SSD与机械硬盘速度比较测试(@不同接口)
测试环境win7+HD tune
顿
128G
sata2
5400r
:usb 2.0
5400r
硬盘测试
硬盘测试 目录 目录 硬盘测试 (1) 目录 (1) 2.1、产品型号与制造商： (1) 2.2、外观目测： (1) 2.3、测试环境： (2) 2.4、测试所用软件： (2) 2.4.1、软件名与版本： (2) 2.4.2、软件操作指南： (2) 2.4.2.2、Aida64 Extreme (7) 2.4.3、软件使用说明（英文版）： (8) 2.4.4、软件下载链接： (9) 2.5、测试流程： (9) 2.6、额外性能测试： (10) 2.7、测试记录： (10) 2.1、产品型号与制造商： 2.2、外观目测：
2.3、测试环境： 测试环境包括软件环境&硬件环境，如下表 2.4、测试所用软件： 测试所用软件分别为：HD Tune Pro、Aida64 Extreme都是使用的较新版本，他们的下载链接见本节软件操作指南之下载链接。 2.4.1、软件名与版本： 测试所用软件有以下两种，两种软件使用中，必须采用交互式使用。 2.4.2、软件操作指南： 这里只把平常能够使用得到的相关的操作，做一些简单的说明和图示提示，详细操作见每种软件的帮助文档。
2.4.2.1、HD Tune Pro： HD Tune是一个硬盘检测软件，它能测试硬盘的读写速度等参数，但还有一个重要的功能就是可以读取硬盘的SMART信息。SMART信息保留在硬盘的系统保留区内，位于硬盘0物理面的最前面几十个物理磁道，且不允许最终用户对信息进行修改。 2.4.2.1.1、测试界面： 在相关链接下载名为“HdTunePro_500_trial_2.exe”的安装文件，按提示依次安装。 本软件安装过程相对简单，这里就不已图示方式逐一介绍，安装好后执行“HD Tune Pro” 得到本测试软件的主界面，如图_所示： 上图是老板本测试选项卡与新版本测试选项卡对照翻译，在使用过程中会用到。 图_2.1-1 2.4.2.1.2、测试前的相关设置： 在主菜单下点击“File”进入如图_2.1-2所示，单击“Options…”进行相关设置。 如下图_2.1-3所示：
英文打字速度上300字每分钟的进修秘诀
陈瑞朋 打字是一种技能，是经过眼、脑、手的配合来逐渐形成的条件反射。要减少在打字中出现的各种各样的打字差错，一定要做到打字“三准”。要不断提高打字质量，不但要多打，还要多校多析。分段分音节打字是保证不断总结经验吸取教训。良好的竞技状态是鉴定掌握技能熟练程度的重要一环。 关键词：打字、条件反射、准确性、多校多析、分段分音节打字、病例分析、竞技状态 我国较早的打字教练周志源先生说：“打字中的意念更本质的一面是键感，就像‘乐感’、‘球感’、‘牌感’，每分反应250个视觉信号并完成动作良好的键感！打字虽是雕虫小技，在高速度的等级上准确打字，谈何容易！”打字要提高到一定的速度，一定要经过专门的训练。 一.三准——看准映准打准 打字是一种技能，是经过眼、脑、手的配合来逐渐形成的条件反射。这种条件反射建立得越深越牢固，则做出的反应就越迅速，越灵敏，越准确。 要减少在打字中出现的各种各样的打字差错，一定要做到打字“三准”。所谓“三准”即眼要看准，脑要映准，手要打准，三者协调一致打字质量就有保证。 在“三准”中，看准是很重要的，若是看错了，其他几个环节即使操作正确也无用了。一般来讲打字原稿放在计算机左侧看起来较方便，如有专门的打字底稿架，放在计算机后面中间更佳，眼睛视线要集中在原稿上。打字最忌讳，边看原稿边看键盘或边看已打好的录底，这样容易分散视力造成多打漏字或串组串行等问题。看一个单词或字组时，先将视线集中在该单词或词组上，当落手打时，视线应集中到该单词或词组的第一个单字、打完一个单字视线往后移一个单字。 映准就是把眼睛看到的单字清晰地反映到脑子里，然后，由脑子指挥手的动作完成击键，这就是打准。在击键后的一瞬间又马上反映到脑子里来主宰落指是否正确，这样才完成了“三准”的全过程，其公式是，其公式是：眼-脑-手-脑。为了加深映准，还可以同时采用默念的办法，默念就是把眼睛看到的单字轻轻地一般不出声地念一遍以加深印象，眏准清晰，落指无误，默念是看准、映准之间的一个桥梁。它的作用是：1.可以控制眼看的速度。2.正确指挥手的动作。3.促使精力集中。4.加深印象保证映准、清晰、准确。5防凭印象打字。 二.三多——多打多校多析 电脑打字突出了打字的快节奏与录入的准确性。英国人对错字母处理很严，开始中国人不理解，为什么错一击要扣掉50击！原因是改正的时间甚至比打50 击还长。在指法没达到熟练时，先控制速度避免错误的发生是很重要的。 应该说，提高速度和准确都很重要，错情不断的高速和全部正确的极慢速度打字同样没有价值，在指法训练过程中放慢速度打好基础是第一位的。 学习打字技术没有什么和捷径，在基本掌握打字姿势、方法和手指分管范围后，主要靠多打多校来不断提高自己的打字技能，这“三多”中多打是最根本的一条。俗话说“拳不离
dd测试硬盘读写性能
1.dd介绍 dd是UNIX和Linux系统自带的工具，能够以操纵裸设备的方式完成本地磁盘之间的高速复制，跨网络数据复制，以及制作磁盘镜像等功能。另外dd还能生产固定大小的文件，以很高的速度写入磁盘。这就为存储测试提供了一个较好的手段，我们可以利用dd生成许多小文件来测试存储的吞吐量（IOPS）指标，而利用dd生成数个大文件来测量存储系统带宽（MB/s）。 2.参数 1.if=file 输入文件名，缺省为标准输入。即指定源文件。
常见三星固态硬盘数据恢复方法
常见三星固态硬盘数据恢复方法 支持家族和通用信息 1.1 支持家族 PC-3000 SSD 2.4.5为例，目前支持如下 SAMSUNG family l Samsung MLC (S3C29RBB01-YK40 CPUbased); l Samsung 470 Including Apple models(S3C29MAX01-Y340 CPU based) ; l Samsung PM810 (mSATA version of 470) (S3C29MAX01-Y340 CPUbased); l Samsung 830 Including Apple models(S4LJ204X01-Y040 CPUbased); l Samsung PM830; (S4LJ204X01-Y040 CPUbased) l Samsung 840 (S4LN021X01-8030 CPUbased); l Samsung PM840 (S4LN021X01-8030 CPUbased); l Samsung PM841 (S4LN021X01-8030 CPUbased); l Samsung 840 Pro (S4LN021X01-8030 CPUbased); l Samsung 840 Evo (Including mSATA) (S4LN045X01-8030 CPUbased); l Samsung PM851 (Including mSATA) (S4LN045X01-8030 CPUbased); l Samsung CM871 (S4LN054X02-Y030 CPUbased); l Samsung 850 Pro (S4LN045X01-8030 CPUbased); 1.2 通用信息 1.2.1 驱动器初始化 访问存储在驱动器上的数据首先需要完成初始化过程。它由几个阶段组成，可细分为：将掩膜ROM固件加载到RAM，并执行。 闪存芯片测试。 驱动器将闪存中固件装入RAM，转交控制。 驱动器从服务区读取结构，并生成映射。 驱动器读取其配置页面。 如果所有上述阶段都成功通过，则驱动器报告就绪，返回其标识数据（型号.容量.序列号等），并允许访问数据。如果有文件系统问题，建议启动数据提取器并提取数据。
(完整版)硬盘检测工具使用方法详细介绍(附图)-HDTUNE
硬盘检测工具使用方法详细介绍 HD TUNE这款硬盘检测软件功能是相当强大的，也非常专业。但是买笔记本验机器咱们只看几个参数就可以了。 1.硬盘品牌。 2.硬盘容量。 3.硬盘转速。 4.硬盘温度。 5.硬盘通电时间。 6.硬盘坏道检测。 下面咱们以 HD tune pro4.01版为例，简单介绍下。测试硬盘为日立500G 5400转硬盘。 上图 1.显示的是硬盘的品牌及当前硬盘运行温度。 2.点击开始测试当然硬盘在当前系统环境下读取速度。 PS： 硬盘品牌识别（现目前笔记本主流硬盘）
wd 开头代表的品牌西数 ST 开头代表的品牌希捷 Hitachi 开头代表的品牌日立 fujitsu 代表的品牌富士通 Samsung 开头代表的品牌三星 测试读取速度的结果很容易受到当前系统状态的影响，所以很多小盆友为测试结果差异很大纠结。这种纠结是没必要的，因为现在预装win7系统的笔记本很多，各大笔记本厂商也纷纷添加自身研发的软件增加机器卖点，默认这些第三方软件开启和关闭状态的不同，很容易影响测试结果的。如果杀毒软件运行的话测试结果一定不理想，所以不能从简单测试读取速度结果直接判断硬盘是否存在质量问题。网友也没必要攀比读取速率。 下面是该测试硬盘在纯净系统下测试结果，HD tune版本3.5。 测试结果的曲线图和黄点都代表了什么呢？
浅蓝色曲线，代表的是检测过程中检测到硬盘每一秒钟的读取速率。黄色点代 表硬盘的寻道时间。在右边还可以看到清楚的数据，传输速度的最小值，最大值，和平均值。还显示了数据的存取时间，和突发数据传输率。CPU的占用率。 以下是网友提供两幅测试图片。 测试机型：Y460A-ITH 测试硬盘：希捷320G 7200转硬盘。 第一幅图为释放后系统测试结果；
SSD硬盘测试指导
SSD硬盘测试指导 一、固态硬盘介绍 固态硬盘（Solid State Drives）用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元（FLASH芯片、DRAM芯片）组成。 SSD主要分为以下两种： 基于闪存的SSD：采用FLASH芯片作为存储介质，这也是我们通常所说的SSD。数据保护不受电源限制，能适应各种环境，但是数据存储受存储芯片擦写寿命的限制，后文会对SSD存储芯片的寿命做说明。 基于DRAM的SSD：采用DRAM作为存储介质，它仿效传统硬盘的设计，可被绝大部分操作系统工具进行卷在设置和管理，并提供工业标准的PCI和FC接口用于连接主机或者服务器。应用方式分为SSD硬盘鹤SSD银盘阵列两种。它是一种高性能的存储器，而且使用寿命很长，美中不足的是需要独立电源来保护数据安全，所以应用场合收到限制。 所以目前，民用产品更倾向于基于FLASH的SSD。下面对基于FLASH的SSD进行重点介绍。 SSD与传统机械硬盘的对比： 优点： 1、启动快，没有电机加速旋转的过程；
2、不用磁头，快速随机读取，读延迟极小； 3、相对固定的读取速度，由于寻址时间与数据存储位置无关，因此磁盘碎片不会影响读取时间； 4、写入速度快（基于DRAM），硬盘的I/O操作性能佳，能够明显提高需要频繁读写的系统的性能； 5、无噪音； 6、低容量的基于闪存的固态硬盘在工作状态下能耗与发热量较小，但高端或大容量产品能耗较高； 7、出现机械错误的可能性很低，不怕碰撞、冲击和震动； 8、工作温度范围大； 9、体积小。 缺点： 1、成本高、最大容量低； 2、由于不像传统硬盘那样疲敝于法拉第笼中，固态硬盘更容易收到某些外界因素的不良影响。如断电（基于DRAM的固态硬盘尤甚）、磁场干扰、静电等。 3、写入寿命有限（基于闪存）。一般闪存写入寿命为1万到10万次，特制的可大100 万到500万次，然而整台计算机寿命期内文件系统的某些部分的写入次数仍将超过这一极限； 4、数据损坏后难以恢复。一旦在硬件上发生损坏，如果是传统的磁盘或者磁带存储方式，通过数据恢复也许还能挽救一部分数据。但是如果是固态存储，一但芯片发生损坏，要想在碎成几瓣或者被电流击穿的芯片中找回数据那几乎就是不可能的； 5、能耗较高，基于DRAM的固态硬盘在任何时候的能耗都高于传统硬盘，尤其是关闭时仍需供电，否则数据丢失。 固态硬盘与传统硬盘优劣势对比
打字测试
一、题目及要求： 本次课程设计要求在TC环境下编写一个打字速度及正确率的测试软件。 1. 程序运行时，启动画面如下： 屏幕画面用线条划分为三部分：左上部分显示“高分榜”；左下为3个功能项——难度级别调整、开始按钮、退出按钮；右侧主画面用于打字。 2. 三个功能项： 画面左下角设置三个功能项，用左/右箭头移动亮条表示当前在哪一个功能项，当亮条移动到某个功能项时，右侧主画面中显示简单的操作提示信息。 对“Start”和“Exit”两个功能项，以按回车键表示选中该功能项。 (1) Level ? ——难度级别调整。
设定三个难度级：1级在打字时只测试26个英文字母的大小写及空格键；2级增加10个数字键、逗号(,)、分号(;)、点(.)、单引号(')；3级再增加以下符号： / - = ~ ! @ # $ % ^ & * ( ) + < > ? 当亮条停在该功能项时，用上/下箭头增/减难度级。 (2) Start ——开始 用回车键选中该功能项后，先在右侧主画面中分行显示若干个字符。显示的字符需要根据当前设定的难度级随机产生。然后光标停在第一个字符的下面，如下图所示： textbackground(0); textcolor(14); /*设置边框颜色为黄色*/ 0 黑色 1深蓝 2深绿 3浅蓝 4老红 5老紫 6土黄
7灰色 8浅灰色 9蓝色 10亮绿 11兰色 12红色 13亮紫 14黄色 15 白色 操作者这时可以在键盘上打入相应的字符。每输入一个字符，光标自动后移，本行结束后光标自动移至下一行。显示操作者输入的字符时，用两种不同的颜色区分输入是否正确。如果操作者发现输入有误，可以用退格键删除光标前面的字符。 输入完成或者操作者按ESC键后测试结束，画面上应给出测试结果： （a）(b) (c)(d) 如果打字时间超过10分钟或者输入的字符不足一半，则只显示结果但不计分，如上图的(a)和(b)所示。否则需要根据本次输入符号的总数(按ESC退出时并未完全输入)、输入的正确性、花费的时间等因素计算综合得分并显示，如上图(c)所示。如果综合得分超过目前榜上的最低分，还需要输入一个名字，如上图(d)所示，并更新“高分榜”。 (2) Exit ——退出 选中该功能项后，把当前“高分榜”存盘，程序结束。 3. 计分规则 操作者完成一次打字测试后，应综合考虑输入符号总数、输入的正确性、花费的时间等因素，请自行设计一套计分规则，把各个因素量化，并计算总得分。 4. 高分榜 对三个难度级分别设置三个高分榜，当操作者用Level功能项调整难度级时，程度应在左上角及时显示对应难度级的高分榜。一次打字测试完成后，如果出现新的高分记录则高分榜需要及时更新。 程序启动时需要从磁盘文件中读取三个难度级的高分榜，程序退出前则应把当前的高分
最新软件测试报告模板分析
(OA号：OA号/无)XXX产品名称XX版本（提测日期：YYYY.MM.dd） 第XX轮 功能/性能/稳定性/兼容性测试报告
修订历史记录 A - 增加 M - 修订 D - 删除
1.概述 (4) 1.1 测试目的 (4) 1.2 测试背景 (4) 1.3 测试资源投入 (4) 1.4 测试功能 (5) 1.5 术语和缩略词 (5) 1.6 测试范围............................................................................................ 错误!未定义书签。 2.测试环境 (6) 2.1 测试软件环境 (6) 2.2 测试硬件资源 (7) 2.3 测试组网图 (6) 3.测试用例执行情况 (7) 4.测试结果分析（大项目） (8) 4.1 Bug趋势图 (8) 4.2 Bug严重程度 (9) 4.3 Bug模块分布 (9) 4.4 Bug来源............................................................................................ 错误!未定义书签。 5.测试结果与建议 (10) 5.1 测试结果 (10) 5.2 建议 (11) 5.3 测试差异分析 (11) 6.测试缺陷分析 (11) 7.未实现需求列表 (11) 8.测试风险 (12) 9.缺陷列表 (12)
1.概述 1.1 测试目的 本报告编写目的，指出预期读者范围。 1.2 测试背景 对项目目标和目的进行简要说明，必要时包括该项目历史做一些简介。 1.3 测试资源投入 //针对本轮测试的一个分析 //测试项：功能测试、性能测试、稳定性测试等
磁盘阵列速度测试
如何测试磁盘阵列的速度 1.进入sqlplus 运行下面的脚本(这些命令用来不断的往 oracle 数据库里面插入数据) SQL> connect / as sysdba; Connected. SQL> create table io_test tablespace USERS as select * from all_objects; Table created. SQL> insert into io_test select * from io_test; 50198 rows created. SQL> / 100396 rows created. SQL> / 200792 rows created.
SQL> / 401584 rows created. SQL> / 803168 rows created. SQL> / 1606336 rows created. SQL> / 2.在插入的同时，在shell 下面运行iostat来查看磁盘阵列的 io速度 -bash-3.00$ iostat -xn 3 extended device statistics r/s w/s kr/s kw/s wait actv wsvc_t asvc_t %w %b device 0.0 0.0 0.5 0.1 0.0 0.0 0.0 10.6 0 0 d10 0.0 0.0 0.0 0.0 0.0 0.0 0.0 5.8 0 0 d11 0.0 0.0 0.5 0.2 0.0 0.0 0.0 12.7 0 0 d17 0.0 0.0 0.5 0.1 0.0 0.0 0.0 10.9 0 0 d20
基于SSD的目标检测研究与实现
基于SSD的目标检测研究与实现 人工智能(Artificial Intelligence,AI)是目前的计算机行业中研究的热门方向之一,其中的深度学习目标检测算法的发展速度已经超乎了人们的想象。深度学习(Deep Learning)作为其领域之一,最近几年由于计算机硬件的快速发展而吸引了很多人的注意力。 其中利用卷积神经网络的目标检测算法已经成为深度学习中一个流行且热门的研究分支,最近几年也取得了突破性进展和优异的成果。目标检测的目的就是将图像信息中的目标物体进行分类和坐标定位。 卷积神经网络(Convolutional Neural Networks,CNN)实现了数据信息处理的端到端技术,能够完成语音、图像、文本等数据信息特征的自动提取,此方法越来越多被应用于目标检测算法中。但是该网络的劣势之处在于包括的层数越多,其拥有的计算参数也越多,其计算量巨大,从而导致在硬件计算力相对薄弱的机器设备中难以得到充分的训练,致使算法模型无法实时运行。 为此,本文做了如下研究分析:(1)研究分析了卷积神经网络架构的基本组成原理和运算法则。分析卷积神经网络的基本原理,解析网络层、函数等具体运用策略;总结了目前常见的一些目标检测算法基础网络和模型。 (2)提出一种优化的目标检测算法模型OSSD(Optimized Single Shot MultiBox Detector)。分析出原始SSD算法模型的基础网络VGG-16的层数较多和计算参数量较大,并在此基础上对神经网络层数和卷积核做优化调整;本文添加了一个预测模块,对特征信息进一步提取。 这两个方面的改进在检测精度上都有所提高。(3)设计了一个实时目标检测系统。
打字测试软件报告
课程设计 课程设计名称：Java课程设计 专业班级：计科卓1101 学生姓名：侯心想 学号： 201116910415 指导教师：王社伟 课程设计时间：2013.6.10-2013.6.21
打字测试软件 一、需求分析 设计一个英文打字测试软件，要求： 1. 文件中调入英文录入材料； 2. 显示错误率； 3.显示平均录入速度。 二、概要设计 模块图 主程序窗口 容易简 单 困 难 退 出
系统流程图 主程序窗口 选择按钮 容易 普 通 困 难选择按钮以后，程序自动弹出测试窗 口，然后在新窗口内进行以下操作。 点击选择文章 选择过文章以后，开始便可开始对照文章，在 文本框内进行打字练习。 点击结束练习，程序自动弹出测试 结果 退出程关闭测试窗口
三、运行环境、开发语言 运行环境：JDK1.6 开发语言：Java 四、详细设计 1 程序清单 表1程序清单 文件名功能 Test 显示程序主窗口， 实现在窗口内添加按钮事件与键盘事件。 Xian 实现添加文本到指定文本框， 实现将输入文本与指定文本比较，从而得出 错误率与平均输入率。 表2 函数清单 函数名功能 add 创建主界面窗口，添加按钮actionPerformed 响应按钮事件 shixian 创建新窗口，添加按钮事件getFileContent 将文本从文件中取出 jisuan 计算输入错误率和平均输入率 2 主要代码 2.1程序主窗口的设计 图1主程序窗口界面 public void add()throws Exception
{ p1=new JPanel(); p2=new JPanel(); b1=new JButton("容易"); b2=new JButton("普通"); b3=new JButton("困难"); b=new JButton("退出"); l=new JLabel(new ImageIcon("1.jpg.png"));//在窗口中间插入图片 con.add(p1,"North"); con.add(p2,"Center"); GridLayout g=new GridLayout(2,2,5,5); p1.setLayout(g); p1.add(b1); p1.add(b2); p1.add(b3); p1.add(b); p2.add(l); b.addActionListener(this); //为按钮注册监听器 b1.addActionListener(this); b2.addActionListener(this); b3.addActionListener(this); f.setSize(400,500); f.setLocation(100,100); f.setVisible(true); f.setDefaultCloseOperation(JFrame.EXIT_ON_CLOSE); } 2.2 练习打字窗口 在本窗口中可以选择自己练习得文章，练习完成后点击结束练习按钮即可得到练习情况。
最新整理SSD硬盘测试结果分析怎么看的
S S D硬盘测试结果分析怎么看的 很多时候我们都会对S D D硬盘进行性能测试等，不过一般为英文，而且很多专业术语，很多用户看不懂，网络上流传的硬盘测试图一般是英文版的软件界面，即便看的懂英文，也很难解释这些数据的意义，本题将为大家详细介绍这些数据的含义和测试疑虑。 硬盘测试结果分析： 注：以金胜E3000s为例为大家解读S S D在A S S S D 测试软件所代表的成绩。 金胜 E3000s-120采用了7m m超薄设计，内部构造也较为简单，P C B仅一面贴有电子元件。S S D方案为： S F2281+英特尔同步M L C，由于采用如此方案，在速度和整体性能来说，相对来说成绩比较突出。 A S S S D的主要测试，也是网上最常见得到测试成绩的，是它主界面上持续、随机、存取时间等8个相关测试，另外还有压缩和文件复制测试。使用这个软件可以评估这个S S D的传输速度好不好。 在S A T A I I I接口上测试，读写成绩分别为：481M B/s、419M B/s。读取速度在这里表现还算正常，而持续写入 会受相当多的因素影响，包括盘内剩余空间的多寡、盘
内数据分布、系统节能设置等等都会对测试成绩产生显著的影响。首先是持续测试(S e q)，A S S S D会先以16M B 的尺寸为单位，持续向受测分区写入生成1个达到1G B 大小的文件，然后再以同样的单位尺寸读取这个，最后计算平均成绩而给出结果。测试一完毕，测试文件会立刻删除。 关于随机测试，产生最多疑问的就是单队列深度的随机测试成绩，经常能见到有刚接触S S D的人会问：为什么这个项目的成绩低那么多?简单的理解，持续测试是整体跑分，而4K文件是同一时间处理一个小文件或者64个小文件。成绩当然会看起来比较低。再来是随机单队列深度测试(4K)，测试软件会以512K B的单位尺寸生成1G B大小的测试文件，然后在其地址范围(L B A)内进行随机4K B单位尺寸进行写入及读取测试，直到跑遍这个范围为止，最后同样计算平均成绩给出结果。由于有生成步骤，本测试对硬盘会产生一共2G B的数据写入量。本测试完毕后，测试文件会暂时保留。 64队列深度的4K B测试，只是同时写入和读取的文件数量不同。单队列正常情况下是写入会比读取成绩高1.5倍(2倍)。而64队列深度的正常情况读写都要比持
硬盘SMART检测参数详解
硬盘SMART检测参数详解 用户最不愿意看到的事情，莫过于在毫无警告的情况下发现硬盘崩溃了。诸如RAID的备份和存储技术可以在任何时候帮用户恢复数据，但为预防硬件崩溃造成数据丢失所花费的代价却是相当可观的，特别是在用户从来没有提前考虑过在这些情况下的应对措施时。 硬盘的故障一般分为两种：可预测的（predictable）和不可预测的（unpredictable）。后者偶而会发生，也没有办法去预防它，例如芯片突然失效，机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况，可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。 对于可预测的情况，如果能通过磁盘监控技术，通过测量硬盘的几个重要的安全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。那么在发生故障前，至少有足够的时间让使用者把重要资料转移到其它储存设备上。 最早期的硬盘监控技术起源于1992年，IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis（故障预警分析技术）的监控技术，它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。 不久，当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。通过该技术，硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量
值传送给操作系统和用户的监控软件中，每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。 1995年，康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化，该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持，1996年6月进行了1.3版的修正，正式更名为S.M.A.R.T.（Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology），全称就是“自我检测分析与报告技术”，成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。 SMART的目的是监控硬盘的可靠性、预测磁盘故障和执行各种类型的磁盘自检。如今大部分的ATA/SATA、SCSI/SAS和固态硬盘都搭载内置的SMART系统。作为行业规范，SMART规定了硬盘制造厂商应遵循的标准，满足SMART标准的条件主要包括： 1）在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定； 2）在特定系统平台下，能够正常使用SMART；通过BIOS检测，能够识别设备是否支持SMART并可显示相关信息，而且能辨别有效和失效的SMART信息； 3）允许用户自由开启和关闭SMART功能； 4）在用户使用过程中，能提供SMART的各项有效信息，确定设备的工作状态，并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘及操作系统都支持SMART技术并且开启的情况下，若硬盘状态不良，SMART功能会在开机时响起警报，SMART技术能够在屏幕上显示英文警告信息：“WARNING IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE，A FAILURE MAY BE IMMINENT．”(警告：立刻备份你的数据并更换硬盘，硬盘可能失效。)
硬盘SMART检测参数详解
要说Linux用户最不愿意看到的事情，莫过于在毫无警告的情况下发现硬盘崩溃了。诸如RAID的备份和存储技术可以在任何时候帮用户恢复数据，但为预防硬件崩溃造成数据丢失所花费的代价却是相当可观的，特别是在用户从来没有提前考虑过在这些情况下的应对措施时。 硬盘的故障一般分为两种：可预测的（predictable）和不可预测的（unpredictable）。后者偶而会发生，也没有办法去预防它，例如芯片突然失效，机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况，可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。 对于可预测的情况，如果能通过磁盘监控技术，通过测量硬盘的几个重要的安全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后 会发生故障”。那么在发生故障前，至少有足够的时间让使用者把重要资料转移到 其它储存设备上。 最早期的硬盘监控技术起源于1992年，IBM在AS/400计算机的IBM 0662 SCSI 2代硬盘驱动器中使用了后来被命名为Predictive Failure Analysis（故障预警分析技术）的监控技术，它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果：“硬盘安全”或“不久后会发生故障”。 不久，当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名为IntelliSafe的类似技术。通过该技术，硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量值
传送给操作系统和用户的监控软件中，每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被监控以及设定它们的安全阈值。 1995年，康柏公司将该技术方案提交到Small Form Factor(SFF)委员会进行标准化，该方案得到IBM、希捷、昆腾、康纳和西部数据的支持，1996年6月进行了1.3版的修正，正式更名为S.M.A.R.T.（Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology），全称就是“自我检测分析与报告技术”，成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。 SMART的目的是监控硬盘的可靠性、预测磁盘故障和执行各种类型的磁盘自检。如今大部分的ATA/SATA、SCSI/SAS和固态硬盘都搭载内置的SMART系统。作为行业规范，SMART规定了硬盘制造厂商应遵循的标准，满足SMART标准的条件主要包括： 1）在设备制造期间完成SMART需要的各项参数、属性的设定； 2）在特定系统平台下，能够正常使用SMART；通过BIOS检测，能够识别设备是否支持SMART并可显示相关信息，而且能辨别有效和失效的SMART信息；3）允许用户自由开启和关闭SMART功能； 4）在用户使用过程中，能提供SMART的各项有效信息，确定设备的工作状态，并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘及操作系统都支持SMART技术并且开启的情况下，若硬盘状态不良，SMART功能会在开机时响起警报，SMART技术能够在屏幕上显示英文警告信息：“WARNING IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR HARD DISK DRIVE，A FAILURE MAY BE IMMINENT．”(警告：立刻备份你的数据并更换硬盘，硬盘可能失效。)
固态硬盘测试报告
本次测试分别对固态硬盘和机械硬盘在同一环境下得出以下结论： 优点 启动快 没有电机加速旋转的过程。 读取延迟小 不用磁头，快速随机读取，读延迟极小。根据相关测试：两台电脑在同样配置的电脑下，搭载固态硬盘的笔记本从开机到出现桌面一共只用了18秒，而搭载传统硬盘的笔记本总共用了31秒，两者几乎有将近一半的差距。 碎片不影响读取时间 相对固定的读取时间。由于寻址时间与数据存储位置无关，因此磁盘碎片不会影响读取时间。 写入速度快 基于DRAM的固态硬盘写入速度极快。 无噪音 因为没有机械马达和风扇，工作时噪音值为0分贝。某些高端或大容量产品装有风扇，因此仍会产生噪音。 发热量较低 低容量的基于闪存的固态硬盘在工作状态下能耗和发热量较低，但高端或大容量产品能耗会较高。 不会发生机械故障 内部不存在任何机械活动部件，不会发生机械故障，也不怕碰撞、冲击、振动。这样即使在高速移动甚至伴随翻转倾斜的情况下也不会影响到正常使用，而且在笔记本电脑发生意外掉落或与硬物碰撞时能够将数据丢失的可能性降到最小。 工作温度范围更大 典型的硬盘驱动器只能在5到55℃范围内工作。而大多数固态硬盘可在-10~70℃工作，一些工业级的固态硬盘还可在-40~85℃，甚至更大的温度范围下工作（e.g: RunCore军工级产品温度为-55~135℃）。
体积小重量轻 低容量的固态硬盘比同容量硬盘体积小、重量轻。但这一优势随容量增大而逐渐减弱。直至256GB，固态硬盘仍比相同容量的普通硬盘轻。 抗震动 比起传统硬盘，固态硬盘抗震能力要强很多，使得数据能更加安全地保存。 缺点 成本高 每单位容量价格是传统硬盘的5~10倍（基于闪存），甚至200~300倍（基于DRAM）。 容量低 目前固态硬盘最大容量远低于传统硬盘。（美国公司Foremay推出了EC188M系列固态硬盘2TB。）传统硬盘的容量仍在迅速增长，据称IBM已测试过4TB的传统硬盘。 易受外界影响 由于不像传统硬盘那样屏蔽于法拉第笼中，固态硬盘更易受到某些外界因素的不良影响。如断电（基于DRAM的固态硬盘尤甚）、磁场干扰、静电等。 写入寿命有限 写入寿命有限（基于闪存）。一般闪存写入寿命为1万到10万次，特制的可达100万到500万次，然而整台计算机寿命期内文件系统的某些部分（如文件分配表）的写入次数仍将超过这一极限。特制的文件系统或者固件可以分担写入的位置，使固态硬盘的整体寿命达到20年以上。 数据难以恢复 数据损坏后难以恢复。一旦在硬件上发生损坏，如果是传统的磁盘或者磁带存储方式，通过数据恢复也许还能挽救一部分数据。但是如果是固态存储，一但芯片发生损坏，要想在碎成几瓣或者被电流击穿的芯片中找回数据那几乎就是不可能的。当然这种不足也是可以牺牲存储空间来弥补的，主要用RAID 1来实现的备份，和传统的存储的备份原理相同。由于目前SSD的成本较高，采用这种方式备份还是价格不菲。
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