征辐射激发限。λk=1.24/U K K 衍射分析中，受原子结构影响，不同能级上电子跃迁会引起特征波长的微小差别，滤波片可去除这种干扰，得到单色的入射X射线。 干涉指数（HKL）可以认为是带有公约数的晶面指数，其表示的晶面并不一定是真实原子面，

手机App测试策略和流程

手机App测试策略和流程目录

1.引言 本文档是长春吉大正元信息技术股份有限公司东北公司手机APP测试的工作指导原则，它为手机APP测试过程中涉及到的测试方法、测试类型等制定标准做出明确的诠释和说明。 测试部门相关人员以此文档作为测试工作的依据和行为准则。 编写目的 本规范规定了东北公司手机APP测试过程中的活动和步骤。为公司测试（活动、产品）的实施和过程情况的各项检查提供依据；为度量被测试产品质量提供验证指标和验证方法。 适用范围 适用于长春吉大正元信息技术股份有限公司东北分公司测试部。 适用于：手机APP项目和产品的系统测试 针对手机APP的验证测试（外包项目）不在此范围之内，如需确保重点项目的手机APP质量度量和评价，需领导特殊审核。 2.测试过程描述 验证测试先决条件 对当前项目测试优先级进行划分： 产品大于项目优先级； 自主项目大于外包项目优先级； 重大项目（领导特批）大于客户化项目； 提前申请优先级大于变更申请优先级。(例如：监狱项目提前申请预留或者安排 测试员提前介入) 对当前测试版本质量进行评级：对于不符合测试准入原则的版本予以驳回。 验证测试三天后对提交版本进行质量预评估和评级：对第一轮发现较严重的问题进行列 举，对版本的整体情况进行评估。（详见BUG清单）对于不能度量质量的项目予以驳回 自测试。（例如：监狱移动OA项目）。 外埠公司提交测试前。应附上测试报告（功能测试报告、兼容性测试报告、性能测试报 告以及app可用性能标准结果）；?公司内部提交测试前，需附上缺陷记录和修改状态表。 上述有一项不能满足或不能按时提交予以测试驳回。 总结提交测试版本的内部测试情况（测试BUG列表）。对遗留问题必须列出并记录解决 方案。对性能和稳定性指标要予以详细描述。 测试周期 测试周期可按项目的开发周期来确定测试时间，一般客户化项目手机APP测试时间为三周（即15个工作日），根据项目情况以及版本质量标准可适当缩短或延长测试时间。正式测试前先向测试部经理确认项目排期。 需提供资源 测试任务开始前，检查各项测试资源是否提交，有两项没有提交予以测试驳回。 --产品功能需求文档； --产品原型图； --产品效果图； --用户使用手册； --测试设备确认表（例如：；；及以上；Symbian v3/v5/Nokia Belle等）； 轮次报告及产品上线报告

软件测试-制定测试策略

通常的软件测试中，需要制定合理的测试策略来保证测试的进行。制定测试策略时要综合考虑一些因素，现总结如下，希望对大家有所帮助。本文适用于软件类开发项目，尤其是定制开发类软件项目。 制定测试策略时，一定要考虑三个问题，为什么要制定测试策略？怎么制定测试策略？测试策略怎么执行？ 第一个问题，测试策略可以认为是一种方法论。制定测试策略的最主要原因是为了更高效、更有计划、更有目的测试。测试策略是预先规划好的，又是需要根据实际测试情况进行灵活的动态变化。如果没有指定测试策略，进行软件测试的时候通常会没有目标，遇到一些问题时也会难以应对。以打仗攻击为例，简单理解，测试策略就是计策和谋略，没有好的计划和策略，一味的猛攻或者蛮攻，可能会有效果，但往往是杀敌一千，自损八百。好的测试策略可以更好的发现BUG，提升产品质量。 第二个问题，怎么制定测试策略？可以根据以下几个方面来考虑： 1、产品的开发阶段；前期、中期，还是后期，在不同的开发阶段及周期采取的策略是不同 的；开发前期，一般是需求分析，开发模块的设计及实现的讨论，这个时间段的测试策略以需求分析、测试计划制定和测试点提取、测试用例编写及测试前期准备为主；开发中期，应该实现了部分功能，并完善了相关开发文档，这个时间段的测试策略以及时与项目经理沟通，实时的掌握项目开发进展情况，并跟踪是否有可以执行部分测试的简单版本，提前做到心中有数；开发后期，功能开发基本完毕，开发文档完整，这个时间段的测试策略以参考开发文档，了解内部模块设计与实现方式为主，并与项目经理或开发人员讨论模块测试的细节，进一步完善测试点和测试用例，并对之前的测试点进行再次评估和修正。 2、产品的风险：人员风险；测试时间风险；测试资源风险；客户的风险等；每个项目都有 相关的风险因素，人员风险是经常遇到的，要提前应对，可以找领导申请资源，或者组内之间实时调整；测试时间风险，时间紧，任务重，压力大，此时应该如何应对，当然加班是一种方式，但是更多的是对有效的规划测试任务和安排测试人员；测试资源风险，资源紧张，怎么样更成分的利用现有资源，怎么样减少资源风险的可能，需要做好测试策略；客户的风险，那些应该测试，那些不应该测试，那些优先测试，那些延迟测试，客户关注什么，需要提前做好规划和研究，测试的策略一定要考虑客户的应用场景和使用重点； 3、产品的成熟度：不同成熟度的产品的测试策略是不一样的；产品初期，关注的是功能的 实现与基本需求；产品成熟后，需要更多的关注可用性、可靠性及应用场景的复杂性，包括测试的手段和方法、方式都会有所提升。合理的测试策略会与当前的产品成熟度相互匹配，产品不成熟，我们优先关注可用性、外观呈现、用户体验的话，就会本末倒置，最开始一定是关注基本的需要和功能、性能指标；设备逐步提升到一定的层次之后，我们的测试策略会随之提高，一个成熟产品所应有的我们都需要关注并执行测试。 4、定制开发客户：定制开发的软件，针对的是固定的用户，很多时候需要根据客户的特点 来制定相关的测试策略。客户的需求是否明确？需求是否经常变更？与客户的沟通是否顺畅？客户的验收方式是什么？客户的使用方式是什么？这些必须要搞清楚，才能更好地制定测试策略，任何一点的疏忽都可能会导致测试疏漏或者功能的偏离。 5、实时修正测试策略：测试策略并不是一成不变的，要根据实际情况来调整，以便测试策 略能够更好的指导测试。制定测试策略的时候一般都是事前，至于事中发生了什么，很难预料，所以必须要根据当前的变化，来改变测试策略。 6、测试分级分类：按照测试的难以程度可以对测试进行分级分类，比如说按照简单、一般、 困难、极难来分级；按照测试的时间长短类进行分类；按照逐级递进的思路进行测试策

《现代分析测试技术》复习知识点答案

一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度：也称特征浓度，在原子吸收法中，将能产生1％吸收率即得到0.0044 的吸光 度的某元素的浓度称为特征浓度。计算公式：S=0.0044 x C/A （ug/mL/1%） S——1％吸收灵敏度C ——标准溶液浓度0.0044 ——为1％吸收的吸光度 A——3 次测得的吸光度读数均值 2. 原子吸收检出限：是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最 小浓度或最小含量。通常以产生空白溶液信号的标准偏差2?3倍时的测量讯号的浓度表示。 只有待测元素的存在量达到这一最低浓度或更高时，才有可能将有效分析信号和噪声信号可靠地区分开。 计算公式： D = c K S /A m D一一元素的检出限ug/mL c ――试液的浓度 S ――空白溶液吸光度的标准偏差 A m――试液的平均吸光度K――置信度常数，通常取2~3 3．荧光激发光谱：将激发光的光源分光，测定不同波长的激发光照射下所发射的荧光强度的变化， 以I F—入激发作图，便可得到荧光物质的激发光谱 4 ?紫外可见分光光度法：紫外一可见分光光度法是利用某些物质分子能够吸收200 ~ 800 nm光谱 区的辐射来进行分析测定的方法。这种分子吸收光谱源于价电子或分子轨道上电子的电子能级间跃迁，广泛用于无机和有机物质的定量测定，辅助定性分析（如配合IR）。 5 ?热重法：热重法（TG是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。TG基本原 理：许多物质在加热过程中常伴随质量的变化，这种变化过程有助于研究晶体性质的变化，如熔化、蒸发、升华和吸附等物质的物理现象；也有助于研究物质的脱水、解离、氧化、还原等物质的化学现象。热重分析通常可分为两类：动态（升温）和静态（恒温）。检测质量的变化最常用的办法就是用热天平（图1），测量的原理有两种：变位法和零位法。 6?差热分析；差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技 术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温差（△ T）随温度或时间的变化关系。在DAT试验中， 样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如: 相转变，熔化，结晶结构的转变， 沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说来，相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸热效应；而结晶、氧化和一些分解反应产生放热效应。 7. 红外光谱：红外光谱又称分子振动转动光谱，属分子吸收光谱。样品受到频率连续变化的红外光 照射时，分子吸收其中一些频率的辐射，导致分子振动或转动引起偶极矩的净变化,使振-转能级从基态跃迁到激发态，相应于这些区域的透射光强度减弱，记录经过样品的光透过率T%寸波数或波长

常用的性能测试方法(策略)和测试要点

常用的性能测试方法(策略)和测试要点 1.明确测试目标，测试目标尽可能能够有量化的标准 1）上线前验证性的性能测试，针对银行系统一般的性能指标为TPS、响应时间是否满足业务需求； 2）容量测试，测试系统在特定系统环境下的处理能力，关注的性能指标是TPS、响应时间、并发用户数等； 3）稳定性测试，银行系统对系统7×24小时的稳定性要求还是很高的； 4）异常测试，指系统出现异常或故障的情况下，系统能否在最短的时间内恢复，保证在线交易的正常进行； 2、明确测试范围，测试系统有哪些，测试交易的路径覆盖范围； 3、业务模型分析，选择日常交易量比较大，路径覆盖范围广的典型交易，建立性能测试的业务模型，确定各支交易的占比； 4、测试需求分析，测试环境（软硬件），人力，测试工具的选择，测试基础数据等需求； 5、测试内容及测试策略，一般包含以下几个方面： 1）基准测试，单用户单交易的测试，主要用于调试测试脚本的正确性，以及查看每只交易在无压力下的响应时间，为下面的测试建立基准； 2）单交易负载测试，获取每只交易的最大负载，主要考察单只

交易和系统处理能力的影响； 3）混合场景的测试，按照业务及测试模型梯度加压，以获取系统的最大处理能力，及在各种压力下每只交易的响应时间情况； 4）稳定性测试，按照混合测试模型，考察在一定的压力下持续执行24小时的系统运行情况，主要关注系统是否稳定，系统是否存在内存泄漏问题等； 5）异常测试，服务中断、网络终端、硬件故障等异常情况下系统对在线交易的影响； 6、设计测试案例； 7、执行测试，监控系统资源、应用、数据库相关指标，记录测试结果； 8、测试结果收集和分析； 9、测试报告编写； 10、测试总结； --以上是个人的一点概括性的总结，供大家参考，总之，测试目标决定测试策略和测试方法，明确测试目标是关键。来源:考试大

《现代分析测试技术》复习知识点

《现代分析测试技术》复习知识点 一、名词解释 1. 原子吸收灵敏度、指产生1％吸收时水溶液中某种元素的浓度 2. 原子吸收检出限、是指能产生一个确证在试样中存在被测定组分的分析信号所需要的该组分的最小浓度或最小含量 3．荧光激发光谱、4．紫外可见分光光度法 5．热重法、是在程序控制温度下，测量物质质量与温度关系的一种技术。 6．差热分析、是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。 7．红外光谱、如果将透过物质的光辐射用单色器加以色散，使光的波长按大小依次排列，同时测量在不同波长处的辐射强度，即得到物质的吸收光谱。如果用的是光源是红外辐射就得到红外吸收光谱(Infrared Spectrometry)。 8．拉曼散射，但也存在很微量的光子不仅改变了光的传播方向，而且也改变了光波的频率，这种散射称为拉曼散射。 9．瑞利散射、当一束激发光的光子与作为散射中心的分子发生相互作用时，大部分光子仅是改变了方向，发生散射，而光的频率仍与激发光源一致，这种散射称为瑞利散射 10．连续X射线：当高速运动的电子击靶时，电子穿过靶材原子核附近的强电场时被减速。电子所减少的能量（△E）转为所发射X 射线光子能量（hν），即hν＝△E。 这种过程是一种量子过程。由于击靶的电子数目极多，击靶时间不同、穿透的深浅不同、损失的动能不等，因此，由电子动能转换为X 射线光子的能量有多有少，产生的X 射线频率也有高有低，从而形成一系列不同频率、不同波长的X 射线，构成了连续谱 11．特征X射线、原子内部的电子按泡利不相容原理和能量最低原理分布于各个能级。在电子轰击阳极的过程中，当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时，于是在低能级上出现空位，系统能量升高，处于不稳定激发态。较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，并以光子的形式辐射出标识X 射线 13．相干散射、当入射X射线光子与原子中束缚较紧的电子发生弹性碰撞时，X射线光子的能量不足以使电子摆脱束缚，电子的散射线波长与入射线波长相同，有确定的相位关系。这种散射称相干散射或汤姆逊（Thomson）散射。 14．非相干散射，，当入射X射线光子与原子中束缚较弱的电子（如外层电子）发生非弹性碰撞时，光子消耗一部分能量作为电子的动能，于是电子被撞出原子之外，同时发出波长变长、能量降低的非相干散射或康普顿（Compton）散射

如何制定有效的测试计划和测试策略

如何做好测试策略 希望这篇blog能帮助大家分清测试策略与测试计划的不同，体会到测试策略内容的核心是什么，知道通过哪些渠道来修炼自己制定测试策略的能力。 测试策略的输出：做对的事！ 测试计划的输出：把事做对！ 测试策略不是测试计划。 我们既可以先有测试计划再有测试策略，也可以先有测试策略后有测试计划。两者有什么区别呢？ 如果是先有测试计划再有测试策略，那么我们就是在制定一个“大测试项目计划”。这个测试计划是一个项目工作计划，它指明我们计划开始的是整个项目计划。这个项目计划会先划定时间来了解项目的目标，项目的要求，然后再划出一段时间来依据项目目标和项目要求，项目拥有的资源来制定项目的测试策略。 如果是先有测试策略再有测试计划，那么我们是在制定一个“测试执行活动计划”。这个测试计划会以测试策略作为输入，来确定测试执行活动所需要的资源，时间分布，测试活动序列。 总得来说测试计划会更多包含：测试活动的先后序列，资源调度分配的安排。而测试策略会更多包含：测试重点的确立，测试技术类型的分析和选取。 以我的经验和方式，制定测试策略会先从项目的需求和约束要求入手，作为开始测试策略分析制定的输入。在正式分析制定测试策略的第一步时，会先进行RBT 基于风险的分析，使用RBT的方法分析得出测试目标的优先级；第二步，分析项目已有的技术现状，评估哪些现有的测试技术能满足此次项目；第三步，按优先级对测试目标的达成所需要的不同的测试技术，测试活动组合进行匹配。例如：有三个测试目标A，B，C，现有测试技术有D1，D2，D3。 由于风险系数的先后顺序为A，B，C，因此，我会给目标A配置D1，D2，D3三种测试活动的建议，给目标B配置D2，D3的测试活动，给C配置D3的测试活动。测试项目经理拿到我的测试策略后，会在测试计划中安排相应的人力配置，安排相应的时间计划。 关于更多测试策略制定的方法，应该跳出测试来学习和分析。

测试策略

1、软件测试策略 1.1 软件测试策略概述 测试活动需要采用各种不同的策略。这些策略表明了为确保软件质量而采用了不同的出发点、不同的事例、不同手段和测试方案。我们通常用的较多的方法有：静态方法和动态方法；单元测试，集成测试，确认和系统测试；下面的重点将介绍各种测试方法的应用。 1.2 单元测试策略 1.2.1 什么是单元测试？ 单元测试是对软件基本组成单元进行测试，这里的基本单元不一定是指一个具体的函数（Function或Procedure）或一个类的方法，“单元”具有一些基本属性，如：明确的功能、规格定义，明确的接口定义，可清晰地与同一程序的其它单元划分开来。 在纯C语言的代码中，为了操作方便期间，我们一般认为一个函数就是一个单元。 1.2.2 单元测试的主要目的： 1. 验证代码是与设计符合的 2. 跟踪需求和设计的实现 3. 发现设计和需求中存在的错误 4. 发现在编码过程中引入的错误 1.2.3 何时开展单元测试 一般地，在编码阶段就应开展单元测试，边写程序边测试是一个好习惯。一个组织不要孤立的划分出编码和单元测试两个阶段，也不要等代码都写完了才开始单元测试。 有时候需要将单元测试时间推后到集成阶段，甚至系统完成阶段。 单元测试可以分为计划、设计、实现、执行几个阶段。“计划”是作好人和时间的安排。“设计”确定采用什么样的测试方法，达到一个什么样的覆盖率标准等。“实现”是设计生成各个测试用例。“执行”包括驱动和桩函数的设计实现，测试数据准备，测试结果验证等等。 1.2.4 单元测试所遵循的原则 对于测试来说，我们应当尽早地和不断地进行软件测试。对于单元测试来说我们需要遵循一定的单元测试规范，根据公司CMM规范中的规定，我们列出了一些原则但是这些并不是足够的。

软件产品测试方法与策略

软件产品测试方法与策略 【摘要】软件测试已经逐步被许多企业所重视，软件测试在产品中占有很重要的地位，关系到产品的使用操作及稳定性，一个软件产品的BUG率直接关系到软件产品的质量，通过对软件的测试来完善软件功能，提高软件产品的质量。软件测试除了对软件需求功能进行测试后，还需要对可能遇到的误操作、大数据量存储、连续操作等方面进行测试，力求使软件更全面，更可靠，保证软件的正常使用。本文从实际测试入手，介绍自己工作中进行软件产品测试的方法及思路，对测试方法及策略进行总结分析。 【关键词】软件测试；完整性测试；健壮性测试；容错性测试；边缘化测试 随着IT技术的快速发展，软件产品经历了突飞猛进的发展，各类软件层出不穷，逐步进入寻常百姓家，大到一套完整的控制系统，小到儿童的玩具，都离不开软件的支持。软件的如此快速发展，离不开大量的软件测试人员对产品进行测试，来保证软件的质量，软件测试已经发展成为一门系统的学科，渗入到人们的日常生活中。 1 软件测试概述 软件测试是对系统功能的验证测试，需要在产品需求阶段分析需求，细化需求功能，整理编制测试用例。 在需求阶段需要挖掘软件产品的隐性需求，分析可能存在的各种情况以及预期的结果，完善测试用例。 软件测试工作主要是对测试用例的整理，软件测试质量依赖于测试用例的完整性。若测试用例相当完善，覆盖了需求的所有功能和隐性需求功能，软件产品的质量只要是完整的执行测试用例就可以得到保证，反之亦然。 软件产品测试需要站立在操作使用用户的身份上进行测试，因为使用者是最终的用户，一个软件产品只有得到使用者的认可和赞同才能称得上好软件、好产品，否则软件再怎么被称为功能强大、功能完善，只要对操作使用者来说操作困难，都是无稽之谈，至少不能算的上好软件。 软件产品测试需要与其他部门及用户进行有效的沟通，保证需求正确，操作使用方法切合实际，明确使用人员的操作习惯和期望，只有便于操作、符合使用人员期望的软件产品，才能被接受，才能获得使用人的支持，从而产品才能获得良好的发展机遇。 2 软件产品测试方法 一个产品经历了启动、计划、实施控制阶段后，产品进入了产品软件测试环

《材料现代分析测试方法》复习题

《近代材料测试方法》复习题 1．材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？分别可以用什么方法分析？ 答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法 ——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X射线衍射、电子衍射 显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原 子力显微镜、场离子显微镜 2．X射线与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一部 分可能变成次级或更高次的X射线，即所谓荧光X射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在X射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。 （1）现象/现象：散射X射线（想干、非相干）、荧光X射线、透射X射线、俄歇效 应、光电子、热能 （2）①光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产 生光电效应。

应用：光电效应产生光电子，是X射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X射线荧光辐射是 X射线激发俄歇能谱分析和X射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的 内层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线（称二次特征辐射）。 应用：X射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射 是X射线衍射分析方法的基础。 3．电子与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。 （1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X射 线 （2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息 4．光电效应、荧光辐射、特征辐射、俄歇效应，荧光产率与俄歇电子产率。 特征X射线产生机理。 光电效应：当入射X射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。 荧光辐射：被打掉了内层电子的受激原子，将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线。这种利用X射线激发而产生的特征辐射为二次特

(完整版)材料现代分析方法考试试卷

班级学号姓名考试科目现代材料测试技术A 卷开卷一、填空题（每空1 分，共计20 分；答案写在下面对应的空格处，否则不得分） 1. 原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为_辐射跃迁__ 跃迁或_无辐射跃迁__跃迁。 2. 多原子分子振动可分为__伸缩振动_振动与_变形振动__振动两类。 3. 晶体中的电子散射包括_弹性、__与非弹性___两种。 4. 电磁辐射与物质（材料）相互作用，产生辐射的_吸收_、_发射__、_散射/光电离__等，是光谱分析方法的主要技术基础。 5. 常见的三种电子显微分析是_透射电子显微分析、扫描电子显微分析___和_电子探针__。 6. 透射电子显微镜（TEM）由_照明__系统、_成像__系统、_记录__系统、_真空__系统和__电器系统_系统组成。 7. 电子探针分析主要有三种工作方式，分别是_定点_分析、_线扫描_分析和__ 面扫描_分析。 二、名词解释（每小题3 分，共计15 分；答案写在下面对应的空格处，否则不得分） 1. 二次电子二次电子：在单电子激发过程中被入射电子轰击出来的核外电子. 2. 电磁辐射：在空间传播的交变电磁场。在空间的传播遵循波动方程，其波动性表现为反射、折射、干涉、衍射、偏振等。 3. 干涉指数：对晶面空间方位与晶面间距的标识。 4. 主共振线：电子在基态与最低激发态之间跃迁所产生的谱线则称为主共振线 5. 特征X 射线：迭加于连续谱上，具有特定波长的X 射线谱，又称单色X 射线谱。 三、判断题（每小题2 分，共计20 分；对的用“√”标识，错的用“×”标识） 1．当有外磁场时，只用量子数n、l 与m 表征的原子能级失去意义。（√） 2．干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，即干涉指数表示的晶面上不一定有原子分布。（√） 3．晶面间距为d101／2 的晶面，其干涉指数为（202）。（×） 4．X 射线衍射是光谱法。（×） 5．根据特征X 射线的产生机理，λKβ<λK α。 （√ ） 6．物质的原子序数越高，对电子产生弹性散射的比例就越大。（√ ） 7．透射电镜分辨率的高低主要取决于物镜。（√ ）8．通常所谓的扫描电子显微镜的分辨率是指二次电子像的分辨率。（√）9．背散射电子像与二次电子像比较，其分辨率高，景深大。（× ）10．二次电子像的衬度来源于形貌衬度。（× ） 四、简答题（共计30 分；答案写在下面对应的空格处，否则不得分） 1. 简述电磁波谱的种类及其形成原因？（6 分）答：按照波长的顺序，可分为：（1）长波部分，包括射频波与微波。长波辐射光子能量低，与物质间隔很小的能级跃迁能量相适应，主要通过分子转动能级跃迁或电子自旋或核自旋形成；（2）中间部分，包括紫外线、可见光核红外线，统称为光学光谱，此部分辐射光子能量与原子或分子的外层电子的能级跃迁相适应；（3）短波部分，包括X 射线和γ射线，此部分可称射线谱。X 射线产生于原子内层电子能级跃迁，而γ射线产生于核反应。

材料现代分析测试方法知识总结

名词解释： 分子振动：分子中原子（或原子团）以平衡位置为中心的相对（往复）运动。伸缩振动：原子沿键轴方向的周期性（往复）运动；振动时键长变化而键角不变。（双原子振动即为伸缩振动） 变形振动又称变角振动或弯曲振动：基团键角发生周期性变化而键长不变的振动。 晶带：晶体中，与某一晶向[uvw]平行的所有（HKL）晶面属于同一晶带，称为[uvw]晶带。 辐射的吸收：辐射通过物质时，其中某些频率的辐射被组成物质的粒子（原子、离子或分子等）选择性地吸收，从而使辐射强度减弱的现象。 辐射被吸收程度对ν或λ的分布称为吸收光谱。 辐射的发射：物质吸收能量后产生电磁辐射的现象。 作为激发源的辐射光子称一次光子，而物质微粒受激后辐射跃迁发射的光子(二次光子)称为荧光或磷光。吸收一次光子与发射二次光子之间延误时间很短(10-8~10-4s)则称为荧光；延误时间较长(10-4~10s)则称为磷光。 发射光谱:物质粒子发射辐射的强度对ν或λ的分布称为发射光谱。光致发光者，则称为荧光或磷光光谱 辐射的散射：电磁辐射与物质发生相互作用，部分偏离原入射方向而分散传播的现象 散射基元:物质中与入射的辐射相互作用而致其散射的基本单元 瑞利散射（弹性散射）：入射线光子与分子发生弹性碰撞作用，仅光子运动方向改变而没有能量变化的散射。 拉曼散射（非弹性散射）：入射线(单色光)光子与分子发生非弹性碰撞作用，在光子运动方向改变的同时有能量增加或损失的散射。 拉曼散射线与入射线波长稍有不同，波长短于入射线者称为反斯托克斯线，反之则称为斯托克斯线 光电离：入射光子能量(hν)足够大时，使原子或分子产生电离的现象。 光电效应:物质在光照射下释放电子(称光电子)的现象又称(外)光电效应。 光电子能谱:光电子产额随入射光子能量的变化关系称为物质的光电子能谱 分子光谱：由分子能级跃迁而产生的光谱。

材料现代分析测试方法习题答案

现代材料检测技术试题及答案 第一章 1. X 射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？ 2. 分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？ （1）用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射； （2）用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射； （3）用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。 3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”？ 4. X 射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？ 5. 产生X 射线需具备什么条件？ 6. Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？ 7. 计算当管电压为50 kv 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。 8. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同？某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它的K 系特征X 射线波长？ 9. 连续谱是怎样产生的？其短波限V eV hc 301024.1?==λ与某物质的吸收限k k k V eV hc 31024.1?==λ有何不同（V 和V K 以kv 为单位）？ 10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用？规律如何？对x 射线分析有何影响？反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同？ 11. 试计算当管压为50kv 时，Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能，以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少？ 12. 为什么会出现吸收限？K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个？当激发X 系荧光Ⅹ射线时，能否伴生L 系？当L 系激发时能否伴生K 系？ 13. 已知钼的λK α＝0.71?，铁的λK α＝1.93?及钴的λK α＝1.79?，试求光子的频率和能量。试计算钼的K 激发电压，已知钼的λK ＝0.619?。已知钴的K 激发电压V K ＝7.71kv ，试求其λK 。 14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm ，试计算这种铅屏对CuK α、MoK α辐射的透射系数各为多少？ 15. 如果用1mm 厚的铅作防护屏，试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。 16. 厚度为1mm 的铝片能把某单色Ⅹ射线束的强度降低为原来的23.9％，试求这种Ⅹ射线的波长。 试计算含Wc ＝0.8％，Wcr ＝4％，Ww ＝18％的高速钢对MoK α辐射的质量吸收系数。 17. 欲使钼靶Ⅹ射线管发射的Ⅹ射线能激发放置在光束中的铜样品发射K 系荧光辐射，问需加的最低的管压值是多少？所发射的荧光辐射波长是多少？ 18. 什么厚度的镍滤波片可将Cu K α辐射的强度降低至入射时的70％？如果入射X 射线束中K α和K β强度之 比是5：1，滤波后的强度比是多少？已知μm α＝49.03cm 2／g ，μm β＝290cm 2／g 。 19. 如果Co 的K α、K β辐射的强度比为5：1，当通过涂有15mg ／cm 2的Fe 2O 3滤波片后，强度比是多少？已 知Fe 2O 3的ρ=5.24g ／cm 3，铁对CoK α的μm ＝371cm 2／g ，氧对CoK β的μm ＝15cm 2／g 。 20. 计算0.071 nm （MoK α）和0.154 nm （CuK α）的Ⅹ射线的振动频率和能量。（答案：4.23×1018s -l ，2.80 ×10-l5J ，1.95×1018s -1，l.29×10-15J ）

功能测试常用的策略和方法

功能测试（黑盒测试）常用的策略和方法 黑盒测试（Black-box Testing，又称为功能测试或数据驱动测试）是把测试对象看作一 个黑盒子。利用黑盒测试法进行动态测试时，需要测试软件产品的功能，不需测试软件产品的部结构和处理过程。 采用黑盒技术设计测试用例的方法有：等价类划分、边界值分析、错误推测、因果图和综合策略。 黑盒测试注重于测试软件的功能性需求，也即黑盒测试使软件工程师派生出执行程序所 有功能需求的输入条件。黑盒测试并不是白盒测试的替代品，而是用于辅助白盒测试发现其他类型的错误。 黑盒测试试图发现以下类型的错误： 1）功能错误或遗漏； 2）界面错误； 3）数据结构或外部数据库访问错误； 4）性能错误； 5）初始化和终止错误。 一、黑盒测试的测试用例设计方法 ·等价类划分方法 ·边界值分析方法 ·错误推测方法 ·因果图方法 ·判定表驱动分析方法 ·正交实验设计方法 ·功能图分析方法 等价类划分: 是把所有可能的输入数据,即程序的输入域划分成若干部分（子集）,然后从每一个子集 中选取少数具有代表性的数据作为测试用例.该方法是一种重要的,常用的黑盒测试用例设计方法.

1) 划分等价类: 等价类是指某个输入域的子集合.在该子集合中,各个输入数据对于揭露 程序中的错误都是等效的.并合理地假定:测试某等价类的代表值就等于对这一类其它值的测试.因此,可以把全部输入数据合理划分为若干等价类,在每一个等价类中取一个数据作为测试的输入条件,就可以用少量代表性的测试数据.取得较好的测试结果.等价类划分可有两种不同的情况:有效等价类和无效等价类. 有效等价类:是指对于程序的规格说明来说是合理的,有意义的输入数据构成的集合.利用有效等价类可检验程序是否实现了规格说明中所规定的功能和性能. 无效等价类:与有效等价类的定义恰巧相反. 设计测试用例时,要同时考虑这两种等价类.因为,软件不仅要能接收合理的数据,也要能经受意外的考验.这样的测试才能确保软件具有更高的可靠性. 2）划分等价类的方法:下面给出六条确定等价类的原则. ①在输入条件规定了取值围或值的个数的情况下,则可以确立一个有效等价类和两个无效等价类. ②在输入条件规定了输入值的集合或者规定了“必须如何”的条件的情况下,可确立一个有效等价类和一个无效等价类. ③在输入条件是一个布尔量的情况下,可确定一个有效等价类和一个无效等价类. ④在规定了输入数据的一组值（假定n个）,并且程序要对每一个输入值分别处理的情况下,可确立n个有效等价类和一个无效等价类. ⑤在规定了输入数据必须遵守的规则的情况下,可确立一个有效等价类（符合规则）和若干个无效等价类（从不同角度违反规则）. ⑥在确知已划分的等价类中各元素在程序处理中的方式不同的情况下,则应再将该等价类进一步的划分为更小的等价类. 3）设计测试用例:在确立了等价类后,可建立等价类表,列出所有划分出的等价类: 输入条件有效等价类无效等价类 然后从划分出的等价类中按以下三个原则设计测试用例: ①为每一个等价类规定一个唯一的编号.

软件集成测试策略和方法

软件集成测试策略和方法

修订历史记录

目录 1引言 (4) 目的 (4) 范围 (4) 2集成测试策略和方法 (4) 测试设计技术与策略 (4) 自顶向下方法 (4) 自底向上方法 (5) “三明治”方法 (5)

1引言 1.1目的 指导软件项目组进行有效的系统集成测试。 1.2范围 本指南适合公司软件开发部的所有软件项目。 2集成测试策略和方法 2.1测试设计技术与策略 进行软件集成测试的测试用例包括白盒法、黑盒法等多种设计技术。软件集成也有多种不同的策略。这些策略总的来说可以分为两种： A) 非增量方式 先测试好每一个软件单元，然后依次集成在一起再测试整个程序。本方式是一种很直接、原始的集成方式，它把所有通过单元测试的模块一块儿地全部集成在一起，直接集成为软件系统，并对它进行测试。 采用这种方式的原因是期望它可以带来方便的、快捷的集成效果。但这种方法遭到广大测试专家的批评，普遍认为它会引起混乱，且难以确定错误源的位置。 B) 增量方式 逐步把一个要被集成的软件单元或部件，同已测试好的软件部件结合起来测试。增量方式主要包括自顶向下、自底向上、自顶向下与自低向上相结合等方式。 增量方式的优点是：占用人工少；可以较早发现模块接口错误；容易排错；测试效果好，比较彻底。 增量方式的优点：占用机器时间少；有利于并行开发。 2.2自顶向下方法 自顶向下集成法是一个模块一个模块地集成软件的方法。按照控制的结构，从主控模块开始，向下地逐个把模块连结起来。把附属于主控模块的子模块等集成起来的方式有“深度优先”与“宽度优先”两种集成方法。 A）深度优先法：先把结构中的一条主要的控制路径上的全部模块逐步集成起来（主要路径的选择与特定的应用特性有关，多少带有主观随意性。）然后再连接其它的控制路径。 B）宽度优先法：是从结构的顶层开始逐层往下集成。 集成的过程可以分为以下五个步骤： 主控模块用作测试驱动器。直接附属于主控模块的各模块全部用桩模块代替。 按所选的集成法（即深度优先法或宽度优先法）每次用一个真模块取代一个附属的桩模块。 当装入每一个真模块时都要进行测试。

2016《材料现代分析测试方法》习题

《近代材料测试方法》复习题 1.材料微观结构和成分分析可以分为哪几个层次？分别可以用什么 方法分析？ 答：化学成分分析、晶体结构分析和显微结构分析 化学成分分析——常规方法（平均成分）：湿化学法、光谱分析法 ——先进方法（种类、浓度、价态、分布）：X射线荧光光谱、电子探针、 光电子能谱、俄歇电子能谱 晶体结构分析：X 射线衍射、电子衍射 显微结构分析：光学显微镜、透射电子显微镜、扫面电子显微镜、扫面隧道显微镜、原子力显微镜、场离子显微镜 2.X 射线与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律 可以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：除贯穿部分的光束外，射线能量损失在与物质作用过程之中，基本上可以归为两大类：一部分可能变成次级或更高次的 X 射线，即所谓荧光 X 射线，同时，激发出光电子或俄歇电子。另一部分消耗在 X 射线的散射之中，包括相干散射和非相干散射。此外，它还能变成热量逸出。 （1）现象/现象：散射X 射线（想干、非相干）、荧光X 射线、透射X 射线、俄歇效 应、光电子、热能 （2）①光电效应：当入射X 射线光子能量等于某一阈值，可击出原子内层电子，产生光电效应。 应用：光电效应产生光电子，是X 射线光电子能谱分析的技术基础。光电效应 使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或 X 射线荧光辐射是 X 射线激发俄歇能谱分析和 X 射线荧光分析方法的技术基础。 ②二次特征辐射（X射线荧光辐射）：当高能X射线光子击出被照射物质原子的内 层电子后，较外层电子填其空位而产生了次生特征X 射线（称二次特征辐射）。应 用：X 射线被物质散射时，产生两种现象：相干散射和非相干散射。相干散射是X 射线衍射分析方法的基础。 3.电子与物质相互作用有哪些现象和规律？利用这些现象和规律可 以进行哪些科学研究工作，有哪些实际应用？ 答：当电子束入射到固体样品时，入射电子和样品物质将发生强烈的相互作用，发生弹性散 射和非弹性散射。伴随着散射过程，相互作用的区域中将产生多种与样品性质有关的物理信息。 （1）现象/规律：二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、特征X 射 线 （2）获得不同的显微图像或有关试样化学成分和电子结构的谱学信息